UV光照老化可靠性測(cè)試試驗(yàn)

上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司可靠性試驗(yàn)?zāi)康模?要包括高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、溫度快速變化試驗(yàn)、溫度沖擊試驗(yàn)、恒定溫濕度試驗(yàn)、溫濕度循環(huán)試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)、防水防塵試驗(yàn)、紫外老化試驗(yàn)和氙燈老化試驗(yàn)等。是考核產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下的適應(yīng)能力，是評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性的重要試驗(yàn)方法之一。 溫度快速變化試驗(yàn) 試驗(yàn)?zāi)康模嚎焖贉刈兪且?guī)定了溫度變化速率的溫度變化，常常模擬晝夜溫差大的地區(qū)環(huán)境，也可用于壽命試驗(yàn)，用以考核元器件或產(chǎn)品的外觀、機(jī)械性能及電氣性能。 試驗(yàn)設(shè)備：快速溫變?cè)囼?yàn)箱可靠性測(cè)試已經(jīng)列為產(chǎn)品的重要質(zhì)量指標(biāo)加以考核和檢驗(yàn)。UV光照老化可靠性測(cè)試試驗(yàn)

反復(fù)短路測(cè)試 在各種輸入和輸出狀態(tài)下將模塊輸出短路，模塊應(yīng)能實(shí)現(xiàn)保護(hù)或回縮，反復(fù)多次短路，故障排除后，模塊應(yīng)該能自動(dòng)恢復(fù)正常運(yùn)行。 A、空載到短路：在輸入電壓全范圍內(nèi)，將模塊從空載到短路，模塊應(yīng)能正常實(shí)現(xiàn)輸出限流或回縮，短路排除后，模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作。讓模塊反復(fù)從空載到短路不斷的工作，短路時(shí)間為1s，放開時(shí)間為1s，持續(xù)時(shí)間為2小時(shí)。這以后，短路放開，判斷模塊是否能夠正常工作。 B、滿載到短路：在輸入電壓全范圍內(nèi)，將模塊從滿載到短路，模塊應(yīng)能正常實(shí)現(xiàn)輸出限流或回縮，短路排除后，模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作。讓模塊從滿載到短路然后保持短路狀態(tài)2小時(shí)。然后短路放開，判斷模塊是否能夠正常工作。 C、短路開機(jī)：將模塊的輸出先短路，再上市電，再模塊的輸入電壓范圍內(nèi)上電，模塊應(yīng)能實(shí)現(xiàn)正常的限流或回縮，短路故障排除后，模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作，重復(fù)上述試驗(yàn)10次后，讓短路放開，判斷模塊是否能夠正常工作。電路板可靠性測(cè)試試驗(yàn)有口碑的可靠性測(cè)試機(jī)構(gòu)可以保障產(chǎn)品檢測(cè)質(zhì)量。

上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司可靠性試驗(yàn)?zāi)康模?可靠性已經(jīng)列為產(chǎn)品的重要質(zhì)量指標(biāo)加以考核和檢驗(yàn)。長期以來，人們只用產(chǎn)品的技術(shù)性能指標(biāo)作為衡量電子元器件質(zhì)量好壞的標(biāo)志，這只反映了產(chǎn)品質(zhì)量好壞的一個(gè)方面，還不能反映產(chǎn)品質(zhì)量的全貌。因?yàn)?，如果產(chǎn)品不可靠，即使其技術(shù)性能再好也得不到發(fā)揮。從某種意義上說，可靠性可以綜合反映產(chǎn)品的質(zhì)量。 可靠性工程是一個(gè)綜合的學(xué)科，它的發(fā)展可以帶動(dòng)和促進(jìn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、制造、使用、材料、工藝、設(shè)備和管理的發(fā)展，把電子元器件和其它電子產(chǎn)品提高到一個(gè)新的水平。正因?yàn)檫@樣，可靠性已形成一個(gè)專門的學(xué)科，作為一個(gè)專門的技術(shù)進(jìn)行研究。

上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司可靠性試驗(yàn)?zāi)康模?環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)的區(qū)別詳細(xì)講解： 試驗(yàn)時(shí)間的區(qū)別： 在環(huán)境試驗(yàn)之中，每一項(xiàng)試驗(yàn)的時(shí)間基本取決于選用的試驗(yàn)及具體的試驗(yàn)程序，只是由于各階段進(jìn)行性能檢測(cè)所需時(shí)間不同而產(chǎn)生一些差別，試驗(yàn)時(shí)間比可靠性試驗(yàn)短得多。可靠性試驗(yàn)時(shí)間取決于需驗(yàn)證的可靠性指標(biāo)值和選用的統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)方案以及產(chǎn)品本身的質(zhì)量。其時(shí)間無法確定，以受試產(chǎn)品的總臺(tái)時(shí)數(shù)達(dá)到規(guī)定值或可以作出接收，拒收判決為止?？啃詼y(cè)試可以分為應(yīng)力條件下的模擬測(cè)試與現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試。

上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司可靠性試驗(yàn)?zāi)康模?可靠性是與電子工業(yè)的發(fā)展密切相關(guān)的，其重要性可從電子產(chǎn)品發(fā)展的三個(gè)特點(diǎn)來加以說明。 首先，電子產(chǎn)品的復(fù)雜程度在不斷增加。人們較早使用的礦石收音機(jī)是非常簡單的，隨之先后出現(xiàn)了各種類型的收音機(jī)、錄音機(jī)、錄放相機(jī)、通訊機(jī)、雷達(dá)、制導(dǎo)系統(tǒng)、電子計(jì)算機(jī)以及宇航控制設(shè)備，復(fù)雜程度不斷地增長。其次，電子產(chǎn)品的使用環(huán)境日益嚴(yán)酷。從實(shí)驗(yàn)室到野外，從熱帶到寒帶，從陸地到深海，從高空到宇宙空間，經(jīng)受著不同的環(huán)境條件，除溫度、濕度影響外，海水、鹽霧、沖擊、振動(dòng)、宇宙粒子、各種輻射等對(duì)電子元器件的影響，導(dǎo)致產(chǎn)品失效的可能性增大。 第三，電子產(chǎn)品的裝置密度不斷增加。從一代電子管產(chǎn)品進(jìn)入第二代晶體管，現(xiàn)已從小、中規(guī)模集成電路進(jìn)入到大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路，電子產(chǎn)品正朝小型化、微型化方向發(fā)展，其結(jié)果導(dǎo)致裝置密度的不斷增加，從而使內(nèi)部溫升增高，散熱條件惡化。為什么要做可靠性試驗(yàn)？上海電路板可靠性測(cè)試包括哪些

上海天梯帶你認(rèn)識(shí)可靠性測(cè)試。UV光照老化可靠性測(cè)試試驗(yàn)

可靠性的強(qiáng)化實(shí)驗(yàn)通常應(yīng)用在產(chǎn)品設(shè)計(jì)初期或者發(fā)展初期，由于市場(chǎng)驗(yàn)證和反饋較少，為了確保其性能穩(wěn)定定通常就以該實(shí)驗(yàn)來發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的不足之處，然后再對(duì)其進(jìn)行設(shè)計(jì)上的修改。這種可靠性的強(qiáng)化實(shí)驗(yàn)分幾個(gè)階段進(jìn)行。在研發(fā)設(shè)計(jì)階段可以對(duì)實(shí)驗(yàn)樣品進(jìn)行測(cè)試。如果該產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、制作工藝，材料應(yīng)用等方面出現(xiàn)問題，就可以及時(shí)將其解決掉了。如此這般經(jīng)過反復(fù)多次試驗(yàn)，反復(fù)多次改進(jìn)就能進(jìn)一步提高產(chǎn)品初期的可靠性。在產(chǎn)品投產(chǎn)和試產(chǎn)階段，是根據(jù)市場(chǎng)環(huán)境這條思路出發(fā)的。UV光照老化可靠性測(cè)試試驗(yàn)

上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司成立于2013年，總部設(shè)在上海交大金橋國家科技園，是中國合格評(píng)定國家認(rèn)可委員會(huì)(CNAS)認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室(No. CNAS L7352)，計(jì)量認(rèn)證(CMA)認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室(170921341417)，上海交大金橋科技園檢測(cè)公共服務(wù)平臺(tái)，上海市研發(fā)公共服務(wù)平臺(tái)服務(wù)企業(yè)，上海市浦東新區(qū)科技服務(wù)機(jī)構(gòu)發(fā)展促進(jìn)會(huì)會(huì)員單位，上海市****。我們有前列的測(cè)試設(shè)備，專業(yè)的工程師及**團(tuán)隊(duì)。公司成立以來著重于產(chǎn)品的環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)，材料性能實(shí)驗(yàn)，在汽車，造船，醫(yī)療，運(yùn)輸?shù)刃袠I(yè)為企業(yè)提供了專業(yè)的測(cè)試技術(shù)服務(wù)，堅(jiān)持‘準(zhǔn)確，及時(shí)，真實(shí)，有效，提升’的質(zhì)量方針，憑過硬的檢測(cè)技術(shù)和工作質(zhì)量，向廣大客戶提供準(zhǔn)確，高效的檢測(cè)服務(wù)，我們的檢測(cè)報(bào)告具有國際公信力，得到了23個(gè)經(jīng)濟(jì)體的37個(gè)國家和地區(qū)的客戶認(rèn)可。