以上只是 一 些進(jìn)行DDR讀/寫信號(hào)分離的常用方法,根據(jù)不同的信號(hào)情況可以做選 擇。對(duì)于DDR信號(hào)的 一 致性測試來說,用戶還可以選擇另外的方法,比如根據(jù)建立/保持 時(shí)間的不同進(jìn)行分離或者基于CA信號(hào)突發(fā)時(shí)延的方法(CA高接下來對(duì)應(yīng)讀操作,CA低 接下來對(duì)應(yīng)寫操作)等,甚至未來有可能采用一些機(jī)器學(xué)習(xí)(Machine Learning)的方法對(duì) 讀/寫信號(hào)進(jìn)行判別。讀時(shí)序和寫時(shí)序波形分離出來以后,就可以方便地進(jìn)行波形參數(shù)或者 眼圖模板的測量。
克勞德高速數(shù)字信號(hào)測試實(shí)驗(yàn)室 DDR 設(shè)計(jì)和測試解決方案;吉林DDR一致性測試聯(lián)系方式
DDR時(shí)鐘總線的一致性測試
DDR總線參考時(shí)鐘或時(shí)鐘總線的測試變得越來越復(fù)雜,主要測試內(nèi)容可以分為兩方面:波形參數(shù)和抖動(dòng)。波形參數(shù)主要包括:Overshoot(過沖);Undershoot(下沖);SlewRate(斜率);RiseTime(上升時(shí)間)和FallTime(下降時(shí)間);高低時(shí)間;DutyCycle(占空比失真)等,測試較簡單,在此不再贅述。抖動(dòng)測試則越來越復(fù)雜,以前一般只是測試Cycle-CycleJitter(周期到周期抖動(dòng)),但是當(dāng)速率超過533MT/S的DDR2&3時(shí),測試內(nèi)容相當(dāng)多,不可忽略。表7-15是DDR2667的規(guī)范參數(shù)。對(duì)這些抖動(dòng)參數(shù)的測試需要用軟件實(shí)現(xiàn),比如Agilent的N5413ADDR2時(shí)鐘表征工具。測試建議用系統(tǒng)帶寬4GHz以上的差分探頭和示波器,測試點(diǎn)在DIMM上靠近DRAM芯片的位置,被測系統(tǒng)建議運(yùn)行MemoryTest類的總線加壓軟件。 數(shù)字信號(hào)DDR一致性測試推薦貨源DDR3和 DDR4設(shè)計(jì)分成幾個(gè)方面:仿真、有源信號(hào)驗(yàn)證和功能測試。用于電氣物理層、協(xié)議層和功能測試解決方案。
DDR-致性測試探測和夾具
DDR的信號(hào)速率都比較高,要進(jìn)行可靠的測量,通常推薦的探頭連接方式是使用焊接式 探頭。還有許多很難在PCB板上找到相應(yīng)的測試焊盤的情況(比如釆用盲埋孔或雙面BGA 焊接的情況),所以Agilent還提供了不同種類的BGA探頭,通過對(duì)板子做重新焊接將BGA 的Adapter焊接在DDR的memory chip和PCB板中間,并將信號(hào)引出。DDR3的 BGA探頭的焊接例子。
DDR是需要進(jìn)行信號(hào)完整性測試的總線中復(fù)雜的總線,不僅走線多、探測困難,而且 時(shí)序復(fù)雜,各種操作交織在一起。本文分別從時(shí)鐘、地址、命令、數(shù)據(jù)總線方面介紹信號(hào)完 整性一致性測試的一些要點(diǎn)和方法,也介紹了自動(dòng)化測試軟件和測試夾具,但是真正測試DDR 總線仍然是一件比較有挑戰(zhàn)的事情。
按照存儲(chǔ)信息方式的不同,隨機(jī)存儲(chǔ)器又分為靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器SRAM(Static RAM)和 動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器DRAM(Dynamic RAM)。SRAM運(yùn)行速度較快、時(shí)延小、控制簡單,但是 SRAM每比特的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)需要多個(gè)晶體管,不容易實(shí)現(xiàn)大的存儲(chǔ)容量,主要用于一些對(duì)時(shí) 延和速度有要求但又不需要太大容量的場合,如一些CPU芯片內(nèi)置的緩存等。DRAM的 時(shí)延比SRAM大,而且需要定期的刷新,控制電路相對(duì)復(fù)雜。但是由于DRAM每比特?cái)?shù)據(jù)存儲(chǔ)只需要一個(gè)晶體管,因此具有集成度高、功耗低、容量大、成本低等特點(diǎn),目前已經(jīng)成為大 容量RAM的主流,典型的如現(xiàn)在的PC、服務(wù)器、嵌入式系統(tǒng)上用的大容量內(nèi)存都是DRAM。DDR4 和 LPDDR4 發(fā)射機(jī)一致性測試應(yīng)用軟件的技術(shù)指標(biāo)。
如果PCB的設(shè)計(jì)密度不高,用戶有可能在DDR顆粒的引腳附近找到PCB過孔,這時(shí)可以用焊接或點(diǎn)測探頭在過孔上進(jìn)行信號(hào)測量。DDR總線信號(hào)質(zhì)量測試時(shí)經(jīng)常需要至少同時(shí)連接CLK、DQS、DQ等信號(hào),且自動(dòng)測試軟件需要運(yùn)行一段時(shí)間,由于使用點(diǎn)測探頭人手很難長時(shí)間同時(shí)保持幾路信號(hào)連接的可靠性,所以通常會(huì)使用焊接探頭測試。有時(shí)為了方便,也可以把CLK和DQS焊接上,DQ根據(jù)需要用點(diǎn)測探頭進(jìn)行測試。有些用戶會(huì)通過細(xì)銅線把信號(hào)引出再連接示波器探頭,但是因?yàn)镈DR的信號(hào)速率很高,即使是一段1cm左右的沒有匹配的銅線也會(huì)嚴(yán)重影響信號(hào)的質(zhì)量,因此不建議使用沒有匹配的銅線引出信號(hào)。有些示波器廠商的焊接探頭可以提供稍長一些的經(jīng)過匹配的焊接線,可以嘗試一下這種焊接探頭。圖5.13所示就是一種用焊接探頭在過孔上進(jìn)行DDR信號(hào)測試的例子。DDR、DDR2、DDR3、DDR4都有什么區(qū)別?吉林DDR一致性測試聯(lián)系方式
DDR2/3/4 和 LPDDR2/3 的協(xié)議一致性測試和分析工具箱。吉林DDR一致性測試聯(lián)系方式
克勞德高速數(shù)字信號(hào)測試實(shí)驗(yàn)室
一個(gè)實(shí)際的DDR4總線上的讀時(shí)序和寫時(shí)序。從兩張圖我們可 以看到,在實(shí)際的DDR總線上,讀時(shí)序、寫時(shí)序是同時(shí)存在的。而且對(duì)于讀或者寫時(shí)序來 說,DQS(數(shù)據(jù)鎖存信號(hào))相對(duì)于DQ(數(shù)據(jù)信號(hào))的位置也是不一樣的。對(duì)于測試來說,如果 沒有軟件的輔助,就需要人為分別捕獲不同位置的波形,并自己判斷每組Burst是讀操作還 是寫操作,再依據(jù)不同的讀/寫規(guī)范進(jìn)行相應(yīng)參數(shù)的測試,因此測量效率很低,而且無法進(jìn)行 大量的測量統(tǒng)計(jì)。 吉林DDR一致性測試聯(lián)系方式
深圳市力恩科技有限公司是一家一般經(jīng)營項(xiàng)目是:儀器儀表的研發(fā)、租賃、銷售、上門維修;物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)品的研發(fā)及銷售;無源射頻產(chǎn)品的研發(fā)及銷售;電子產(chǎn)品及電子元器件的銷售;儀器儀表、物聯(lián)網(wǎng)、無源射頻產(chǎn)品的相關(guān)技術(shù)咨詢;軟件的研發(fā)以及銷售,軟件技術(shù)咨詢服務(wù)等。的公司,致力于發(fā)展為創(chuàng)新務(wù)實(shí)、誠實(shí)可信的企業(yè)。力恩科技深耕行業(yè)多年,始終以客戶的需求為向?qū)?,為客戶提供高質(zhì)量的實(shí)驗(yàn)室配套,誤碼儀/示波器,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,協(xié)議分析儀。力恩科技繼續(xù)堅(jiān)定不移地走高質(zhì)量發(fā)展道路,既要實(shí)現(xiàn)基本面穩(wěn)定增長,又要聚焦關(guān)鍵領(lǐng)域,實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)型再突破。力恩科技創(chuàng)始人劉亮,始終關(guān)注客戶,創(chuàng)新科技,竭誠為客戶提供良好的服務(wù)。