隨著科技的不斷進(jìn)步 ,手機(jī)已經(jīng)成為我們?nèi)粘I钪胁豢苫蛉钡囊徊糠帧H欢?,隨著手機(jī)功能的不斷擴(kuò)展和提升,手機(jī)零部件的質(zhì)量和精度要求也越來越高。為了滿足這一需求,高精度光譜共焦傳感器被引入到手機(jī)零部件檢測(cè)中,為手機(jī)制造業(yè)提供了一種全新的解決方案。高精度光譜共焦傳感...
為了提高加工檢測(cè)效率 ,實(shí)現(xiàn)尺寸形位公差與微觀輪廓的同平臺(tái)測(cè)量,提出一種基于光譜共焦位移傳感器在現(xiàn)場(chǎng)坐標(biāo)測(cè)量平臺(tái)上集成表面粗糙度測(cè)量的方法。搭建實(shí)驗(yàn)測(cè)量系統(tǒng)且在Lab VIEW平臺(tái)上開發(fā)系統(tǒng)的硬件通訊控制模塊,并配套了高斯輪廓濾波處理及表面粗糙度的評(píng)價(jià)環(huán)境,建...
在半導(dǎo)體行業(yè)中 ,激光位移傳感器是一種非常重要的工具。半導(dǎo)體芯片是現(xiàn)代電子設(shè)備中基礎(chǔ)的組成部分,因此制造高質(zhì)量的半導(dǎo)體芯片對(duì)于電子工業(yè)來說至關(guān)重要。然而,由于半導(dǎo)體芯片尺寸非常小,其制造和生產(chǎn)過程需要高度精確的控制和測(cè)量。激光位移傳感器被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體芯片的...
光譜共焦測(cè)量技術(shù)是共焦原理和編碼技術(shù)的融合。一個(gè)完整的相對(duì)高度范疇能夠通過使用白光燈燈源照明燈具和光譜儀完成精確測(cè)量。光譜共焦位移傳感器的精確測(cè)量原理如下圖1所顯示,燈源發(fā)出光經(jīng)過光纖,再通過超色差鏡片,超色差鏡片能夠聚焦在直線光軸上,產(chǎn)生一系列可見光聚焦點(diǎn)。...
高像素傳感器的設(shè)計(jì)取決于對(duì)焦水平和圖像室內(nèi)空間NA的要求。同時(shí),在光譜共焦位移傳感器中,屏幕分辨率通常采用全半寬來進(jìn)行精確測(cè)量。高NA可以降低半寬,提高分辨率。因此,在設(shè)計(jì)超色差攝像鏡頭時(shí),需要盡可能提高NA。高圖像室內(nèi)空間NA可以提高傳感器系統(tǒng)的燈源使用率 ...
光譜共焦測(cè)量技術(shù)由于其高精度、允許被測(cè)表面有更大的傾斜角、測(cè)量速度快、實(shí)時(shí)性高、對(duì)被測(cè)表面狀況要求低、以及高分辨率的獨(dú)特優(yōu)勢(shì),迅速成為工業(yè)測(cè)量的熱門傳感器,在生物醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)、半導(dǎo)體制造、表面工程研究、精密測(cè)量、3C電子等領(lǐng)域得到大量應(yīng)用。本次測(cè)量場(chǎng)景使用的...
我們智能能設(shè)備的進(jìn)化日新月異,人們的追求越來越個(gè)性化。愈發(fā)復(fù)雜的形狀意味著,對(duì)點(diǎn)膠設(shè)備提出更高的要求,需要應(yīng)對(duì)更高的點(diǎn)膠精度!更靈活的點(diǎn)膠角度!目前手機(jī)中板和屏幕模組貼合時(shí),需要在中板上面點(diǎn)一圈透明的UV膠,這種膠由于白色反光的原因,只能使用光譜共焦傳感器進(jìn)行...
莫侯伊膜厚儀在半導(dǎo)體行業(yè)中具有重要的應(yīng)用價(jià)值膜厚儀的測(cè)量原理主要基于光學(xué)干涉原理。當(dāng)光波穿過薄膜時(shí),會(huì)發(fā)生干涉現(xiàn)象,根據(jù)干涉條紋的變化可以推導(dǎo)出薄膜的厚度。利用這一原理,通過測(cè)量干涉條紋的間距或相位差來計(jì)算薄膜的厚度。膜厚儀通常包括光源、光路系統(tǒng)、檢測(cè)器和數(shù)據(jù)...
基于白光干涉光譜單峰值波長(zhǎng)移動(dòng)的鍺膜厚度測(cè)量方案研究 :在對(duì)比研究目前常用的白光干涉測(cè)量方案的基礎(chǔ)上,我們發(fā)現(xiàn)當(dāng)兩干涉光束的光程差非常小導(dǎo)致其干涉光譜只有一個(gè)干涉峰時(shí),常用的基于兩相鄰干涉峰間距的解調(diào)方案不再適用。為此,我們提出了適用于極小光程差的基于干涉光譜...
白光干涉時(shí)域解調(diào)方案需要借助機(jī)械掃描部件帶動(dòng)干涉儀的反射鏡移動(dòng),補(bǔ)償光程差,實(shí)現(xiàn)對(duì)信號(hào)的解調(diào)。光纖白光干涉儀的兩輸出臂分別作為參考臂和測(cè)量臂,作用是將待測(cè)的物理量轉(zhuǎn)換為干涉儀兩臂的光程差變化。測(cè)量臂因待測(cè)物理量而增加了一個(gè)未知的光程,參考臂則通過移動(dòng)反射鏡來實(shí)...
白光干涉法和激光光源相比具有短相干長(zhǎng)度的特點(diǎn),使得兩束光只有在光程差非常小的情況下才能發(fā)生干涉,因此不會(huì)產(chǎn)生干擾條紋。同時(shí),白光干涉產(chǎn)生的干涉條紋具有明顯的零光程差位置,避免了干涉級(jí)次不確定的問題。本文基于白光干涉原理對(duì)單層透明薄膜厚度測(cè)量進(jìn)行了研究,特別...
隨著城市化進(jìn)程的加快和人口的增加 ,軌道交通已經(jīng)成為城市中不可或缺的一部分。軌道交通的安全和運(yùn)營(yíng)對(duì)于現(xiàn)代城市的運(yùn)轉(zhuǎn)至關(guān)重要。而激光位移傳感器的高精度和高靈敏度使其在軌道交通領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用,它能夠快速準(zhǔn)確地測(cè)量列車的位置和運(yùn)動(dòng)狀態(tài),為軌道交通的安全和運(yùn)營(yíng)提供...
光譜共焦技術(shù)主要包括成像、位置確認(rèn)和檢測(cè)三個(gè)步驟。首先,使用顯微鏡對(duì)樣品進(jìn)行成像,并將圖像傳遞給計(jì)算機(jī)處理。然后通過算法對(duì)圖像進(jìn)行位置確認(rèn),以確定樣品的空間位置。之后,通過對(duì)樣品的光譜信息分析,實(shí)現(xiàn)對(duì)其成分的檢測(cè)。在點(diǎn)膠行業(yè)中,光譜共焦技術(shù)可以準(zhǔn)確地檢測(cè)點(diǎn)膠的...
激光位移傳感器利用光學(xué)三角法原理 ,通過將激光發(fā)射光束投射到被測(cè)物體表面,利用漫反射效應(yīng)接收反射光并將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)輸出,從而獲取被測(cè)物體空間位置信息 。隨著現(xiàn)代技術(shù)的發(fā)展 ,激光位移傳感器已成為非接觸測(cè)量領(lǐng)域的重要手段,并可以通過與計(jì)算機(jī)及應(yīng)用軟件配合實(shí)...
本章介紹了基于白光反射光譜和白光垂直掃描干涉聯(lián)用的靶丸殼層折射率測(cè)量方法。該方法利用白光反射光譜測(cè)量靶丸殼層光學(xué)厚度,利用白光垂直掃描干涉技術(shù)測(cè)量光線通過靶丸殼層后的光程增量,結(jié)合起來即可得到靶丸的折射率和厚度數(shù)據(jù)。在實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)處理方面,為解決白光干涉光譜中波峰...
因?yàn)楣步箿y(cè)量方法具有高精度的三維成像能力,所以它已被用于表面輪廓和三維結(jié)構(gòu)的精密測(cè)量。本文分析了白光共焦光譜的基本原理,建立了透明靶丸內(nèi)表面圓周輪廓測(cè)量校準(zhǔn)模型,并基于白光共焦光譜和精密旋轉(zhuǎn)軸系,開發(fā)了透明靶丸內(nèi)、外表面圓周輪廓的納米級(jí)精度測(cè)量系統(tǒng)和靶丸圓心精...
采用對(duì)比測(cè)試方法,首先對(duì)基于白光共焦光譜技術(shù)的靶丸外表面輪廓測(cè)量精度進(jìn)行了考核 。為了便于比較,將原子力顯微鏡輪廓儀的測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行了偏移。二者的低階輪廓整體相似,局部的輪廓信息存在一定的偏差,原因在于二者在靶丸赤道附近的精確測(cè)量圓周輪廓結(jié)果不一致;此外,白光共...
在汽車領(lǐng)域 ,激光位移傳感器不僅可以用于汽車零部件的精密加工 ,還可以用于汽車零部件的測(cè)量。在汽車制造過程中,激光位移傳感器可以幫助制造商精確測(cè)量汽車零部件的位置和運(yùn)動(dòng)狀態(tài),以確保這些零部件符合設(shè)計(jì)要求。例如,在汽車制造中,激光位移傳感器可以用于測(cè)量車身和引擎...
光譜共焦測(cè)量技術(shù)是共焦原理和編碼技術(shù)的融合。一個(gè)完整的相對(duì)高度范疇能夠通過使用白光燈燈源照明燈具和光譜儀完成精確測(cè)量。光譜共焦位移傳感器的精確測(cè)量原理如下圖1所顯示,燈源發(fā)出光經(jīng)過光纖,再通過超色差鏡片,超色差鏡片能夠聚焦在直線光軸上,產(chǎn)生一系列可見光聚焦點(diǎn)。...
本文提出了一種基于高精度光譜共焦位移傳感技術(shù)的表面粗糙度集成在線測(cè)量方法,適用于一種特殊材料異型結(jié)構(gòu)零件內(nèi)曲面的表面粗糙度測(cè)量要求。該方法利用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)平臺(tái)對(duì)零件進(jìn)行輪廓掃描,并記錄測(cè)量掃描位置的空間橫坐標(biāo),然后根據(jù)空間坐標(biāo)關(guān)系,將微觀高度信息和采樣點(diǎn)組合成...
本章主要介紹了基于白光反射光譜和白光垂直掃描干涉聯(lián)用的靶丸殼層折射率測(cè)量方法 。該方法利用白光反射光譜測(cè)量靶丸殼層光學(xué)厚度,利用白光垂直掃描干涉技術(shù)測(cè)量光線通過靶丸殼層后的光程增量,二者聯(lián)立即可求得靶丸折射率和厚度數(shù)據(jù)。在實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)處理方面,為解決白光干涉光譜中...
在硅片柵線的厚度測(cè)量過程中,創(chuàng)視智能TS-C系列光譜共焦傳感器和CCS控制器被使用。TS-C系列光譜共焦位移傳感器具有0.025 μm的重復(fù)精度,±0.02%的線性精度,10kHz的測(cè)量速度和±60°的測(cè)量角度。它適用于鏡面、透明、半透明、膜層、金屬粗糙面和多...
在工業(yè)領(lǐng)域 ,光譜共焦傳感器的應(yīng)用可以幫助企業(yè)實(shí)現(xiàn)更高精度的加工,提高產(chǎn)品的質(zhì)量和生產(chǎn)效率。首先,高精度光譜共焦傳感器可以實(shí)現(xiàn)對(duì)加工表面形貌的j精確測(cè)量。在精加工過程中,產(chǎn)品的表面形貌對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量有著至關(guān)重要的影響。傳統(tǒng)的測(cè)量方法往往需要接觸式測(cè)量,不僅測(cè)量精...
白光干涉時(shí)域解調(diào)方案需要借助機(jī)械掃描部件帶動(dòng)干涉儀的反射鏡移動(dòng) ,補(bǔ)償光程差,實(shí)現(xiàn)對(duì)信號(hào)的解調(diào)[44-45]。系統(tǒng)基本結(jié)構(gòu)如圖2-1所示。光纖白光干涉儀的兩輸出臂分別作為參考臂和測(cè)量臂,作用是將待測(cè)的物理量轉(zhuǎn)換為干涉儀兩臂的光程差變化。測(cè)量臂因待測(cè)物理量而增加...
這篇文章介紹了一種具有1毫米縱向色差的超色差攝像鏡頭,它具有0.4436的圖像室內(nèi)空間NA和0.991的線性相關(guān)系數(shù)R2,其構(gòu)造達(dá)到了原始設(shè)計(jì)要求并顯示出了良好的光學(xué)性能。實(shí)現(xiàn)線性散射需要考慮一些關(guān)鍵條件,并可以采用不同的優(yōu)化方法來改進(jìn)設(shè)計(jì)。首先,線性散射的實(shí)...
隨著社會(huì)不斷的發(fā)展,我們智能能設(shè)備的進(jìn)化日新月異,人們已經(jīng)越來越追求個(gè)性化。愈發(fā)復(fù)雜的形狀意味著,對(duì)點(diǎn)膠設(shè)備提出更高的要求,需要應(yīng)對(duì)更高的點(diǎn)膠精度!更靈活的點(diǎn)膠角度!目前手機(jī)中板和屏幕模組貼合時(shí),需要在中板上面點(diǎn)一圈透明的UV膠,這種膠由于白色反光的原因,只能...
光譜共焦位移傳感器是一種基于光波長(zhǎng)偏移調(diào)制的非接觸式位移傳感器。它也是一種新型極高精密度、極高可靠性的光學(xué)位移傳感器,近些年對(duì)迅速、精確的非接觸式測(cè)量變得更加關(guān)鍵。光譜共焦位移傳感器不但可以精確測(cè)量偏移,還可用作圓直徑的精確測(cè)量,及其塑料薄膜的折光率和厚度的精...
激光位移傳感器具有結(jié)構(gòu)小巧 、測(cè)量速度快、精度高、測(cè)量光斑小、抗干擾能力強(qiáng)和非接觸式的測(cè)量特點(diǎn),因此在微位移測(cè)量領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。其測(cè)量原理是利用激光單色和準(zhǔn)直特性,將垂直入射測(cè)距面上的激光點(diǎn)通過光學(xué)系統(tǒng)將其縮小的實(shí)像成像在接收光敏面上。激光位移傳感器由激光發(fā)...
隨著工業(yè)快速的發(fā)展 ,對(duì)精密測(cè)量技術(shù)的要求越來越高,位移測(cè)量技術(shù)作為幾何量精密測(cè)量的基礎(chǔ),不僅需要超高測(cè)量精度,而且需要對(duì)環(huán)境和材料的大量適應(yīng)性,并且逐步趨于實(shí)時(shí)、無(wú)損檢測(cè)。與傳統(tǒng)接觸式測(cè)量方法相比,光譜共焦位移傳感器具有高速度,高精度,高適應(yīng)性等明顯優(yōu)勢(shì)。本...
針對(duì)靶丸自身獨(dú)特的特點(diǎn)及極端實(shí)驗(yàn)條件需求,使得靶丸參數(shù)的測(cè)試工作變得異常復(fù)雜。如何精確地測(cè)定靶丸的光學(xué)參數(shù),一直是激光聚變研究者非常關(guān)注的課題。由于光學(xué)測(cè)量方法具有無(wú)損、非接觸、測(cè)量效率高、操作簡(jiǎn)便等優(yōu)越性,靶丸參數(shù)測(cè)量通常采用光學(xué)測(cè)量方式。常用的光學(xué)參數(shù)測(cè)量...