廣東多功能電阻測(cè)試系統(tǒng)

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2023-06-20

表面絕緣電阻測(cè)試(SIR測(cè)試)根據(jù)IPC的定義,表面絕緣電阻(SIR)是在特定環(huán)境和電氣條件下確定的一對(duì)觸點(diǎn)、導(dǎo)體或接地設(shè)備之間的絕緣材料的電阻。在印刷電路板(PCB)和印刷電路組件(PCA)領(lǐng)域,SIR測(cè)試——通常也稱(chēng)為溫濕度偏差(THB)測(cè)試——用于評(píng)估產(chǎn)品或工藝的抗“通過(guò)電流泄漏或電氣短路(即樹(shù)枝狀生長(zhǎng))導(dǎo)致故障”。SIR測(cè)試通常在升高的溫度和濕度條件下在制定 SIR 測(cè)試策略時(shí),選擇用于測(cè)試的產(chǎn)品或過(guò)程將有助于確定**合適的 SIR 測(cè)試方法以及**適用的測(cè)試工具。一般而言,SIR 測(cè)試通常用于對(duì)助焊劑和/或清潔工藝進(jìn)行分類(lèi)、鑒定或比較。對(duì)于后者,SIR 測(cè)試通常用于評(píng)估一個(gè)人的“免清洗”焊接操作。執(zhí)行,例如85°C/85%RH和40°C/90%,并定期獲得絕緣電阻(IR)測(cè)量值。操作方便:充分考慮實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用場(chǎng)景,方便工程師實(shí)施工作。廣東多功能電阻測(cè)試系統(tǒng)

電阻測(cè)試

隨著電子產(chǎn)品的高密度化及電子制造的無(wú)鉛化,PCB及PCBA產(chǎn)品的技術(shù)水平、質(zhì)量要求也面臨嚴(yán)峻的挑戰(zhàn),PCB的設(shè)計(jì)與生產(chǎn)加工及組裝過(guò)程中需要更嚴(yán)格的工藝與原材料的控制。目前由于尚處于技術(shù)和工藝的轉(zhuǎn)型期,客戶(hù)對(duì)PCB制程及組裝的認(rèn)識(shí)尚有較大差異,于是類(lèi)似漏電、開(kāi)路(線路、孔)、焊接不良、爆板分層之類(lèi)的失效常常發(fā)生,常引起供應(yīng)商與用戶(hù)間的質(zhì)量責(zé)任糾紛,為此導(dǎo)致了嚴(yán)重的經(jīng)濟(jì)損失。通過(guò)對(duì)PCB及PCBA的失效現(xiàn)象進(jìn)行失效分析,通過(guò)一系列分析驗(yàn)證,找出失效原因,挖掘失效機(jī)理,對(duì)提高產(chǎn)品質(zhì)量,改進(jìn)生產(chǎn)工藝,仲裁失效事故有重要意義。廣東多功能電阻測(cè)試系統(tǒng)多通道導(dǎo)通電阻實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試系統(tǒng),可監(jiān)測(cè)溫度范圍:-70℃-200℃,精度± 1℃。

廣東多功能電阻測(cè)試系統(tǒng),電阻測(cè)試

剖面結(jié)構(gòu)觀察通過(guò)SEM觀察失效電阻鑲樣的橫截面,如圖4所示。由圖4可發(fā)現(xiàn):電阻一端外電極有一個(gè)明顯的腐蝕凹坑,這是由電化學(xué)反中陽(yáng)極溶解所產(chǎn)生的,腐蝕形態(tài)主要為點(diǎn)蝕。根據(jù)文獻(xiàn)[5]報(bào)道,在電解液中存在Cl-的電化學(xué)過(guò)程中,陽(yáng)極表面的鈍化膜易溶解于含Cl-的溶液中,或Cl-直接滲透陽(yáng)極表面的鈍化膜,造成鈍化膜開(kāi)裂或形成微孔誘發(fā)局部腐蝕,**終形成點(diǎn)蝕坑的腐蝕形貌。電化學(xué)遷移失效復(fù)現(xiàn)根據(jù)失效分析,得出離子、潮氣及電場(chǎng)為失效的敏感因子,故設(shè)計(jì)故障復(fù)現(xiàn)試驗(yàn)。將樣品分為兩組,1000h潮熱加電實(shí)驗(yàn)。

避免氯離子、溴離子、硝酸根及硫酸根等離子殘留,這些離子的殘留能加速陽(yáng)極金屬的溶解或者引發(fā)電解質(zhì)的形成。在實(shí)際生產(chǎn)中,要進(jìn)行適當(dāng)?shù)暮负笄逑?,避免與金屬離子電化學(xué)遷移相關(guān)的助焊劑成分、清洗工藝等引入的臟污和離子等有害物質(zhì)的殘留。通過(guò)改變焊料合金的組分來(lái)提升自身的耐腐蝕性,如合金化Cu、Cr等耐腐蝕性元素;或使陽(yáng)極表面形成一層致密的鈍化膜,從而降低電化學(xué)遷移過(guò)程中陽(yáng)極的溶解速率,但是可能會(huì)導(dǎo)致生產(chǎn)時(shí)回流焊參數(shù)變化等事項(xiàng),需要對(duì)生產(chǎn)工藝進(jìn)行重新評(píng)估。廣州維柯GWHR-256 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):、接口友好:軟件可定制,或開(kāi)放數(shù)據(jù)接口,或接入實(shí)驗(yàn)室 LIMS 系統(tǒng)!

廣東多功能電阻測(cè)試系統(tǒng),電阻測(cè)試

陽(yáng)極溶解過(guò)程從材料熱力學(xué)觀點(diǎn)看,通過(guò)金屬材料的標(biāo)準(zhǔn)電極電位可以判斷其腐蝕的傾向,常見(jiàn)的電子金屬材料發(fā)生電化學(xué)遷移的優(yōu)先順序?yàn)椋篈g>Mo>Pb>Sn>Cu>Zn[8]。因此,當(dāng)電阻貼裝的焊料為Sn-Pb合金時(shí),在電化學(xué)遷移過(guò)程中,Pb比Sn更容易發(fā)生電化學(xué)遷移。在電化學(xué)遷移過(guò)程中,在陽(yáng)極區(qū)主要發(fā)生電極溶解生成金屬離子的反應(yīng),同時(shí)伴有少量氧氣和氯氣的生成,反應(yīng)方程式如下:Pb→Pb2++2e-Sn→Sn2++2e-Sn2+→Sn4++2e-2H2O→4H++O2+4e-2Cl-→Cl2+2e-從上述反應(yīng)過(guò)程可知,通過(guò)抑制陽(yáng)極溶解可以改善電化學(xué)遷移的敏感性。首先陽(yáng)極溶解必須在電解液中發(fā)生,因此避免工作面潮濕顯的尤為重要,而此產(chǎn)品的灌封膠工藝存在缺陷,給潮濕水汽的進(jìn)入留有空間,提供了電化學(xué)遷移的通道,構(gòu)成了電化學(xué)遷移的必要條件之一。SIR測(cè)試目的更改清潔材料或工藝。廣東多功能電阻測(cè)試系統(tǒng)

印刷電路板的電極之間會(huì)出現(xiàn)離子轉(zhuǎn)移,出現(xiàn)絕緣劣化的現(xiàn)象。通常發(fā)生在PCB基板中。廣東多功能電阻測(cè)試系統(tǒng)

什么是PCB/PCBA絕緣失效?PCB/PCBA絕緣失效是指電介質(zhì)在電壓作用下會(huì)產(chǎn)生能量損耗,這種損耗很大時(shí),原先的電能轉(zhuǎn)化為熱能,使電介質(zhì)溫度升高,絕緣老化,甚至使電介質(zhì)熔化、燒焦,終喪失絕緣性能而發(fā)生熱擊穿。電介質(zhì)的損耗是衡量其絕緣性能的重要指標(biāo),電介質(zhì)即絕緣材料,是電氣設(shè)備、裝置中用來(lái)隔離存在不同點(diǎn)位的導(dǎo)體的物質(zhì),通過(guò)各類(lèi)導(dǎo)體間的絕緣隔斷功能控制電流的方向。PCB/PCBA絕緣失效的表征電介質(zhì)長(zhǎng)期受到點(diǎn)場(chǎng)、熱能、機(jī)械應(yīng)力等的破壞。在電場(chǎng)的作用下,電介質(zhì)會(huì)發(fā)生極化、電導(dǎo)、耗損和擊穿等現(xiàn)象,這些現(xiàn)象的相關(guān)物理參數(shù)可以用相對(duì)介電系數(shù)、電導(dǎo)率、介質(zhì)損耗因數(shù)、擊穿電壓來(lái)表征。廣東多功能電阻測(cè)試系統(tǒng)

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