華中納米級(jí)工業(yè)CT檢測(cè)

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2019-12-24
phoenix v|tome|x c-----

行業(yè)應(yīng)用案例 

 三維CT掃描

 工業(yè)X射線三維計(jì)算機(jī)斷層掃描的典型應(yīng)用是檢查和三維測(cè)量金屬鑄件、注塑件或復(fù)合材料。例如,渦輪葉片是復(fù)雜的高性能鑄件必須符合***高的質(zhì)量和安全要求,復(fù)合材料風(fēng)機(jī)葉片也同樣。CT允許失效分析以及***和可重復(fù)的測(cè)量(如壁厚)。緊湊的CT系統(tǒng)phoenix v|tome|x C非常適合這一應(yīng)用領(lǐng)域。

Casting &Welding

射線無(wú)損檢測(cè)常常用來(lái)檢測(cè)鑄件和焊縫缺陷。X射線二維成像技術(shù)和工業(yè)X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描相結(jié)合,可擴(kuò)展缺陷的檢測(cè)范圍,并能提供低對(duì)比度缺陷的三維圖像,如對(duì)機(jī)械手的二維檢測(cè),及三維分析與測(cè)量。

P201 / VW 50097:在2D截面視圖中可對(duì)孔隙所占的面積比進(jìn)行統(tǒng)計(jì),相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)可以按照大眾VW 50097標(biāo)準(zhǔn)進(jìn) 行測(cè)量。華中納米級(jí)工業(yè)CT檢測(cè)

phoenix nanome|x

—— 超高分辨率的納米焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng),設(shè)計(jì)用于檢測(cè)半導(dǎo)體及SMT行業(yè)的***的組件和互連


該系統(tǒng)具有***的性能和多功能性,可用于二維X射線檢測(cè),以及全三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(nano ct)。有了新的 x|act 軟件包, phoenix nanome|x是可選的系統(tǒng),用以確保滿足目前和未來(lái)的零缺陷要求。


顧客利益:


組合的二維 /三維CT操作

通過(guò)***的雙向檢波器技術(shù)(數(shù)字圖像鏈與有效的溫度穩(wěn)定的30幀每秒的數(shù)字探測(cè)器)獲取的清晰的活動(dòng)影像

檢測(cè)步驟的自動(dòng)化是可能的

***的易用性 東北微米級(jí)工業(yè)CT設(shè)備CT掃描還原產(chǎn)品內(nèi)部詳細(xì)情況,掃描完成之后,得到完整的立體的數(shù)據(jù),從而更加容易得看到缺陷和失效情況。

phoenix v|tome|x s

—— 多功能的高分辨率系統(tǒng),用于二維X射線檢測(cè)和三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct 與nano ct))以及三維測(cè)量


      為達(dá)到高度的靈活性,phoenix v|tome|x s可從二者中選擇裝備:180千伏/ 15 W高功率nanofocus

X射線管和240千伏/ 320瓦的微焦點(diǎn)管. 由于這種獨(dú)特的組合,該系統(tǒng)是一個(gè)非常有效且可靠的工具,廣泛應(yīng)用于對(duì)低吸收材料的極高分辨率掃描以及對(duì)高吸收物體的三維分析。

通過(guò)高動(dòng)態(tài)溫度穩(wěn)定的GE DXR數(shù)字探測(cè)器獲取的30 FPS(幀每秒)(可選)的快速CT采集和清晰的活動(dòng)影像

phoenix microme|x

—— 高分辨率的微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng),主要設(shè)計(jì)用于焊點(diǎn)和電子元件的實(shí)時(shí)X射線檢測(cè)

     它將高分辨率的二維X射線技術(shù)和計(jì)算機(jī)斷層掃描結(jié)合在一個(gè)系統(tǒng)中,同時(shí)具有創(chuàng)新的功能。多功能、易于使用的phoenix microme|x 提供了出色的圖像質(zhì)量,可以用于故障分析實(shí)驗(yàn)室以及生產(chǎn)車間。它配備了phoenix|X射線專有的圖像處理軟件,用于PCB裝配的自動(dòng)檢測(cè),提供更高的缺陷覆蓋率,同時(shí)提高了生產(chǎn)效率。

 通過(guò)菱形|窗口以同樣的高圖像質(zhì)量水平進(jìn)行快達(dá)2倍的數(shù)據(jù)采集

錫球焊點(diǎn)開(kāi)路:錫膏和錫球未融合成一體,以此判斷為失效件。

v|tome|x L 450

—— 多功能高分辨率微焦點(diǎn)系統(tǒng),用于二維和三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct)和二維無(wú)損X射線檢測(cè)


花崗巖底座,可以處理大樣本,并具有***高精度。該系統(tǒng)是用于無(wú)效和缺陷檢測(cè)和鑄件的三維測(cè)量(如首件檢測(cè))的***佳解決方案??蛇x的第二種X射線管可使 v|tome|x L 450 適應(yīng)任何種類的工業(yè)和科學(xué)CT應(yīng)用。

鑄件與焊接

射線無(wú)損檢測(cè)用于檢測(cè)鑄件和焊縫缺陷。微焦點(diǎn)X射線技術(shù)和工業(yè)X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描(mico

ct)的結(jié)合,使得微米范圍內(nèi)的缺陷探測(cè)成為可能,并提供低對(duì)比度缺陷的三維圖像。

鋁鑄件的三維微焦點(diǎn)計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct)含有一些空隙率。 在缺口的文物修復(fù)中,CT結(jié)果描述的更加細(xì)膩,便于修復(fù)**準(zhǔn)確用料用量。華南測(cè)量版工業(yè)CT

測(cè)量功能:可直接在CT數(shù)據(jù)對(duì)試件進(jìn)行測(cè)量。 尤其是密閉空間內(nèi)尺寸,傳統(tǒng)的三坐標(biāo)測(cè)量方法根本無(wú)法實(shí)現(xiàn)。華中納米級(jí)工業(yè)CT檢測(cè)

seifert x-cube-----靈活性

更大的操作靈活性


旋轉(zhuǎn)臂現(xiàn)在可于90°范圍內(nèi)旋轉(zhuǎn)。

更大的分辨率靈活性


X-cube可與225千伏或160千伏的X射線管共同使用,作為標(biāo)準(zhǔn),有一個(gè)可選的探測(cè)器范圍。 因此,分辨率可以匹配,以適合特定用戶的任務(wù)。

易于使用

帶有教與學(xué)性能的直觀的用戶指南使新的X-cube非常易于操作。 新的檢測(cè)程序也很容易輸入,并可于不到30秒內(nèi)落實(shí)到位。



低運(yùn)營(yíng)成本

需要非常小的占地面積和即插即用安裝,因其***性密封齒輪箱,X-cube也只需很少的維護(hù)。 它是完全電動(dòng)的,無(wú)需氣動(dòng)或液壓。

華中納米級(jí)工業(yè)CT檢測(cè)

英華檢測(cè)(上海)有限公司致力于儀器儀表,是一家貿(mào)易型的公司。公司業(yè)務(wù)分為工業(yè)CT,工業(yè)CT檢測(cè)服務(wù)等,目前不斷進(jìn)行創(chuàng)新和服務(wù)改進(jìn),為客戶提供良好的產(chǎn)品和服務(wù)。公司從事儀器儀表多年,有著創(chuàng)新的設(shè)計(jì)、強(qiáng)大的技術(shù),還有一批**的專業(yè)化的隊(duì)伍,確保為客戶提供良好的產(chǎn)品及服務(wù)。英華檢測(cè)秉承“客戶為尊、服務(wù)為榮、創(chuàng)意為先、技術(shù)為實(shí)”的經(jīng)營(yíng)理念,全力打造公司的重點(diǎn)競(jìng)爭(zhēng)力。

標(biāo)簽: 工業(yè)CT