內(nèi)蒙古PCI-E測試市場價

來源: 發(fā)布時間:2023-06-10

(9)PCle4.0上電階段的鏈路協(xié)商過程會先協(xié)商到8Gbps,成功后再協(xié)商到16Gbps;(10)PCIe4.0中除了支持傳統(tǒng)的收發(fā)端共參考時鐘模式,還提供了收發(fā)端采用參考時鐘模式的支持。通過各種信號處理技術(shù)的結(jié)合,PCIe組織總算實現(xiàn)了在兼容現(xiàn)有的FR-4板材和接插  件的基礎(chǔ)上,每一代更新都提供比前代高一倍的有效數(shù)據(jù)傳輸速率。但同時收/發(fā)芯片會變  得更加復(fù)雜,系統(tǒng)設(shè)計的難度也更大。如何保證PCIe總線工作的可靠性和很好的兼容性, 就成為設(shè)計和測試人員面臨的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。PCIE3.0和PCIE4.0應(yīng)該如何選擇?內(nèi)蒙古PCI-E測試市場價

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當(dāng)鏈路速率不斷提升時,給接收端留的信號裕量會越來越小。比如PCIe4.0的規(guī)范中 定義,信號經(jīng)過物理鏈路傳輸?shù)竭_接收端,并經(jīng)均衡器調(diào)整以后的小眼高允許15mV,  小眼寬允許18.75ps,而PCIe5.0規(guī)范中允許的接收端小眼寬更是不到10ps。在這么小  的鏈路裕量下,必須仔細(xì)調(diào)整預(yù)加重和均衡器的設(shè)置才能得到比較好的誤碼率結(jié)果。但是,預(yù)  加重和均衡器的組合也越來越多。比如PCIe4.0中發(fā)送端有11種Preset(預(yù)加重的預(yù)設(shè)模  式),而接收端的均衡器允許CTLE在-6~ - 12dB范圍內(nèi)以1dB的分辨率調(diào)整,并且允許  2階DFE分別在±30mV和±20mV范圍內(nèi)調(diào)整。綜合考慮以上因素,實際情況下的預(yù)加  重和均衡器參數(shù)的組合可以達幾千種。USB測試PCI-E測試一致性測試PCI-E測試信號完整性測試解決方案;

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P5 、8Gbps   P6 、8Gbps   P7 、8Gbps   P8 、8GbpsP9 、8Gbps   P10 、16GbpsP0 、16GbpsPl 、16Gbps   P2 、16Gbps   P3 、16Gbps   P4 、16Gbps   P5 、16Gbps   P6 、16GbpsP7 、16Gbps   P8 、16Gbps   P9、 16Gbps P10的一致性測試碼型。需要注意的一點是,由于在8Gbps和16Gbps下都有11種  Preset值,測試過程中應(yīng)明確當(dāng)前測試的是哪一個Preset值(比如常用的有Preset7、 Preset8 、Presetl 、Preset0等) 。由于手動通過夾具的Toggle按鍵進行切換操作非常煩瑣,特別是一些Preset相關(guān)的測試項目中需要頻繁切換,為了提高效率,也可以通過夾具上的 SMP跳線把Toggle信號設(shè)置成使用外部信號,這樣就可以通過函數(shù)發(fā)生器或者有些示波 器自身輸出的Toggle信號來自動控制被測件切換。

校準(zhǔn)完成后,在進行正式測試前,很重要的一點就是要能夠設(shè)置被測件進入環(huán)回模式。 雖然調(diào)試時也可能會借助芯片廠商提供的工具設(shè)置環(huán)回,但標(biāo)準(zhǔn)的測試方法還是要基于鏈  路協(xié)商和通信進行被測件環(huán)回模式的設(shè)置。傳統(tǒng)的誤碼儀不具有對于PCle協(xié)議理解的功  能,只能盲發(fā)訓(xùn)練序列,這樣的缺點是由于沒有經(jīng)過正常的鏈路協(xié)商,可能會無法把被測件  設(shè)置成正確的狀態(tài)?,F(xiàn)在一些新型的誤碼儀平臺已經(jīng)集成了PCIe的鏈路協(xié)商功能,能夠  真正和被測件進行訓(xùn)練序列的溝通,除了可以有效地把被測件設(shè)置成正確的環(huán)回狀態(tài),還可  以和對端被測設(shè)備進行預(yù)加重和均衡的鏈路溝通。所有帶pcie物理插槽的主板都可以插固態(tài)硬盤用么?假如能的話插上可以改成引導(dǎo)系統(tǒng)的盤么?

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需要注意的是,每一代CBB和CLB的設(shè)計都不太一樣,特別是CBB的 變化比較大,所以測試中需要加以注意。圖4.10是支持PCIe4.0測試的夾具套件,主要包括1塊CBB4測試夾具、2塊分別支持x1/x16位寬和x4/x8位寬的CLB4測試夾具、1塊可 變ISI的測試夾具。在測試中,CBB4用于插卡的TX測試以及主板RX測試中的校準(zhǔn); CLB4用于主板TX的測試以及插卡RX測試中的校準(zhǔn);可變ISI的測試夾具是PCIe4 .0中 新增加的,無論是哪種測試,ISI板都是需要的。引入可變ISI測試夾具的原因是在PCIe4.0 的測試規(guī)范中,要求通過硬件通道的方式插入傳輸通道的影響,用于模擬實際主板或插卡上 PCB走線、過孔以及連接器造成的損耗。pcie物理層面檢測,pcie時序測試;黑龍江PCI-E測試一致性測試

走pcie通道的M.2接口必定是支持NVME協(xié)議的嗎?內(nèi)蒙古PCI-E測試市場價

其中,電氣(Electrical) 、協(xié)議(Protocol) 、配置(Configuration)等行為定義了芯片的基本 行為,這些要求合在一起稱為Base規(guī)范,用于指導(dǎo)芯片設(shè)計;基于Base規(guī)范,PCI-SIG還會 再定義對于板卡設(shè)計的要求,比如板卡的機械尺寸、電氣性能要求,這些要求合在一起稱為 CEM(Card Electromechanical)規(guī)范,用以指導(dǎo)服務(wù)器、計算機和插卡等系統(tǒng)設(shè)計人員的開 發(fā)。除了針對金手指連接類型的板卡,針對一些新型的連接方式,如M.2、U.2等,也有一 些類似的CEM規(guī)范發(fā)布。內(nèi)蒙古PCI-E測試市場價

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