我們分析了一種可以有效消除偏振相關(guān)性的偏振分級(jí)方案,并提出了兩種新型結(jié)構(gòu)以實(shí)現(xiàn)該方案中的兩種關(guān)鍵元件。通過理論分析以及實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證,一個(gè)基于一維光柵的偏振分束器被證明能夠?qū)崿F(xiàn)兩種偏振光的有效分離。該分束器同時(shí)還能作為光纖與硅光芯片之間的高效耦合器。實(shí)驗(yàn)中我們獲得了...
光纖耦合系統(tǒng)中的光纖是一個(gè)重要參數(shù)是光信號(hào)在光纖內(nèi)傳輸時(shí)功率的損耗。在過去的30多年里,由于技術(shù)的逐漸完善,普通光纖中的損耗一直在降低,目前已經(jīng)趨于本征損耗。熔融硅光纖中具有較低損耗的波長(zhǎng)約在1550nm附近,在此波長(zhǎng)上的損耗約為0.12dB/km。對(duì)于光子晶...
我們公司研發(fā)的光纖耦合系統(tǒng)中通常存在大氣擾動(dòng)、環(huán)境振動(dòng)、溫度和重力變化以及器件應(yīng)力釋放等動(dòng)態(tài)因素引起的光束抖動(dòng)和光軸偏離,當(dāng)光斑偏移光纖的中心大于模場(chǎng)直徑2w0時(shí),空間光將無法耦合進(jìn)入單模光纖。本發(fā)明系統(tǒng)校正后的空間光與光纖光軸的對(duì)準(zhǔn)偏差<0.1w0,校正精度...
自動(dòng)耦合光纖耦合系統(tǒng):該系統(tǒng)的主要特點(diǎn)是徹底解決了自動(dòng)系統(tǒng)對(duì)操作人員要求熟練程度高,產(chǎn)品一致性不好、效率不高等缺點(diǎn)。系統(tǒng)采用多軸自動(dòng)調(diào)節(jié),兩軸傾斜采用自動(dòng)調(diào)節(jié)(調(diào)節(jié)器件端面平行)。同時(shí),還解決了初始光自動(dòng)查找的難題,使得員工比較容易上手。在系統(tǒng)中,采用了我們自...
硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試站包含自動(dòng)硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)客戶端程序,其程序流程如下:首先向自動(dòng)耦合臺(tái)發(fā)送耦合請(qǐng)求信息,并且信息包括待耦合芯片的通道號(hào),然后根據(jù)自動(dòng)耦合臺(tái)返回的相應(yīng)反饋信息進(jìn)入自動(dòng)耦合等待掛起,直到收到自動(dòng)耦合臺(tái)的耦合結(jié)束信息后向服務(wù)器發(fā)送測(cè)試請(qǐng)...
光纖耦合系統(tǒng)分為以下幾種:1、非直接耦合:兩個(gè)模塊之間沒有直接關(guān)系,它們之間的聯(lián)系完全是通過主模塊的控制和調(diào)用來實(shí)現(xiàn)的數(shù)據(jù)耦合:一個(gè)模塊訪問另一個(gè)模塊時(shí),彼此之間是通過簡(jiǎn)單數(shù)據(jù)參數(shù)(不是控制參數(shù)、公共數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)或外部變量)來交換輸入、輸出信息的。2、標(biāo)記耦合:一...
平臺(tái)振動(dòng)的周期或頻率與初始(或外界)條件無關(guān),而只與系統(tǒng)的固有特性有關(guān),稱為光學(xué)平臺(tái)的固有頻率或者固有周期。通常來說,固有頻率越低,系統(tǒng)的隔振性能就越強(qiáng)。外界振動(dòng)同物體的固有頻率相同時(shí),通常會(huì)引起共振,往往不是好事,甚至?xí)a(chǎn)生嚴(yán)重后果,比如:正常人體的固有頻率...
晶圓探針測(cè)試臺(tái)是半導(dǎo)體工藝線上的中間測(cè)試設(shè)備,與測(cè)試儀連接后,能自動(dòng)完成對(duì)集成電路及各種晶體管芯電參數(shù)和功能的測(cè)試。隨著對(duì)高性能、多功能、高速度、低功耗、小型化、低價(jià)格的電子產(chǎn)品的需求日益增長(zhǎng),這就要求在一個(gè)芯片中集成更多的功能并進(jìn)一步縮小尺寸,從而大片徑和高...
光纖耦合系統(tǒng)在低速領(lǐng)域已由實(shí)驗(yàn)證明具有優(yōu)良的性能,但在高速領(lǐng)域卻存在光纖的帶寬較低,限制了系統(tǒng)的時(shí)間響應(yīng)這樣一個(gè)重要的因素。因此考慮采用色散較小的單模光纖,使系統(tǒng)的時(shí)間響應(yīng)不再受限于光纖帶寬。但是這樣的話,經(jīng)探頭收集到的信號(hào)光是使用多模光纖來進(jìn)行接收的以盡可能...
探針臺(tái)市場(chǎng)逐年增長(zhǎng):半導(dǎo)體測(cè)試對(duì)于良率和品質(zhì)控制至關(guān)重要,是必不可少的環(huán)節(jié),主要涉及兩種測(cè)試(CP 測(cè)試、FT 測(cè)試等)、三種設(shè)備(探針臺(tái)、測(cè)試機(jī)、分選機(jī)等)。根據(jù)半導(dǎo)體產(chǎn)線投資配置規(guī)律,測(cè)試設(shè)備在半導(dǎo)體設(shè)備投資的占比約為8%,次于晶圓制造裝備,其中測(cè)試機(jī)、分...
撓度是指結(jié)構(gòu)構(gòu)件的軸線或中面由于彎曲引起垂直于軸線或中面方向的線位移。對(duì)于細(xì)長(zhǎng)物體或薄物體,撓度是在受力后彎曲變形程度的度量。細(xì)長(zhǎng)物體(如梁或柱)的撓度是指在變形時(shí)其軸線上各點(diǎn)在該點(diǎn)處軸線法平面內(nèi)的位移量。薄板或薄殼的撓度是指中面上各點(diǎn)在該點(diǎn)處中面法線上的位移...