大部分的DRAM都是在一個同步時鐘的控制下進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫，即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據(jù)時鐘采樣方式的不同，又分為SDR SDRAM(Single Data Rate SDRAM)和DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM) 。SDR SDRAM只在時鐘的上升或者下降沿進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣，而DDR SDRAM在時鐘的上升和下降 沿都會進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣。采用DDR方式的好處是時鐘和數(shù)據(jù)信號的跳變速率是一樣的，因 此晶體管的工作速度以及PCB的損耗對于時鐘和數(shù)據(jù)信號是一樣的。DDR5 接收機(jī)一致...

如果PCB的密度較高，有可能期望測量的引腳附近根本找不到合適的過孔(比如采用雙面BGA貼裝或采用盲埋孔的PCB設(shè)計時),這時就需要有合適的手段把關(guān)心的BGA引腳上的信號盡可能無失真地引出來。為了解決這種探測的難題，可以使用一種專門的BGAInterposer(BGA芯片轉(zhuǎn)接板，有時也稱為BGA探頭)。這是一個專門設(shè)計的適配器，使用時要把適配器焊接在DDR的內(nèi)存顆粒和PCB板中間，并通過轉(zhuǎn)接板周邊的焊盤把被測信號引出。BGA轉(zhuǎn)接板內(nèi)部有專門的埋阻電路設(shè)計，以盡可能減小信號分叉對信號的影響。一個DDR的BGA探頭的典型使用場景。DDR4 和 LPDDR4 一致性測試應(yīng)用軟件提供了多種可以簡化設(shè)計驗...

為了進(jìn)行更簡單的讀寫分離，Agilent的Infiniium系列示波器提供了一種叫作InfiniiScan 的功能，可以通過區(qū)域（Zone）定義的方式把讀寫數(shù)據(jù)可靠分開。 根據(jù)讀寫數(shù)據(jù)的建立保持時間不同，Agilent獨有的InfiniiScan功能可以通過在屏幕上畫 出幾個信號必須通過的區(qū)域的方式方便地分離出讀、寫數(shù)據(jù)，并進(jìn)一步進(jìn)行眼圖的測試。 信號的眼圖。用同樣的方法可以把讀信號的眼圖分離出來。 除了形成眼圖外，我們還可以利用示波器的模板測量功能對眼圖進(jìn)行定量分析， 用戶可以根據(jù)JEDEC的要求自行定義一個模板對讀、寫信號進(jìn)行模板測試，如 果模板測試Fail,則...

制定DDR 內(nèi)存規(guī)范的標(biāo)準(zhǔn)化組織是JEDEC(Joint Electron Device Engineering Council,)。按照J(rèn)EDEC組織的定義， DDR4 的比較高數(shù)據(jù)速率已經(jīng) 達(dá)到了3200MT/s以上，DDR5的比較高數(shù)據(jù)速率則達(dá)到了6400MT/s以上。在2016年之 前，LPDDR的速率發(fā)展一直比同一代的DDR要慢一點。但是從LPDDR4開始，由于高性 能移動終端的發(fā)展，LPDDR4的速率開始趕超DDR4。LPDDR5更是比DDR5搶先一步在 2019年完成標(biāo)準(zhǔn)制定，并于2020年在的移動終端上開始使用。DDR5的規(guī)范 (JESD79-5)于2020年發(fā)布，并在202...

由于讀/寫時序不一樣造成的另一個問題是眼圖的測量。在DDR3及之前的規(guī)范中沒 有要求進(jìn)行眼圖測試，但是很多時候眼圖測試是一種快速、直觀衡量信號質(zhì)量的方法，所以 許多用戶希望通過眼圖來評估信號質(zhì)量。而對于DDR4的信號來說，由于時間和幅度的余量更小，必須考慮隨機(jī)抖動和隨機(jī)噪聲帶來的誤碼率的影響，而不是做簡單的建立/保 持時間的測量。因此在DDR4的測試要求中，就需要像很多高速串行總線一樣對信號疊加 生成眼圖，并根據(jù)誤碼率要求進(jìn)行隨機(jī)成分的外推，然后與要求的小信號張開窗口(類似 模板)進(jìn)行比較。圖5 . 8是DDR4規(guī)范中建議的眼圖張開窗口的測量方法(參考資料： JEDEC STAN...

RDIMM(RegisteredDIMM,寄存器式雙列直插內(nèi)存)有額外的RCD(寄存器時鐘驅(qū)動器，用來緩存來自內(nèi)存控制器的地址/命令/控制信號等)用于改善信號質(zhì)量，但額外寄存器的引入使得其延時和功耗較大。LRDIMM(LoadReducedDIMM,減載式雙列直插內(nèi)存)有額外的MB(內(nèi)存緩沖，緩沖來自內(nèi)存控制器的地址/命令/控制等),在技術(shù)實現(xiàn)上并未使用復(fù)雜寄存器，只是通過簡單緩沖降低內(nèi)存總線負(fù)載。RDIMM和LRDIMM通常應(yīng)用在高性能、大容量的計算系統(tǒng)中。 綜上可見，DDR內(nèi)存的發(fā)展趨勢是速率更高、封裝更密、工作電壓更低、信號調(diào)理技術(shù) 更復(fù)雜，這些都對設(shè)計和測試提出了更高的要求。...

以上只是 一 些進(jìn)行DDR讀/寫信號分離的常用方法，根據(jù)不同的信號情況可以做選 擇。對于DDR信號的 一 致性測試來說，用戶還可以選擇另外的方法，比如根據(jù)建立/保持 時間的不同進(jìn)行分離或者基于CA信號突發(fā)時延的方法(CA高接下來對應(yīng)讀操作，CA低 接下來對應(yīng)寫操作)等，甚至未來有可能采用一些機(jī)器學(xué)習(xí)(Machine Learning)的方法對 讀/寫信號進(jìn)行判別。讀時序和寫時序波形分離出來以后，就可以方便地進(jìn)行波形參數(shù)或者 眼圖模板的測量。 克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室 DDR地址、命令總線的一致性測試。湖北信息化DDR一致性測試 對DDR5來說，設(shè)計更為復(fù)雜，仿真軟件需要幫助用戶...

10Gbase-T總線測量為例做簡單介紹。 10Gbase-T總線的測量需要按照圖7-128來連接各種儀器和測試夾具。 10Gbase-T的輸岀跌落/定時抖動/時鐘頻率要求用實時示波器測試；線性度/功率譜密度 PSD/功率電平要求用頻譜分析儀測試；回波損耗要求用網(wǎng)絡(luò)分析儀測試。 需要自動化測試軟件進(jìn)行各種參數(shù)測試，一般這個軟件直接裝在示波器內(nèi)置的計算機(jī)里。 沒有自動測試軟件，測試是異常困難和耗時的工作。 測試夾具是測試系統(tǒng)的重要組成部分，測試儀器公司或一些專業(yè)的公司會提供工業(yè)標(biāo)準(zhǔn) 總線所用的測試夾具。當(dāng)然也可以自己設(shè)計，自己設(shè)計時主要關(guān)注阻抗匹配、損耗、串?dāng)_等 電氣...