解決方案DDR3測試HDMI測試

來源: 發(fā)布時間:2024-07-27

· 相關(guān)器件的應用手冊,ApplicationNote:在這個文檔中,廠家一般會提出一些設(shè)計建議,甚至參考設(shè)計,有時該文檔也會作為器件手冊的一部分出現(xiàn)在器件手冊文檔中。但是在資料的搜集和準備中,要注意這些信息是否齊備。

· 參考設(shè)計,ReferenceDesign:對于比較復雜的器件,廠商一般會提供一些參考設(shè)計,以幫助使用者盡快實現(xiàn)解決方案。有些廠商甚至會直接提供原理圖,用戶可以根據(jù)自己的需求進行更改。

· IBIS 文件:這個對高速設(shè)計而言是必需的,獲得的方法前面已經(jīng)講過。 什么是DDR3一致性測試?解決方案DDR3測試HDMI測試

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為了改善地址信號多負載多層級樹形拓撲造成的信號完整性問題,DDR3/4的地址、控制、命令和時鐘信號釆用了Fly-by的拓撲結(jié)構(gòu)種優(yōu)化了負載樁線的菊花鏈拓撲。另外,在主板加內(nèi)存條的系統(tǒng)設(shè)計中,DDR2的地址命令和控制信號一般需要在主板上加匹配電阻,而DDR3則將終端匹配電阻設(shè)計在內(nèi)存條上,在主板上不需要額外電阻,這樣可以方便主板布線,也可以使匹配電阻更靠近接收端。為了解決使用Fly-by拓撲岀現(xiàn)的時鐘信號和選通信號“等長”問題,DDR3/4采用了WriteLeveling技術(shù)進行時序補償,這在一定程度上降低了布線難度,特別是弱化了字節(jié)間的等長要求。不同于以往DDRx使用的SSTL電平接口,新一代DDR4釆用了POD電平接口,它能夠有效降低單位比特功耗。DDR4內(nèi)存也不再使用SlewRateDerating技術(shù),降低了傳統(tǒng)時序計算的復雜度。HDMI測試DDR3測試信號完整性測試DDR3一致性測試是否會導致操作系統(tǒng)或應用程序崩潰?

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DDR3一致性測試是一種用于檢查和驗證DDR3內(nèi)存模塊在數(shù)據(jù)操作和傳輸方面一致性的測試方法。通過進行一致性測試,可以確保內(nèi)存模塊在工作過程中能夠按照預期的方式讀取、寫入和傳輸數(shù)據(jù)。

一致性測試通常涵蓋以下方面:

電氣特性測試:對內(nèi)存模塊的電壓、時鐘頻率、時序等電氣特性進行測試,以確保其符合規(guī)范要求。

讀寫測試:驗證內(nèi)存模塊的讀取和寫入功能是否正常,并確保數(shù)據(jù)的正確性和一致性。

數(shù)據(jù)一致性檢查:通過檢查讀取的數(shù)據(jù)與預期的數(shù)據(jù)是否一致來驗證內(nèi)存模塊的數(shù)據(jù)傳輸準確性。

時序一致性測試:確認內(nèi)存模塊的時序設(shè)置是否正確,并檢查內(nèi)存模塊對不同命令和操作的響應是否符合規(guī)范。

并發(fā)訪問測試:測試內(nèi)存模塊在并發(fā)訪問和多任務(wù)環(huán)境下的性能和穩(wěn)定性。

一致性測試有助于檢測潛在的內(nèi)存問題,如數(shù)據(jù)傳輸錯誤、時序不一致、并發(fā)訪問等,以確保內(nèi)存模塊在計算機系統(tǒng)中的正常運行。這種測試可以提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性、可靠性,并減少不一致性可能帶來的數(shù)據(jù)損壞或系統(tǒng)故障。

雙擊PCB模塊打開其Property窗口,切換到LayoutExtraction選項卡,在FileName處瀏覽選擇備好的PCB文件在ExtractionEngine下拉框里選擇PowerSL所小。SystemSI提供PowerSI和SPEED2000Generator兩種模型提取引擎。其中使用PowerSI可以提取包含信號耦合,考慮非理想電源地的S參數(shù)模型;而使用SPEED2000Generator可以提取理想電源地情況下的非耦合信號的SPICE模型。前者模型提取時間長,但模型細節(jié)完整,適合終的仿真驗證;后者模型提取快,SPICE模型仿真收斂性好,比較適合設(shè)計前期的快速仿真迭代。DDR3內(nèi)存的一致性測試是否需要長時間運行?

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瀏覽選擇控制器的IBIS模型,切換到Bus Definition選項卡,單擊Add按鈕添加一 組新的Buso選中新加的一行Bus使其高亮,將鼠標移動到Signal Names下方高亮處,單擊 出現(xiàn)的字母E,打開Signal列表。勾選組數(shù)據(jù)和DM信號,單擊0K按鈕確認。

同樣,在Timing Ref下方高亮處,單擊出現(xiàn)的字母E打開TimingRef列表。在這個列表 窗口左側(cè),用鼠標左鍵點選DQS差分線的正端,用鼠標右鍵點選負端,單擊中間的“>>”按 鈕將選中信號加入TimingRefs,單擊OK按鈕確認。

很多其他工具都忽略選通Strobe信號和時鐘Clock信號之間的時序分析功能,而SystemSI可以分析包括Strobe和Clock在內(nèi)的完整的各類信號間的時序關(guān)系。如果要仿真分析選通信號Strobe和時鐘信號Clock之間的時序關(guān)系,則可以設(shè)置與Strobe對應的時鐘信號。在Clock 下方的高亮處,單擊出現(xiàn)的字母E打開Clock列表。跟選擇與Strobe -樣的操作即可選定時 鐘信號。 在DDR3一致性測試期間能否繼續(xù)進行其他任務(wù)?HDMI測試DDR3測試信號完整性測試

什么是DDR3內(nèi)存的一致性問題?解決方案DDR3測試HDMI測試

· 工業(yè)規(guī)范標準,Specification:如果所設(shè)計的功能模塊要實現(xiàn)某種工業(yè)標準接口或者協(xié)議,那一定要找到相關(guān)的工業(yè)規(guī)范標準,讀懂規(guī)范之后,才能開始設(shè)計。

因此,為實現(xiàn)本設(shè)計實例中的 DDR 模塊,需要的技術(shù)資料和文檔。

由于我們要設(shè)計 DDR 存儲模塊,那么在所有的資料當中,應該較早了解 DDR 規(guī)范。通過對 DDR 規(guī)范文件「JEDEC79R」的閱讀,我們了解到,設(shè)計一個 DDR 接口,需要滿足規(guī)范中規(guī)定的 DC,AC 特性及信號時序特征。下面我們從設(shè)計規(guī)范要求和器件本身特性兩個方面來解讀,如何在設(shè)計中滿足設(shè)計要求。 解決方案DDR3測試HDMI測試