廣西國內(nèi)電阻測(cè)試歡迎選購

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-05-09

銅鏡和銅板腐蝕測(cè)試了助焊劑或者助焊劑殘留物里面離子之間的反應(yīng)分別對(duì)電化學(xué)遷移的潛在影響。***,鹵化物含量測(cè)量表明了助焊劑中多少的離子來自鹵離子。需要注意的是這是有別于無鹵和低鹵助焊劑的要求。也需要提供附加測(cè)量值,比如助焊劑黏度、酸值固體物含量等根據(jù)J-STD-004定義的附加測(cè)試方法的測(cè)試結(jié)果。當(dāng)供應(yīng)商提供了助焊劑活性等級(jí),相當(dāng)于給了工程師一個(gè)規(guī)格,這個(gè)規(guī)格定義了在標(biāo)準(zhǔn)條件下助焊劑的表現(xiàn)如何,這其中包括了指定的溫度循環(huán)和測(cè)試板。這有別于在特定設(shè)計(jì)和工藝中認(rèn)證助焊劑。某些助焊劑等級(jí)的測(cè)試方法可以修改,以適應(yīng)其設(shè)計(jì)特性。但是這些修改可能改變預(yù)期的結(jié)果,并且會(huì)影響到測(cè)試合格/失敗的極限。SIR表面絕緣電阻測(cè)試的目的之一:考核裸板供應(yīng)商資質(zhì)。廣西國內(nèi)電阻測(cè)試歡迎選購

電阻測(cè)試

確認(rèn)適當(dāng)?shù)钠秒妷阂呀?jīng)被加載在樣品上進(jìn)行周期性測(cè)試。為了比較不同內(nèi)層材料和制程的耐CAF性能,使用100V直流偏壓的標(biāo)準(zhǔn)CAF測(cè)試條件。為了確認(rèn)測(cè)試結(jié)果與實(shí)際壽命之間的關(guān)系,第二個(gè)偏置電壓條件需要選擇給定的最高工作電壓的兩倍。當(dāng)一個(gè)較小的偏置電壓不能有效地區(qū)別更多不同的耐CAF材料和制程時(shí),更高的偏置電壓由于會(huì)線性地影響失效時(shí)間,應(yīng)該被避免采用。這是因?yàn)檫^高的偏置電壓會(huì)抵消掉相對(duì)濕度的影響,而相對(duì)濕度由于局部加熱的原因是非常重要的失效機(jī)制部分。廣西國內(nèi)電阻測(cè)試歡迎選購接口友好:軟件可定制,或開放數(shù)據(jù)接口,或接入實(shí)驗(yàn)室LIMS系統(tǒng)。

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電子元器件失效分析項(xiàng)目1、元器件類失效電感、電阻、電容:開裂、破裂、裂紋、參數(shù)變化2、器件/模塊失效二極管、三極管、LED燈3、集成電路失效DIP封裝芯片、PGA封裝芯片、SOP/SSOP系列芯片、QFP系列芯片、BGA封裝芯片4、PCB&PCBA焊接失效PCB板面起泡、分層、阻焊膜脫落、發(fā)黑,遷移氧化,腐蝕,開路,短路、CAF短時(shí)失效;板面變色,錫面變色,焊盤變色;孔間絕緣性能下降;深孔開裂;爆板等PCBA(ENIG、化鎳沉金、電鍍鎳金、OSP、噴錫板)焊接不良;端子(引腳)上錫不良,表面異物、電遷移、元件脫落等5、DPA分析電阻器/電容器/熱敏電阻器/二極管等電子元器件可靠性驗(yàn)證服務(wù)

廣州維柯信息技術(shù)有限公司成立于2006年,是一家專業(yè)致力于檢測(cè)檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)室行業(yè)產(chǎn)品技術(shù)開發(fā)生產(chǎn)、集成銷售為一體的技術(shù)型公司。

SIR系列絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)依據(jù)IPC標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行設(shè)計(jì)、制造,具有偏置電壓測(cè)試時(shí)間任意設(shè)置、多模塊**分組、絕緣電阻測(cè)試、漂移電流測(cè)試、測(cè)試產(chǎn)品評(píng)估、環(huán)境試驗(yàn)參數(shù)監(jiān)控等功能。系統(tǒng)測(cè)試可在IPC標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的環(huán)境條件下對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行高效、準(zhǔn)確的絕緣電阻測(cè)試和漏電流監(jiān)測(cè)。測(cè)試結(jié)果可通過曲線、表格的形式進(jìn)行顯示和交互,測(cè)試數(shù)據(jù)通過后臺(tái)數(shù)據(jù)庫進(jìn)行存儲(chǔ)和管理,用戶可對(duì)已存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)進(jìn)行回放和比較,方便用戶進(jìn)行數(shù)據(jù)分析和篩選,對(duì)測(cè)試樣品的分析更加直觀和準(zhǔn)確。 廣州維柯GWHR-256 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):結(jié)構(gòu)、配置靈活:板卡設(shè)計(jì),可選擇 16 路*N(1≥N≤16)。

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什么是PCB/PCBA絕緣失效?PCB/PCBA絕緣失效是指電介質(zhì)在電壓作用下會(huì)產(chǎn)生能量損耗,這種損耗很大時(shí),原先的電能轉(zhuǎn)化為熱能,使電介質(zhì)溫度升高,絕緣老化,甚至使電介質(zhì)熔化、燒焦,終喪失絕緣性能而發(fā)生熱擊穿。電介質(zhì)的損耗是衡量其絕緣性能的重要指標(biāo),電介質(zhì)即絕緣材料,是電氣設(shè)備、裝置中用來隔離存在不同點(diǎn)位的導(dǎo)體的物質(zhì),通過各類導(dǎo)體間的絕緣隔斷功能控制電流的方向。PCB/PCBA絕緣失效的表征電介質(zhì)長期受到點(diǎn)場(chǎng)、熱能、機(jī)械應(yīng)力等的破壞。在電場(chǎng)的作用下,電介質(zhì)會(huì)發(fā)生極化、電導(dǎo)、耗損和擊穿等現(xiàn)象,這些現(xiàn)象的相關(guān)物理參數(shù)可以用相對(duì)介電系數(shù)、電導(dǎo)率、介質(zhì)損耗因數(shù)、擊穿電壓來表征。相對(duì)的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象(類似錫須,容易造成短路),這種現(xiàn)象稱為離子遷移。廣西國內(nèi)電阻測(cè)試歡迎選購

表面絕緣電阻(SIR)被用來評(píng)估污染物對(duì)組裝件可靠性的影響。廣西國內(nèi)電阻測(cè)試歡迎選購

隨著電子產(chǎn)品向小型化/集成化的發(fā)展,線路和層間間距越來越小,電遷移問題也日益受到關(guān)注。一旦發(fā)生電遷移會(huì)造成電子產(chǎn)品絕緣性能下降,甚至短路。電遷移失效同常規(guī)的過應(yīng)力失效不同,它的發(fā)生需要一個(gè)時(shí)間累積,失效通常會(huì)發(fā)生在**終客戶的使用過程中,可能在使用幾個(gè)月后,也可能在幾年后,往往會(huì)造成經(jīng)濟(jì)上的重大損失。但是,電遷移的發(fā)生不僅同離子有關(guān),它需要離子,電壓差,導(dǎo)體,傳輸通道,濕氣以及溫度等各種因素綜合作用,在長期累積下產(chǎn)生的失效。所以,通過在樣品上施加各類綜合應(yīng)力來評(píng)估產(chǎn)品后期使用的電遷移風(fēng)險(xiǎn)就顯得異常重要。廣西國內(nèi)電阻測(cè)試歡迎選購

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