一般我們使用這個(gè)方法來量測靜態(tài)的表面絕緣電阻(SIR)與動態(tài)的離子遷移現(xiàn)象(ION MIGRATION),另外,它也可以拿來作 CAF(Conductive Anodic ****ment,導(dǎo)電性細(xì)絲物,陽極性玻纖纖維之漏電現(xiàn)象)試驗(yàn)。 注:CAF主要在測試助焊劑對PCB板吸濕性及玻璃纖維表面分離的影響。 表面絕緣電阻(SIR)被***用來評估污染物對組裝件可靠度的影響。跟其他方法相比,SIR的優(yōu)點(diǎn)除了可偵測局部的污染外,也可以測得離子及非離子污染物對印刷電路板(PCB)可靠度的影響,其效果遠(yuǎn)比其他方法(如清潔度試驗(yàn)、鉻酸銀試驗(yàn)…等)來的有效及方便。 由于電路板布線越來越密,焊點(diǎn)與焊點(diǎn)也越來越近,所以這項(xiàng)實(shí)驗(yàn)也可作為錫膏助焊劑的可用性評估參考。,由于起火事故往往破壞了PCB的原始狀態(tài),所以有的即便是離子遷移故障也無法加以確定。廣東電阻測試供應(yīng)商
多功能電阻測試設(shè)備是一種集成了多種測試功能的設(shè)備,可以同時(shí)進(jìn)行多種電阻測試。它可以測量電阻的值、溫度系數(shù)、電壓系數(shù)等多個(gè)參數(shù),同時(shí)還可以進(jìn)行電阻的快速測試、自動測試等。這種設(shè)備的出現(xiàn),提高了電阻測試的效率和準(zhǔn)確性,為電子產(chǎn)品的質(zhì)量控制提供了有力的支持。多功能電阻測試設(shè)備在電子行業(yè)中的應(yīng)用前景廣闊。隨著電子產(chǎn)品的不斷更新?lián)Q代,對電阻測試設(shè)備的要求也越來越高。傳統(tǒng)的電阻測試設(shè)備只能進(jìn)行簡單的電阻測量,無法滿足復(fù)雜電子產(chǎn)品的測試需求。而多功能電阻測試設(shè)備可以滿足不同電子產(chǎn)品的測試要求,包括手機(jī)、電腦、汽車電子等各個(gè)領(lǐng)域。因此,多功能電阻測試設(shè)備在電子行業(yè)中的應(yīng)用前景非常廣闊。湖北電阻測試訂做價(jià)格選擇智能電阻時(shí),用戶需要考慮測量范圍和分辨率。
智能電阻具有更高的精度和穩(wěn)定性。傳統(tǒng)的電阻測試儀器往往受到環(huán)境因素的影響,導(dǎo)致測試結(jié)果的不準(zhǔn)確。而智能電阻通過內(nèi)置的智能芯片和傳感器,可以實(shí)時(shí)監(jiān)測環(huán)境溫度、濕度等因素,并自動進(jìn)行校準(zhǔn),從而提高測試的精度和穩(wěn)定性。這將提高電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性,滿足市場對產(chǎn)品的需求。智能電阻具有更高的自動化程度。傳統(tǒng)的電阻測試需要人工操作,耗時(shí)耗力且容易出錯(cuò)。而智能電阻可以通過與測試設(shè)備的連接,實(shí)現(xiàn)自動化測試。只需設(shè)置測試參數(shù),智能電阻就能自動完成測試,并將測試結(jié)果傳輸給設(shè)備或計(jì)算機(jī)進(jìn)行分析。這不僅提高了測試的效率,還減少了人為因素對測試結(jié)果的影響,提高了測試的準(zhǔn)確性。
從監(jiān)控的方式看(除阻值監(jiān)控外):ECM/SIR可以通過放大鏡進(jìn)行直觀的判斷;而CAF只能通過破壞性的切片進(jìn)行微觀條件下的分析;ECM/SIR與CAF的重要性由于介電層變薄、線路及孔距變密是高密度電子產(chǎn)品的特性,而大多數(shù)的高階電子產(chǎn)品也需要較高的信賴度,故越來越多的產(chǎn)品被要求進(jìn)行ECM/SIR/CAF測試,如航空產(chǎn)品、汽車產(chǎn)品、醫(yī)療產(chǎn)品、服務(wù)器等,以確保產(chǎn)品在相對惡劣的使用條件下的壽命與可靠性;離子遷移既然是絕緣信賴度的***,因此高密度電子產(chǎn)品都十分在乎及重視材料的吸水性及水中不純物的控管,因?yàn)檫@些正是離子遷移的重要元兇。例如:加水分解性氯、電鍍液中的鹽類、銅皮表面處理物、防焊漆的添加物……等等。一旦疏忽了這些控管,導(dǎo)致ECM或CAF的生成,便會造成產(chǎn)品在使用壽命及電性功能上的障礙;藉著控制鹵素及金屬鹽類的含量、銅皮上的鉻含量、樹脂中的氯含量、表面清潔度(防焊前處理),這些對絕緣劣化影響很大的項(xiàng)目,可以大幅提升高密度電路板的信賴性。系統(tǒng)標(biāo)配≥256通道,可分為16組測試單元,同時(shí)測試16種不同樣品。
Sir電阻測試是一種非接觸式的電阻測試方法,這種測試方法不需要直接接觸電路,因此可以避免對電路的損壞。同時(shí),Sir電阻測試還具有高精度和高速度的優(yōu)點(diǎn),可以快速準(zhǔn)確地測量電路中的電阻值。它可以用來測量電路中的電阻值。這種測試方法具有高精度和高速度的優(yōu)點(diǎn),可以快速準(zhǔn)確地測量電路中的電阻值。同時(shí),它還可以用來檢測電路中的其他問題,如短路和斷路。因此,掌握Sir電阻測試方法對于電子工程師來說非常重要。無論是在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境還是在工業(yè)生產(chǎn)中,Sir電阻測試都可以發(fā)揮重要作用,提高工作效率。HAST是High Accelerated Stress Test,是加速高溫高濕偏壓應(yīng)力測試,是通過對樣品施加高溫高壓高濕應(yīng)力。湖南供應(yīng)電阻測試有哪些
在電子設(shè)備制造和維修過程中,電阻測試是非常重要的一環(huán)。廣東電阻測試供應(yīng)商
離子遷移(ECM/SIR/CAF)的要因分析與解決方案從設(shè)計(jì)方面:越小的距離(孔~孔、線~線、層~層、孔~線間)越易造成離子遷移現(xiàn)象;解決方案:結(jié)合制程能力與材料能力,優(yōu)化設(shè)計(jì)方案;(當(dāng)然重點(diǎn)還是必須符合客戶要求)玻纖紗束與孔排列的方向;紗束與孔的方向一致時(shí),會造成離子遷移的可能性比較大;解決方案:盡可能避免或減少紗束與孔排列一致的可能性,但此項(xiàng)受客戶產(chǎn)品設(shè)計(jì)的制約;產(chǎn)品的防濕保護(hù)設(shè)計(jì);解決方案:選擇比較好的防濕設(shè)計(jì),如涉及海運(yùn),建議采用PE袋或鋁箔袋包裝方式;廣東電阻測試供應(yīng)商