江蘇MEMS電容測(cè)試機(jī)怎么調(diào)

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-01-28

一種多通道數(shù)字輸出模塊  具體實(shí)施方式  [0037]工作原理:[0038]主控芯片U1通過通訊電路接收到總控制室發(fā)送來的信號(hào),并從其輸出端口輸出控制信號(hào),控制信號(hào)先經(jīng)過隔離器轉(zhuǎn)換輸出到驅(qū)動(dòng)電路,經(jīng)驅(qū)動(dòng)電路的場(chǎng)效應(yīng)管放大后通過插座P4和P5輸出連接的設(shè)備,從而控制設(shè)備的工作。[0039]上述說明是針對(duì)本實(shí)用新型較佳可行實(shí)施例的詳細(xì)說明,但實(shí)施例并非用以限定本實(shí)用新型的專利申請(qǐng)范圍,凡本實(shí)用新型所提示的技術(shù)精神下所完成的同等變化或修飾變更,均應(yīng)屬于本實(shí)用新型所涵蓋范圍。多通道LCR 測(cè)試機(jī)怎么使用。江蘇MEMS電容測(cè)試機(jī)怎么調(diào)

一種多通道高精密LCR測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域[0001]  本發(fā)明涉及LCR測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種多通道高精密LCR測(cè)試系統(tǒng)。背景技術(shù)[0002]LCR電感(L)、電容(C)和電阻(R)作為基本元器件,在電子產(chǎn)品中被使用。隨著電子產(chǎn)品的技術(shù)與性能不斷發(fā)展和提高,國內(nèi)相關(guān)行業(yè)對(duì)元器件的檢測(cè)技術(shù)的要求也在不斷的提高,LRC測(cè)試儀是用于測(cè)量電容、電阻、電感元件的相應(yīng)物理參數(shù)的儀器。與常用的萬用表相比較,LRC測(cè)試儀不但測(cè)量精度更高,而且可以測(cè)量元件的多種參數(shù),比如阻抗、品質(zhì)因素等等。然而,由于現(xiàn)有的LRC測(cè)試儀只有一對(duì)測(cè)試頭,因此,一次只能與一個(gè)元件的兩極連接,也即一次只能測(cè)量一個(gè)元件的參數(shù)。而在工業(yè)生產(chǎn)過程中,很多時(shí)候都需要一次對(duì)系統(tǒng)中的多個(gè)電容、電阻或者電感元件的物理參數(shù)進(jìn)行測(cè)量,以監(jiān)控這些元件的參數(shù)變化,從而判斷系統(tǒng)工作是否正常。在這種情況下,現(xiàn)有的一次只能測(cè)量一個(gè)元件參數(shù)的這種LRC測(cè)試儀就無法滿足需要了。上海多通道電感測(cè)試機(jī)費(fèi)用MEMS電容測(cè)試機(jī)使用方法。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種多通道數(shù)字輸出模塊,其特征在于,所述場(chǎng)效應(yīng)管的柵極與源極之間還串接有保護(hù)二極管,所述保護(hù)二極管實(shí)現(xiàn)對(duì)場(chǎng)效應(yīng)管的過壓保護(hù)。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種多通道數(shù)字輸出模塊,其特征在于,所述主控電路包括主控芯片U1,所述主控芯片U1連接所述隔離器,所述主控芯片U1將控制信號(hào)輸出傳遞給所述隔離器。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種多通道數(shù)字輸出模塊,其特征在于,所述主控芯片U1還連接有通訊電路,所述通訊電路包括通訊接口RJ1和通訊芯片U2,所述通訊芯片U2與所述主控芯片U1連接,實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的交互,所述通訊芯片U2與所述通訊接口RJ1連接,所述通訊接口RJ1用于與外設(shè)連接,所述通訊芯片U2通過所述通訊接口RJ1實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的收發(fā)。

根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種多通道高精密LCR測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述通道切換單元包括若干結(jié)構(gòu)相同的通道切換電路,所述通道切換電路包括與所述通道數(shù)量相對(duì)應(yīng)的繼電器,所述繼電器與所述掃描CPLD連接。 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種多通道高精密LCR測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述掃描卡和測(cè)量卡至多可設(shè)置13張。10.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種多通道高精密LCR測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述MCU模塊包括主控芯片U100,所述主控芯片U100連接有USB單元以及網(wǎng)絡(luò)通訊單元,所述USB單元用于實(shí)現(xiàn)主控芯片U100與外界的USB通訊,所述網(wǎng)絡(luò)通訊單元用于實(shí)現(xiàn)組網(wǎng)。蘇州多通道電阻測(cè)試機(jī)好用么?

一種多通道數(shù)字輸出模塊 [0009]在本實(shí)用新型中,推薦的,所述主控芯片U1還連接有通訊電路,所述通訊電路包括通訊接口RJ1和通訊芯片U2,所述通訊芯片U2與所述主控芯片U1連接,實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的交互,所述通訊芯片U2與所述通訊接口RJ1連接,所述通訊接口RJ1用于與外設(shè)連接,所述通訊芯片U2通過所述通訊接口RJ1實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的收發(fā)。[0010]在本實(shí)用新型中,推薦的,所述主控芯片U1還連接有復(fù)位電路,所述復(fù)位電路包括復(fù)位按鈕,所述復(fù)位按鈕的2號(hào)端口通過電阻R2接3.3V電源,同時(shí)通過電阻R3接入主控芯片U1,所述復(fù)位按鈕的1號(hào)端口接地,通過復(fù)位按鈕實(shí)現(xiàn)對(duì)主控芯片U1的重置。TP Sensor大板測(cè)試機(jī)。上海多通道LCR 測(cè)試機(jī)費(fèi)用

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一種多通道高精密LCR測(cè)試系統(tǒng) [0007]在本發(fā)明中,進(jìn)一步的,所述主控板包括MCU模塊、測(cè)量CPLD、DDS合成單元以及信號(hào)測(cè)量單元,所述MCU模塊與所述測(cè)量CPLD連接,所述MCU模塊用于控制所述測(cè)量CPLD進(jìn)行LCR測(cè)試,所述測(cè)量CPLD與所述DDS合成單元電連接,所述測(cè)量CPLD用于控制DDS合成單元合成正弦信號(hào),所述DDS合成單元與所述信號(hào)測(cè)量單元連接,所述信號(hào)測(cè)量單元用于同步采集所述正弦信號(hào)。[0008]在本發(fā)明中,進(jìn)一步的,所述DDS合成單元連接有濾波電路和差分電路,所述濾波電路和差分電路用于濾除信號(hào)的諧波和高頻干擾。江蘇MEMS電容測(cè)試機(jī)怎么調(diào)

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