浙江sir電阻測試有哪些

當PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時，在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓，電極在電場和絕緣間隙存在水分的共同作用下，離子化金屬向相反的電極間移動（陰極向陽極轉(zhuǎn)移），相對的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象（類似錫須，容易造成短路），這種現(xiàn)象稱為離子遷移。當存在這種現(xiàn)象時，表面絕緣電阻（SIR）測試可以通過電阻值顯現(xiàn)出來。測試方法通常是認證助焊劑在裸銅板上的表現(xiàn)，但是NiAu和HASL工藝的殘留物對PCB表面的漏電有一定影響。HASL工藝使用的助焊劑中的乙二醇會被環(huán)氧基板編織布所吸收，增強基板的吸水性。己經(jīng)有一些案例說明NiAu的金屬層會增電化學遷移的趨勢。表面涂層的影響取決于表面涂層所用的助焊劑和化學劑。表面絕緣阻抗(SIR)測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCBA的表面清潔度（包括加工、制造過程的殘留）。浙江sir電阻測試有哪些

在電路與組裝材料發(fā)生的反應過程中，隨著時間的推移而逐漸形成這種失效。當金屬纖維絲在線路板表面以下生長時，稱為導電陽極絲或CAF，本文中不會討論這種情況，但這也是一個熱門話題。當電化學遷移發(fā)生在線路板的表面時，它會導致線路之間的金屬枝晶狀生長，比較好使用表面絕緣電阻(SIR)進行測試。可靠的電子組裝產(chǎn)品必須能在不同的環(huán)境中經(jīng)受住各種影響因素的考驗，例如：熱、機械、化學、電等因素。測試每一種考驗因素對系統(tǒng)的影響，通常以加速老化的方式來測試。這也就是說，測試環(huán)境比起正常老化的環(huán)境是要極端得多的。此文中的研究對象主要是各種測試電化學可靠性的方法。IPC將電化學遷移定義為：在直流偏壓的影響下，印刷線路板上的導電金屬纖維絲的生長。這種生長可能發(fā)生在外部表面、內(nèi)部界面或穿過大多數(shù)復合材料本體。增長的金屬纖維絲是含有金屬離子的溶液經(jīng)過電沉積形成的。電沉積過程是從陽極溶解電離子，由電場運輸重新沉積在陰極上。湖南pcb絕緣電阻測試批量定制離子遷移的表現(xiàn)可以通過表面絕緣電阻（SIR）測試電阻值顯現(xiàn)出來。

PCB/PCBA絕緣失效的表征電介質(zhì)長期受到點場、熱能、機械應力等的破壞。在電場的作用下，電介質(zhì)會發(fā)生極化、電導、耗損和擊穿等現(xiàn)象，這些現(xiàn)象的相關物理參數(shù)可以用相對介電系數(shù)、電導率、介質(zhì)損耗因數(shù)、擊穿電壓來表征。什么是PCB/PCBA絕緣失效？PCB/PCBA絕緣失效是指電介質(zhì)在電壓作用下會產(chǎn)生能量損耗，這種損耗很大時，原先的電能轉(zhuǎn)化為熱能，使電介質(zhì)溫度升高，絕緣老化，甚至使電介質(zhì)熔化、燒焦，終喪失絕緣性能而發(fā)生熱擊穿。電介質(zhì)的損耗是衡量其絕緣性能的重要指標，電介質(zhì)即絕緣材料，是電氣設備、裝置中用來隔離存在不同點位的導體的物質(zhì)，通過各類導體間的絕緣隔斷功能控制電流的方向。

廣州維柯信息技術有限公司多通道SIR-CAF實時離子遷移監(jiān)測系統(tǒng)——GWHR256-500，可在設定的環(huán)境參數(shù)下進行長時間的測試樣品，觀察并記錄被測樣品阻抗變化狀況。系統(tǒng)可通過曲線、表格的形式對測試數(shù)據(jù)進行實時監(jiān)控，測試數(shù)據(jù)自動存儲和管理，客戶根據(jù)需要可導出為Excel表格式，對測試樣品進行分析。***用于印制電路板、阻焊油墨、絕緣漆、膠粘劑，封裝樹脂微間距圖形、IC封裝材料等絕緣材料性能退化特性評估，以及焊錫膏、焊錫絲、助焊劑、清洗劑等引起的材料絕緣性能退化評估。通道數(shù)16-256/128/64/32(通道可選)，測試組數(shù)1-16組（組數(shù)可選）測試時間1-9999小時(可設置)偏置電壓1-500VDC（0.1V步進）測試電壓1-500VDC（0.1V步進）偏置電壓輸出精度±設置值1%+200mV（5-500VDC）測試電壓輸出精度±設置值1%+200mV（5-500VDC）電阻測量范圍1x106-1x1014Ω電阻測量精度1x106-1x109Ω≤±2%1x109-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%。測試控制軟件管理模塊：用戶管理、工況管理、配置管理、設備管理。

電子元器件篩選的目的：剔除早期失效產(chǎn)品。提高產(chǎn)品批次使用的可靠性。元器件篩選的特點：篩選試驗為非破壞性試驗。不改變元器件固有失效機理和固有可靠性。對批次產(chǎn)品進行*篩選。篩選等級由元器件預期工作條件和使用壽命決定。電子元器件篩選常規(guī)測試項目：檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、 X射線非破壞性檢查。密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示 蹤檢漏、濕度試驗、顆粒碰撞噪聲檢測。環(huán)境應?篩選：高低溫貯存、高溫反偏、振動、沖擊、離?加速度、溫度沖擊、綜合應?、動態(tài)老煉。 電子元器件篩選覆蓋范圍：半導體集成電路：時基電路、總線收發(fā)器、緩沖器、驅(qū)動器、電平轉(zhuǎn)換器、門器件、觸發(fā)器、LVDS線收發(fā)器、運算放大器、電壓調(diào)整器、電壓比較器、電源類芯片（穩(wěn)壓器、開關電源轉(zhuǎn)換器、電源監(jiān)控器、電源管理等）、致模轉(zhuǎn)換器（A/D、D/A、SRD）、存儲器、可編程邏輯器件、單片機、微處理器、控制器等;選擇智能電阻時，用戶需要根據(jù)具體需求考慮精度、穩(wěn)定性、接口等因素，以便選擇適合的智能電阻產(chǎn)品。浙江sir電阻測試有哪些

智能電阻能夠提供更加便捷和精確的電阻測試。浙江sir電阻測試有哪些

隨著電子設備的小型化、集成度提高，對材料的絕緣性能要求也日益嚴格。廣州維柯信息技術有限公司走在科技前沿，通過不斷的技術創(chuàng)新，推出了SIR表面絕緣電阻測試系統(tǒng)，為材料科學和電氣工程領域帶來了一場技術分享。該系統(tǒng)采用了準確的傳感器技術和數(shù)據(jù)分析算法，能夠深入分析材料表面絕緣性能的細微變化，為科研工作者提供了寶貴的數(shù)據(jù)支持，促進了新材料的研發(fā)和應用。同時，廣州維柯還注重用戶體驗，系統(tǒng)設計兼顧了易用性和精確性，即便是復雜測試也能輕松完成，有效縮短了產(chǎn)品從研發(fā)到市場的周期。浙江sir電阻測試有哪些