陜西直銷電阻測試廠家供應(yīng)

來源: 發(fā)布時間:2023-06-12

焊點(diǎn)助焊劑(Flux)清潔與否,將影響ECM發(fā)生多寡IC芯片封裝成BGA后,于植球時會使用助焊劑(Flux)確保兩種不同的金屬或合金連接順利。宜特可靠性驗證實(shí)驗室就觀察到,F(xiàn)lux工藝后,若沒有進(jìn)行清潔動作,不僅殘留物將阻礙Underfill流動路徑(圖四),導(dǎo)致填充膠無法填滿芯片底部,造成許多的氣泡(延伸閱讀:如何利用真空壓力烤箱消滅UnderfillVoid),更會加劇ECM的發(fā)生。可靠性驗證實(shí)驗室,特別做了兩項實(shí)驗設(shè)計(DOE),實(shí)驗條件套用HAST常見的溫度:130°C/濕度:85%RH,使用助焊劑為坊間常見免清洗型助焊劑。***項DOE樣品不做助焊劑清潔(Flux clean),第二項DOE樣品做助焊劑清潔(Flux Clean),DOE結(jié)果可清楚看到,未做Flux Clean的樣品,出現(xiàn)了ECM現(xiàn)象(圖五(左)),而有做Flux Clean的樣品,盡管同樣出現(xiàn)ECM現(xiàn)象(圖五(右)),但非常細(xì)微。SIR表面絕緣電阻測試的目的之一:考核裸板供應(yīng)商資質(zhì)。陜西直銷電阻測試廠家供應(yīng)

電阻測試

ROSE是用2-丙醇和水溶液,通過手工、動態(tài)和靜態(tài)三種方法萃取板表面的任何殘留物。通常是將整個板子浸入溶液中,然后測量這種萃取物的電阻率,測量值由板子表面所有可溶性離子種類的離子含量決定。每種萃取方法在如何準(zhǔn)確地實(shí)現(xiàn)這一過程上各不相同。通常,**測試電阻率是不夠的,因為它不能區(qū)分是哪些離子導(dǎo)致萃取電阻率下降。為了評估哪些離子存在,必須進(jìn)行額外的離子色譜檢測。通過允許操作人員從過程中識別離子含量的來源,來完成測試。此外,過程控制從組裝工藝的開始就要進(jìn)行,線路板和元器件的進(jìn)廠清潔度與組裝的**終清潔度同樣重要。這也可以通過一種能夠在較小規(guī)模上從表面萃取的測試方法更有效地實(shí)現(xiàn)。浙江供應(yīng)電阻測試廠家供應(yīng)精度高:優(yōu)于同業(yè)產(chǎn)品。

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失效機(jī)理分析及防護(hù)策略結(jié)合以上結(jié)果,電阻失效是由于經(jīng)典電化學(xué)遷移引起(ElectrochemicalMigration,ECM)。其中失效模型包含Ag、Sn、Pb等金屬元素,指的是在一定的偏壓電場條件下,作為陽極的電子元件發(fā)生陽極金屬溶解,溶解到電解質(zhì)中的金屬離子在電場作用下遷移到陰極,并發(fā)生沉積還原的行為,**終導(dǎo)致金屬離子以樹枝狀結(jié)晶形式向陽極生長[6]。因此電化學(xué)遷移現(xiàn)象有三個必要的過程:(1)陽極溶解形成金屬離子過程;(2)金屬離子遷移過程;(3)金屬離子在陰極沉積過程[7]。

設(shè)計特性描述IPCJ-STD-001是一份規(guī)范焊接電子組件制造實(shí)踐和要求的文件。一般來說,根據(jù)J-STD-004的分類標(biāo)準(zhǔn),這些助焊劑適用于電子組裝。在使用幾種不同的涂層和助焊劑時,兼容性也需要測試。兼容性測試的方法因應(yīng)用而異,但需要使用行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法測試。理想情況下,電化學(xué)可靠性/兼容性應(yīng)該用**新型組裝的電路板和元器件進(jìn)行測試。由爐溫定義的加熱循環(huán)過程對助焊劑的表現(xiàn)也很關(guān)鍵。清洗工藝也應(yīng)該使用類似于SIR的方法在IPC-B-52的板子上驗證。一旦優(yōu)化了組裝,就應(yīng)該進(jìn)行深入的測試去確定組裝的設(shè)計和工藝。在J-STD-001中,就以IPC-9202和9203來舉例。在組裝區(qū)域,溫度曲線經(jīng)歷了比較大的熱量,因此比較低和**短的峰值被復(fù)制應(yīng)用于任何測試樣板制作,以確保測試結(jié)果的一致性和可靠性的預(yù)期。SIR表面絕緣電阻測試的目的之一:變更助焊劑和/或錫膏。

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剖面結(jié)構(gòu)觀察通過SEM觀察失效電阻鑲樣的橫截面,如圖4所示。由圖4可發(fā)現(xiàn):電阻一端外電極有一個明顯的腐蝕凹坑,這是由電化學(xué)反中陽極溶解所產(chǎn)生的,腐蝕形態(tài)主要為點(diǎn)蝕。根據(jù)文獻(xiàn)[5]報道,在電解液中存在Cl-的電化學(xué)過程中,陽極表面的鈍化膜易溶解于含Cl-的溶液中,或Cl-直接滲透陽極表面的鈍化膜,造成鈍化膜開裂或形成微孔誘發(fā)局部腐蝕,**終形成點(diǎn)蝕坑的腐蝕形貌。電化學(xué)遷移失效復(fù)現(xiàn)根據(jù)失效分析,得出離子、潮氣及電場為失效的敏感因子,故設(shè)計故障復(fù)現(xiàn)試驗。將樣品分為兩組,1000h潮熱加電實(shí)驗。CAF的增加會使板子易吸附水汽,將會造成環(huán)氧樹脂與玻璃纖維的表面分離。江蘇供應(yīng)電阻測試推薦貨源

接口友好:軟件可定制,或開放數(shù)據(jù)接口,或接入實(shí)驗室LIMS系統(tǒng)。陜西直銷電阻測試廠家供應(yīng)

CAF形成過程:1、常規(guī)FR4 P片是由玻璃絲編輯成玻璃布,然后涂環(huán)氧樹脂半固化后制成;2、樹脂與玻纖之間的附著力不足,或含浸時親膠性不良,兩者之間容易出現(xiàn)間隙;3、鉆孔等機(jī)械加工過程中,由于切向拉力及縱向沖擊力的作用對樹脂的粘合力進(jìn)一步破壞;4、距離較近的兩孔若電勢不同,則正極部分銅離子在電壓驅(qū)動下逐漸向負(fù)極遷移。CAF產(chǎn)生的原因:1、原料問題1) 樹脂身純度不良,如雜質(zhì)太多而招致附著力不佳 ;2) 玻纖束之表面有問題,如耦合性不佳,親膠性不良 ;3) 樹脂之硬化劑不良,容易吸水 ;4) 膠片含浸中行進(jìn)速度太快;常使得玻纖束中應(yīng)有的膠量尚未全數(shù)充實(shí)填飽  造成氣泡殘存。陜西直銷電阻測試廠家供應(yīng)

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