陜西制造電阻測試系統(tǒng)

PCB板上出現(xiàn)CAF的現(xiàn)象卻越來越嚴重，究其原因，是因為現(xiàn)在電子設(shè)備上的PCB板上需要焊接的電子元件越來越多，這樣也就造成了PCB板上的金屬電極之間的距離越來越短，這樣就更加容易在兩個金屬電極之間產(chǎn)生CAF現(xiàn)象，什么是導電陽極絲測試CAF導電陽極絲測試（Conductiveanodicfilamenttest，簡稱CAF）是電化學遷移的其中一種表現(xiàn)形式。它與表面樹狀生長的區(qū)別：1.產(chǎn)生遷移的金屬是銅，而不是鉛或者錫；2.金屬絲是從陽極往陰極生長的；3.金屬絲是由金屬鹽組成，而不是中性的金屬原子組成。焊盤中的銅金屬是金屬離子的主要來源，在陽極電化學生成，并沿著樹脂和玻璃增強纖維之間界面移動。隨著時代發(fā)展和技術(shù)的革新。絕緣體表面或內(nèi)部有形成電解質(zhì)物質(zhì)的潛在因素。包括絕緣體本身的種類，構(gòu)成，添加物，纖維性能，樹脂性能。陜西制造電阻測試系統(tǒng)

當PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時，在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓，電極在電場和絕緣間隙存在水分的共同作用下，離子化金屬向相反的電極間移動（陰極向陽極轉(zhuǎn)移），相對的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象（類似錫須，容易造成短路），這種現(xiàn)象稱為離子遷移。當存在這種現(xiàn)象時，表面絕緣電阻（SIR）測試可以通過電阻值顯現(xiàn)出來。表面絕緣電阻（SIR）測試是通過在高溫高濕的環(huán)境中持續(xù)給予PCB一定的偏壓，經(jīng)過長時間的試驗，觀察線路間是否有瞬間短路或出現(xiàn)絕緣失效的緩慢漏電情形發(fā)生。表面絕緣電阻（SIR）測試可以用來評估金屬導體之間短路或者電流泄露造成的問題，也有助于看出錫膏中的助焊劑或其他化學物品在PCB板面上是否殘留任何會影響電子零件電氣特性的物質(zhì)，通過表面絕緣電阻（SIR）測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。廣東銷售電阻測試歡迎選購電阻測試是一種常見的電子測試方法。

電阻箱是一種可以調(diào)節(jié)電阻值的測試儀器。它通常由多個電阻組成，通過選擇不同的電阻值來模擬不同的電路條件。電阻箱廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品的調(diào)試和測試過程中，可以幫助工程師快速定位和解決電路中的問題。在電子產(chǎn)品的制造和維修過程中，電阻測試配件起著至關(guān)重要的作用。電阻測試配件通過測量電路中的電阻值來判斷電路的工作狀態(tài)。電阻是電子元器件中基本的一種，它的作用是限制電流的流動，控制電路的工作狀態(tài)。電阻的大小決定了電流的大小，從而影響整個電路的性能。因此，電阻測試配件的準確性和穩(wěn)定性對于電子產(chǎn)品的制造和維修至關(guān)重要。

在有偏置電壓加載的情況下，一旦水凝結(jié)在測試樣品表面，有可能會造成表面樹枝狀晶體的失效。當某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時候，也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹枝狀晶體的生長。這樣的情況必須被排除，確保能夠得到有意義的測試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境，其相對濕度的波動時間越短越好，不允許超過5分鐘。保持測試樣品無污染，做好標記，用無污染手套移動樣品。做好預(yù)先準備，防止短路和開路。清潔后連接導線，連接后再清潔。烘干，在105±2℃下烘烤6小時。進行預(yù)處理，在中立環(huán)境下，保持23±2℃和50±5%的相對濕度至少24h。2、在該測試方法中相對濕度的嚴格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對濕度偏差會造成電阻量測結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。SIR是通過測試表面絕緣電阻的方法來監(jiān)控ECM電化學遷移的發(fā)生程度； 通常我們習慣講的SIR，即為ECM測試；

半導體分立器件∶二極管、三極管、場效應(yīng)管、達林頓陣列、半導體光電子器件等;被動元件：電阻器;電容器;磁珠;電感器;變壓器;晶體振蕩器;晶體諧報器;繼電器;電連接器;開關(guān)及面板元件;電源模塊：濾波器、電源模塊、高壓隔離運放、DC/DC、DC/AC；功率器件：功率器件、大功率器件；連接器：圓形連接器、矩形，印刷版插座等。元器件篩選覆蓋標準：GJB7243-2011軍電子元器件篩選技術(shù)要求；GJB128A-97半導體分立器件試驗方法；GJB360A-96電子及電?元件試驗方法；GJB548B-2005微電子器件試驗方法和程序；GJB40247A-2006軍電子元器件破壞性物理分析方法；QJ10003—2008進?元器件篩選指南；MIL-STD-750D半導體分立器件試驗方法；MIL-STD-883G；HAST是High Accelerated Stress Test,是加速高溫高濕偏壓應(yīng)力測試，是通過對樣品施加高溫高壓高濕應(yīng)力。陜西制造電阻測試系統(tǒng)

智能電阻能夠提供更加便捷和精確的電阻測試。陜西制造電阻測試系統(tǒng)

01電化學遷移測試技術(shù)特點1、專業(yè)的設(shè)備：采用行業(yè)占有率比較高的主流進口設(shè)備，采樣速度更快，漏電捕捉精細，電阻測量精度高。2、專業(yè)的工程技術(shù)能力支持：除能為客戶提供專業(yè)的試驗評估外，還具備針對測試失效品的專業(yè)級失效分析能力，可實現(xiàn)一站式打包服務(wù)。3、可靈活地同溫濕度環(huán)境試驗箱，HAST箱，PCT等設(shè)備配合測試。某些國際**汽車電子大廠要求其不同供應(yīng)商，使用不同工藝，不同材質(zhì)的PCB光板，每一種類型全部需要通過電化學遷移測試才能獲得入門資格。陜西制造電阻測試系統(tǒng)