芯片無損檢測

特點：X射線源：涵蓋各領(lǐng)域應(yīng)用，從有機(jī)物到金屬樣品標(biāo)稱分辨率（放大倍數(shù)下的像素尺寸）：檢測樣品極小的細(xì)節(jié)X射線探測器：3MP（1,944x1,536）有效像素的CMOS平板探測器，高讀取速度，高信噪比樣品尺寸：適用于小-中等尺寸樣品輻射安全：滿足國際安全要求供電要求：標(biāo)準(zhǔn)插座，即插即用布魯克三維X射線顯微鏡microCT信息由布魯克衍射熒光事業(yè)部(BrukerAXS)為您提供，如您想了解更多關(guān)于布魯克三維X射線顯微鏡microCT報價、型號、參數(shù)等信息，歡迎來電或留言咨詢。SKYSCAN 1272藥物：確定壓實密度、測量包衣厚度、評估API分布、檢測片劑中微型裂隙。芯片無損檢測

新品重磅出擊！多量程X射線納米CT系統(tǒng)型號:SKYSCAN2214產(chǎn)地：比利時新型的多量程納米CT-SkyScan2214完美的解決了樣品尺寸多樣化與空間分辨率的矛盾，一臺設(shè)備即可實現(xiàn)從微米到分米尺寸樣品的高分辨率掃描。創(chuàng)新性的采用幾何放大與光纖放大相結(jié)合的兩級放大模式，使樣品在距離光源很大距離的情況下依然獲得亞微米級的分辨率，同時還解決了光學(xué)透鏡二級放大帶來的掃描效率低的問題，用戶無需再花費幾個小時甚至是數(shù)十個小時等待一個結(jié)果了。顯微CT骨科學(xué)研究先進(jìn)的 16 兆像素 CMOS X 射線探測器可提供具有 分辨率的高對比度圖像。

X射線顯微CT：先進(jìn)的無損三維顯微鏡顯微CT即Micro-CT，為三維X射線成像，與醫(yī)用CT（或“CAT”）原理相同，可進(jìn)行小尺寸、高精度掃描。通過對樣品內(nèi)部非常細(xì)微的結(jié)構(gòu)進(jìn)行無損成像，真正實現(xiàn)三維顯微成像。無需樣本品制備、嵌入、鍍層或切薄片。單次掃描將能實現(xiàn)對樣品對象的完整內(nèi)部三維結(jié)構(gòu)的完整成像，并且可以完好取回樣本品！特點：先進(jìn)的掃描引擎—可變掃描幾何：可以提高成像質(zhì)量，或?qū)呙钑r間縮短1/2到1/5支持重建、分析和逼真成像的軟件套件自動樣品切換器

SKYSCAN1272CMOS憑借Genius模式可自動選擇參數(shù)。只需單擊一下，即可自動優(yōu)化放大率、能量、過濾、曝光時間和背景校正。而且，由于能讓樣品和大尺寸CMOS探測器盡可能地靠近光源，它能大幅地增加實測的信號強(qiáng)度。正是因為這個原因，SKYSCAN1272CMOS的掃描速度比探測器位置固定的常規(guī)系統(tǒng)多可快5倍。SKYSCAN1272CMOS藥物一種口服藥物，以腸溶顆粒形式存在，像素大小為0.45μm。包衣由三層組成，外層用顏色編碼厚度。新藥開發(fā)是個費時費錢的過程。，XRM可以在產(chǎn)品配方階段即時提供產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)，加快新藥上市。1.確定片劑的壓實密度2.測量包衣厚度均勻性3.評估API分布4.檢測被壓實的片劑中由應(yīng)力導(dǎo)致的微型裂隙5.利用原位壓縮檢測力學(xué)性能。二維/三維數(shù)據(jù)分析，面/體繪制軟件實現(xiàn)三維可視化，結(jié)果可輸出到手機(jī)或者平板電腦上。

SKYSCAN2214功能原位試驗臺SKYSCAN2214擁有高度準(zhǔn)確的樣品臺，支持直徑達(dá)到300mm和重量達(dá)到20kg的物體。空氣懸浮式旋轉(zhuǎn)馬達(dá)能以非常高的準(zhǔn)確度準(zhǔn)確地旋轉(zhuǎn)樣品位置，集成的精密定位平臺能保證樣品完全對準(zhǔn)。SKYSCAN2214擁有一個很大的且使用方便的樣品室，方便掃描大型物體和安裝可選的試驗臺。它有足夠的空間可供容納其他設(shè)備。布魯克的材料試驗臺可以進(jìn)行較大4400N的壓縮試驗和較大440N的拉伸試驗。所有試驗臺都能通過系統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)臺自動聯(lián)系到一起，而無需任何外接線纜。通過使用所提供的軟件，可以設(shè)置預(yù)定掃描試驗。布魯克的加熱臺和冷卻臺可以達(dá)到較高+80oC或較低低于環(huán)境溫度低30oC的溫度。和其它的試驗臺一樣，加熱和冷卻臺也不需要任何額外的連接，系統(tǒng)可以自動地識別不同的試驗臺。通過使用加熱臺和冷卻臺，可在非環(huán)境條件下檢測樣品，從而評估溫度對樣品微觀結(jié)構(gòu)的影響。SKYSCAN2214與DEBEN試驗臺可以完全兼容。借助自帶的適配器，DEBEN試驗臺可以很容易地被安裝到SKYSCAN2214的旋轉(zhuǎn)臺上。SKYSCAN 1272泡沫材料：根據(jù)泡沫的材質(zhì)和結(jié)構(gòu)特性，可用作隔熱或隔音材料，也可用作保護(hù)或減震。芯片無損檢測

XRM能以無損的方式完成這種檢測，確保生產(chǎn)出的部件符合或超出規(guī)定的性能。芯片無損檢測

SkyScan2214為油氣勘探，復(fù)合材料，鋰電池，燃料電池，電子組件等材料的三維成像和精確建模提供了獨特的解決方案。該儀器可接受300mm大小的物體，并為小尺寸和中等尺寸（10cm范圍左右）樣品掃描提供亞微米級的分辨率。該系統(tǒng)可選擇圓形和螺旋掃描軌跡進(jìn)行樣品掃描，并提供世界上快的分層重建（InstaRecon®）軟件，和獲得（許可）的精確的螺旋重建算法，為準(zhǔn)確測量提供高精度信息?！ら_放式納米焦點金剛石光源，降低使用成本··多探測器自動切換（多可選4個），可選擇適用于中小尺寸樣品成像的高靈敏度CCD探測器和適用于大尺寸樣品、快速掃描的高分辨率CMOS平板探測器··11軸高精度定位系統(tǒng)，精度優(yōu)于50nm··三維空間分辨率優(yōu)于500nm，小像素尺寸優(yōu)于60nm·芯片無損檢測