廣西高精密多路電容 測試機機構(gòu)

來源: 發(fā)布時間:2022-07-20

一種多通道數(shù)字輸出模塊  具體實施方式[0023]下面將結(jié)合本實用新型實施例中的附圖,對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例是本實用新型一部分實施例,而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本實用新型保護的范圍。[0024]需要說明的是,當組件被稱為“固定于”另一個組件,它可以直接在另一個組件上或者也可以存在居中的組件。當一個組件被認為是“連接”另一個組件,它可以是直接連接到另一個組件或者可能同時存在居中組件。當一個組件被認為是“設(shè)置于”另一個組件,它可以是直接設(shè)置在另一個組件上或者可能同時存在居中組件。本文所使用的術(shù)語“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及類似的表述只是為了說明的目的。TP Sensor多排板測試機生產(chǎn)廠家。廣西高精密多路電容 測試機機構(gòu)

一種多通道高精密LCR測試系統(tǒng) [0011]在本發(fā)明中,進一步的,所述信號轉(zhuǎn)換電路包括信號調(diào)制電路以及ADC電路,所述信號調(diào)制電路與所述ADC電路連接,所述信號調(diào)制電路用于對采集的正弦信號調(diào)節(jié)增益,所述ADC電路用于對信號進行轉(zhuǎn)換。[0012]在本發(fā)明中,進一步的,所述信號測量單元包括四路結(jié)構(gòu)相同的采集電路,所述采集電路包括運算放大器U601,所述運算放大器U601的正極輸入引腳與所述差分電路連接。[0013]在本發(fā)明中,推薦的,所述通道切換單元包括若干結(jié)構(gòu)相同的通道切換電路,所述通道切換電路包括與所述通道數(shù)量相對應的繼電器,所述繼電器與所述掃描CPLD連接。[0014]在本發(fā)明中,進一步的,所述DDS合成單元包括數(shù)字頻率合成器U501,所述數(shù)字頻率合成器U501的輸入引腳與所述測量CPLD連接,所述數(shù)字頻率合成器U501的輸出引腳與所述濾波電路連接。廣西高精密多路電容 測試機機構(gòu)高精密多路阻抗測試機費用。

一種多通道數(shù)字輸出模塊  具體實施方式  [0037]工作原理:[0038]主控芯片U1通過通訊電路接收到總控制室發(fā)送來的信號,并從其輸出端口輸出控制信號,控制信號先經(jīng)過隔離器轉(zhuǎn)換輸出到驅(qū)動電路,經(jīng)驅(qū)動電路的場效應管放大后通過插座P4和P5輸出連接的設(shè)備,從而控制設(shè)備的工作。[0039]上述說明是針對本實用新型較佳可行實施例的詳細說明,但實施例并非用以限定本實用新型的專利申請范圍,凡本實用新型所提示的技術(shù)精神下所完成的同等變化或修飾變更,均應屬于本實用新型所涵蓋范圍。

[0042]其中,如圖15所示,通道切換單元包括若干結(jié)構(gòu)相同的通道切換電路,所述通道切換電路包括與所述通道數(shù)量相對應的繼電器,所述繼電器與所述掃描CPLD連接,以其中一例進行說明,切換電路包括繼電器RY600,繼電器RY600的1腳接+5VD電源,2腳與掃描CPLD的116腳連接,3腳連接至插排上實現(xiàn)信號的轉(zhuǎn)接,通過掃描CPLD控制繼電器繼電器RY600兩個點位的高低電平,實現(xiàn)對該通道的控制。如此,整個通道切換單元使用高隔離和寄生電容小的繼電器,使得整個系統(tǒng)的寄生電容小,提升測量的精度,同時此繼電器的切換時間小于1mS使得多通道切換時花費的時間少,提升了測量速度。[0043]在本發(fā)明中,進一步的,如圖4所示,所述主控板包括MCU模塊、測量CPLD、DDS合成單元以及信號測量單元,所述MCU模塊與所述測量CPLD連接,所述MCU模塊用于控制所述測量CPLD進行LCR測試,所述測量CPLD與所述DDS合成單元電連接,所述測量CPLD用于控制DDS合成單元合成正弦信號,所述DDS合成單元與所述信號測量單元連接,所述信號測量單元用于同步采集所述正弦信號。快速LCR測試機具體使用方法。

一種多通道高精密LCR測試系統(tǒng) 具體實施方式[0036]下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖,對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例是本發(fā)明一部分實施例,而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發(fā)明保護的范圍。[0037]需要說明的是,當組件被稱為“固定于”另一個組件,它可以直接在另一個組件上或者也可以存在居中的組件。當一個組件被認為是“連接”另一個組件,它可以是直接連接到另一個組件或者可能同時存在居中組件。當一個組件被認為是“設(shè)置于”另一個組件,它可以是直接設(shè)置在另一個組件上或者可能同時存在居中組件。本文所使用的術(shù)語“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及類似的表述只是為了說明的目的。高精密多通道LCR測試機。廣西高精密多路電容 測試機機構(gòu)

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一種多通道高精密LCR測試系統(tǒng) [0007]在本發(fā)明中,進一步的,所述主控板包括MCU模塊、測量CPLD、DDS合成單元以及信號測量單元,所述MCU模塊與所述測量CPLD連接,所述MCU模塊用于控制所述測量CPLD進行LCR測試,所述測量CPLD與所述DDS合成單元電連接,所述測量CPLD用于控制DDS合成單元合成正弦信號,所述DDS合成單元與所述信號測量單元連接,所述信號測量單元用于同步采集所述正弦信號。[0008]在本發(fā)明中,進一步的,所述DDS合成單元連接有濾波電路和差分電路,所述濾波電路和差分電路用于濾除信號的諧波和高頻干擾。廣西高精密多路電容 測試機機構(gòu)

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