吉林DDR一致性測試聯(lián)系方式

以上只是 一 些進行DDR讀/寫信號分離的常用方法，根據(jù)不同的信號情況可以做選 擇。對于DDR信號的 一 致性測試來說，用戶還可以選擇另外的方法，比如根據(jù)建立/保持 時間的不同進行分離或者基于CA信號突發(fā)時延的方法(CA高接下來對應讀操作，CA低 接下來對應寫操作)等，甚至未來有可能采用一些機器學習(Machine Learning)的方法對 讀/寫信號進行判別。讀時序和寫時序波形分離出來以后，就可以方便地進行波形參數(shù)或者 眼圖模板的測量。

克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室 DDR 設(shè)計和測試解決方案；吉林DDR一致性測試聯(lián)系方式

DDR時鐘總線的一致性測試

DDR總線參考時鐘或時鐘總線的測試變得越來越復雜，主要測試內(nèi)容可以分為兩方面：波形參數(shù)和抖動。波形參數(shù)主要包括：Overshoot（過沖）；Undershoot（下沖）；SlewRate（斜率）；RiseTime（上升時間）和FallTime（下降時間）；高低時間；DutyCycle（占空比失真）等，測試較簡單，在此不再贅述。抖動測試則越來越復雜，以前一般只是測試Cycle-CycleJitter（周期到周期抖動），但是當速率超過533MT/S的DDR2&3時，測試內(nèi)容相當多，不可忽略。表7-15是DDR2667的規(guī)范參數(shù)。對這些抖動參數(shù)的測試需要用軟件實現(xiàn)，比如Agilent的N5413ADDR2時鐘表征工具。測試建議用系統(tǒng)帶寬4GHz以上的差分探頭和示波器，測試點在DIMM上靠近DRAM芯片的位置，被測系統(tǒng)建議運行MemoryTest類的總線加壓軟件。 數(shù)字信號DDR一致性測試推薦貨源DDR3和 DDR4設(shè)計分成幾個方面：仿真、有源信號驗證和功能測試。用于電氣物理層、協(xié)議層和功能測試解決方案。

DDR-致性測試探測和夾具

DDR的信號速率都比較高，要進行可靠的測量，通常推薦的探頭連接方式是使用焊接式 探頭。還有許多很難在PCB板上找到相應的測試焊盤的情況（比如釆用盲埋孔或雙面BGA 焊接的情況），所以Agilent還提供了不同種類的BGA探頭，通過對板子做重新焊接將BGA 的Adapter焊接在DDR的memory chip和PCB板中間，并將信號引出。DDR3的 BGA探頭的焊接例子。

DDR是需要進行信號完整性測試的總線中復雜的總線，不僅走線多、探測困難，而且 時序復雜，各種操作交織在一起。本文分別從時鐘、地址、命令、數(shù)據(jù)總線方面介紹信號完 整性一致性測試的一些要點和方法，也介紹了自動化測試軟件和測試夾具,但是真正測試DDR 總線仍然是一件比較有挑戰(zhàn)的事情。

按照存儲信息方式的不同，隨機存儲器又分為靜態(tài)隨機存儲器SRAM(Static RAM)和 動態(tài)隨機存儲器DRAM(Dynamic RAM)。SRAM運行速度較快、時延小、控制簡單，但是 SRAM每比特的數(shù)據(jù)存儲需要多個晶體管，不容易實現(xiàn)大的存儲容量，主要用于一些對時 延和速度有要求但又不需要太大容量的場合，如一些CPU芯片內(nèi)置的緩存等。DRAM的 時延比SRAM大，而且需要定期的刷新，控制電路相對復雜。但是由于DRAM每比特數(shù)據(jù)存儲只需要一個晶體管，因此具有集成度高、功耗低、容量大、成本低等特點，目前已經(jīng)成為大 容量RAM的主流，典型的如現(xiàn)在的PC、服務器、嵌入式系統(tǒng)上用的大容量內(nèi)存都是DRAM。DDR4 和 LPDDR4 發(fā)射機一致性測試應用軟件的技術(shù)指標。

如果PCB的設(shè)計密度不高，用戶有可能在DDR顆粒的引腳附近找到PCB過孔，這時可以用焊接或點測探頭在過孔上進行信號測量。DDR總線信號質(zhì)量測試時經(jīng)常需要至少同時連接CLK、DQS、DQ等信號，且自動測試軟件需要運行一段時間，由于使用點測探頭人手很難長時間同時保持幾路信號連接的可靠性，所以通常會使用焊接探頭測試。有時為了方便，也可以把CLK和DQS焊接上，DQ根據(jù)需要用點測探頭進行測試。有些用戶會通過細銅線把信號引出再連接示波器探頭，但是因為DDR的信號速率很高，即使是一段1cm左右的沒有匹配的銅線也會嚴重影響信號的質(zhì)量，因此不建議使用沒有匹配的銅線引出信號。有些示波器廠商的焊接探頭可以提供稍長一些的經(jīng)過匹配的焊接線，可以嘗試一下這種焊接探頭。圖5.13所示就是一種用焊接探頭在過孔上進行DDR信號測試的例子。DDR、DDR2、DDR3、DDR4都有什么區(qū)別？吉林DDR一致性測試聯(lián)系方式

DDR2/3/4 和 LPDDR2/3 的協(xié)議一致性測試和分析工具箱。吉林DDR一致性測試聯(lián)系方式

克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室

一個實際的DDR4總線上的讀時序和寫時序。從兩張圖我們可 以看到，在實際的DDR總線上，讀時序、寫時序是同時存在的。而且對于讀或者寫時序來 說，DQS(數(shù)據(jù)鎖存信號)相對于DQ(數(shù)據(jù)信號)的位置也是不一樣的。對于測試來說，如果 沒有軟件的輔助，就需要人為分別捕獲不同位置的波形，并自己判斷每組Burst是讀操作還 是寫操作，再依據(jù)不同的讀/寫規(guī)范進行相應參數(shù)的測試，因此測量效率很低，而且無法進行 大量的測量統(tǒng)計。 吉林DDR一致性測試聯(lián)系方式

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