CT性能下的******
組合的二維/三維（計(jì)算機(jī)斷層掃描）操作所用的新的可選升級(jí)包將X-cube轉(zhuǎn)換成一個(gè)多功能試驗(yàn)機(jī)，使用三維錐形束CT進(jìn)行詳細(xì)的X射線檢測(cè)。 該采集，容積重建和可視化軟件運(yùn)行于集成計(jì)算機(jī)平臺(tái)，并提供了依樣本大小而定的約0.1毫米的詳細(xì)分辨率。
應(yīng)用領(lǐng)域
X-cube可應(yīng)用于所有需要對(duì)鑄件、鋼構(gòu)件、塑料，陶瓷和特種合金進(jìn)行快速和有效的影像學(xué)檢測(cè)的工業(yè)領(lǐng)域。 其多功能性意味著它可以同樣出色地用于生產(chǎn)部門(mén)或研究和開(kāi)發(fā)設(shè)施和來(lái)料檢驗(yàn)以及故障分析。
其強(qiáng)大的設(shè)計(jì)和堅(jiān)固的軟件籠使其適合用于繁忙的車(chē)間，且符合所有重要的國(guó)際安全標(biāo)準(zhǔn)。 檢測(cè)原理：射線透照材料后發(fā)生衰減，進(jìn)行二維X-ray成像；通過(guò)對(duì)樣品進(jìn)行360°掃描，獲得巖樣三維模型。浙江微納米工業(yè)CT掃描
phoenix x|aminer-----------主要特點(diǎn)和益處：
無(wú)使用壽命限制160kV/20W高功率X射線管, 易于穿透高吸收性工件
可選高對(duì)比度CMOS平板探測(cè)器, 有更好的實(shí)時(shí)檢測(cè)能力
功能***的CT軟件模塊, 操作簡(jiǎn)單快速
設(shè)計(jì)人性化和操作簡(jiǎn)便易用
可實(shí)時(shí)CAD數(shù)據(jù)匹配
自動(dòng)實(shí)時(shí)導(dǎo)航圖功能, 易于對(duì)樣品的上下表面和內(nèi)部進(jìn)
行快速***
激光防碰撞設(shè)計(jì)以保護(hù)工件
占地面積小
應(yīng)用：
安裝好的印刷電路板
μBGA的二維X射線圖像
將功率半導(dǎo)體元器件的表面焊接到陶瓷基板上。在穿過(guò)3毫米厚的銅制散熱器后，基板上可見(jiàn)空洞，半導(dǎo)體的焊點(diǎn)無(wú)空洞。甚至連細(xì)鋁焊線也可看見(jiàn)。
半導(dǎo)體與其他電子元件
在任何時(shí)間通過(guò)任何檢測(cè)角度通過(guò)實(shí)時(shí)CAD數(shù)據(jù)匹配得到實(shí)時(shí)影像
華東工業(yè)CT儀器航空葉片二維X射線檢測(cè)，識(shí)別葉片內(nèi)部夾雜缺陷。v|tome|x L 240
——顧客利益：
三維測(cè)量包用于空間測(cè)量，具有極高精度，再現(xiàn)性和親和力
在少于1小時(shí)之內(nèi)自動(dòng)生成首件檢測(cè)記錄是可能的
使用***的軟件模塊以確保***高的CT質(zhì)量且便于使用，例如
通過(guò)點(diǎn)擊并測(cè)量|CT 用 datos|x 2.0進(jìn)行高精度可重現(xiàn)的三維測(cè)量: 全自動(dòng)化執(zhí)行的CT掃描，重建和分析過(guò)程
通過(guò) VELO | CT在幾秒鐘或幾分鐘內(nèi)（取決于體積大?。┩瓿筛斓娜SCT重建
通過(guò)高動(dòng)態(tài)溫度穩(wěn)定的GE DXR數(shù)字探測(cè)器獲取的30 FPS（幀每秒）（可選）的快速CT采集和清晰的影像
phoenix nanome|x
—— 超高分辨率的納米焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用于檢測(cè)半導(dǎo)體及SMT行業(yè)的***的組件和互連
該系統(tǒng)具有***的性能和多功能性，可用于二維X射線檢測(cè)，以及全三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(nano ct)。有了新的 x|act 軟件包， phoenix nanome|x是可選的系統(tǒng)，用以確保滿(mǎn)足目前和未來(lái)的零缺陷要求。
顧客利益：
組合的二維 /三維CT操作
通過(guò)***的雙向檢波器技術(shù)（數(shù)字圖像鏈與有效的溫度穩(wěn)定的30幀每秒的數(shù)字探測(cè)器）獲取的清晰的活動(dòng)影像
檢測(cè)步驟的自動(dòng)化是可能的
***的易用性 線纜接觸效果清晰可見(jiàn)，納米情況下可以看到更細(xì)小的缺陷。
seifert x-cube-------更強(qiáng)的圖像質(zhì)量和圖像共享***新的圖像增強(qiáng)系統(tǒng)
X-cube將Vistalux 圖像增強(qiáng)器與多功能的
Vistaplus 圖像增強(qiáng)系統(tǒng)進(jìn)行了結(jié)合。 這樣可以進(jìn)行高質(zhì)量圖像的實(shí)時(shí)集成和實(shí)時(shí)平均。
***新圖像判讀工具
***新綜合應(yīng)用工具確保了對(duì)檢測(cè)結(jié)果的有效分析，包括參考圖像的顯示，故障范圍的計(jì)算和交互式圖像測(cè)量。
可與網(wǎng)絡(luò)兼容
圖像增強(qiáng)軟件可與局域網(wǎng)兼容，同時(shí)還可將圖像用電子郵件發(fā)送，以便進(jìn)行遠(yuǎn)程***評(píng)估或存儲(chǔ)。 檢測(cè)文檔可在工作站或一些連接地點(diǎn)生成。 陶瓷纖維的CT圖像顯示了纖維損傷情況。上海納米級(jí)工業(yè)CT儀器
航空葉片三維CT壁厚測(cè)量，得到樣品的壁厚參數(shù)，不同顏色表示不同壁厚尺寸。浙江微納米工業(yè)CT掃描
v|tome|x L 300
——應(yīng)用：
三維計(jì)算機(jī)斷層掃描
工業(yè)X射線三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct 與 nano ct) 的經(jīng)典應(yīng)用是對(duì)金屬和塑料鑄件的檢測(cè)和三維測(cè)量。
然而， phoenix| X射線的高分辨率X射線技術(shù)開(kāi)辟了在眾多領(lǐng)域的新應(yīng)用，如傳感器技術(shù)、電子、材料科學(xué)以及許多其他自然科學(xué)。
材料科學(xué)
高分辨率計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro
ct 與 nano ct)用于檢測(cè)材料、復(fù)合材料、燒結(jié)材料和陶瓷，但也用來(lái)對(duì)地質(zhì)或生物樣品進(jìn)行分析。
材料分配、空隙率和裂縫在微觀分辨率上是三維可視的。
渦輪葉片是復(fù)雜的高性能鑄件,要滿(mǎn)足***高質(zhì)量和安全性的要求。
CT可進(jìn)行故障分析以及***的三維測(cè)量（如壁厚）。 浙江微納米工業(yè)CT掃描
英華檢測(cè)（上海）有限公司致力于儀器儀表，以科技創(chuàng)新實(shí)現(xiàn)***管理的追求。英華檢測(cè)深耕行業(yè)多年，始終以客戶(hù)的需求為向?qū)?，為客?hù)提供***的工業(yè)CT，工業(yè)CT檢測(cè)服務(wù)。英華檢測(cè)致力于把技術(shù)上的創(chuàng)新展現(xiàn)成對(duì)用戶(hù)產(chǎn)品上的貼心，為用戶(hù)帶來(lái)良好體驗(yàn)。英華檢測(cè)始終關(guān)注儀器儀表行業(yè)。滿(mǎn)足市場(chǎng)需求，提高產(chǎn)品價(jià)值，是我們前行的力量。