SIR測試模型允許將此測試組件安裝在溫度為40°C和相對濕度為90%的箱體中,如IPC TM-650所述。有一個輕微的偏差,因為板沒有固定,并有不同的方向相對于氣流確保在測試期間SIR測試模塊上沒有明顯的冷凝現(xiàn)象。根據(jù)IPC標準,通過測試的模塊,在整個測試過程中,其電阻都高于108Ω。測試結果將根據(jù)這個限定值判定為通過或失敗。相關研究的目的是描述不同回流曲線對助焊劑殘留物的影響。在以前的工作中,據(jù)說曾經(jīng)觀察到與回流工藝產出的組件相比,使用電烙鐵加熱和更快冷卻速度的返工工位完成的組件顯示出更高的離子殘留物水平。SIR表面絕緣電阻測試的目的之一:使用新色敷形涂料或工藝。湖北pcb絕緣電阻測試前景
某些國際**汽車電子大廠要求其不同供應商,使用不同工藝,不同材質的PCB光板,每一種類型全部需要通過電化學遷移測試才能獲得入門資格。01電化學遷移測試技術特點1、專業(yè)的設備:采用行業(yè)占有率比較高的主流進口設備,采樣速度更快,漏電捕捉精細,電阻測量精度高。2、專業(yè)的工程技術能力支持:除能為客戶提供專業(yè)的試驗評估外,還具備針對測試失效品的專業(yè)級失效分析能力,可實現(xiàn)一站式打包服務。3、可靈活地同溫濕度環(huán)境試驗箱,HAST箱,PCT等設備配合測試。廣東銷售電阻測試有哪些導電陽極絲CAF的增加會使板子易吸附水汽,將會造成環(huán)氧樹脂與玻璃纖維的表面分離。
(1)電阻表面枝晶狀遷移物證明焊料中的Sn,Pb金屬元素發(fā)生電化學遷移導致枝晶的生長,連通電阻兩極,導致電阻短路失效;(2)離子色譜結果表明SnPb焊料中的助焊劑中存在較高的氯離子,加速了電阻表面發(fā)生焊料的電化學遷移;(3)離子電化學遷移失效復現(xiàn)實驗驗證了在氯離子、電場和潮氣作用下,電阻端電極金屬材料發(fā)生陽極溶解,產生了金屬離子,故而在電阻表面發(fā)生電化學遷移。(4)為了避免此類失效問題,建議在實際生產中從抑制陽極溶解過程、抑制遷移的過程和抑制陰極沉淀過程做出防護措施,改善產品質量。
金屬離子遷移過程此失效樣品灌封膠有機物與電路板上電阻存在一定縫隙,未能完全隔絕兩端電極,縫隙的存在為電化學遷移提供了遷移通道。因此密封電阻與電路板間縫隙能夠抑制金屬離子的遷移過程。針對金屬離子的遷移過程,可以加入絡合劑,使其與金屬正離子形成帶負電荷的絡合物,帶負電的絡合物將不會往陰極方向遷移和在陰極處發(fā)生還原沉積,由此達到抑制金屬離子往陰極遷移的目的。同時,隨著外電場強度增大,會加快陽極溶解、離子遷移和離子沉積過程。根據(jù)文獻[10]報道,當外電壓不超過2V時,形成的樹枝狀沉積物數(shù)目較少,且外加電壓的增加會使得電化學遷移造成的短路失效時間會***縮短。因此,盡量在設計階段中,設置元件在工作狀態(tài)時為較低的外電場,也能避免由于快速發(fā)生電化學遷移而導致的短路失效,延長使用壽命。SIR測試參考標準:JIS Z 3197 Test methods for soldering fluxes釬焊熔劑的試驗方法。
什么是導電陽極絲測試CAF導電陽極絲測試(Conductiveanodicfilamenttest,簡稱CAF)是電化學遷移的其中一種表現(xiàn)形式。它與表面樹狀生長的區(qū)別:1.產生遷移的金屬是銅,而不是鉛或者錫;2.金屬絲是從陽極往陰極生長的;3.金屬絲是由金屬鹽組成,而不是中性的金屬原子組成。焊盤中的銅金屬是金屬離子的主要來源,在陽極電化學生成,并沿著樹脂和玻璃增強纖維之間界面移動。隨著時代發(fā)展和技術的革新,PCB板上出現(xiàn)CAF的現(xiàn)象卻越來越嚴重,究其原因,是因為現(xiàn)在電子設備上的PCB板上需要焊接的電子元件越來越多,這樣也就造成了PCB板上的金屬電極之間的距離越來越短,這樣就更加容易在兩個金屬電極之間產生CAF現(xiàn)象。1-500V 1-2000V 以0.1V分辨率任意值可調。湖北多功能電阻測試推薦貨源
表面絕緣電阻(SIR)被用來評估污染物對組裝件可靠性的影響。湖北pcb絕緣電阻測試前景
隨著電子產品的高密度化及電子制造的無鉛化,PCB及PCBA產品的技術水平、質量要求也面臨嚴峻的挑戰(zhàn),PCB的設計與生產加工及組裝過程中需要更嚴格的工藝與原材料的控制。目前由于尚處于技術和工藝的轉型期,客戶對PCB制程及組裝的認識尚有較大差異,于是類似漏電、開路(線路、孔)、焊接不良、爆板分層之類的失效常常發(fā)生,常引起供應商與用戶間的質量責任糾紛,為此導致了嚴重的經(jīng)濟損失。通過對PCB及PCBA的失效現(xiàn)象進行失效分析,通過一系列分析驗證,找出失效原因,挖掘失效機理,對提高產品質量,改進生產工藝,仲裁失效事故有重要意義。湖北pcb絕緣電阻測試前景
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