東莞3dAOI編程

來源: 發(fā)布時間:2022-07-26

AOI檢測基本原理與設(shè)備構(gòu)成:AOI檢測原理是采用攝像技術(shù)將被檢測物體的反射光強以定量化的灰階值輸出,通過與標(biāo)準(zhǔn)圖像的灰階值進(jìn)行比較,分析判定缺陷并進(jìn)行分類的過程。與人工檢查做一個形象的比喻,AOI采用的普通LED或特殊光源相當(dāng)于人工檢查時的自然光,AOI采用的光學(xué)傳感器和光學(xué)透鏡相當(dāng)于人眼,AOI的圖像處理與分析系統(tǒng)就相當(dāng)于人腦,即“看”與“判”兩個環(huán)節(jié)。因此,AOI檢測的工作邏輯可以簡單地分為圖像采集階段(光學(xué)掃描和數(shù)據(jù)收集),數(shù)據(jù)處理階段(數(shù)據(jù)分類與轉(zhuǎn)換),圖像分析段(特征提取與模板比對)和缺陷報告階段四個階段(缺陷大小類型分類等)。為了支持和實現(xiàn)AOI檢測的上述四個功能,AOI設(shè)備的硬件系統(tǒng)也就包括工作平臺,成像系統(tǒng),圖像處理系統(tǒng)和電氣系統(tǒng)四個部分,是一個集成了機械,自動化,光學(xué)和軟件等多學(xué)科的自動化設(shè)備。 相關(guān)值大于或等于臨界相關(guān)值的為正常圖像,為異常圖像本社導(dǎo)入的AOI設(shè)備采用歸一化的彩色相關(guān)算法。東莞3dAOI編程

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照明光源按照波長分類可以分為可見波長光源,特殊波長光源??梢姴ㄩL光源也就是一般現(xiàn)代工業(yè)AOI檢測設(shè)備中較常用的紅綠藍(lán)LED光源。特殊波長光源一般是指紅外或紫外波長光源,一些特殊材料在可見光范圍內(nèi)吸收差別不大,灰階變化不明顯時可以考慮采用特殊波長光源,比如說利用紫外光能量高可以激發(fā)熒光材料的原理,檢測具有熒光發(fā)光特性物質(zhì)微殘留時紫外光源就是一種比較有效的手段,因材料成分與紅外光譜有對應(yīng)關(guān)系的原理,紅外光源對不具有發(fā)光性質(zhì)的有機化合物殘留缺陷檢出就有很大的作用,甚至可以實現(xiàn)成分分析。特殊光源中,利用偏振光與物體相互作用后偏振態(tài)的變化,利用光學(xué)干涉原理的白光干涉(whitelightinterferometry)在特定缺陷檢測中的得到了應(yīng)用,例如通過相干光的干涉圖案計算出對應(yīng)的相位差和光程差,可以測量出被測物體與參考物體之間的差異,且分辨率與精度為可以達(dá)到亞波長。江西AOI編程AOI檢測儀A系統(tǒng)多采用黑白相機成像,提高成像分辨能力,還要考慮圖像運動過程拍攝圖片模糊帶來的不利影響。

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愛為視(Aivs)新一代智能AOI,它能減少檢查的誤報,保證檢測程序無缺陷。它可以檢查儲存起來的有缺陷的樣品,在優(yōu)化階段,在這方面花時間的原因是為了不讓任何缺陷溜過去。所有已知的缺陷都必須檢查,同時要把允許出現(xiàn)的誤報數(shù)量做到盡可能減少。在針對減少誤報而對任何程序進(jìn)行調(diào)整時,要檢查一下,看看以前檢查出來的真正缺陷,是否得到維修站的證實。通過一系列的核實,保障檢查程序的質(zhì)量,用于專門的制造和核查,同時對誤報進(jìn)行追蹤。

AOI(AutomatedOpticalInspection)的中文全稱是自動光學(xué)檢測,是基于光學(xué)原理來對焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進(jìn)行檢測的設(shè)備。AOI是新興的一種新型測試技術(shù),當(dāng)自動檢測時,機器通過攝像頭自動掃描PCB,采集圖像,測試的焊點與數(shù)據(jù)庫中的合格的參數(shù)進(jìn)行比較,經(jīng)過圖像處理,檢查出PCB上缺陷,并通過顯示器或自動標(biāo)志把缺陷顯示/標(biāo)志出來,供維修人員修整。-AOIsystem自動化光學(xué)檢測系統(tǒng),以機械視覺檢測技術(shù)為基礎(chǔ),利用攝影機或其他類型的光電感測器取代人眼獲取待測物體的圖像或者信息進(jìn)行產(chǎn)品的檢查,利用電腦編程演算法取代人腦進(jìn)行影像處理、分析以及質(zhì)量檢定,利用機械取代人力進(jìn)行產(chǎn)品搬運,大幅提高檢測的速度與精確度。AOI具有全自動化、可靠度高、穩(wěn)定度高、可量化以及可整合等優(yōu)點,但是需要明確的是,與任何大規(guī)模量產(chǎn)的生產(chǎn)方式相同,任何微小的錯誤都會被巨大的數(shù)量基數(shù)放大很多倍,因此通常都是高度成熟、高度自動化的制造業(yè)才會引入AOI量測技術(shù)。? AOI檢測的工作邏輯可以簡單地分為圖像采集階段,數(shù)據(jù)處理階段,圖像分析段和缺陷報告階段四個階段。

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AOI檢測原理是采用攝像技術(shù)將被檢測物體的反射光強以定量化的灰階值輸出,通過與標(biāo)準(zhǔn)圖像的灰階值進(jìn)行比較,分析判定缺陷并進(jìn)行分類的過程。與人工檢查做一個形象的比喻,AOI采用的普通LED或特殊光源相當(dāng)于人工檢查時的自然光,AOI采用的光學(xué)傳感器和光學(xué)透鏡相當(dāng)于人眼,AOI的圖像處理與分析系統(tǒng)就相當(dāng)于人腦,即“看”與“判”兩個環(huán)節(jié)。因此,AOI檢測的工作邏輯可以簡單地分為圖像采集階段(光學(xué)掃描和數(shù)據(jù)收集),數(shù)據(jù)處理階段(數(shù)據(jù)分類與轉(zhuǎn)換),圖像分析段(特征提取與模板比對)和缺陷報告階段四個階段(缺陷大小類型分類等)。為了支持和實現(xiàn)AOI檢測的上述四個功能,AOI設(shè)備的硬件系統(tǒng)也就包括工作平臺,成像系統(tǒng),圖像處理系統(tǒng)和電氣系統(tǒng)四個部分,是一個集成了機械,自動化,光學(xué)和軟件等多學(xué)科的自動化設(shè)備。 伴隨著元器件的微型化、細(xì)間距化等密度特征越來越明顯,生產(chǎn)品質(zhì)以及產(chǎn)能的需求不斷擴增。東莞3dAOI光學(xué)檢測

在價格適中的AOI檢測儀系統(tǒng)中,被測物體的支撐方式、精密傳輸與定位裝置也必須精心設(shè)計。東莞3dAOI編程

對于運動物體的檢測,要考慮圖像運動模糊帶來的不利影響,準(zhǔn)確計算導(dǎo)致運動模糊的小曝光時間,確定圖像傳感器的型號。圖像傳感器的曝光時間應(yīng)小于導(dǎo)致運動模糊的小曝光時間,快速曝光選擇全局快門模式為宜,高速情況下不易采用卷簾式曝光模式;為了獲得比較好的信噪比,圖像傳感器的增益盡可能為1,圖像亮度的提升盡可能用光源的能量(功率)來彌補,或者在不影響可用的成像景深情況下,增大鏡頭的孔徑光闌。在系統(tǒng)集成中,被測件的支撐方式、精密傳輸與定位裝置也必須精心設(shè)計,這牽涉到精密機械設(shè)計技術(shù),這對平板顯示、硅片、半導(dǎo)體和MEMS等精密制造與組裝產(chǎn)業(yè)中的自動光學(xué)檢測系統(tǒng)非常重要。在這些領(lǐng)域,制造過程通常在超凈間進(jìn)行,要求自動光學(xué)檢測系統(tǒng)具有很高的自潔能力,對系統(tǒng)構(gòu)件的材料選型、氣動及自動化裝置選型、運動導(dǎo)軌的設(shè)計與器件選型都有嚴(yán)格要求,不能給生產(chǎn)環(huán)境尤其是被測工件本身帶來二次污染。尤其是用于表面缺陷檢測的AOI系統(tǒng)不能在檢測過程中,給被測件表面帶來缺陷(如粉塵、劃傷、靜電等)。 東莞3dAOI編程

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