ROSE是用2-丙醇和水溶液,通過(guò)手工、動(dòng)態(tài)和靜態(tài)三種方法萃取板表面的任何殘留物。通常是將整個(gè)板子浸入溶液中,然后測(cè)量這種萃取物的電阻率,測(cè)量值由板子表面所有可溶性離子種類的離子含量決定。每種萃取方法在如何準(zhǔn)確地實(shí)現(xiàn)這一過(guò)程上各不相同。通常,**測(cè)試電阻率是不夠的,因?yàn)樗荒軈^(qū)分是哪些離子導(dǎo)致萃取電阻率下降。為了評(píng)估哪些離子存在,必須進(jìn)行額外的離子色譜檢測(cè)。通過(guò)允許操作人員從過(guò)程中識(shí)別離子含量的來(lái)源,來(lái)完成測(cè)試。此外,過(guò)程控制從組裝工藝的開(kāi)始就要進(jìn)行,線路板和元器件的進(jìn)廠清潔度與組裝的**終清潔度同樣重要。這也可以通過(guò)一種能夠在較小規(guī)模上從表面萃取的測(cè)試方法更有效地實(shí)現(xiàn)。多通道導(dǎo)通電阻實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試系統(tǒng),32 通道/組,各、組所有參數(shù)可以獨(dú)自設(shè)置。陜西銷售電阻測(cè)試牌子
電阻表面枝晶狀遷移物SEM放大形貌和EDS能譜分析見(jiàn)圖2所示,枝晶狀遷移物由一端電極往另一端電極方向生長(zhǎng),圖2(b)EDS測(cè)試結(jié)果表明枝晶狀遷移物主要含有Sn,Pb等元素,局部區(qū)域存在Cl元素,此產(chǎn)品生產(chǎn)中采用的SnPb焊料為Sn63Pb37,說(shuō)明SnPb焊料中的Sn,Pb金屬元素發(fā)生電化學(xué)遷移導(dǎo)致枝晶的生長(zhǎng),連通電阻兩極,導(dǎo)致電阻短路失效。對(duì)失效電阻樣品表面遷移物區(qū)域和原工藝生產(chǎn)用SnPb焊料取樣進(jìn)行離子色譜分析,所得的結(jié)果如表1所示。從表1中可以得出失效電阻表面存在Cl-的含量為1.403mg/cm2。目前行業(yè)內(nèi)為避免印刷電路板發(fā)生腐蝕和電化學(xué)遷移而導(dǎo)致失效,控制表面殘留的Cl-含量不高于0.5mg/cm2。但本案中的失效樣品表面所測(cè)的Cl-含量明顯超出了行業(yè)規(guī)范的要求,Cl-可以誘導(dǎo)陽(yáng)極金屬表面鈍化膜的破裂,誘發(fā)局部腐蝕。廣東離子遷移絕緣電阻測(cè)試歡迎選購(gòu)測(cè)試評(píng)估絕緣電阻性能的綜合解決方案。
表面絕緣電阻測(cè)試(SIR測(cè)試)根據(jù)IPC的定義,表面絕緣電阻(SIR)是在特定環(huán)境和電氣條件下確定的一對(duì)觸點(diǎn)、導(dǎo)體或接地設(shè)備之間的絕緣材料的電阻。在印刷電路板(PCB)和印刷電路組件(PCA)領(lǐng)域,SIR測(cè)試——通常也稱為溫濕度偏差(THB)測(cè)試——用于評(píng)估產(chǎn)品或工藝的抗“通過(guò)電流泄漏或電氣短路(即樹(shù)枝狀生長(zhǎng))導(dǎo)致故障”。SIR測(cè)試通常在升高的溫度和濕度條件下在制定 SIR 測(cè)試策略時(shí),選擇用于測(cè)試的產(chǎn)品或過(guò)程將有助于確定**合適的 SIR 測(cè)試方法以及**適用的測(cè)試工具。一般而言,SIR 測(cè)試通常用于對(duì)助焊劑和/或清潔工藝進(jìn)行分類、鑒定或比較。對(duì)于后者,SIR 測(cè)試通常用于評(píng)估一個(gè)人的“免清洗”焊接操作。執(zhí)行,例如85°C/85%RH和40°C/90%,并定期獲得絕緣電阻(IR)測(cè)量值。
確認(rèn)適當(dāng)?shù)钠秒妷阂呀?jīng)被加載在樣品上進(jìn)行周期性測(cè)試。為了比較不同內(nèi)層材料和制程的耐CAF性能,使用100V直流偏壓的標(biāo)準(zhǔn)CAF測(cè)試條件。為了確認(rèn)測(cè)試結(jié)果與實(shí)際壽命之間的關(guān)系,第二個(gè)偏置電壓條件需要選擇給定的最高工作電壓的兩倍。當(dāng)一個(gè)較小的偏置電壓不能有效地區(qū)別更多不同的耐CAF材料和制程時(shí),更高的偏置電壓由于會(huì)線性地影響失效時(shí)間,應(yīng)該被避免采用。這是因?yàn)檫^(guò)高的偏置電壓會(huì)抵消掉相對(duì)濕度的影響,而相對(duì)濕度由于局部加熱的原因是非常重要的失效機(jī)制部分。測(cè)試電壓可在1.0-500V(2000V)之間以0.1V步進(jìn)任意可調(diào)。
可靠性研究的兩大內(nèi)容就是失效分析和可靠性測(cè)試(包括破壞性實(shí)驗(yàn))。兩者之間是相互影響和相互制約的。電子元器件技術(shù)的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎(chǔ),元器件可靠性工作的根本任務(wù)是提高元器件的可靠性。因此,必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作,通過(guò)分析確定失效機(jī)理,找出失效原因,反饋給設(shè)計(jì)、制造和使用,共同研究和實(shí)施糾正措施,提高電子元器件的可靠性。電子元器件失效分析的目的是借助各種測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機(jī)理,確認(rèn)結(jié)果的失效原因,提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件可靠性。廣州維柯GWHR-256 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):結(jié)構(gòu)、配置靈活:板卡設(shè)計(jì),可選擇 16 路*N(1≥N≤16)。廣東離子遷移絕緣電阻測(cè)試歡迎選購(gòu)
印刷電路板的電極之間會(huì)出現(xiàn)離子轉(zhuǎn)移,出現(xiàn)絕緣劣化的現(xiàn)象。通常發(fā)生在PCB基板中。陜西銷售電阻測(cè)試牌子
避免氯離子、溴離子、硝酸根及硫酸根等離子殘留,這些離子的殘留能加速陽(yáng)極金屬的溶解或者引發(fā)電解質(zhì)的形成。在實(shí)際生產(chǎn)中,要進(jìn)行適當(dāng)?shù)暮负笄逑?,避免與金屬離子電化學(xué)遷移相關(guān)的助焊劑成分、清洗工藝等引入的臟污和離子等有害物質(zhì)的殘留。通過(guò)改變焊料合金的組分來(lái)提升自身的耐腐蝕性,如合金化Cu、Cr等耐腐蝕性元素;或使陽(yáng)極表面形成一層致密的鈍化膜,從而降低電化學(xué)遷移過(guò)程中陽(yáng)極的溶解速率,但是可能會(huì)導(dǎo)致生產(chǎn)時(shí)回流焊參數(shù)變化等事項(xiàng),需要對(duì)生產(chǎn)工藝進(jìn)行重新評(píng)估。陜西銷售電阻測(cè)試牌子
廣州維柯信息技術(shù)有限公司主營(yíng)品牌有新成,浙大鳴泉,廣州維柯,發(fā)展規(guī)模團(tuán)隊(duì)不斷壯大,該公司服務(wù)型的公司。廣州維柯是一家私營(yíng)有限責(zé)任公司企業(yè),一直“以人為本,服務(wù)于社會(huì)”的經(jīng)營(yíng)理念;“誠(chéng)守信譽(yù),持續(xù)發(fā)展”的質(zhì)量方針。公司業(yè)務(wù)涵蓋機(jī)動(dòng)車檢測(cè)行業(yè)產(chǎn)品,高低阻(CAF/TCT),實(shí)驗(yàn)室LIMS系統(tǒng),醫(yī)療廢液在線監(jiān)測(cè),價(jià)格合理,品質(zhì)有保證,深受廣大客戶的歡迎。廣州維柯順應(yīng)時(shí)代發(fā)展和市場(chǎng)需求,通過(guò)**技術(shù),力圖保證高規(guī)格高質(zhì)量的機(jī)動(dòng)車檢測(cè)行業(yè)產(chǎn)品,高低阻(CAF/TCT),實(shí)驗(yàn)室LIMS系統(tǒng),醫(yī)療廢液在線監(jiān)測(cè)。