一種多通道高精密LCR測試系統(tǒng)，其特征在于，包括與待測產(chǎn)品連接的若干結(jié)構(gòu)相同的的掃描卡、以及與掃描卡相對設(shè)置的測量卡，若干所述掃描卡和測量卡通過背部連接板連接，所述掃描卡用于實(shí)現(xiàn)通道切換，所述測量卡用于實(shí)現(xiàn)LCR測試，所述背部連接板用于實(shí)現(xiàn)信號的轉(zhuǎn)接，所述背部連接板連接有主控板，所述主控板用于實(shí)現(xiàn)對測量卡以及掃描卡的信號控制；每個所述掃描卡包括掃描CPLD以及通道切換單元，所述掃描CPLD與所述通道切換單元連接，所述掃描CPLD用于接收主控板的信號并控制信號分配，所述通道切換單元通過若干繼電器實(shí)現(xiàn)對測量通道的切換。線圈測試機(jī)生產(chǎn)廠家。重慶多通道LCR測試機(jī)公司
一種多通道高精密LCR測試系統(tǒng) [0038]除非另有定義，本文所使用的所有的技術(shù)和科學(xué)術(shù)語與屬于本發(fā)明的技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文中在本發(fā)明的說明書中所使用的術(shù)語只是為了描述具體的實(shí)施例的目的，不是旨在于限制本發(fā)明。本文所使用的術(shù)語“及/或”包括一個或多個相關(guān)的所列項(xiàng)目的任意的和所有的組合。[0039]請同時參見圖1至圖3，本發(fā)明一較佳實(shí)施方式提供一種多通道高精密LCR測試系統(tǒng)，包括與待測產(chǎn)品連接的若干結(jié)構(gòu)相同的的掃描卡、以及與掃描卡相對設(shè)置的測量卡，若干所述掃描卡和測量卡通過背部連接板連接，所述掃描卡用于實(shí)現(xiàn)通道切換，所述測量卡用于實(shí)現(xiàn)LCR測試，所述背部連接板用于實(shí)現(xiàn)信號的轉(zhuǎn)接，所述背部連接板連接有主控板，所述主控板用于實(shí)現(xiàn)對測量卡以及掃描卡的信號控制；上海多通道電阻測試機(jī)聯(lián)系電話TP Sensor多排板測試機(jī)生產(chǎn)廠家。
[0046]如圖5、6所示，測量CPLD選用型號為EPM570T144I5N A的可編程邏輯器件，包括測量CPLD1和測量CPLD2，多個通道的切換指令和數(shù)據(jù)讀寫檢測通過測量CPLD完成，采用10nS響應(yīng)速度的CPLD器件使得數(shù)據(jù)的讀寫速度快，占用主控芯片U100的資源少，如此，提成系統(tǒng)的運(yùn)行速度。[0047]此外，在本實(shí)施例中，主控芯片U100連接有USB單元以及網(wǎng)絡(luò)通訊單元，所述USB單元用于實(shí)現(xiàn)主控芯片U100與外界的USB通訊，所述網(wǎng)絡(luò)通訊單元用于實(shí)現(xiàn)組網(wǎng)。[0048]具體的，如圖7所示，USB單元包括芯片U350，芯片U350型號為PDIUSBD12，用于實(shí)現(xiàn)通訊信號電平的轉(zhuǎn)換，其中該芯片的28、15、16引腳與主控芯片U100的102、104、106引腳對應(yīng)連接，實(shí)現(xiàn)USB單元與MCU模塊的信號傳輸，通過USB單元可直接連接顯示屏或者PC，可將檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行顯示。
在本發(fā)明中，推薦的，所述掃描卡和測量卡至多可設(shè)置13張[0016]在本發(fā)明中，推薦的，所述MCU模塊包括主控芯片U100，所述主控芯片U100連接有USB單元以及網(wǎng)絡(luò)通訊單元，所述USB單元用于實(shí)現(xiàn)主控芯片U100與外界的USB通訊，所述網(wǎng)絡(luò)通訊單元用于實(shí)現(xiàn)組網(wǎng)。[0017]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是：[0018]本發(fā)明的系統(tǒng)通過將每個測量卡配置一個掃描卡，測量板可以任意對應(yīng)一張掃描卡或者對應(yīng)多張掃描卡利用掃描卡，通過掃描卡完成多個測量通道的切換，使得測試參數(shù)、測量點(diǎn)位多，可同時對系統(tǒng)中的多個電容、電阻或者電感元件的物理參數(shù)進(jìn)行測量，提高測量效率。同時，本方案通道切換采用使用高隔離和寄生電容小的繼電器，使得整個系統(tǒng)的寄生電容小，提升測量的精度，同時此繼電器的切換時間小于1mS使得多通道切換時花費(fèi)的時間少，提升了測量速度。多路LCR測試機(jī)怎么調(diào)？
一種多通道高精密LCR測試系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域[0001] 本發(fā)明涉及LCR測試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種多通道高精密LCR測試系統(tǒng)。背景技術(shù)[0002]LCR電感(L)、電容(C)和電阻(R)作為基本元器件，在電子產(chǎn)品中被使用。隨著電子產(chǎn)品的技術(shù)與性能不斷發(fā)展和提高，國內(nèi)相關(guān)行業(yè)對元器件的檢測技術(shù)的要求也在不斷的提高，LRC測試儀是用于測量電容、電阻、電感元件的相應(yīng)物理參數(shù)的儀器。與常用的萬用表相比較，LRC測試儀不但測量精度更高，而且可以測量元件的多種參數(shù)，比如阻抗、品質(zhì)因素等等。然而，由于現(xiàn)有的LRC測試儀只有一對測試頭，因此，一次只能與一個元件的兩極連接，也即一次只能測量一個元件的參數(shù)。而在工業(yè)生產(chǎn)過程中，很多時候都需要一次對系統(tǒng)中的多個電容、電阻或者電感元件的物理參數(shù)進(jìn)行測量，以監(jiān)控這些元件的參數(shù)變化，從而判斷系統(tǒng)工作是否正常。在這種情況下，現(xiàn)有的一次只能測量一個元件參數(shù)的這種LRC測試儀就無法滿足需要了。多路LCR測試機(jī)怎么使用？上海多通道電阻測試機(jī)聯(lián)系電話
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一種多通道高精密LCR測試系統(tǒng) 具體實(shí)施方式[0036]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。[0037]需要說明的是，當(dāng)組件被稱為“固定于”另一個組件，它可以直接在另一個組件上或者也可以存在居中的組件。當(dāng)一個組件被認(rèn)為是“連接”另一個組件，它可以是直接連接到另一個組件或者可能同時存在居中組件。當(dāng)一個組件被認(rèn)為是“設(shè)置于”另一個組件，它可以是直接設(shè)置在另一個組件上或者可能同時存在居中組件。本文所使用的術(shù)語“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及類似的表述只是為了說明的目的。重慶多通道LCR測試機(jī)公司
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