1.1機(jī)械開封機(jī)械開封后1#電阻樣品表面形貌如圖1所示,可明顯發(fā)現(xiàn)電阻表面有一層金屬光澤異物粘附,異物呈樹枝狀結(jié)晶,由一端電極往另一端電極方向生長,并連接了電阻兩端電極;一端電表表面發(fā)生溶解,且溶解的端電極表面存在黑色腐蝕產(chǎn)物。有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)90%以上的電阻在大氣環(huán)境中使用[1],因此不可避免地受到工作環(huán)境中的溫度、濕度、灰塵顆粒及大氣污染物的影響,很容易發(fā)生電化學(xué)遷移。電化學(xué)遷移被認(rèn)為是電阻在電場與環(huán)境作用下發(fā)生的一種重要的失效形式,會導(dǎo)致產(chǎn)品在服役期間發(fā)生漏電、短路等故障。1失效分析某一批智能水表上的電路板使用大約2年后其內(nèi)部電阻存在短路失效的情況。智能電阻能夠提供更加便捷和精確的電阻測試。湖北電阻測試系統(tǒng)
必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作,通過分析確定失效機(jī)理,找出失效原因,反饋給設(shè)計(jì)、制造和使用,共同研究和實(shí)施糾正措施,提高電子元器件的可靠性。電子元器件失效分析的目的是借助各種測試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機(jī)理,確認(rèn)結(jié)果的失效原因,可靠性研究的兩大內(nèi)容就是失效分析和可靠性測試(包括破壞性實(shí)驗(yàn))。兩者之間是相互影響和相互制約的。電子元器件技術(shù)的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎(chǔ),元器件可靠性工作的根本任務(wù)是提高元器件的可靠性。提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件可靠性。湖南pcb絕緣電阻測試前景一個(gè)的電阻測試設(shè)備供應(yīng)商應(yīng)該提供詳細(xì)的產(chǎn)品說明和操作手冊。
廣州維柯信息技術(shù)有限公司【SIR測試:確保汽車電子安全的關(guān)鍵環(huán)節(jié)】配置靈活:模塊化設(shè)計(jì),可選擇16模塊*N(1≤N≤16);16通道/模塊;l測試配置靈活:每塊模塊可設(shè)置不同的測試電壓,可同時(shí)完成多工況測試;在汽車電子領(lǐng)域,SIR測試尤為重要,直接關(guān)系到行車安全。汽車電子系統(tǒng)必須在高溫、潮濕、振動等惡劣環(huán)境下保持高度的電氣穩(wěn)定性。通過定期的SIR測試,工程師可以驗(yàn)證電路板涂層和封裝材料的耐久性,預(yù)防電路間的漏電和短路,保障車輛電子系統(tǒng)的正常運(yùn)行,減少因電氣故障引發(fā)的安全隱患,為駕乘者提供更加安心的出行體驗(yàn)。
J-STD-004B要求使用65°C,相對濕度為88.5%的箱體,并且按照方法來制備測試樣板。表面絕緣電阻要穩(wěn)定96小時(shí)以后進(jìn)行測試。然后施加低電壓進(jìn)行500小時(shí)的測試。測試結(jié)束時(shí),在相同的電壓下再次測試表面絕緣電阻。除了滿足絕緣電阻值少于10倍的衰減之外,還需要觀察樣板是否有晶枝生長和腐蝕現(xiàn)象。這個(gè)測試結(jié)果可以定義助焊劑等級是L、M還是H,電化學(xué)遷移(ECM)IPC-TM-650方法用來評估表面電化學(xué)遷移的傾向性。助焊劑會涂敷在下圖1所示的標(biāo)準(zhǔn)測試板上。標(biāo)準(zhǔn)測試板是交錯梳狀設(shè)計(jì),并模擬微電子學(xué)**小電氣間隙要求。然后按照助焊劑不同類型的要求進(jìn)行加熱。為了能通過測試,高活性的助焊劑在測試前需要被清洗掉。清洗不要在密閉的空間進(jìn)行。隨后帶有助焊劑殘留的樣板放置在潮濕的箱體內(nèi),以促進(jìn)梳狀線路之間枝晶的生長。分別測試實(shí)驗(yàn)開始和結(jié)束時(shí)的不同模塊線路的絕緣電阻值。第二次和***次測量值衰減低于10倍時(shí),測試結(jié)果視為通過。也就是說,通常測試阻值為10XΩ,X值必須保持不變。這個(gè)方法概括了幾種不同的助焊劑和工藝測試條件。電阻測試設(shè)備操作手冊應(yīng)包含基本信息、使用方法、故障排除指南等內(nèi)容。
CAF測試方法案例:1、保持測試樣品無污染,做好標(biāo)記,用無污染手套移動樣品。做好預(yù)先準(zhǔn)備,防止短路和開路。清潔后連接導(dǎo)線,連接后再清潔。烘干,在105±2℃下烘烤6小時(shí)。進(jìn)行預(yù)處理,在中立環(huán)境下,保持23±2℃和50±5%的相對濕度至少24h。2、在該測試方法中相對濕度的嚴(yán)格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對濕度偏差會造成電阻量測結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。在有偏置電壓加載的情況下,一旦水凝結(jié)在測試樣品表面,有可能會造成表面樹枝狀晶體的失效。當(dāng)某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時(shí)候,也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細(xì)小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹枝狀晶體的生長。這樣的情況必須被排除,確保能夠得到有意義的測試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗(yàn)箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境,其相對濕度的波動時(shí)間越短越好,不允許超過5分鐘。電阻測試設(shè)備比較復(fù)雜。浙江pcb絕緣電阻測試系統(tǒng)
很多用戶在使用電阻測試設(shè)備過程中會遇到各種問題。湖北電阻測試系統(tǒng)
在精密電子制造業(yè)的舞臺上,每一塊PCBA(印刷電路板組裝)的質(zhì)量都是產(chǎn)品性能與壽命的基石。隨著技術(shù)的飛速發(fā)展,PCBA的復(fù)雜度與集成度不斷提升,如何有效控制生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的污染物,確保電路板的長期可靠性,成為行業(yè)共同面臨的挑戰(zhàn)。廣州維柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測系統(tǒng),正是這一挑戰(zhàn)的解決方案。【深度洞察,精確監(jiān)測】廣州維柯多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測系統(tǒng) GWHR256系統(tǒng)遵循IPC-TM-650標(biāo)準(zhǔn),專為PCBA的可靠性評估而設(shè)計(jì),它能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控SIR(表面絕緣電阻)和CAF(導(dǎo)電陽極絲)的變化,精確捕捉哪怕是微小的離子遷移現(xiàn)象。湖北電阻測試系統(tǒng)