DDR測試 主要的DDR相關(guān)規(guī)范，對發(fā)布時間、工作頻率、數(shù)據(jù) 位寬、工作電壓、參考電壓、內(nèi)存容量、預取長度、端接、接收機均衡等參數(shù)做了從DDR1 到 DDR5的電氣特性詳細對比。可以看出DDR在向著更低電壓、更高性能、更大容量方向演 進，同時也在逐漸采用更先進的工藝和更復雜的技術(shù)來實現(xiàn)這些目標。以DDR5為例，相 對于之前的技術(shù)做了一系列的技術(shù)改進，比如在接收機內(nèi)部有均衡器補償高頻損耗和碼間 干擾影響、支持CA/CS訓練優(yōu)化信號時序、支持總線反轉(zhuǎn)和鏡像引腳優(yōu)化布線、支持片上 ECC/CRC提高數(shù)據(jù)訪問可靠性、支持Loopback(環(huán)回)便于IC調(diào)測等。 DDR信號的讀寫分離方...

克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室致敬信息論創(chuàng)始人克勞德·艾爾伍德·香農(nóng)，以成為高數(shù)信號傳輸測試界的帶頭者為奮斗目標。 克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室重心團隊成員從業(yè)測試領(lǐng)域10年以上。實驗室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器、誤碼儀、協(xié)議分析儀、矢量網(wǎng)絡分析儀及附件，使用PCIE/USB-IF/WILDER等行業(yè)指定品牌夾具。堅持以專業(yè)的技術(shù)人員，嚴格按照行業(yè)測試規(guī)范，配備高性能的權(quán)能測試設備，提供給客戶更精細更權(quán)能的全方面的專業(yè)服務。 克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室提供具深度的專業(yè)知識及一系列認證測試、預認證測試及錯誤排除信號完整性測試、多端口矩陣測試、HDMI...

DDR測試 由于DDR4的數(shù)據(jù)速率會達到3.2GT/s以上，DDR5的數(shù)據(jù)速率更高，所以對邏輯分析儀的要求也很高，需要狀態(tài)采樣時鐘支持1.6GHz以上且在雙采樣模式下支持3.2Gbps以上的數(shù)據(jù)速率。圖5.22是基于高速邏輯分析儀的DDR4/5協(xié)議測試系統(tǒng)。圖中是通過DIMM條的適配器夾具把上百路信號引到邏輯分析儀，相應的適配器要經(jīng)過嚴格測試，確保在其標稱的速率下不會因為信號質(zhì)量問題對協(xié)議測試結(jié)果造成影響。目前的邏輯分析儀可以支持4Gbps以上信號的采集和分析。 DDR4信號質(zhì)量自動測試軟件；海南DDR測試市場價價格走勢2.PCB的疊層（stackup）和阻抗對于一塊受PCB層數(shù)約束...

7.時序?qū)τ跁r序的計算和分析在一些相關(guān)文獻里有詳細的介紹，下面列出需要設置和分析的8個方面：1）寫建立分析：DQvs.DQS2）寫保持分析：DQvs.DQS3）讀建立分析：DQvs.DQS4）讀保持分析：DQvs.DQS5）寫建立分析：DQSvs.CLK6）寫保持分析：DQSvs.CLK7）寫建立分析：ADDR/CMD/CNTRLvs.CLK8）寫保持分析：ADDR/CMD/CNTRLvs.CLK 一個針對寫建立（WriteSetup）分析的例子。表中的一些數(shù)據(jù)需要從控制器和存儲器廠家獲取，段”Interconnect”的數(shù)據(jù)是取之于SI仿真工具。對于DDR2上面所有的8項都是需要分...

如何測試DDR？ DDR測試有具有不同要求的兩個方面：芯片級測試DDR芯片測試既在初期晶片階段也在封裝階段進行。采用的測試儀通常是內(nèi)存自動測試設備，其價值一般在數(shù)百萬美元以上。測試儀的部分是一臺可編程的高分辨信號發(fā)生器。測試工程師通過編程來模擬實際工作環(huán)境；另外，他也可以對計時脈沖邊沿前后進行微調(diào)來尋找平衡點。自動測試儀（ATE）系統(tǒng)也存在缺陷。它產(chǎn)生的任意波形數(shù)量受制于其本身的后備映象隨機內(nèi)存和算法生成程序。由于映象隨機內(nèi)存深度的局限性，使波形只能在自己的循環(huán)內(nèi)重復。因為DDR帶寬和速度是普通SDR的二倍，所以波形變化也應是其二倍。因此，測試儀的映象隨機內(nèi)存容量會很快被消耗殆盡。為...

DDR測試DDR/LPDDR簡介目前在計算機主板和各種嵌入式的應用中，存儲器是必不可少的。常用的存儲器有兩種：一種是非易失性的，即掉電不會丟失數(shù)據(jù)，常用的有Flash(閃存)或者ROM(Read-OnlyMemory),這種存儲器速度較慢，主要用于存儲程序代碼、文件以及長久的數(shù)據(jù)信息等；另一種是易失性的，即掉電會丟失數(shù)據(jù)，常用的有RAM(RandomAccessMemory,隨機存儲器),這種存儲器運行速度較快，主要用于程序運行時的程序或者數(shù)據(jù)緩存等。圖5.1是市面上一些主流存儲器類型的劃分DDR4信號質(zhì)量自動測試軟件報告；河北DDR測試配件 DDR測試 DDR信號的要求是針對DDR顆...

DDR測試 DDR總線上需要測試的參數(shù)高達上百個，而且還需要根據(jù)信號斜率進行復雜的查表修正。為了提高DDR信號質(zhì)量測試的效率，比較好使用的測試軟件進行測試。使用自動測試軟件的優(yōu)點是：自動化的設置向?qū)П苊膺B接和設置錯誤；優(yōu)化的算法可以減少測試時間；可以測試JEDEC規(guī)定的速率，也可以測試用戶自定義的數(shù)據(jù)速率；自動讀/寫分離技術(shù)簡化了測試操作；能夠多次測量并給出一個統(tǒng)計的結(jié)果；能夠根據(jù)信號斜率自動計算建立/保持時間的修正值。由于DDR5工作時鐘比較高到3.2GHz,系統(tǒng)裕量很小，因此信號的隨機和確定性抖動對于數(shù)據(jù)的正確傳輸至關(guān)重要，需要考慮熱噪聲引入的RJ、電源噪聲引入的PJ、傳輸通道損...

什麼是DDR內(nèi)存？如何測試？ 近幾年來，CPU的速度呈指數(shù)倍增長。然而，計算機內(nèi)存的速度增長確不盡人意。在1999年，大批量的PC133內(nèi)存替代PC100。其間，英特爾公司推出Rambus內(nèi)存作為PC工業(yè)的內(nèi)存解決方案。在內(nèi)存技術(shù)不斷發(fā)展的時代，每一種新技術(shù)的出現(xiàn)，就意味著更寬的頻帶范圍和更加優(yōu)越的性能。內(nèi)存峰值帶寬定義為：內(nèi)存總線寬度/8位X數(shù)據(jù)速率。該參數(shù)的提高會在實際使用過程中得到充分體現(xiàn)：3維游戲的速度更快，MP3音樂的播放更加柔和，MPEG視頻運動圖像質(zhì)量更好。今年，一種新型內(nèi)存：DDR內(nèi)存面世了。對大多數(shù)人來說，DDR仍然是一個陌生的名詞，然而，它確是數(shù)以百計前列內(nèi)存和系...

DDR測試 DDR4/5的協(xié)議測試除了信號質(zhì)量測試以外，有些用戶還會關(guān)心DDR總線上真實讀/寫的數(shù)據(jù)是否正確，以及總線上是否有協(xié)議的違規(guī)等，這時就需要進行相關(guān)的協(xié)議測試。DDR的總線寬度很寬，即使數(shù)據(jù)線只有16位，加上地址、時鐘、控制信號等也有30多根線，更寬位數(shù)的總線甚至會用到上百根線。為了能夠?qū)@么多根線上的數(shù)據(jù)進行同時捕獲并進行協(xié)議分析，適合的工具就是邏輯分析儀。DDR協(xié)議測試的基本方法是通過相應的探頭把被測信號引到邏輯分析儀，在邏輯分析儀中運行解碼軟件進行協(xié)議驗證和分析。 一種DDR4內(nèi)存信號測試方法；信號完整性測試DDR測試服務熱線 DDR測試 DDR信號的...

DDR測試DDR/LPDDR簡介目前在計算機主板和各種嵌入式的應用中，存儲器是必不可少的。常用的存儲器有兩種：一種是非易失性的，即掉電不會丟失數(shù)據(jù)，常用的有Flash(閃存)或者ROM(Read-OnlyMemory),這種存儲器速度較慢，主要用于存儲程序代碼、文件以及長久的數(shù)據(jù)信息等；另一種是易失性的，即掉電會丟失數(shù)據(jù)，常用的有RAM(RandomAccessMemory,隨機存儲器),這種存儲器運行速度較快，主要用于程序運行時的程序或者數(shù)據(jù)緩存等。圖5.1是市面上一些主流存儲器類型的劃分DDR平均速率以及變化情況；北京DDR測試安裝現(xiàn)做一個測試電路，類似于圖5，驅(qū)動源是一個線性的60Ohm...

DDR測試 大部分的DRAM都是在一個同步時鐘的控制下進行數(shù)據(jù)讀寫，即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據(jù)時鐘采樣方式的不同，又分為SDR SDRAM(Single Data Rate SDRAM)和DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM) 。SDR SDRAM只在時鐘的上升或者下降沿進行數(shù)據(jù)采樣，而DDR SDRAM在時鐘的上升和下降 沿都會進行數(shù)據(jù)采樣。采用DDR方式的好處是時鐘和數(shù)據(jù)信號的跳變速率是一樣的，因 此晶體管的工作速度以及PCB的損耗對于時鐘和數(shù)據(jù)信號是一樣的...

這里有三種方案進行對比考慮：一種是，通過過孔互聯(lián)的這個過孔附近沒有任何地過孔，那么，其返回路徑只能通過離此過孔250mils的PCB邊緣來提供；第二種是，一根長達362mils的微帶線；第三種是，在一個信號線的四周有四個地過孔環(huán)繞著。圖6顯示了帶有60Ohm的常規(guī)線的S-Parameters，從圖中可以看出，帶有四個地過孔環(huán)繞的信號過孔的S-Parameters就像一根連續(xù)的微帶線，從而提高了S21特性。 由此可知，在信號過孔附近缺少返回路徑的情況下，則此信號過孔會增高其阻抗。當今的高速系統(tǒng)里，在時延方面顯得尤為重要。 DDR信號質(zhì)量的測試方法、測試裝置與測試設備與流程；機械DDR測...

DDR測試 大部分的DRAM都是在一個同步時鐘的控制下進行數(shù)據(jù)讀寫，即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據(jù)時鐘采樣方式的不同，又分為SDR SDRAM(Single Data Rate SDRAM)和DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM) 。SDR SDRAM只在時鐘的上升或者下降沿進行數(shù)據(jù)采樣，而DDR SDRAM在時鐘的上升和下降 沿都會進行數(shù)據(jù)采樣。采用DDR方式的好處是時鐘和數(shù)據(jù)信號的跳變速率是一樣的，因 此晶體管的工作速度以及PCB的損耗對于時鐘和數(shù)據(jù)信號是一樣的...

DDR測試 DDR總線上需要測試的參數(shù)高達上百個，而且還需要根據(jù)信號斜率進行復雜的查表修正。為了提高DDR信號質(zhì)量測試的效率，比較好使用的測試軟件進行測試。使用自動測試軟件的優(yōu)點是：自動化的設置向?qū)П苊膺B接和設置錯誤；優(yōu)化的算法可以減少測試時間；可以測試JEDEC規(guī)定的速率，也可以測試用戶自定義的數(shù)據(jù)速率；自動讀/寫分離技術(shù)簡化了測試操作；能夠多次測量并給出一個統(tǒng)計的結(jié)果；能夠根據(jù)信號斜率自動計算建立/保持時間的修正值。由于DDR5工作時鐘比較高到3.2GHz,系統(tǒng)裕量很小，因此信號的隨機和確定性抖動對于數(shù)據(jù)的正確傳輸至關(guān)重要，需要考慮熱噪聲引入的RJ、電源噪聲引入的PJ、傳輸通道損...

8.PCBLayout在實際的PCB設計時，考慮到SI的要求，往往有很多的折中方案。通常，需要優(yōu)先考慮對于那些對信號的完整性要求比較高的。畫PCB時，當考慮以下的一些相關(guān)因素，那么對于設計PCB來說可靠性就會更高。1）首先，要在相關(guān)的EDA工具里設置好拓撲結(jié)構(gòu)和相關(guān)約束。2）將BGA引腳突圍，將ADDR/CMD/CNTRL引腳布置在DQ/DQS/DM字節(jié)組的中間，由于所有這些分組操作，為了盡可能少的信號交叉，一些的管腳也許會被交換到其它區(qū)域布線。3）由串擾仿真的結(jié)果可知，盡量減少短線（stubs）長度。通常，短線（stubs）是可以被削減的，但不是所有的管腳都做得到的。在BGA焊盤和存儲器焊盤...

14.在本發(fā)明的一個實施例中，所述相關(guān)信號包括dqs信號、clk信號和dq信號，所述標志信號為dqs信號。15.在本發(fā)明的一個實施例中，所述根據(jù)標志信號對示波器進行相關(guān)參數(shù)配置，具體包括：16.利用示波器分別采集標志信號在數(shù)據(jù)讀取和數(shù)據(jù)寫入過程中的電平幅值；17.對標志信號在數(shù)據(jù)讀取和數(shù)據(jù)寫入過程中的電平幅值進行比較，確定標志信號的電平閾值；18.在示波器中配置標志信號的電平閾值。19.在本發(fā)明的一個實施例中，所述利用示波器的觸發(fā)功能將ddr4內(nèi)存的讀寫信號進行信號分離，具體包括：20.將標志信號的實時電平幅值與標志信號的電平閾值進行比較；21.將大于電平閾值的標志信號和小于電平閾值的標志信號...

對于DDR2和DDR3，時鐘信號是以差分的形式傳輸?shù)模贒DR2里，DQS信號是以單端或差分方式通訊取決于其工作的速率，當以高度速率工作時則采用差分的方式。顯然，在同樣的長度下，差分線的切換時延是小于單端線的。根據(jù)時序仿真的結(jié)果，時鐘信號和DQS也許需要比相應的ADDR/CMD/CNTRL和DATA線長一點。另外，必須確保時鐘線和DQS布在其相關(guān)的ADDR/CMD/CNTRL和DQ線的當中。由于DQ和DM在很高的速度下傳輸，所以，需要在每一個字節(jié)里，它們要有嚴格的長度匹配，而且不能有過孔。差分信號對阻抗不連續(xù)的敏感度比較低，所以換層走線是沒多大問題的，在布線時優(yōu)先考慮布時鐘線和DQS。DDR...

6.信號及電源完整性這里的電源完整性指的是在比較大的信號切換情況下，其電源的容差性。當未符合此容差要求時，將會導致很多的問題，比如加大時鐘抖動、數(shù)據(jù)抖動和串擾。這里，可以很好的理解與去偶相關(guān)的理論，現(xiàn)在從”目標阻抗”的公式定義開始討論。Ztarget=Voltagetolerance/TransientCurrent（1）在這里，關(guān)鍵是要去理解在差的切換情況下瞬間電流（TransientCurrent）的影響，另一個重要因素是切換的頻率。在所有的頻率范圍里，去耦網(wǎng)絡必須確保它的阻抗等于或小于目標阻抗（Ztarget）。在一塊PCB上，由電源和地層所構(gòu)成的電容，以及所有的去耦電容，必須能夠確保在...

只在TOP和BOTTOM層進行了布線，存儲器由兩片的SDRAM以菊花鏈的方式所構(gòu)成。而在DIMM的案例里，只有一個不帶緩存的DIMM被使用。對TOP/BOTTOM層布線的一個閃照圖和信號完整性仿真圖。 ADDRESS和CLOCK網(wǎng)絡，右邊的是DATA和DQS網(wǎng)絡，其時鐘頻率在800 MHz，數(shù)據(jù)通信率為1600Mbps ADDRESS和CLOCK網(wǎng)絡，右邊的是DATA和DQS網(wǎng)絡，其時鐘頻率在400 MHz，數(shù)據(jù)通信率為800Mbps ADDRESS和CLOCK網(wǎng)絡，右邊的是DATA和DQS網(wǎng)絡 個經(jīng)過比較過的數(shù)據(jù)信號眼圖，一個是仿真的結(jié)果，而另一個是實際測量的。在...

4.為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種ddr4內(nèi)存信號測試方法、裝置及存儲介質(zhì)，可以反映正常工作狀態(tài)下的波形，可以提高測試效率。5.為實現(xiàn)上述目的，本技術(shù)提出技術(shù)方案：6.一種ddr4內(nèi)存信號測試方法，所述方法包括以下步驟：7.s1，將服務器、ddr4內(nèi)存和示波器置于正常工作狀態(tài)，然后利用示波器采集ddr4內(nèi)存中的相關(guān)信號并確定標志信號；8.s2，根據(jù)標志信號對示波器進行相關(guān)參數(shù)配置，利用示波器的觸發(fā)功能將ddr4內(nèi)存的信號進行讀寫信號分離；9.s3，利用示波器對分離后的讀寫信號進行測試。10.在本發(fā)明的一個實施例中，所述將服務器、ddr4內(nèi)存和示波器置于正常工作狀態(tài)，然后利用示波器采集d...

DDR測試 主要的DDR相關(guān)規(guī)范，對發(fā)布時間、工作頻率、數(shù)據(jù) 位寬、工作電壓、參考電壓、內(nèi)存容量、預取長度、端接、接收機均衡等參數(shù)做了從DDR1 到 DDR5的電氣特性詳細對比?？梢钥闯鯠DR在向著更低電壓、更高性能、更大容量方向演 進，同時也在逐漸采用更先進的工藝和更復雜的技術(shù)來實現(xiàn)這些目標。以DDR5為例，相 對于之前的技術(shù)做了一系列的技術(shù)改進，比如在接收機內(nèi)部有均衡器補償高頻損耗和碼間 干擾影響、支持CA/CS訓練優(yōu)化信號時序、支持總線反轉(zhuǎn)和鏡像引腳優(yōu)化布線、支持片上 ECC/CRC提高數(shù)據(jù)訪問可靠性、支持Loopback(環(huán)回)便于IC調(diào)測等。 DDR3規(guī)范里關(guān)于信號...