老化可靠性測(cè)試項(xiàng)目

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2023-03-12

上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司可靠性試驗(yàn)?zāi)康模?環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)的區(qū)別: 環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)雖然關(guān)系緊密,但它們?cè)谠囼?yàn)?zāi)康?,所用環(huán)境應(yīng)力數(shù)量,環(huán)境力量值選用準(zhǔn)則,試驗(yàn)類型,試驗(yàn)時(shí)間,試驗(yàn)終止判據(jù)方面存在截然的不同之處。 試驗(yàn)?zāi)康模?環(huán)境試驗(yàn)考察的是產(chǎn)品對(duì)環(huán)境的適應(yīng)性,確定產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性設(shè)計(jì)是否符合合同要求,為接收,拒收提供決策依據(jù)。而可靠性試驗(yàn)是定量評(píng)估產(chǎn)品的可靠性,即產(chǎn)品在規(guī)定環(huán)境條件下,規(guī)定時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定功能的概率??煽啃栽囼?yàn)有哪些項(xiàng)目?老化可靠性測(cè)試項(xiàng)目

老化可靠性測(cè)試項(xiàng)目,可靠性測(cè)試

不管是與人們吃穿住行息息相關(guān)的物質(zhì)生產(chǎn)還是一些對(duì)人們具有間接作用的生產(chǎn),都有他們自己的生產(chǎn)要求和環(huán)境。只有在特定環(huán)境、要求、流程中生產(chǎn)出來(lái)的產(chǎn)品,才能流通到大眾手中發(fā)揮他們應(yīng)有的作用。檢驗(yàn)這些產(chǎn)品是否達(dá)到進(jìn)入市場(chǎng)和投入使用的要求就需要對(duì)他們進(jìn)行可靠性環(huán)境測(cè)試??煽啃原h(huán)境測(cè)試是指某種產(chǎn)品在適宜的生產(chǎn)環(huán)境、規(guī)格要求、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、功能實(shí)現(xiàn)等要求下被生產(chǎn)出來(lái),需要先對(duì)這些產(chǎn)品進(jìn)行相應(yīng)的環(huán)境測(cè)試以測(cè)試他們是否不會(huì)受某種環(huán)境的影響,然后才能將這些產(chǎn)品投入到市場(chǎng)中供給給大眾。電子設(shè)備產(chǎn)品可靠性測(cè)試在產(chǎn)品的整個(gè)生命周期當(dāng)中,都離不開可靠性測(cè)試。

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對(duì)產(chǎn)品而言,可靠性測(cè)試結(jié)果越高就越好。可靠性高的產(chǎn)品,可以長(zhǎng)時(shí)間正常工作(這正是所有消費(fèi)者需要得到的),一般來(lái)說(shuō),研發(fā)和生產(chǎn)成本會(huì)較高,但是后期維護(hù)費(fèi)用較少;可靠性低的產(chǎn)品,一般來(lái)說(shuō),研發(fā)和生產(chǎn)成本會(huì)較低,但是后期維護(hù)費(fèi)用較高。從專業(yè)術(shù)語(yǔ)上來(lái)說(shuō),就是產(chǎn)品的可靠性越高,產(chǎn)品可以無(wú)故障工作的時(shí)間就越長(zhǎng)。產(chǎn)品實(shí)際使用的可靠性叫做工作可靠性。工作可靠性又可分為固有可靠性和使用可靠性。固有可靠性是產(chǎn)品設(shè)計(jì)制造者必須確立的可靠性,即按照可靠性規(guī)劃,從原材料和零部件的選用,經(jīng)過設(shè)計(jì)、制造、測(cè)試,直到產(chǎn)品出產(chǎn)的各個(gè)階段所確立的可靠性。

可靠性測(cè)試也稱可靠性評(píng)估,指根據(jù)產(chǎn)品可靠性結(jié)構(gòu)、壽命類型和各單元的可靠性測(cè)試信息,利用概率統(tǒng)計(jì)方法,評(píng)估出產(chǎn)品的可靠性特征量。測(cè)試可靠性是指運(yùn)行應(yīng)用程序,以便在部署系統(tǒng)之前發(fā)現(xiàn)并移除失敗。因?yàn)橥ㄟ^應(yīng)用程序的可選路徑的不同組合非常多,所以在一個(gè)復(fù)雜應(yīng)用程序中不可能找到所有的潛在失敗。但是可測(cè)試在正常使用情況下較可能的方案,然后驗(yàn)證該應(yīng)用程序是否提供預(yù)期的服務(wù)。如果時(shí)間允許,可采用更復(fù)雜的測(cè)試以揭示更微小的缺陷。為什么要做可靠性試驗(yàn)?

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電子產(chǎn)品器件密度不斷提高,從第1代電子管產(chǎn)品到第二代晶體管,中小規(guī)模集成電路已經(jīng)進(jìn)入大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路。電子產(chǎn)品正朝著小型化、小型化的方向發(fā)展。結(jié)果,器件的密度不斷增大,使得器件內(nèi)部溫度升高,散熱條件惡化。電子元器件的可靠性會(huì)隨著環(huán)境溫度的升高而降低,因此電子元器件的可靠性問題備受關(guān)注??煽啃詼y(cè)試已被列為檢驗(yàn)和試驗(yàn)產(chǎn)品的重要質(zhì)量指標(biāo)。長(zhǎng)期以來(lái),人們只把產(chǎn)品的技術(shù)性能指標(biāo)作為衡量電子元器件質(zhì)量的標(biāo)志,只反映了產(chǎn)品質(zhì)量的一個(gè)方面,也不能反映產(chǎn)品質(zhì)量的全局。因?yàn)槿绻a(chǎn)品不可靠,即使其技術(shù)性能好,也無(wú)法發(fā)揮作用。從某種意義上說(shuō),可靠性測(cè)試可以多方面反映產(chǎn)品的質(zhì)量。可靠性測(cè)試有作用嗎?電路板可靠性測(cè)試有哪些

可靠性測(cè)試主要有哪些方面?老化可靠性測(cè)試項(xiàng)目

上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司較新檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn) 5、振動(dòng)試驗(yàn): 振動(dòng)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fi: 振動(dòng) 混合模式 只做:頻率2Hz~3000Hz,位移≤51mm, 載荷≤3000kg 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fh:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)和導(dǎo)則 GB/T 2423.56-2006。只做:頻率2Hz~3000Hz,位移≤51mm,載荷≤3000kg。 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)(正弦)只做:頻率2Hz~3000Hz,位移≤51mm, 載荷≤3000kg。 6、溫度變化試驗(yàn): 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化 7、溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn): 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn) 8、跌落試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落 9、機(jī)械沖擊試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊 10、碰撞試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞老化可靠性測(cè)試項(xiàng)目

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