pcb可靠性測試

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-01-13

可靠性鑒定測試所需的測試時(shí)間長、測試費(fèi)用高,不可能要求系統(tǒng)中的所有產(chǎn)品均進(jìn)行可靠性鑒定測試,一般對影響系統(tǒng)安全或任務(wù)完成的新研、有重大改進(jìn)的關(guān)鍵產(chǎn)品。能組成系統(tǒng)的盡量按系統(tǒng)考核,對于不能在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行的,可對其中關(guān)鍵組件進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室測試,其他組件可利用外場使用數(shù)據(jù)進(jìn)行綜合評估,以確定產(chǎn)品是否達(dá)到規(guī)定的可靠性指標(biāo)??煽啃澡b定測試剖面應(yīng)盡可能模擬產(chǎn)品真實(shí)的使用環(huán)境,包括環(huán)境應(yīng)力和工作應(yīng)力。可靠性鑒定測試過程中如發(fā)生故障,只能修復(fù),一般不能進(jìn)行設(shè)計(jì)改進(jìn)。否則,測試應(yīng)從頭開始。環(huán)境可靠性測試包含了哪些呢?pcb可靠性測試

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反復(fù)短路測試 在各種輸入和輸出狀態(tài)下將模塊輸出短路,模塊應(yīng)能實(shí)現(xiàn)保護(hù)或回縮,反復(fù)多次短路,故障排除后,模塊應(yīng)該能自動(dòng)恢復(fù)正常運(yùn)行。 A、空載到短路:在輸入電壓全范圍內(nèi),將模塊從空載到短路,模塊應(yīng)能正常實(shí)現(xiàn)輸出限流或回縮,短路排除后,模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作。讓模塊反復(fù)從空載到短路不斷的工作,短路時(shí)間為1s,放開時(shí)間為1s,持續(xù)時(shí)間為2小時(shí)。這以后,短路放開,判斷模塊是否能夠正常工作。 B、滿載到短路:在輸入電壓全范圍內(nèi),將模塊從滿載到短路,模塊應(yīng)能正常實(shí)現(xiàn)輸出限流或回縮,短路排除后,模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作。讓模塊從滿載到短路然后保持短路狀態(tài)2小時(shí)。然后短路放開,判斷模塊是否能夠正常工作。 C、短路開機(jī):將模塊的輸出先短路,再上市電,再模塊的輸入電壓范圍內(nèi)上電,模塊應(yīng)能實(shí)現(xiàn)正常的限流或回縮,短路故障排除后,模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作,重復(fù)上述試驗(yàn)10次后,讓短路放開,判斷模塊是否能夠正常工作。上海電機(jī)可靠性測試項(xiàng)目LED可靠性測試有哪些項(xiàng)目?

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如何保證設(shè)備在以年為單位的典型使用壽命內(nèi)可靠,而不會(huì)導(dǎo)致無法接受的生產(chǎn)延遲?為了解決這個(gè)問題,工程師們提出了可靠性測試的概念。可靠性測試通過以更高的溫度、電壓和其他環(huán)境因素的形式向被測設(shè)備(DUT)施加更大的應(yīng)力,從而在功能上加速老化過程。在這個(gè)“降額”過程的不同階段對芯片運(yùn)行的統(tǒng)計(jì)分析揭示了設(shè)計(jì)中的潛在弱點(diǎn)。通過在DUT進(jìn)入批量生產(chǎn)之前進(jìn)行各種可靠性測試,制造商可以降低風(fēng)險(xiǎn)。它們降低了發(fā)布導(dǎo)致大量現(xiàn)場維修甚至召回的有缺陷產(chǎn)品的可能性。較終,可靠性測試增加了公司從新設(shè)計(jì)中獲利的機(jī)會(huì),并有助于促進(jìn)行業(yè)的更多創(chuàng)新。

影響電子產(chǎn)品可靠性測試結(jié)果的因素是?1.自然環(huán)境,電子元器件在工作中受環(huán)境因素影響較大,如溫度、濕度、鹽霧、氣壓、海拔高度、大氣污染顆粒等都會(huì)對電子元器件的正常運(yùn)行產(chǎn)生影響,使其電氣性能下降,甚至損傷元器件,從而引發(fā)故障。2.機(jī)械結(jié)構(gòu),電子產(chǎn)品的機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)要滿足使用工況的要求,強(qiáng)烈的機(jī)械振動(dòng)或碰撞會(huì)使設(shè)備產(chǎn)生機(jī)械結(jié)構(gòu)的損傷變形,甚至導(dǎo)致電子元器件的物理損傷或失效,致使電子產(chǎn)品無法正常運(yùn)行。3.電磁環(huán)境,環(huán)境中的電磁波無處不在,電子產(chǎn)品在運(yùn)行中,無時(shí)無刻不與空間中的電磁信號(hào)進(jìn)行接觸。在電磁信號(hào)的影響下,電子電路的噪聲會(huì)變大,穩(wěn)定性會(huì)變差??煽啃栽囼?yàn)測試的目的是什么?

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LED的可靠性檢測 led的發(fā)光方式與傳統(tǒng)光源截然不同。它是利用半導(dǎo)體PN節(jié)中的電子與空穴的復(fù)合來發(fā)光。發(fā)光方式的不同決定了LED與傳統(tǒng)光源有著本質(zhì)的區(qū)別,也決定了它有自己獨(dú)特之處。 1.恒定濕熱測試:燈具在經(jīng)過沖擊測試后,不能發(fā)生漏電、點(diǎn)燈不亮等電氣異?,F(xiàn)象。測試方法:按led燈具的額定輸入電壓接通電源點(diǎn)燈;通過繼電器控制燈具在常溫常壓下進(jìn)行沖擊測試,測試設(shè)置為:點(diǎn)燈30s、熄燈30s,循環(huán)10000次。 燈具在經(jīng)過沖擊測試后,不能發(fā)生漏電、點(diǎn)燈不亮等電氣異?,F(xiàn)象。 2.通過調(diào)壓器將led燈具的輸入電壓調(diào)為較大額定輸入電壓的1.1倍;將燈具按以上方法在上下、左右、前后三個(gè)方向上分別測試30分鐘。將led燈具放置在一個(gè)室溫為25℃的環(huán)境下;溫度循環(huán)測試:通過調(diào)壓器將led燈具的輸入電壓調(diào)為較小額定輸入電壓的0.9倍如果忽略了可靠性強(qiáng)化測試,那么產(chǎn)品的質(zhì)量就無法得到保障。上海電機(jī)可靠性測試公司

可靠性強(qiáng)化測試可以為企業(yè)產(chǎn)品提供氣候、機(jī)械、綜合環(huán)境等多種類型的測試。pcb可靠性測試

上海天梯檢測技術(shù)有限公司較新檢測項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn) 5、振動(dòng)試驗(yàn): 振動(dòng)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fi: 振動(dòng) 混合模式 只做:頻率2Hz~3000Hz,位移≤51mm, 載荷≤3000kg 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fh:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)和導(dǎo)則 GB/T 2423.56-2006。只做:頻率2Hz~3000Hz,位移≤51mm,載荷≤3000kg。 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)(正弦)只做:頻率2Hz~3000Hz,位移≤51mm, 載荷≤3000kg。 6、溫度變化試驗(yàn): 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化 7、溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn): 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn) 8、跌落試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落 9、機(jī)械沖擊試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊 10、碰撞試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞pcb可靠性測試

上海天梯檢測技術(shù)有限公司在同行業(yè)領(lǐng)域中,一直處在一個(gè)不斷銳意進(jìn)取,不斷制造創(chuàng)新的市場高度,多年以來致力于發(fā)展富有創(chuàng)新價(jià)值理念的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn),在上海市等地區(qū)的商務(wù)服務(wù)中始終保持良好的商業(yè)口碑,成績讓我們喜悅,但不會(huì)讓我們止步,殘酷的市場磨煉了我們堅(jiān)強(qiáng)不屈的意志,和諧溫馨的工作環(huán)境,富有營養(yǎng)的公司土壤滋養(yǎng)著我們不斷開拓創(chuàng)新,勇于進(jìn)取的無限潛力,上海天梯檢測技術(shù)供應(yīng)攜手大家一起走向共同輝煌的未來,回首過去,我們不會(huì)因?yàn)槿〉昧艘稽c(diǎn)點(diǎn)成績而沾沾自喜,相反的是面對競爭越來越激烈的市場氛圍,我們更要明確自己的不足,做好迎接新挑戰(zhàn)的準(zhǔn)備,要不畏困難,激流勇進(jìn),以一個(gè)更嶄新的精神面貌迎接大家,共同走向輝煌回來!