晶柱生長紅外測溫儀技術(shù)參數(shù)

來源: 發(fā)布時間:2024-04-15

1800年,英國天文學(xué)家F.W.赫歇爾發(fā)現(xiàn)了紅外線。上世紀(jì)70年代,紅外測溫儀和電荷耦合器件被成功應(yīng)用。上世紀(jì)末,以焦平面陣列(FPA)為**的紅外器件被成功應(yīng)用。紅外技術(shù)的**是紅外探測器,紅外探測器按其特點可分為四代:***代(1970s-80s):主要是以單元、多元器件進行光機串/并掃描成像;第二代(1990s-2000s):是以4x288為**的掃描型焦平面;第三代:凝視型焦平面;第四代:目前正在發(fā)展的以大面陣、高分辨率、多波段、智能靈巧型為主要特點的系統(tǒng)芯片,具有高性能數(shù)字信號處理功能,甚至具備單片多波段探測與識別能力。增加一下紅外線測溫儀的實際應(yīng)用效果。晶柱生長紅外測溫儀技術(shù)參數(shù)

晶柱生長紅外測溫儀技術(shù)參數(shù),紅外測溫儀

測溫門也叫溫度測量及金屬探測安檢門。其測溫技術(shù)原理是:由于物體的紅外輻射特性與它的表面溫度有著十分密切的關(guān)系,因此,通過對物體自身輻射的紅外能量的測量,便能準(zhǔn)確地測定它的表面溫度。這種技術(shù)測量的比較大優(yōu)點是測試速度快,1秒鐘以內(nèi)可測試完畢,而且因為它只接收人體對外發(fā)射的紅外輻射,沒有任何其他物理和化學(xué)因素作用于人體,所以對人體無任何害處。此外,測溫安檢門保留了紅外測溫儀探測的功能,可以在體溫高于基準(zhǔn)線或探測到金屬時報警。上海紅外測溫儀器紅外測溫儀測量的是一個區(qū)域內(nèi)的平均溫度,測量值受發(fā)射率、鏡頭的污染以及背景輻射的影響。

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在資料中也可以找到。也就是每個點的值是按公式計算出來的。說明:這張圖是發(fā)射率變化1%時導(dǎo)致的紅外測溫設(shè)備的***誤差。下面做一些簡單計算:溫度在1500°C時,發(fā)射率變化1%或10%:再比如在溫度1500°C時,發(fā)射率變化1%,用8-14μm紅外測溫儀或紅外熱像儀,測量溫度的***誤差是12°C(參見圖片中**上面的那條曲線)。如果發(fā)射率變化10%呢?那么測溫的***誤差=10%發(fā)射率變化要乘以10x12°C=120°C。用1μm紅外測溫儀或紅外熱像儀,測量溫度的***誤差是2°C(參見圖片中紅色曲線)。如果發(fā)射率變化10%呢?那么測溫的***誤差=10%發(fā)射率變化要乘以10x2°C=20°C。

紅外測溫儀由光學(xué)系統(tǒng)、光電探測器、信號放大器及信號處理、顯示輸出等部分組成。光學(xué)系統(tǒng)匯聚其視場內(nèi)的目標(biāo)紅外輻射能量,視場的大小由測溫儀的光學(xué)零件及其位置確定。紅外能量聚焦在光電探測器上并轉(zhuǎn)變?yōu)橄鄳?yīng)的電信號。該信號經(jīng)過放大器和信號處理電路,并按照儀器內(nèi)部的算法和目標(biāo)發(fā)射率校正后轉(zhuǎn)變?yōu)楸粶y目標(biāo)的溫度值。在自然界中,一切溫度高于零度的物體都在不停地向周圍空間發(fā)出紅外輻射能量。物體的紅外輻射能量的大小及其按波長的分布 —— 與它的表面溫度有著十分密切的關(guān)系。因此,通過對物體自身輻射的紅外能量的測量,便能準(zhǔn)確地測定它的表面溫度,這就是紅外輻射測溫所依據(jù)的客觀基礎(chǔ)人體紅外測溫儀具備收集人體體溫便捷、簡易、便捷等特性。

晶柱生長紅外測溫儀技術(shù)參數(shù),紅外測溫儀

從產(chǎn)品類型及技術(shù)方面來看,紅外測溫儀占據(jù)主要市場,2022年占全球市場份額為89.14%。預(yù)計未來六年中國市場復(fù)合增長率為5.63%,并在2029年規(guī)模達到56.1百萬美元。從產(chǎn)品市場應(yīng)用情況來看,蝕刻和晶圓制造占比較大,2022年占全球市場份額為56.44%。生產(chǎn)層面,目前北美是全球比較大的半導(dǎo)體高溫計生產(chǎn)地區(qū),占有大約41.45%的市場份額,之后是歐洲,占有大約36.10%的市場份額。目前全球市場,基本由北美和歐洲地區(qū)廠商主導(dǎo),全球半導(dǎo)體高溫計頭部廠商主要包括AdvancedEnergy、FlukeProcessInstruments和KELLERHCW等,**大廠商占有全球大約43.66%的市場份額。預(yù)計未來幾年行業(yè)競爭將更加激烈,尤其在中國市場。對于初次接觸紅外測溫儀的用戶來說,距離系數(shù)比與發(fā)射率這兩個參數(shù)估計都看不太懂。鍛造加工用紅外測溫儀現(xiàn)場測試

長波長紅外測溫儀通常用來測量低于 200℃的目標(biāo)或特殊介質(zhì)的測量。晶柱生長紅外測溫儀技術(shù)參數(shù)

紅外測溫儀是一種高精度、高效率的測溫設(shè)備,它采用紅外線技術(shù),能夠快速、準(zhǔn)確地測量物體表面的溫度。與傳統(tǒng)的接觸式測溫方法相比,紅外測溫儀具有非接觸、無損、快速等優(yōu)點,廣泛應(yīng)用于工業(yè)、醫(yī)療等領(lǐng)域。我們的紅外測溫儀采用先進的光學(xué)技術(shù)和信號處理技術(shù),具有高精度、高靈敏度、高穩(wěn)定性等特點。它可以在極短的時間內(nèi)完成測溫,同時還能夠自動記錄測量數(shù)據(jù),方便用戶進行數(shù)據(jù)分析和處理。我們的紅外測溫儀還具有多種功能,如最大值/最小值測量、溫度報警、數(shù)據(jù)存儲等,可以滿足不同用戶的需求。同時,我們的產(chǎn)品還具有良好的耐用性和防護性能,可以在惡劣的環(huán)境下長時間使用。我們的紅外測溫儀是一款高性能的測溫設(shè)備,可以為用戶提供準(zhǔn)確、可靠的測溫服務(wù)。如果您需要測量物體表面溫度,不妨選擇上海諾丞儀器儀表有限公司的紅外測溫儀,它一定會讓您滿意。晶柱生長紅外測溫儀技術(shù)參數(shù)