那么我們在實際應用中該如何選擇呢?對于只需要保證配合的情況下或低精度的螺紋可直接利用螺紋校對量規(guī)進行檢驗,而且經濟性好。如果對螺紋質量要求比較高或比較重要的場合,則需要用螺紋掃描儀對螺紋環(huán)規(guī)的單項參數進行測量,但這種方法成本高。在經濟許可的情況下也可利用測長機測量單一中徑,該方法對于螺紋環(huán)規(guī)種類較多的情況下存在一定優(yōu)勢,而且可以在一定程度上控制螺紋的質量。大型工件在制造過程中,面臨著各式各樣的檢測任務,大尺寸測量技術成為現代測試技術的一個越來越重要的分支,為提高大尺寸工件靜態(tài)幾何量的檢測精度,將激光干涉儀與傳統(tǒng)測長機相結合,提出兩種基于激光干涉技術的大尺寸高精度的測量方法。通過對兩種測量方法的不確定度理論分析和實驗比對,驗證方法的準確度和可行性。一方面激光干涉儀傳統(tǒng)的動態(tài)測量轉換為高精度的靜態(tài)量檢測,拓展了激光干涉儀的應用領域,同時彌補了測長機在測量能力方面的不足,提高了測長機的測量精度和檢測效率。上海測長機維修服務就找上海野齒儀器科技有限公司!江蘇精密測長儀定制廠家
萬能測長儀螺紋校對量規(guī)綜合測量:螺紋校對量規(guī)用于綜合測量螺紋作用中徑,是國家標準GB3934-2003及計量檢定規(guī)程JG888-1995規(guī)定對普通螺紋測量結果終的判定方法。萬能測長儀該方法源于1905年英國人發(fā)明的泰勒原則。螺紋環(huán)規(guī)的通端用螺紋校對量規(guī)TTTZ及TS檢驗;止端用ZT,ZZ及ZS檢驗。萬能測長儀的優(yōu)點是具有較好的經濟性,可以保證裝配,對于生產工藝水平較高的制造商,在螺距、半角有保證的情況下,使用它可以較好地控制螺紋質量。它的缺點是螺紋的質量保證水平低,存在技術漏洞。比如無法知道螺紋單個參數的具體尺寸值,而且由于螺紋環(huán)規(guī)本身精度較高,螺紋校對量規(guī)的公差與螺紋環(huán)規(guī)的公差少不了多少,同樣都合格的兩個校對規(guī)可能出現相反的結果,存在許多爭議。另外由于螺紋環(huán)規(guī)規(guī)格的多樣性,對于檢測機構來說,螺紋校對量規(guī)很難全部配齊。南通精密測長機廠家我們的售后服務團隊會定期進行產品維護和升級,以確保產品始終處于比較好狀態(tài)。
附加工作臺的選擇,萬能測長儀除基本工作臺外,還具有多種附加工作臺,以適應各中不同形狀不同,要求的零件。找“轉折點”的基本操作,被測件安裝在工作臺上,被測尺寸線往往與儀器測量軸線不重合,這就需要進行零件找正,找正是通過尋找零件“轉折點"來實現的。溫度影響及修正長度計量理想的溫度條件是環(huán)境溫度20℃;被測工件和儀器應在同一環(huán)境中充分等溫;工件和儀器二者溫度相等;測量過程中環(huán)境溫度波動要小。典型零件的測量光滑工件外尺寸的測量。
換上平面測帽,并將其測量面調至平行后,按上述方法再次檢定。當緊固水平軸時,觀察示值的變化。工作臺微分筒的示值誤差和回程誤差,要求,示值誤差不大于8um;回程誤差不大于3um。檢定方法,用檢定極限誤差不超過±1um的玻璃刻度尺和分度值為1um的讀數顯微鏡檢定。檢定時,將玻璃刻度尺安裝在工作臺上,并使其軸線平行于微分筒移動方向。在刻度尺的下方安裝反光棱鏡,如圖7.3.1所示。將讀數顯微鏡借助支架固定在基座上,當微分筒對準零位后,調整顯微鏡,使其對準刻度尺的零線,并記下顯微鏡的示值。測長機的設計和功能使其成為各類產品的理想測量工具,無論是金屬制品還是塑料制品。
測長機家族,分別由光學機械系列、光柵系列、激光系列組成。這些測長機在客戶處驗收時,示值誤差的校準較多使用的是激光干涉儀校準,也有部分客戶選擇量塊直接校準。針對的被測對象是光學機械式測長機。在進行示值誤差校準時按微米、毫米、分米分別進行。光柵式測長機、激光式測長機的數據輸出方式與光學機械式是不同的,它們的示值誤差要求與光學機械式測長機要求是不同的。在驗收光柵系列測長機時,常有參照光學機械測長機的示值誤差要求,按微米、毫米、分米來校準,造成我們與校準方意見不同。此時,我們應與校準者溝通,因為《測長機校準規(guī)范》未將數字式測長機的校準方法納入其中,新天的技術文件就是光柵測長機的驗收依據。為了保證產品的質量和性能,我們提供保修期,讓客戶無后顧之憂。南通XG大型測長儀定做價格
測長機的數據輸出方便,可以與其他設備進行無縫連接,提高工作效率。江蘇精密測長儀定制廠家
以線紋尺的刻度或光波波長作為已知長度,利用機械測頭進行接觸測量的光學長度測量工具。測長機具有能在3個坐標內移動和2個坐標內轉動的可調工作臺,還帶有不同測頭和附件,常用于檢定大尺寸量塊和測量多種工件的內、外尺寸。測帽的選擇和調整本投影測長機是用接觸法測量的,所以測帽的選擇和調整可以避免較大的測量誤差。測帽選擇的原則是被測件與測帽的接觸面為極小,即接近于點或線。1、測量平面物體時,使用R20球形測帽;2、測量圓柱物體時,使用1.5*8刃形測帽;3、測量球形物體時,使用φ2、φ8平面測帽;4、三針法測量外螺紋中徑時,使用φ8、φ14,中、大平面測帽。江蘇精密測長儀定制廠家