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幾十年來，行業(yè)標準一直認為SIR測試是比較好的方法。然而，在實踐中，這種方法有一些局限性。首先，它是在標準梳狀測試樣板上進行的，而不是實際的組裝產(chǎn)品。根據(jù)不同的PCB表面處理、回流工藝條件、處理工序等，需要進行**的測試設(shè)置。而且測試方法的選擇，可能需要組裝元器件，也可能不需要。由于和助焊劑分類有關(guān)，這些因素的標準化是區(qū)分可比較的助焊劑類別的關(guān)鍵。另一方面，工藝的優(yōu)化和控制可能會遺漏一些關(guān)鍵的失效來源。其次，由于組件處于生產(chǎn)過程中，無法實時收集結(jié)果。根據(jù)測試方法的不同，測試時間**少為72小時，**多為28天，這使得測試對于過程控制來說太長了。從而促使制造商尋求能快速有效地表征電化學(xué)遷移傾向的測試方法，以控制組裝工藝。每個板卡一個**測試電源，可適應(yīng)多批量測試條件。海南制造電阻測試歡迎選購

某些國際**汽車電子大廠要求其不同供應(yīng)商，使用不同工藝，不同材質(zhì)的PCB光板，每一種類型全部需要通過電化學(xué)遷移測試才能獲得入門資格。01電化學(xué)遷移測試技術(shù)特點1、專業(yè)的設(shè)備：采用行業(yè)占有率比較高的主流進口設(shè)備，采樣速度更快，漏電捕捉精細，電阻測量精度高。2、專業(yè)的工程技術(shù)能力支持：除能為客戶提供專業(yè)的試驗評估外，還具備針對測試失效品的專業(yè)級失效分析能力，可實現(xiàn)一站式打包服務(wù)。3、可靈活地同溫濕度環(huán)境試驗箱，HAST箱，PCT等設(shè)備配合測試。浙江離子遷移絕緣電阻測試訂做價格SIR測試目的更改清潔材料或工藝。

表面電子組件的電化學(xué)遷移的發(fā)生機理取決于四個因素：銅、電壓、濕度和離子種類。當(dāng)環(huán)境中的濕氣在電路板上形成水滴時，能夠與表面上的任何離子相互作用，使離子沿著電路板表面移動。離子與銅發(fā)生反應(yīng)，它們在電壓的作用下，被推動著在銅電路之間遷移。這通常被總結(jié)為一系列步驟：水吸附、陽極金屬溶解或離子生成、離子積累、離子遷移到陰極和金屬枝晶狀生長。線路板表面的每一種材料都有可能是電遷移產(chǎn)生的影響因素：無論是線路板材料和阻焊層、元器件的清潔度，還是制板工藝或組裝工藝產(chǎn)生的任何殘留物（包括助焊劑殘留物）。由于這種失效機制是動態(tài)變化的，理想狀況是對每種設(shè)計和裝配都進行測試。但這是不可行的。這就提出了一個問題：如何比較好地描述一個組件的電化學(xué)遷移傾向。

廣州維柯信息技術(shù)有限公司成立于2006年，是一家專業(yè)致力于檢測檢驗實驗室行業(yè)產(chǎn)品技術(shù)開發(fā)生產(chǎn)、集成銷售為一體的技術(shù)型公司。

1、**通道高精度微電流測試。2、**通道測試電流電阻，電阻超大量程測量范圍在10的4次方到10的14次方。3、實現(xiàn)多通道電流同時采集，實時監(jiān)控測試樣品離子和材料絕緣劣化過程。4、板卡式結(jié)構(gòu)，靈活配置系統(tǒng)通道，1個板卡16通道，單系統(tǒng)可擴展256通道。5、每個板卡一個**測試電源，可適應(yīng)多批量測試條件。6、測試電壓可以擴展使用外接電壓，最大電壓可高達2000V。7、測試電壓可在1.0-500V(2000V)之間以0.1V步進任意可調(diào)。 精度高：優(yōu)于同業(yè)產(chǎn)品。

設(shè)計特征和工藝驗證對于準備制造一個新的PCB組件非常關(guān)鍵。這將包括調(diào)查來料、開發(fā)適當(dāng)?shù)暮附庸に噮?shù)、并**終敲定一個經(jīng)過很多步驟驗證的典型的PCB組件。這將花費比用于驗證每個組裝過程多得多的時間。本文將重點討論工藝驗證步驟中應(yīng)該進行的測試。助焊劑特性測試IPC要求焊接用的所有助焊劑都按照J-STD-004（目前在B版中)_進行分類。這份標準概述了助焊劑的基本性能要求和用于描述助焊劑在焊接過程中和組裝后在環(huán)境中與銅電路的反應(yīng)的行業(yè)標測試方法。一旦經(jīng)過測試，就可以使用諸如“ROL0”之類的代碼對助焊劑進行分類。該代碼表示助焊劑基礎(chǔ)成分、活性水平和鹵化物的存在。以ROL0為例，它表示：助焊劑是松香基，低活性等級，此助焊劑不含鹵化物。有幾種測試方法有助于這一評級，其中許多電化學(xué)可靠性測試方法都適用于助焊劑。(注:對于J-STD-004B中規(guī)定的錫膏助焊劑或含芯焊錫線的助焊劑，有些方法可能略有不同)。電阻漂移指電阻器所表現(xiàn)的電阻值，每經(jīng)過1000小時的老化測試之后，其劣化的百分比數(shù)值。貴州國內(nèi)電阻測試有哪些

SIR表面絕緣電阻測試的目的之一：基于可靠性的產(chǎn)品標定。海南制造電阻測試歡迎選購

金屬離子遷移過程此失效樣品灌封膠有機物與電路板上電阻存在一定縫隙，未能完全隔絕兩端電極，縫隙的存在為電化學(xué)遷移提供了遷移通道。因此密封電阻與電路板間縫隙能夠抑制金屬離子的遷移過程。針對金屬離子的遷移過程，可以加入絡(luò)合劑，使其與金屬正離子形成帶負電荷的絡(luò)合物，帶負電的絡(luò)合物將不會往陰極方向遷移和在陰極處發(fā)生還原沉積，由此達到抑制金屬離子往陰極遷移的目的。同時，隨著外電場強度增大，會加快陽極溶解、離子遷移和離子沉積過程。根據(jù)文獻[10]報道，當(dāng)外電壓不超過2V時，形成的樹枝狀沉積物數(shù)目較少，且外加電壓的增加會使得電化學(xué)遷移造成的短路失效時間會***縮短。因此，盡量在設(shè)計階段中，設(shè)置元件在工作狀態(tài)時為較低的外電場，也能避免由于快速發(fā)生電化學(xué)遷移而導(dǎo)致的短路失效，延長使用壽命。海南制造電阻測試歡迎選購

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