測(cè)量電壓、電流、電阻和頻率是大多數(shù)測(cè)試程序的一個(gè)組成部分。往往需要高性能的DMM(數(shù)字是德科技萬(wàn)用表)。為滿(mǎn)足自動(dòng)化、穩(wěn)定的測(cè)試系統(tǒng)的要求,提供了一種自動(dòng)化、穩(wěn)定的測(cè)試系統(tǒng)。很多時(shí)候,通過(guò)將臺(tái)式數(shù)字是德科技萬(wàn)用表作為ATE系統(tǒng)的一部分來(lái)滿(mǎn)足這一要求。然而,隨著基于板卡模塊的ATE系統(tǒng)(如PXI)的日益增多的使用,DMM結(jié)合了基于PXI的高性能,為測(cè)試工程師提供了進(jìn)一步降低ATE系統(tǒng)總體占地面積的能力。然而,在PXI外形中提供同等或更好的DMM性能會(huì)帶來(lái)重大的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)。萬(wàn)用表的靈活使用,不僅只有基本使用方法。微型萬(wàn)用表
串模噪聲的來(lái)源是多方面的,例如電源、被測(cè)件本身、空間中電磁電磁噪聲、還有50Hz 的供電線路公頻噪聲。對(duì)于5VDC的信號(hào),通常會(huì)有從幾毫伏到幾十毫伏峰峰值的紋波加噪聲。信號(hào)看上去就像下圖。 在50Hz 的工頻噪聲上夾雜著其他的高頻噪聲。 因此,為了得到精確的測(cè)量結(jié)果,首先要考慮到對(duì)串模噪聲的抑制。以下是數(shù)字是德科技萬(wàn)用表的工作原理圖。 被 測(cè)信號(hào)從前端輸入。 實(shí)際上,對(duì)于絕大多數(shù)儀器來(lái)說(shuō),前端是*值錢(qián)的部分, 也是衡量不同廠家儀器水平的*重要的標(biāo)志。信號(hào)通過(guò)前端的調(diào)理, 轉(zhuǎn)換成適合ADC的信號(hào)幅度。 圖示中的AC RMS 是一個(gè)zhuan用的電路,它的作用是對(duì)輸入交流信號(hào)進(jìn)行有效值的運(yùn)算。在*新的數(shù)字表中,如34410A,這個(gè)電路已經(jīng)不存在了。萬(wàn)用表多少一個(gè)是德科技萬(wàn)用表應(yīng)用技巧。
數(shù)字是德科技萬(wàn)用表的指標(biāo)中,位數(shù)是一個(gè)很重要的指標(biāo),并且這個(gè)指標(biāo)跟是德科技萬(wàn)用表的分辨率和精確度都有相當(dāng)大的關(guān)系 數(shù)字是德科技萬(wàn)用表的位數(shù)份為兩部分整數(shù)位和非整數(shù)位。整數(shù)位是指示數(shù)可以0~9顯示,非整數(shù)位是不能顯示到9,比如1/2位只能顯示0和1,5/6的顯示為0~5,以此類(lèi)推。3又5/6位是德科技萬(wàn)用表為5999顯示也就是6000計(jì)數(shù)。 是德科技萬(wàn)用表手持一般為3位半和4位半的顯示。臺(tái)式分為5位半到8位半。這里的半并不是指1/2位,而是指在有數(shù)個(gè)整數(shù)位以后,還有一位可以顯示數(shù)值。
如果充電的時(shí)間在20ms (一個(gè)工頻周期,即1PLC)或其整倍數(shù)的時(shí)候,就可以抑制公頻噪聲。因此,對(duì)高精度測(cè)量來(lái)說(shuō),20ms的時(shí)間是必須的。當(dāng)然,如果測(cè)量時(shí)間越長(zhǎng),例如 10PLC, 當(dāng)然會(huì)獲得更高的噪聲抑制比。但這樣會(huì)影響到測(cè)量的速度,特別是在高精度數(shù)據(jù)采集或自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中。所以,測(cè)試速度和精度實(shí)際上是一對(duì)矛盾。在實(shí)際使用 過(guò)程中,要折中考慮。 不同的數(shù)字是德科技萬(wàn)用表在同樣的測(cè)量時(shí)間內(nèi),對(duì)公頻噪聲的抑制比有區(qū)別的。例如傳統(tǒng)的34401A, 如果選擇200ms 的測(cè)量時(shí)間,對(duì)工頻抑制比是60dB. 而對(duì)于34410A 新款的產(chǎn)品,在40ms的測(cè)量時(shí)間,工頻抑制比就可以達(dá)到120dB。 有些工程師如果從二手市場(chǎng)上買(mǎi)的一些從美國(guó)舶來(lái)的舊貨,就可能有問(wèn)題,因?yàn)槊绹?guó)是60Hz工頻周期。挑選是德科技萬(wàn)用表的步驟。
可用于判斷電阻,二極管,三極管好壞的方法之一。對(duì)于電阻其實(shí)際阻值偏離標(biāo)稱(chēng)值過(guò)多時(shí)則已損壞。對(duì)于二三極管,若任兩腳間的電阻都不為很的大值(幾百K 以上),則可認(rèn)為性能下降或者已擊穿損壞,注意此三極管是不帶阻的。此法也可用于集成塊,須要說(shuō)明的是:集成塊的測(cè)量只能和正常時(shí)參數(shù)作比較。普通是德科技萬(wàn)用表的表筆都存在阻值較大,有興趣的愛(ài)好者可自行制作一副表筆;方法:準(zhǔn)備一米左右的youzhi音箱線或者多蕊銅電線,帶絕緣套的夾子一對(duì)(紅黑色),用于音箱接線的香蕉插一對(duì)(紅黑色);線的一端焊牢在夾上,另一端相應(yīng)接入香蕉插中;一副優(yōu)良的表筆即大功告成。自動(dòng)量程萬(wàn)用表設(shè)計(jì)方案。萬(wàn)用表檢測(cè)
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與示波器不一 樣,高精度數(shù)字表中采用的是雙積分式ADC。這種ADC的特點(diǎn)是分辨率極高,對(duì)噪聲的抑制能力chao強(qiáng),適合于gaofen辨率、高精度的測(cè)量,但速度比較低。例 如,6位半數(shù)字表采用的是22bit的ADC,8位半是28bit 的ADC。 Vi 是經(jīng)過(guò)前端調(diào)理后的被測(cè)電壓,Vref 是內(nèi)部參考電源。首先是開(kāi)關(guān)(紅色表示)切合到Vi端, Vi對(duì)積分器中的電容進(jìn)行充電。充電的時(shí)間是公頻周期的整倍數(shù), 即20ms和其整倍數(shù), 目的是抑制工頻噪聲。充電結(jié)束后,電容上的電壓即等于Vi的平均值。 這時(shí)將開(kāi)關(guān)切合到Vref 上,在Vref 的控制下,電容進(jìn)行固定斜率的放電。同時(shí),用內(nèi)部計(jì)數(shù)器記錄放電時(shí)間。Vi 就可以利用放電時(shí)間和斜率算得了。在這個(gè)過(guò)程中,電容的充電再放電的過(guò)程,就可以消除高頻噪聲。微型萬(wàn)用表
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