佛山半導(dǎo)體AOI檢測設(shè)備

來源: 發(fā)布時間:2024-08-29

早期的時候AOI大多被拿來檢測IC(積體電路)封裝后的表面印刷是否有缺陷,隨著技術(shù)的演進(jìn),現(xiàn)在則被拿來用在SMT組裝線上檢測電路板上的零件組裝(PCBAssembly)后的品質(zhì)狀況,或是檢查錫膏印刷后有否符合標(biāo)準(zhǔn)。AOI比較大的優(yōu)點(diǎn)就是可以取代以前SMT爐前爐后的人工目檢作業(yè),而且可以比人眼更精確的判斷出SMT的打件組裝缺點(diǎn)。但就如同人眼一般,AOI基本上也只能執(zhí)行物件的表面檢查,所以只要是物件表面上可以看得到的形狀,它都可以正確無誤的檢查出來,但對于藏在零件底下或是零件邊緣的焊點(diǎn)可能就有些力有未逮,當(dāng)然現(xiàn)在有許多的AOI已經(jīng)可以作到多角度的攝影來增加其對于IC腳翹的檢出能力,并增加某些被遮閉元件的攝影角度,以提供更多的檢出率,但效果總是不盡理想,難以達(dá)到100%的測試含蓋率。其實(shí),AOI比較大的缺點(diǎn)是有些灰階或是陰影明暗不是很明顯的地方,也就比較容易出現(xiàn)誤判的情況,這些或許可以使用不同顏色的燈光來加以判別,但較較麻煩的還是那些被其他零件遮蓋到的元件以及位于元件底下的焊點(diǎn),因?yàn)閭鹘y(tǒng)的AOI只能檢測直射光線所能到達(dá)的地方,像是屏閉框肋條或是其邊緣底下的元件,往往就會因?yàn)锳OI檢測不到而漏了過去。素材查看 AOI檢測誤判的定義及存在原困、檢測誤判的定義及存在原困、檢測誤判的定義及存在原困,歡迎了解.佛山半導(dǎo)體AOI檢測設(shè)備

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AOI的工作原理2圖形識別方法是將存儲的數(shù)字圖像與實(shí)際圖像進(jìn)行比較。根據(jù)完整的印刷電路板或根據(jù)模型建立的檢驗(yàn)文件進(jìn)行檢驗(yàn),或根據(jù)計(jì)算機(jī)軸輔助設(shè)計(jì)中編制的檢驗(yàn)程序進(jìn)行檢驗(yàn)。其準(zhǔn)確性取決于所采用的發(fā)牌率和檢驗(yàn)程序,一般與電子測試系統(tǒng)相同,但采集的數(shù)據(jù)量大,對數(shù)據(jù)的實(shí)時處理要求較高。模式識別方法利用實(shí)際設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)代替DRC中已建立的設(shè)計(jì)原則,具有明顯的優(yōu)勢。AOl具有元器件檢測、PCB板檢測、焊接元器件檢測等功能。AOI檢測系統(tǒng)用于零部件檢測的一般程序是對已安裝部件的印刷線路板進(jìn)行自動計(jì)數(shù),并開始檢查;檢查印刷線路板的引線側(cè),確保引線端對齊、彎曲正確;檢查是否有缺件、錯件、損壞件、檢查安裝的IC和分立器件的類型、方向和位置,檢查IC器件上的標(biāo)記印刷質(zhì)量。如果AOI發(fā)現(xiàn)有缺陷的部件,系統(tǒng)將向操作員發(fā)送一個信號,或觸發(fā)處理程序這機(jī)器能自動除去有缺陷的零件。該系統(tǒng)對缺陷進(jìn)行分析,向主機(jī)提供缺陷的類型和頻率,并對制造過程進(jìn)行必要的調(diào)整。AOI檢測的效率和可靠性取決于所使用軟件的完整性。AO還具有易于使用、易于調(diào)整、不需要編寫可視化系統(tǒng)算法的優(yōu)點(diǎn)。詳情歡迎來電咨詢。梅州國內(nèi)AOI檢測設(shè)備設(shè)備價錢智能制造中的AOI檢測技術(shù)AOI檢測技術(shù)具有自動化、非接觸、速度快、精度高、穩(wěn)定性高等優(yōu)點(diǎn)。

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AOI的包含情況以及三種檢測方法一、AOI系統(tǒng)一般包含:1.照明系統(tǒng)2.光學(xué)透鏡 CCD攝像系統(tǒng)4.檢測工作臺5.檢測程序6.預(yù)存模板7.圖像處理識別系統(tǒng)8.數(shù)據(jù)記錄處理系統(tǒng)二、三種檢測算法1.DRC檢測基本思想:DRC使用一套用戶設(shè)計(jì)的規(guī)則來檢測違反設(shè)計(jì)規(guī)則的二進(jìn)制數(shù)據(jù),所有不符合規(guī)則的特征都認(rèn)為是缺陷。規(guī)則包括:允許的較大較小線寬、較大較小焊盤尺寸、較小導(dǎo)體間距、所有線寬都必須以焊盤結(jié)束等。檢測缺陷:毛刺、鼠咬、線條、間距、焊盤尺寸違反等。2.特征比較基本思想:分別提取模板(CAM或者黃金模板)和待檢圖像中的鏈接性特征,然后比較結(jié)果,不同之處就是缺陷。檢測缺陷:開路,短路3.粗檢測缺陷基本思想:將模板圖像和待檢圖像進(jìn)行異或運(yùn)算,得到圖像之間的不同。檢測缺陷:大缺陷(丟失或多余的大焊盤)

AOI就是自動光學(xué)檢測,也是SMT貼片加工中常用的檢測手段之一,一般用于SMT貼片工序之后,主要是利用光學(xué)和數(shù)字成像技術(shù),再采用計(jì)算機(jī)和軟件技術(shù)分析圖像和數(shù)據(jù)庫中合格的參數(shù)之間的區(qū)別來進(jìn)行自動檢測的一種技術(shù)。AOI檢測機(jī)能夠有效的檢測出缺件、錯件、壞件、錫球、偏移、側(cè)立、立碑、反貼、極反、橋連、虛焊、無焊錫、少焊錫、多焊錫、組件浮起、IC引腳浮起、IC引腳彎曲等各種加工不良現(xiàn)象。使用AOI可以減少人工投入的成本,提高產(chǎn)品檢測率,越來越多企業(yè)選擇機(jī)器代替人工目檢。AOI是新興起的一種新型測試技術(shù),但發(fā)展迅速,很多廠家都推出了AOI測試設(shè)備。

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AOI設(shè)備的上游主要包括光學(xué)元件供應(yīng)商和機(jī)械元件、運(yùn)動系統(tǒng)提供商,其中機(jī)械設(shè)備與其他技術(shù)的通用性較高,一般廠商均可提供;光學(xué)元件根據(jù)設(shè)備需求精密度要求不同,除了高級設(shè)備對工業(yè)相機(jī)要求較高以外總體可選擇的采購商較多;上游供應(yīng)不會對設(shè)備商構(gòu)成制約因素。下游主要包括PCB、FPD、半導(dǎo)體和其他行業(yè)AOI設(shè)備在SMT產(chǎn)線中的位臵通常為印刷后、貼片后(爐前)和回流焊后(爐后),其中印刷后是檢測的重要位臵,數(shù)據(jù)顯示60%-70%缺陷出現(xiàn)在印刷環(huán)節(jié),在印刷后若能及時發(fā)現(xiàn)焊膏缺陷,只需洗板重新印刷即能重新獲得良品,維修成本比較低貼片后的位臵可視情況選擇是否放臵,若能在回流焊前發(fā)現(xiàn)缺陷維修成本尚低,到回流焊后則不僅成本較高,還有可能導(dǎo)致整個PCB報(bào)廢,因此對貼片后的檢測也將更加重視;回流焊后作為產(chǎn)品流出前的檢測是AOI當(dāng)下流行的位臵,可有效提高產(chǎn)品良率。根據(jù)2000年的數(shù)據(jù),20.8%的AOI應(yīng)用于印刷后,21.3%用于貼片后,57.9%用于回流焊后,也基本印證了這種分配屬于市場認(rèn)可的主流方案。除了SMT檢測,AOI設(shè)備在PCB行業(yè)還可以用于DIP檢測、外觀檢測等。其中DIP檢測與SMT類似,關(guān)鍵的放臵位臵是波峰焊后的檢測;外觀檢測可針對包括HDI、柔性板在內(nèi)的電路板.AOI也就是自動光學(xué)檢測儀,包括自動巡檢、自動報(bào)警、異常顯示等功能,基本上能夠?qū)崿F(xiàn)自動化操作。佛山AOI檢測設(shè)備

用戶通過使用AOI作為減少缺陷的工具,在裝配過程中盡早發(fā)現(xiàn)和修正錯誤,實(shí)現(xiàn)良好的過程管控。佛山半導(dǎo)體AOI檢測設(shè)備

如何根據(jù)AOI的功能選擇設(shè)備1、分辨率的挑選AOI主動光學(xué)檢測儀的分辨率應(yīng)以像元的尺度巨細(xì)作為判別的條件,也就是空間分辨率來衡量。像素的巨細(xì)不是判別AOI主動光學(xué)檢測儀的檢出才能的標(biāo)準(zhǔn),準(zhǔn)確地講,像素大是決議單位面積的像元尺度巨細(xì)的因素。假如單位面積不同,像素再高也沒有可比性。比方一臺AOI主動光學(xué)檢測儀的FOV為12*16毫米,假如這臺AOI選用的是30萬像素的相機(jī),那么這臺AOI的分辨率只有25微米,它只能檢測0402以上封裝尺度的元件。但假如這臺AOI主動光學(xué)檢測儀選用的是200萬像素的相機(jī),那么這臺AOI的分辨率就變?yōu)?0微米,就可以檢測01005以上封裝尺度的元件。2、CAD的挑選現(xiàn)在大多數(shù)AOI主動光學(xué)檢測儀都有CAD數(shù)據(jù)導(dǎo)入功用,但這一功用的運(yùn)用,對器材較少的PCBA板的運(yùn)用功率不是很好,而對元器材較多的PCBA板的運(yùn)用則能起到事半功倍的效果。3、特別功用的挑選假如你要對多連板的PCBA進(jìn)行檢測,就一定要挑選有跳板功用的AOI主動光學(xué)檢測儀,也就是有區(qū)域挑選功用的AOI主動光學(xué)檢測儀。假如你將AOI主動光學(xué)檢測儀用作質(zhì)量的進(jìn)程操控,那么,你在挑選AOI主動光學(xué)檢測儀時,一定要挑選具有RPC功用的AOI主動光學(xué)檢測儀,也就是具有實(shí)時工藝進(jìn)程操控的AOI主動光學(xué)檢測佛山半導(dǎo)體AOI檢測設(shè)備