pcb板電阻測(cè)試分析

離子遷移（ECM/SIR/CAF)的要因分析與解決方案從材料方面：樹脂與玻纖紗束之間結(jié)合力不足；解決方案：優(yōu)化CCL制作參數(shù)；選擇抗分層的材料;填充空洞或樹脂奶油層不足；解決方案：優(yōu)化CCL制作參數(shù)；選擇抗分層的材料;樹脂吸溫性差；解決方案：膠片與基板中的硬化劑由Dicy改為PN以減少吸水；樹脂與玻纖清潔度差（含離子成份）；解決方案：使用Anti-CAF的材料；銅箔銅芽較長，易造成離子遷移；解決方案：選用Lowprofilecopperfoil；多大焊錫青、焊錫絲、助焊劑、清洗劑等引起的材料絕緣性能退化評(píng)估。pcb板電阻測(cè)試分析

智能電阻則是一種集成了智能化功能的電阻器件，能夠提供更加便捷和精確的電阻測(cè)試。智能電阻的特點(diǎn)之一是其高精度。傳統(tǒng)的電阻器件在測(cè)量電阻時(shí)可能存在一定的誤差，而智能電阻通過內(nèi)置的智能芯片和算法，能夠?qū)崿F(xiàn)更加準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。這對(duì)于一些對(duì)電阻值要求較高的應(yīng)用場(chǎng)景非常重要，比如精密儀器的校準(zhǔn)和電子產(chǎn)品的質(zhì)量檢測(cè)。另外，智能電阻還具有更加便捷的操作和數(shù)據(jù)處理能力。傳統(tǒng)的電阻測(cè)試通常需要使用專門的測(cè)試儀器和設(shè)備，而智能電阻則可以直接通過連接到計(jì)算機(jī)或移動(dòng)設(shè)備上進(jìn)行測(cè)試。貴州SIR和CAF電阻測(cè)試注意事項(xiàng)測(cè)試配置靈活:每塊模塊可設(shè)置不同的測(cè)試電壓，可同時(shí)完成多工況測(cè)試。

Sir電阻測(cè)試是一種非接觸式的電阻測(cè)試方法，這種測(cè)試方法不需要直接接觸電路，因此可以避免對(duì)電路的損壞。同時(shí)，Sir電阻測(cè)試還具有高精度和高速度的優(yōu)點(diǎn)，可以快速準(zhǔn)確地測(cè)量電路中的電阻值。它可以用來測(cè)量電路中的電阻值。這種測(cè)試方法具有高精度和高速度的優(yōu)點(diǎn)，可以快速準(zhǔn)確地測(cè)量電路中的電阻值。同時(shí)，它還可以用來檢測(cè)電路中的其他問題，如短路和斷路。因此，掌握Sir電阻測(cè)試方法對(duì)于電子工程師來說非常重要。無論是在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境還是在工業(yè)生產(chǎn)中，Sir電阻測(cè)試都可以發(fā)揮重要作用，提高工作效率。

AF與ECM/SIR都是一個(gè)電化學(xué)過程；從產(chǎn)生的條件來看（都需要符合下面3個(gè)條件）：電解液環(huán)境，即濕度與離子（Electrolyte–humidityandionicspecies）；施加偏壓（Voltagebias–Forcethatdrivesthereaction）;存在離子遷移的通道意味著玻纖與樹脂的結(jié)合間存在缺陷，或線與線間存在雜物等；（“Pathway”–Awayfortheionstomovefromtheanodetothecathode；Thepathwayisalongtheglassfiberswhentheresinimpregnationtotheglassfibershavedefects）；加劇其產(chǎn)生的條件類似：高濕環(huán)境（Highhumidityrate）；高電壓（HigherVoltagelevels）；高溫環(huán)境（Highertemperature）；在電子設(shè)備制造和維修過程中，電阻測(cè)試是非常重要的一環(huán)。

PCB/PCBA絕緣失效是指電介質(zhì)在電壓作用下會(huì)產(chǎn)生能量損耗，這種損耗很大時(shí)，原先的電能轉(zhuǎn)化為熱能，使電介質(zhì)溫度升高，絕緣老化，甚至使電介質(zhì)熔化、燒焦，**終喪失絕緣性能而發(fā)生熱擊穿。電介質(zhì)的損耗是衡量其絕緣性能的重要指標(biāo)，電介質(zhì)即絕緣材料，是電氣設(shè)備、裝置中用來隔離存在不同點(diǎn)位的導(dǎo)體的物質(zhì)，通過各類導(dǎo)體間的絕緣隔斷功能控制電流的方向。電介質(zhì)長期受到點(diǎn)場(chǎng)、熱能、機(jī)械應(yīng)力等的破壞。在電場(chǎng)的作用下，電介質(zhì)會(huì)發(fā)生極化、電導(dǎo)、耗損和擊穿等現(xiàn)象，這些現(xiàn)象的相關(guān)物理參數(shù)可以用相對(duì)介電系數(shù)、電導(dǎo)率、介質(zhì)損耗因數(shù)、擊穿電壓來表征。一個(gè)的電阻測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商應(yīng)該提供詳細(xì)的產(chǎn)品說明和操作手冊(cè)。東莞SIR和CAF表面絕緣電阻測(cè)試市場(chǎng)

其中作為陽極的一方發(fā)生離子化并在電場(chǎng)作用下通過絕緣體向另一邊的金屬（陰極）遷移。pcb板電阻測(cè)試分析

8、在整個(gè)測(cè)試過程中，建議每24到100個(gè)小時(shí)需要換用另外的電阻檢測(cè)器，確保測(cè)試電壓和偏置電壓的極性始終一致。在電阻測(cè)量過程中，為了保證測(cè)試的準(zhǔn)確性，如果觀察到周期性的電阻突降，也應(yīng)該被算作一次失效。因?yàn)殛枠O導(dǎo)電絲是很細(xì)的，很容易被破壞掉。當(dāng)50%的部分已經(jīng)失效了，測(cè)試即可停止。當(dāng)CAF發(fā)生時(shí)，電阻偏小，施加到CAF失效兩端的電壓會(huì)下降。當(dāng)測(cè)試網(wǎng)絡(luò)的阻值接近限流電阻的阻值時(shí)，顯得尤為明顯。所以在整個(gè)測(cè)試過程中，并不需要調(diào)整電壓。9、500個(gè)小時(shí)的偏置電壓后（一共596個(gè)小時(shí)），像之前一樣重新進(jìn)行絕緣電阻的測(cè)量。pcb板電阻測(cè)試分析