陜西電阻測試系統(tǒng)解決方案

來源: 發(fā)布時間:2023-04-04

表面電子組件的電化學遷移的發(fā)生機理取決于四個因素:銅、電壓、濕度和離子種類。當環(huán)境中的濕氣在電路板上形成水滴時,能夠與表面上的任何離子相互作用,使離子沿著電路板表面移動。離子與銅發(fā)生反應,它們在電壓的作用下,被推動著在銅電路之間遷移。這通常被總結(jié)為一系列步驟:水吸附、陽極金屬溶解或離子生成、離子積累、離子遷移到陰極和金屬枝晶狀生長。線路板表面的每一種材料都有可能是電遷移產(chǎn)生的影響因素:無論是線路板材料和阻焊層、元器件的清潔度,還是制板工藝或組裝工藝產(chǎn)生的任何殘留物(包括助焊劑殘留物)。由于這種失效機制是動態(tài)變化的,理想狀況是對每種設計和裝配都進行測試。但這是不可行的。這就提出了一個問題:如何比較好地描述一個組件的電化學遷移傾向。廣州維柯信息技術(shù)有限公司導通電阻測試低阻測試系統(tǒng)。陜西電阻測試系統(tǒng)解決方案

電阻測試

可靠性研究的兩大內(nèi)容就是失效分析和可靠性測試(包括破壞性實驗)。兩者之間是相互影響和相互制約的。電子元器件技術(shù)的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎,元器件可靠性工作的根本任務是提高元器件的可靠性。因此,必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作,通過分析確定失效機理,找出失效原因,反饋給設計、制造和使用,共同研究和實施糾正措施,提高電子元器件的可靠性。電子元器件失效分析的目的是借助各種測試分析技術(shù)和分析程序確認電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機理,確認結(jié)果的失效原因,提出改進設計和制造工藝的建議,防止失效的重復出現(xiàn),提高元器件可靠性。江西銷售電阻測試售后服務表面絕緣電阻(SIR)測試可以用來評估金屬導體之間短路或者電流泄露造成的問題。

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某些國際**汽車電子大廠要求其不同供應商,使用不同工藝,不同材質(zhì)的PCB光板,每一種類型全部需要通過電化學遷移測試才能獲得入門資格。01電化學遷移測試技術(shù)特點1、專業(yè)的設備:采用行業(yè)占有率比較高的主流進口設備,采樣速度更快,漏電捕捉精細,電阻測量精度高。2、專業(yè)的工程技術(shù)能力支持:除能為客戶提供專業(yè)的試驗評估外,還具備針對測試失效品的專業(yè)級失效分析能力,可實現(xiàn)一站式打包服務。3、可靈活地同溫濕度環(huán)境試驗箱,HAST箱,PCT等設備配合測試。

表面絕緣電阻(SIR)IPC-TM-650方法定義了在高濕度環(huán)境下表面絕緣電阻的測試條件。SIR測試在40°C和相對濕度為90%的箱體里進行。樣板的制備和ECM測試一樣,都是依據(jù)方法制備(如圖1)。***版本的測試要求規(guī)定每20分鐘要檢查一次樣板。在七天的測試中,不同模塊之間的表面絕緣電阻值衰減必須少于10Ohms,但是要排除**開始24小時的穩(wěn)定時間。電壓是恒定不變的。這和ECM測試在很多方面不一樣。兩者的不同點是:持續(xù)時間、測試箱體條件和頻繁測量數(shù)據(jù)的目的。樣板同樣需要目測檢查枝晶生長是否超過間距的20%和是否有任何腐蝕引起的變色問題。1-500V 1-2000V 以0.1V分辨率任意值可調(diào)。

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電化學遷移(ECM)IPC-TM-650方法用來評估表面電化學遷移的傾向性。助焊劑會涂敷在下圖1所示的標準測試板上。標準測試板是交錯梳狀設計,并模擬微電子學**小電氣間隙要求。然后按照助焊劑不同類型的要求進行加熱。為了能通過測試,高活性的助焊劑在測試前需要被清洗掉。清洗不要在密閉的空間進行。隨后帶有助焊劑殘留的樣板放置在潮濕的箱體內(nèi),以促進梳狀線路之間枝晶的生長。分別測試實驗開始和結(jié)束時的不同模塊線路的絕緣電阻值。第二次和***次測量值衰減低于10倍時,測試結(jié)果視為通過。也就是說,通常測試阻值為10XΩ,X值必須保持不變。這個方法概括了幾種不同的助焊劑和工藝測試條件。J-STD-004B要求使用65°C,相對濕度為88.5%的箱體,并且按照方法來制備測試樣板。表面絕緣電阻要穩(wěn)定96小時以后進行測試。然后施加低電壓進行500小時的測試。測試結(jié)束時,在相同的電壓下再次測試表面絕緣電阻。除了滿足絕緣電阻值少于10倍的衰減之外,還需要觀察樣板是否有晶枝生長和腐蝕現(xiàn)象。這個測試結(jié)果可以定義助焊劑等級是L、M還是H。多通道導通電阻實時監(jiān)控測試系統(tǒng),可監(jiān)測溫度范圍:-70℃-200℃,精度± 1℃。陜西pcb離子遷移絕緣電阻測試推薦貨源

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