某些國(guó)際**汽車電子大廠要求其不同供應(yīng)商,使用不同工藝,不同材質(zhì)的PCB光板,每一種類型全部需要通過(guò)電化學(xué)遷移測(cè)試才能獲得入門資格。01電化學(xué)遷移測(cè)試技術(shù)特點(diǎn)1、專業(yè)的設(shè)備:采用行業(yè)占有率比較高的主流進(jìn)口設(shè)備,采樣速度更快,漏電捕捉精細(xì),電阻測(cè)量精度高。2、專業(yè)的工程技術(shù)能力支持:除能為客戶提供專業(yè)的試驗(yàn)評(píng)估外,還具備針對(duì)測(cè)試失效品的專業(yè)級(jí)失效分析能力,可實(shí)現(xiàn)一站式打包服務(wù)。3、可靈活地同溫濕度環(huán)境試驗(yàn)箱,HAST箱,PCT等設(shè)備配合測(cè)試。SIR表面絕緣電阻測(cè)試的目的之一:使用新色敷形涂料或工藝。海南sir電阻測(cè)試系統(tǒng)解決方案
隨著電子產(chǎn)品的高密度化及電子制造的無(wú)鉛化,PCB及PCBA產(chǎn)品的技術(shù)水平、質(zhì)量要求也面臨嚴(yán)峻的挑戰(zhàn),PCB的設(shè)計(jì)與生產(chǎn)加工及組裝過(guò)程中需要更嚴(yán)格的工藝與原材料的控制。目前由于尚處于技術(shù)和工藝的轉(zhuǎn)型期,客戶對(duì)PCB制程及組裝的認(rèn)識(shí)尚有較大差異,于是類似漏電、開(kāi)路(線路、孔)、焊接不良、爆板分層之類的失效常常發(fā)生,常引起供應(yīng)商與用戶間的質(zhì)量責(zé)任糾紛,為此導(dǎo)致了嚴(yán)重的經(jīng)濟(jì)損失。通過(guò)對(duì)PCB及PCBA的失效現(xiàn)象進(jìn)行失效分析,通過(guò)一系列分析驗(yàn)證,找出失效原因,挖掘失效機(jī)理,對(duì)提高產(chǎn)品質(zhì)量,改進(jìn)生產(chǎn)工藝,仲裁失效事故有重要意義。江蘇國(guó)內(nèi)電阻測(cè)試以客為尊通過(guò)表面絕緣電阻(SIR)測(cè)試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。
金屬離子遷移過(guò)程此失效樣品灌封膠有機(jī)物與電路板上電阻存在一定縫隙,未能完全隔絕兩端電極,縫隙的存在為電化學(xué)遷移提供了遷移通道。因此密封電阻與電路板間縫隙能夠抑制金屬離子的遷移過(guò)程。針對(duì)金屬離子的遷移過(guò)程,可以加入絡(luò)合劑,使其與金屬正離子形成帶負(fù)電荷的絡(luò)合物,帶負(fù)電的絡(luò)合物將不會(huì)往陰極方向遷移和在陰極處發(fā)生還原沉積,由此達(dá)到抑制金屬離子往陰極遷移的目的。同時(shí),隨著外電場(chǎng)強(qiáng)度增大,會(huì)加快陽(yáng)極溶解、離子遷移和離子沉積過(guò)程。根據(jù)文獻(xiàn)[10]報(bào)道,當(dāng)外電壓不超過(guò)2V時(shí),形成的樹(shù)枝狀沉積物數(shù)目較少,且外加電壓的增加會(huì)使得電化學(xué)遷移造成的短路失效時(shí)間會(huì)***縮短。因此,盡量在設(shè)計(jì)階段中,設(shè)置元件在工作狀態(tài)時(shí)為較低的外電場(chǎng),也能避免由于快速發(fā)生電化學(xué)遷移而導(dǎo)致的短路失效,延長(zhǎng)使用壽命。
何謂電化學(xué)遷移。金屬離子在電場(chǎng)的作用下,電路的陽(yáng)極和陰極之間會(huì)形成一個(gè)導(dǎo)電信道產(chǎn)生電解腐蝕(Electrolytic Corrosion。樣式如樹(shù)枝狀結(jié)構(gòu)生長(zhǎng),造成不同區(qū)域的金屬互相連接,進(jìn)而導(dǎo)致電路短路。ECM現(xiàn)象好發(fā)于電路板上。造成電化學(xué)遷移(ECM)比較大因素造成ECM形成的比較大因素為「電解質(zhì)層形成」,電解質(zhì)層的形成會(huì)產(chǎn)生自由離子進(jìn)而增加導(dǎo)電率。而會(huì)加速電解質(zhì)層形成的原因大多為濕度、溫度、汗水、環(huán)境中的污染物、助焊劑化學(xué)物、板材材料、表面粗糙度…等因素,因此,如何預(yù)防電解質(zhì)層形成極為重要。維柯多通道導(dǎo)通電阻實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試系統(tǒng) GWLR256與冷熱沖擊試驗(yàn)箱配合使用,用于產(chǎn)品導(dǎo)通(低 阻)性能驗(yàn)證。
焊點(diǎn)助焊劑(Flux)清潔與否,將影響ECM發(fā)生多寡IC芯片封裝成BGA后,于植球時(shí)會(huì)使用助焊劑(Flux)確保兩種不同的金屬或合金連接順利。宜特可靠性驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室就觀察到,F(xiàn)lux工藝后,若沒(méi)有進(jìn)行清潔動(dòng)作,不僅殘留物將阻礙Underfill流動(dòng)路徑(圖四),導(dǎo)致填充膠無(wú)法填滿芯片底部,造成許多的氣泡(延伸閱讀:如何利用真空壓力烤箱消滅UnderfillVoid),更會(huì)加劇ECM的發(fā)生。可靠性驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室,特別做了兩項(xiàng)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)(DOE),實(shí)驗(yàn)條件套用HAST常見(jiàn)的溫度:130°C/濕度:85%RH,使用助焊劑為坊間常見(jiàn)免清洗型助焊劑。***項(xiàng)DOE樣品不做助焊劑清潔(Flux clean),第二項(xiàng)DOE樣品做助焊劑清潔(Flux Clean),DOE結(jié)果可清楚看到,未做Flux Clean的樣品,出現(xiàn)了ECM現(xiàn)象(圖五(左)),而有做Flux Clean的樣品,盡管同樣出現(xiàn)ECM現(xiàn)象(圖五(右)),但非常細(xì)微。SIR表面絕緣電阻測(cè)試的目的之一:考核裸板供應(yīng)商資質(zhì)。江蘇國(guó)內(nèi)電阻測(cè)試以客為尊
GWHR-256多通道 SIR/CAF實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試系統(tǒng)適用于IPC-TM-650標(biāo)準(zhǔn),測(cè)試速度 20mS/所有通道。海南sir電阻測(cè)試系統(tǒng)解決方案
在確定為CAF失效之前,應(yīng)該確認(rèn)連接線兩端的電阻是不是要小于菊花鏈區(qū)域的電阻。做法是將菊花鏈附近連接測(cè)試線纜的線路切斷。所有的測(cè)試結(jié)束后,如果發(fā)現(xiàn)某塊測(cè)試板連接線兩端的電阻確實(shí)小于菊花鏈區(qū)域的電阻,那么這塊測(cè)試板就不能作為數(shù)據(jù)分析的依據(jù)。常規(guī)結(jié)果判定:1.96小時(shí)靜置后絕緣電阻R1≤107歐姆,即判定樣本失效;2.當(dāng)**終測(cè)試絕緣電阻R2<108歐姆,或者在測(cè)試過(guò)程中有3次記錄或以上出現(xiàn)R2<108歐姆即判定樣本失效。廣州維柯信息技術(shù)有限公司的高低阻(CAF/TCT)測(cè)試系統(tǒng)可以做到有效電壓測(cè)試。海南sir電阻測(cè)試系統(tǒng)解決方案
廣州維柯信息技術(shù)有限公司正式組建于2006-04-11,將通過(guò)提供以機(jī)動(dòng)車檢測(cè)行業(yè)產(chǎn)品,高低阻(CAF/TCT),實(shí)驗(yàn)室LIMS系統(tǒng),醫(yī)療廢液在線監(jiān)測(cè)等服務(wù)于于一體的組合服務(wù)。是具有一定實(shí)力的機(jī)械及行業(yè)設(shè)備企業(yè)之一,主要提供機(jī)動(dòng)車檢測(cè)行業(yè)產(chǎn)品,高低阻(CAF/TCT),實(shí)驗(yàn)室LIMS系統(tǒng),醫(yī)療廢液在線監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域內(nèi)的產(chǎn)品或服務(wù)。隨著我們的業(yè)務(wù)不斷擴(kuò)展,從機(jī)動(dòng)車檢測(cè)行業(yè)產(chǎn)品,高低阻(CAF/TCT),實(shí)驗(yàn)室LIMS系統(tǒng),醫(yī)療廢液在線監(jiān)測(cè)等到眾多其他領(lǐng)域,已經(jīng)逐步成長(zhǎng)為一個(gè)獨(dú)特,且具有活力與創(chuàng)新的企業(yè)。廣州維柯始終保持在機(jī)械及行業(yè)設(shè)備領(lǐng)域優(yōu)先的前提下,不斷優(yōu)化業(yè)務(wù)結(jié)構(gòu)。在機(jī)動(dòng)車檢測(cè)行業(yè)產(chǎn)品,高低阻(CAF/TCT),實(shí)驗(yàn)室LIMS系統(tǒng),醫(yī)療廢液在線監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域承攬了一大批高精尖項(xiàng)目,積極為更多機(jī)械及行業(yè)設(shè)備企業(yè)提供服務(wù)。