地震模擬實(shí)驗(yàn)室

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-10-16

為了確認(rèn)產(chǎn)品能在這些環(huán)境下正常工作,國標(biāo)、行標(biāo)都要求產(chǎn)品在環(huán)境方法模擬一些測(cè)試項(xiàng)目,上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司為客戶提供以下地震測(cè)試服務(wù): 高低溫循環(huán)測(cè)試 恒溫恒濕測(cè)試 交變濕熱測(cè)試 低溫存儲(chǔ)測(cè)試 高溫存儲(chǔ)測(cè)試 高低溫沖擊測(cè)試 鹽霧測(cè)試(Salt Spray Test) 開關(guān)電測(cè)試(Switch electrical test) 膠帶附著力測(cè)試(The tape adhesion test) 振動(dòng)測(cè)試隨機(jī)/正弦(Vibration test) 包裝箱自由跌落測(cè)試(Drop test) 元器件推拉力測(cè)試(Push And Pull) 蒸氣老化測(cè)試(Steam Aging test) 元器件可焊性測(cè)試(Solderability test) IP等級(jí)防護(hù)測(cè)試 電源拉扭力測(cè)試 LED光衰壽命測(cè)試及認(rèn)證 回焊爐試驗(yàn) 塑封芯片MSL等級(jí)測(cè)試常見的地震測(cè)試有哪些?地震模擬實(shí)驗(yàn)室

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HALT(Highly Accelerated Life Test,高加速壽命試驗(yàn))-HASS(Highly Accelerated Stress Screening,高加速應(yīng)力篩選)、這是一種能夠提高產(chǎn)品地震的測(cè)試手段,HALT/HASS 是由美國軍方所延伸出的設(shè)計(jì)質(zhì)量驗(yàn)證與制造質(zhì)量驗(yàn)證的試驗(yàn)方法,現(xiàn)已成為美國電子業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品驗(yàn)證方法。它將原需花費(fèi)6 個(gè)月甚至1 年的新產(chǎn)品地震試驗(yàn)縮短至一周,且在這一周中所發(fā)現(xiàn)的產(chǎn)品問題幾乎與客戶應(yīng)用后所發(fā)現(xiàn)的問題一致,故HALT/HASS 的試驗(yàn)方式已成為新產(chǎn)品上市前所必需通過的驗(yàn)證。在美國之外,許多國際的3C 電子產(chǎn)品大廠也都使用相同或類似的手法來提升產(chǎn)品質(zhì)量。 HALT 是一種通過讓被測(cè)物承受不同的應(yīng)力、進(jìn)而發(fā)現(xiàn)其設(shè)計(jì)上的缺限,以及潛在弱點(diǎn)的實(shí)驗(yàn)方法。加諸于產(chǎn)品的應(yīng)力有振動(dòng),高低溫,溫度循環(huán),電力開關(guān)循環(huán),電壓邊際及頻率邊際測(cè)試等。HALT 應(yīng)用于產(chǎn)品的研發(fā)階段,能夠及早地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品地震的薄弱環(huán)節(jié)。上海地震報(bào)告上海天梯主營地震測(cè)試等項(xiàng)目!

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上海天梯檢測(cè)——高壓空載,低壓限流態(tài)運(yùn)行試驗(yàn) 測(cè)試說明: 高壓空載運(yùn)行是測(cè)試模塊的損耗情況,尤其是帶軟開關(guān)技術(shù)的模塊,在空載情況下,軟開關(guān)變?yōu)橛查_關(guān),模塊的損耗相應(yīng)增大。低壓滿載運(yùn)行是測(cè)試模塊在較大輸入電流時(shí),模塊的損耗情況,通常狀態(tài)下,模塊在低壓輸入、滿載輸出時(shí),效率較低,此時(shí)模塊的發(fā)熱較為嚴(yán)重。 測(cè)試方法: A、將模塊的輸入電壓調(diào)整為輸入過壓保護(hù)點(diǎn)-3V,模塊的輸出為較低輸出電壓,空載運(yùn)行,此時(shí),模塊的占空比為較小,連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),模塊不應(yīng)損壞; B、將模塊的輸入電壓調(diào)整為欠壓點(diǎn)+3V,模塊的輸出為較高輸出電壓的拐點(diǎn)狀態(tài),此時(shí)模塊的占空比為較大,連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),模塊不應(yīng)出現(xiàn)損壞

上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司ISTA運(yùn)輸包裝檢測(cè)認(rèn)證:上海天梯獲得了ISTA的認(rèn)證,可以提供一系列的運(yùn)輸包裝測(cè)試和質(zhì)量評(píng)估服務(wù),并可以簽發(fā)ISTA認(rèn)可的正式包裝運(yùn)輸測(cè)試報(bào)告。當(dāng)你的包裝設(shè)計(jì)通過ISTA測(cè)試后,你可以肯定這個(gè)包裝能在連續(xù)的運(yùn)輸環(huán)境下,使產(chǎn)品得到有效的保護(hù),并將不會(huì)受到可預(yù)見的因素危害。ISTA運(yùn)輸測(cè)試為您提供如下的切實(shí)利益 (1)減少產(chǎn)品的損壞和流失,以保證產(chǎn)品價(jià)值; (2)節(jié)省分銷成本; (3)減少和消除索賠爭議; (4)縮短包裝開發(fā)的時(shí)間,增強(qiáng)市場投放信心; (5)提高客戶滿意度和產(chǎn)品的市場占有率。電子產(chǎn)品地震測(cè)試怎么操作?

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上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司較新檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn) 11、傾跌與翻倒: 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品) GB/T 2423.7-1995,IEC 60068-2-31:1982。 12、砂塵試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L:沙塵試驗(yàn) GB/T 2423.37-2006,IEC 60068-2-68:1994 只做:方法La2:恒定氣壓。 13、鹽霧試驗(yàn): 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液) GB/T 2423.18-2012,IEC 60068-2-52:1996; 人造氣氛腐蝕試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn) GB/T 10125-2012,ISO 9227:2006; 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka:鹽霧 GB/T 2423.17-2008,IEC 60068-2-11:1981。 14、溫度沖擊試驗(yàn): 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012,IEC 60068-2-14:2009。請(qǐng)問有誰知道NTC溫度傳感器的地震測(cè)試?地震模擬實(shí)驗(yàn)室

一般的地震測(cè)試項(xiàng)目包含哪些內(nèi)容?地震模擬實(shí)驗(yàn)室

上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司地震試驗(yàn)?zāi)康模?要包括高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、溫度快速變化試驗(yàn)、溫度沖擊試驗(yàn)、恒定溫濕度試驗(yàn)、溫濕度循環(huán)試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)、防水防塵試驗(yàn)、紫外老化試驗(yàn)和氙燈老化試驗(yàn)等。是考核產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下的適應(yīng)能力,是評(píng)價(jià)產(chǎn)品地震的重要試驗(yàn)方法之一。 低溫試驗(yàn) 試驗(yàn)?zāi)康模河脕砜己嗽囼?yàn)樣品在低溫條件下貯存或使用的適應(yīng)性。常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗(yàn)、元器件的篩選試驗(yàn)等。 試驗(yàn)設(shè)備:高低溫(濕熱)試驗(yàn)箱。 試驗(yàn)條件:一般選定一恒定的溫度和試驗(yàn)時(shí)間。 推薦常用的溫度有:- 65℃,-55℃,-40℃,-25℃,-10℃,-5℃,+5℃等; 推薦常用的試驗(yàn)時(shí)間有:2h,16h,72h,96h等。地震模擬實(shí)驗(yàn)室

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