山東DDR一致性測(cè)試協(xié)議測(cè)試方法

DDR的信號(hào)仿真驗(yàn)證

由于DDR芯片都是采用BGA封裝，密度很高，且分叉、反射非常嚴(yán)重，因此前期的仿 真是非常必要的。借助仿真軟件中專門針對(duì)DDR的仿真模型庫(kù)仿真出的通道損 耗以及信號(hào)波形。

仿真出信號(hào)波形以后，許多用戶需要快速驗(yàn)證仿真出來(lái)的波形是否符合DDR相關(guān)規(guī) 范要求。這時(shí)，可以把軟件仿真出的DDR的時(shí)域波形導(dǎo)入到示波器中的DDR測(cè)試軟件中 ,并生成相應(yīng)的一致性測(cè)試報(bào)告，這樣可以保證仿真和測(cè)試分析方法的一致，并且 便于在仿真階段就發(fā)現(xiàn)可能的信號(hào)違規(guī) DDR2/3/4 和 LPDDR2/3 的協(xié)議一致性測(cè)試和分析工具箱。山東DDR一致性測(cè)試協(xié)議測(cè)試方法

由于讀/寫時(shí)序不一樣造成的另一個(gè)問(wèn)題是眼圖的測(cè)量。在DDR3及之前的規(guī)范中沒(méi) 有要求進(jìn)行眼圖測(cè)試，但是很多時(shí)候眼圖測(cè)試是一種快速、直觀衡量信號(hào)質(zhì)量的方法，所以 許多用戶希望通過(guò)眼圖來(lái)評(píng)估信號(hào)質(zhì)量。而對(duì)于DDR4的信號(hào)來(lái)說(shuō)，由于時(shí)間和幅度的余量更小，必須考慮隨機(jī)抖動(dòng)和隨機(jī)噪聲帶來(lái)的誤碼率的影響，而不是做簡(jiǎn)單的建立/保  持時(shí)間的測(cè)量。因此在DDR4的測(cè)試要求中，就需要像很多高速串行總線一樣對(duì)信號(hào)疊加  生成眼圖，并根據(jù)誤碼率要求進(jìn)行隨機(jī)成分的外推，然后與要求的小信號(hào)張開窗口(類似  模板)進(jìn)行比較。圖5 . 8是DDR4規(guī)范中建議的眼圖張開窗口的測(cè)量方法(參考資料： JEDEC     STANDARD    DDR4     SDRAM,JESD79-4)。信息化DDR一致性測(cè)試商家DDR4 和 LPDDR4 一致性測(cè)試應(yīng)用軟件提供了多種可以簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)驗(yàn)證的關(guān)鍵功能。

通常測(cè)量眼圖很有效的一種方法就是使用示波器的眼圖測(cè)量功能，即用時(shí)鐘做觸發(fā)對(duì)數(shù) 據(jù)信號(hào)進(jìn)行累積，看累積結(jié)果的差情況是否在可以容許的范圍內(nèi)。但遺憾的是，想用這種 方法直接測(cè)量DDR的信號(hào)質(zhì)量非常困難，因?yàn)镈DR信號(hào)讀寫時(shí)序是不一樣的。

可以看到，寫數(shù)據(jù)(DQ)的跳變位置對(duì)應(yīng)著鎖存信號(hào)(DQS)的中心，而 讀數(shù)據(jù)的跳變位置卻對(duì)應(yīng)著鎖存信號(hào)的邊沿，而且在總線上還有三態(tài)，因此如果直接用DQS 觸發(fā)對(duì)DQ累積進(jìn)行眼圖測(cè)量的話，會(huì)得到的結(jié)果。

如果PCB的設(shè)計(jì)密度不高，用戶有可能在DDR顆粒的引腳附近找到PCB過(guò)孔，這時(shí)可以用焊接或點(diǎn)測(cè)探頭在過(guò)孔上進(jìn)行信號(hào)測(cè)量。DDR總線信號(hào)質(zhì)量測(cè)試時(shí)經(jīng)常需要至少同時(shí)連接CLK、DQS、DQ等信號(hào)，且自動(dòng)測(cè)試軟件需要運(yùn)行一段時(shí)間，由于使用點(diǎn)測(cè)探頭人手很難長(zhǎng)時(shí)間同時(shí)保持幾路信號(hào)連接的可靠性，所以通常會(huì)使用焊接探頭測(cè)試。有時(shí)為了方便，也可以把CLK和DQS焊接上，DQ根據(jù)需要用點(diǎn)測(cè)探頭進(jìn)行測(cè)試。有些用戶會(huì)通過(guò)細(xì)銅線把信號(hào)引出再連接示波器探頭，但是因?yàn)镈DR的信號(hào)速率很高，即使是一段1cm左右的沒(méi)有匹配的銅線也會(huì)嚴(yán)重影響信號(hào)的質(zhì)量，因此不建議使用沒(méi)有匹配的銅線引出信號(hào)。有些示波器廠商的焊接探頭可以提供稍長(zhǎng)一些的經(jīng)過(guò)匹配的焊接線，可以嘗試一下這種焊接探頭。圖5.13所示就是一種用焊接探頭在過(guò)孔上進(jìn)行DDR信號(hào)測(cè)試的例子。DDR1 電氣一致性測(cè)試應(yīng)用軟件。

10Gbase-T總線測(cè)量為例做簡(jiǎn)單介紹。

10Gbase-T總線的測(cè)量需要按照?qǐng)D7-128來(lái)連接各種儀器和測(cè)試夾具。

10Gbase-T的輸岀跌落/定時(shí)抖動(dòng)/時(shí)鐘頻率要求用實(shí)時(shí)示波器測(cè)試；線性度/功率譜密度 PSD/功率電平要求用頻譜分析儀測(cè)試；回波損耗要求用網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試。

需要自動(dòng)化測(cè)試軟件進(jìn)行各種參數(shù)測(cè)試，一般這個(gè)軟件直接裝在示波器內(nèi)置的計(jì)算機(jī)里。 沒(méi)有自動(dòng)測(cè)試軟件，測(cè)試是異常困難和耗時(shí)的工作。

測(cè)試夾具是測(cè)試系統(tǒng)的重要組成部分，測(cè)試儀器公司或一些專業(yè)的公司會(huì)提供工業(yè)標(biāo)準(zhǔn) 總線所用的測(cè)試夾具。當(dāng)然也可以自己設(shè)計(jì)，自己設(shè)計(jì)時(shí)主要關(guān)注阻抗匹配、損耗、串?dāng)_等 電氣參數(shù)，以及機(jī)械連接方面的連接可靠性和可重復(fù)性等可操作性功能。 DDR DDR2 DDR3 DDR4 和 DDR5 內(nèi)存帶寬；青海HDMI測(cè)試DDR一致性測(cè)試

DDR讀寫眼圖分離的InfiniiScan方法？山東DDR一致性測(cè)試協(xié)議測(cè)試方法

工業(yè)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)，Specification:如果所設(shè)計(jì)的功能模塊要實(shí)現(xiàn)某種工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)接口或者協(xié)議，那一定要找到相關(guān)的工業(yè)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)，讀懂規(guī)范之后，才能開始設(shè)計(jì)。

因此，為實(shí)現(xiàn)本設(shè)計(jì)實(shí)例中的DDR模塊，需要技術(shù)資料和文檔。

由于我們要設(shè)計(jì)DDR存諸模塊，那么在所有的資料當(dāng)中，應(yīng)該較早了解DDR規(guī)范。通過(guò)對(duì)DDR規(guī)范文件JEDEC79R]的閱讀，我們了解到，設(shè)計(jì)一個(gè)DDR接口，需要滿足規(guī)范中規(guī)定的DC，AC特性及信號(hào)時(shí)序特征。下面我們從設(shè)計(jì)規(guī)范要求和器件本身特性兩個(gè)方面來(lái)解讀，如何在設(shè)計(jì)中滿足設(shè)計(jì)要求。 山東DDR一致性測(cè)試協(xié)議測(cè)試方法