多端口矩陣測試PCI-E測試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

如前所述，在PCle4.0的主板和插卡測試中，PCB、接插件等傳輸通道的影響是通過測 試夾具進(jìn)行模擬并且需要慎重選擇ISI板上的測試通道，而對端接收芯片封裝對信號的影 響是通過軟件的S參數(shù)嵌入進(jìn)行模擬的。測試過程中需要用示波器軟件或者PCI-SIG提 供的測試軟件把這個S參數(shù)文件的影響加到被測波形上。

PCIe4.0信號質(zhì)量分析可以采用兩種方法： 一種是使用PCI-SIG提供的Sigtest軟件 做手動分析，另一種是使用示波器廠商提供的軟件進(jìn)行自動測試。 PCIE 3.0的發(fā)射機(jī)物理層測試；多端口矩陣測試PCI-E測試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室致敬信息論創(chuàng)始人克勞德·艾爾伍德·香農(nóng)，以成為高數(shù)信號傳輸測試界的帶頭者為奮斗目標(biāo)?？藙诘赂咚贁?shù)字信號測試實驗室重心團(tuán)隊成員從業(yè)測試領(lǐng)域10年以上。實驗室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器、誤碼儀、協(xié)議分析儀、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀及附件，使用PCIE/USB-IF/WILDER等行業(yè)指定品牌夾具。堅持以專業(yè)的技術(shù)人員，嚴(yán)格按照行業(yè)測試規(guī)范，配備高性能的權(quán)能測試設(shè)備，提供給客戶更精細(xì)更權(quán)能的全方面的專業(yè)服務(wù)?？藙诘赂咚贁?shù)字信號測試實驗室提供具深度的專業(yè)知識及一系列認(rèn)證測試、預(yù)認(rèn)證測試及錯誤排除信號完整性測試、多端口矩陣測試、HDMI測試、USB測試，PCI-E測試等方面測試服務(wù)。北京機(jī)械PCI-E測試PCIE 5.0，速率翻倍vs性能優(yōu)化；

PCIe4.0的發(fā)射機(jī)質(zhì)量測試發(fā)射機(jī)質(zhì)量是保證鏈路能夠可靠工作的先決條件，對于PCIe的發(fā)射機(jī)質(zhì)量測試來說，主要是用寬帶示波器捕獲其發(fā)出的信號并驗證其信號質(zhì)量滿足規(guī)范要求。按照目前規(guī)范中的要求，PCIe3.0的一致性測試需要至少12.5GHz帶寬的示波器；而對于PCIe4.0來說，由于數(shù)據(jù)速率提高到了16Gbps,所以測試需要的示波器帶寬應(yīng)為25GHz或以上。如果要進(jìn)行主板的測試，測試規(guī)范推薦Dual-Port(雙口)的測試方式，即把被測的數(shù)據(jù)通道和參考時鐘同時接入示波器，這樣在進(jìn)行抖動分析時就可以把一部分參考時鐘中的抖動抵消掉，對于參考時鐘Jitter的要求可以放松一些。

·TransactionProtocolTesting(傳輸協(xié)議測試):用于檢查設(shè)備傳輸層的協(xié)議行為?！latformBIOSTesting(平臺BIOS測試):用于檢查主板BIOS識別和配置PCIe外設(shè)的能力。對于PCIe4.0來說，針對之前發(fā)現(xiàn)的問題以及新增的特性，替換或增加了以下測試項目·InteroperabilityTesting(互操作性測試):用于檢查主板和插卡是否能夠訓(xùn)練成雙方都支持的比較高速率和比較大位寬(Re-timer要和插卡一起測試)。·LaneMargining(鏈路裕量測試):用于檢查接收端的鏈路裕量掃描功能。其中，針對電氣特性測試，又有專門的物理層測試規(guī)范，用于規(guī)定具體的測試項目和測試方法。表4.2是針對PCIe4.0的主板或插卡需要進(jìn)行的物理層測試項目,其中灰色背景的測試項目都涉及鏈路協(xié)商功能。PCIE物理層鏈路一致性測試狀態(tài)設(shè)計；

在測試通道數(shù)方面，傳統(tǒng)上PCIe的主板測試采用了雙口(Dual-Port)測試方法，即需要 把被測的一條通道和參考時鐘RefClk同時接入示波器測試。由于測試通道和RefClk都是 差分通道，所以在用電纜直接連接測試時需要用到4個示波器通道(雖然理論上也可以用2個 差分探頭實現(xiàn)連接，但是由于會引入額外的噪聲，所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優(yōu)點是可以比較方便地計算數(shù)據(jù)通道相對于RefClk的抖動。但在PCIe5.0中，對于 主板的測試也采用了類似于插卡測試的單口(Single-Port)方法，即只把被測數(shù)據(jù)通道接入 示波器測試，這樣信號質(zhì)量測試中只需要占用2個示波器通道。圖4.23分別是PCIe5.0主 板和插卡信號質(zhì)量測試組網(wǎng)圖，芯片封裝和一部分PCB走線造成的損耗都是通過PCI-SIG高速串行技術(shù)(二)之(PCIe中的基本概念)；貴州PCI-E測試服務(wù)熱線

PCI-E測試和協(xié)議調(diào)試；多端口矩陣測試PCI-E測試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

P5 、8Gbps   P6 、8Gbps   P7 、8Gbps   P8 、8GbpsP9 、8Gbps   P10 、16GbpsP0 、16GbpsPl 、16Gbps   P2 、16Gbps   P3 、16Gbps   P4 、16Gbps   P5 、16Gbps   P6 、16GbpsP7 、16Gbps   P8 、16Gbps   P9、 16Gbps P10的一致性測試碼型。需要注意的一點是，由于在8Gbps和16Gbps下都有11種  Preset值，測試過程中應(yīng)明確當(dāng)前測試的是哪一個Preset值(比如常用的有Preset7、 Preset8 、Presetl 、Preset0等) 。由于手動通過夾具的Toggle按鍵進(jìn)行切換操作非常煩瑣，特別是一些Preset相關(guān)的測試項目中需要頻繁切換，為了提高效率，也可以通過夾具上的 SMP跳線把Toggle信號設(shè)置成使用外部信號，這樣就可以通過函數(shù)發(fā)生器或者有些示波 器自身輸出的Toggle信號來自動控制被測件切換。多端口矩陣測試PCI-E測試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

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