江西智能電阻測(cè)試發(fā)展

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2023-05-05

表面電子組件的電化學(xué)遷移的發(fā)生機(jī)理取決于四個(gè)因素:銅、電壓、濕度和離子種類(lèi)。當(dāng)環(huán)境中的濕氣在電路板上形成水滴時(shí),能夠與表面上的任何離子相互作用,使離子沿著電路板表面移動(dòng)。離子與銅發(fā)生反應(yīng),它們?cè)陔妷旱淖饔孟?,被推?dòng)著在銅電路之間遷移。這通常被總結(jié)為一系列步驟:水吸附、陽(yáng)極金屬溶解或離子生成、離子積累、離子遷移到陰極和金屬枝晶狀生長(zhǎng)。線路板表面的每一種材料都有可能是電遷移產(chǎn)生的影響因素:無(wú)論是線路板材料和阻焊層、元器件的清潔度,還是制板工藝或組裝工藝產(chǎn)生的任何殘留物(包括助焊劑殘留物)。由于這種失效機(jī)制是動(dòng)態(tài)變化的,理想狀況是對(duì)每種設(shè)計(jì)和裝配都進(jìn)行測(cè)試。但這是不可行的。這就提出了一個(gè)問(wèn)題:如何比較好地描述一個(gè)組件的電化學(xué)遷移傾向。印刷電路板的電極之間會(huì)出現(xiàn)離子轉(zhuǎn)移,出現(xiàn)絕緣劣化的現(xiàn)象。通常發(fā)生在PCB基板中。江西智能電阻測(cè)試發(fā)展

電阻測(cè)試

表面絕緣電阻(SIR)IPC-TM-650方法定義了在高濕度環(huán)境下表面絕緣電阻的測(cè)試條件。SIR測(cè)試在40°C和相對(duì)濕度為90%的箱體里進(jìn)行。樣板的制備和ECM測(cè)試一樣,都是依據(jù)方法制備(如圖1)。***版本的測(cè)試要求規(guī)定每20分鐘要檢查一次樣板。在七天的測(cè)試中,不同模塊之間的表面絕緣電阻值衰減必須少于10Ohms,但是要排除**開(kāi)始24小時(shí)的穩(wěn)定時(shí)間。電壓是恒定不變的。這和ECM測(cè)試在很多方面不一樣。兩者的不同點(diǎn)是:持續(xù)時(shí)間、測(cè)試箱體條件和頻繁測(cè)量數(shù)據(jù)的目的。樣板同樣需要目測(cè)檢查枝晶生長(zhǎng)是否超過(guò)間距的20%和是否有任何腐蝕引起的變色問(wèn)題。海南pcb絕緣電阻測(cè)試銷(xiāo)售廠家SIR測(cè)試參考標(biāo)準(zhǔn):JIS Z 3197 Test methods for soldering fluxes釬焊熔劑的試驗(yàn)方法。

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什么是導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試CAF導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試(Conductiveanodicfilamenttest,簡(jiǎn)稱(chēng)CAF)是電化學(xué)遷移的其中一種表現(xiàn)形式。它與表面樹(shù)狀生長(zhǎng)的區(qū)別:1.產(chǎn)生遷移的金屬是銅,而不是鉛或者錫;2.金屬絲是從陽(yáng)極往陰極生長(zhǎng)的;3.金屬絲是由金屬鹽組成,而不是中性的金屬原子組成。焊盤(pán)中的銅金屬是金屬離子的主要來(lái)源,在陽(yáng)極電化學(xué)生成,并沿著樹(shù)脂和玻璃增強(qiáng)纖維之間界面移動(dòng)。隨著時(shí)代發(fā)展和技術(shù)的革新,PCB板上出現(xiàn)CAF的現(xiàn)象卻越來(lái)越嚴(yán)重,究其原因,是因?yàn)楝F(xiàn)在電子設(shè)備上的PCB板上需要焊接的電子元件越來(lái)越多,這樣也就造成了PCB板上的金屬電極之間的距離越來(lái)越短,這樣就更加容易在兩個(gè)金屬電極之間產(chǎn)生CAF現(xiàn)象。

幾十年來(lái),行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)一直認(rèn)為SIR測(cè)試是比較好的方法。然而,在實(shí)踐中,這種方法有一些局限性。首先,它是在標(biāo)準(zhǔn)梳狀測(cè)試樣板上進(jìn)行的,而不是實(shí)際的組裝產(chǎn)品。根據(jù)不同的PCB表面處理、回流工藝條件、處理工序等,需要進(jìn)行**的測(cè)試設(shè)置。而且測(cè)試方法的選擇,可能需要組裝元器件,也可能不需要。由于和助焊劑分類(lèi)有關(guān),這些因素的標(biāo)準(zhǔn)化是區(qū)分可比較的助焊劑類(lèi)別的關(guān)鍵。另一方面,工藝的優(yōu)化和控制可能會(huì)遺漏一些關(guān)鍵的失效來(lái)源。其次,由于組件處于生產(chǎn)過(guò)程中,無(wú)法實(shí)時(shí)收集結(jié)果。根據(jù)測(cè)試方法的不同,測(cè)試時(shí)間**少為72小時(shí),**多為28天,這使得測(cè)試對(duì)于過(guò)程控制來(lái)說(shuō)太長(zhǎng)了。從而促使制造商尋求能快速有效地表征電化學(xué)遷移傾向的測(cè)試方法,以控制組裝工藝。測(cè)量離子與非離子污染物對(duì)PCB可靠性的影響,其效果遠(yuǎn)比其它方法(如清潔度試驗(yàn)、鉻酸銀試驗(yàn)等)有效方便。

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CAF測(cè)試方法案例:  1、保持測(cè)試樣品無(wú)污染,做好標(biāo)記,用無(wú)污染手套移動(dòng)樣品。做好預(yù)先準(zhǔn)備,防止短路和開(kāi)路。清潔后連接導(dǎo)線,連接后再清潔。烘干,在105±2℃下烘烤6小時(shí)。進(jìn)行預(yù)處理,在中立環(huán)境下,保持23±2℃和50±5%的相對(duì)濕度至少24h。2、在該測(cè)試方法中相對(duì)濕度的嚴(yán)格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對(duì)濕度偏差會(huì)造成電阻量測(cè)結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。在有偏置電壓加載的情況下,一旦水凝結(jié)在測(cè)試樣品表面,有可能會(huì)造成表面樹(shù)枝狀晶體的失效。當(dāng)某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時(shí)候,也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細(xì)小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹(shù)枝狀晶體的生長(zhǎng)。這樣的情況必須被排除,確保能夠得到有意義的測(cè)試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗(yàn)箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對(duì)濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境,其相對(duì)濕度的波動(dòng)時(shí)間越短越好,不允許超過(guò)5分鐘。SIR表面絕緣電阻測(cè)試的目的之一:使用新色敷形涂料或工藝。貴州多功能電阻測(cè)試批量定制

多通道導(dǎo)通電阻實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試系統(tǒng),可監(jiān)測(cè)溫度范圍:-70℃-200℃,精度± 1℃。江西智能電阻測(cè)試發(fā)展

ROSE是用2-丙醇和水溶液,通過(guò)手工、動(dòng)態(tài)和靜態(tài)三種方法萃取板表面的任何殘留物。通常是將整個(gè)板子浸入溶液中,然后測(cè)量這種萃取物的電阻率,測(cè)量值由板子表面所有可溶性離子種類(lèi)的離子含量決定。每種萃取方法在如何準(zhǔn)確地實(shí)現(xiàn)這一過(guò)程上各不相同。通常,**測(cè)試電阻率是不夠的,因?yàn)樗荒軈^(qū)分是哪些離子導(dǎo)致萃取電阻率下降。為了評(píng)估哪些離子存在,必須進(jìn)行額外的離子色譜檢測(cè)。通過(guò)允許操作人員從過(guò)程中識(shí)別離子含量的來(lái)源,來(lái)完成測(cè)試。此外,過(guò)程控制從組裝工藝的開(kāi)始就要進(jìn)行,線路板和元器件的進(jìn)廠清潔度與組裝的**終清潔度同樣重要。這也可以通過(guò)一種能夠在較小規(guī)模上從表面萃取的測(cè)試方法更有效地實(shí)現(xiàn)。江西智能電阻測(cè)試發(fā)展

廣州維柯信息技術(shù)有限公司是以提供機(jī)動(dòng)車(chē)檢測(cè)行業(yè)產(chǎn)品,高低阻(CAF/TCT),實(shí)驗(yàn)室LIMS系統(tǒng),醫(yī)療廢液在線監(jiān)測(cè)為主的私營(yíng)有限責(zé)任公司,公司成立于2006-04-11,旗下新成,浙大鳴泉,廣州維柯,已經(jīng)具有一定的業(yè)內(nèi)水平。公司承擔(dān)并建設(shè)完成機(jī)械及行業(yè)設(shè)備多項(xiàng)重點(diǎn)項(xiàng)目,取得了明顯的社會(huì)和經(jīng)濟(jì)效益。多年來(lái),已經(jīng)為我國(guó)機(jī)械及行業(yè)設(shè)備行業(yè)生產(chǎn)、經(jīng)濟(jì)等的發(fā)展做出了重要貢獻(xiàn)。