上海哈特黑體爐

如果您用買來的醫(yī)用紅外測(cè)溫儀測(cè)量正常工作的黑體爐時(shí)，會(huì)出現(xiàn)測(cè)量溫度比黑體爐設(shè)置溫度高出2-3℃。請(qǐng)不要慌，這是正常現(xiàn)象！因?yàn)槿梭w額頭溫度受環(huán)境影響較大，正常情況（在環(huán)境溫度15~25℃）下為32-35℃；所以醫(yī)學(xué)臨床均參考腋**溫作為醫(yī)學(xué)測(cè)溫。人們?yōu)榱送ㄟ^測(cè)量額頭溫度判斷腋下溫度，于是在醫(yī)用測(cè)溫儀出廠前通過軟件已經(jīng)修正了差值（低于36℃的都顯示36℃，并對(duì)其他測(cè)量區(qū)間進(jìn)行了溫度補(bǔ)償）。所以，醫(yī)用紅外測(cè)溫儀是紅外測(cè)溫儀系列中一款通過軟件修正簡(jiǎn)化派生出的非復(fù)雜環(huán)境條件下使用的特殊產(chǎn)品；它所反饋的數(shù)值為理想值而非真實(shí)值（通俗點(diǎn)說就是在真實(shí)溫度上增加了2-3℃）。實(shí)際黑體爐存在著非均勻的溫度分布，空腔有效發(fā)射率就隨著溫度分布和波長(zhǎng)變化而變化。上海哈特黑體爐

由于是針對(duì)目標(biāo)響應(yīng)值相對(duì)大小關(guān)系的校正，這就使得一點(diǎn)校正法可以在目標(biāo)響應(yīng)值與校正測(cè)量值相近時(shí)的任何情況下都能較好地成像。例如，一種很常見的實(shí)現(xiàn)方式是在環(huán)境溫度、FPA溫度變化后，通過實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)積分時(shí)間、全局偏置等參數(shù)，讓目標(biāo)響應(yīng)值回到與校正測(cè)量時(shí)相近的范圍內(nèi)，則成像一般不成問題，但這樣處理后將導(dǎo)致測(cè)溫算法復(fù)雜化甚至根本無法實(shí)現(xiàn)測(cè)溫功能。各廠家在一點(diǎn)校正法的工藝實(shí)現(xiàn)中，還有個(gè)普遍的謬誤：用高、低溫黑體爐作校正測(cè)量，但在應(yīng)用中卻是用的檔片機(jī)構(gòu)此時(shí)檔片起到的是參考黑體的作用。如果用外檔片則還與校正測(cè)量的情況比較接近，但內(nèi)檔片差得就很離譜了。新型黑體爐現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試實(shí)際應(yīng)用中的黑體爐，都是理想黑體的近似，他們的發(fā)射率至少要做到0.95以上（面源黑體）。

試驗(yàn)用鍋發(fā)射率測(cè)試3.1測(cè)量?jī)x器鍋體材料是影響灶具熱效率的重要因素之一，因此，本試驗(yàn)主要測(cè)量新、舊兩版國(guó)標(biāo)下鋁制鍋具材料的發(fā)射率，分別為舊國(guó)標(biāo)下的普通白色鋁鍋和新國(guó)標(biāo)下的黑色無光鋁鍋，以下分別簡(jiǎn)稱“白鍋”和“黑鍋”。發(fā)射率測(cè)量?jī)x器見圖4，分別為日本某公司生產(chǎn)的FTIR-6100型傅里葉光譜分析儀和HIT-2型面源黑體爐。3.2發(fā)射率測(cè)量針對(duì)標(biāo)準(zhǔn)用鍋的樣品，使用HIT-2型黑體爐作為參考黑體輻射源，在120℃下，分別測(cè)量黑體輻射源、黑鍋和白鍋的輻射量，經(jīng)過計(jì)算機(jī)進(jìn)行傅里葉變換，獲得黑鍋和白鍋在2.5~25μm紅外波段的發(fā)射率，測(cè)量結(jié)果見圖5。

BR400黑體爐，由環(huán)溫+10℃～400℃內(nèi)任意一溫度點(diǎn)皆可隨需要調(diào)整。穩(wěn)定、重復(fù)的校正面板讓使用者能快速而準(zhǔn)確地校正及測(cè)試紅外線高溫計(jì)(紅外測(cè)溫儀)。黑體開孔直徑Φ125mm的面積，適用大部份的紅外線高溫計(jì)(紅外測(cè)溫儀)。系統(tǒng)另有RS-232或485的計(jì)算機(jī)通訊接口方便計(jì)算機(jī)控制設(shè)定溫度及自動(dòng)測(cè)試。功能特點(diǎn)：●溫度范圍：環(huán)溫+10℃～400℃●采用自動(dòng)升溫控溫方式、安全可靠、溫度穩(wěn)定性好、使用操作方便●使用雙排數(shù)字顯示測(cè)量值及設(shè)定值●緊湊而堅(jiān)固的設(shè)計(jì)、集校準(zhǔn)與測(cè)試的完美結(jié)合如果需要升至比較高，務(wù)必在**短時(shí)間內(nèi)完成校準(zhǔn)，然后對(duì)黑體爐進(jìn)行降溫操作，否則容易造成腔心損毀。

高溫場(chǎng)視覺測(cè)溫模型的建立是基于CCD傳感器對(duì)鑄坯表面溫度場(chǎng)進(jìn)行在線測(cè)量的前提。在分析輻射測(cè)溫及CCD探測(cè)器基本工作原理的基礎(chǔ)上，基于幾何光學(xué)理論建立了窄帶光譜輻射測(cè)溫模型，為CCD輻射測(cè)溫提供了理論依據(jù)。并結(jié)合連鑄坯表面溫度場(chǎng)分布特點(diǎn)，從溫度測(cè)量范圍、測(cè)量準(zhǔn)確性以及發(fā)射率消除等因素上確定了灰度CCD進(jìn)行連鑄坯表面溫度場(chǎng)測(cè)量方案?；诿骊嘋CD輻射測(cè)溫模型，分析了測(cè)溫靈敏度、溫度測(cè)量范圍與窄帶濾光片中心波長(zhǎng)、像方孔徑角之間的關(guān)系。分析結(jié)果表明，靈敏度與像方孔徑角成正相關(guān)，隨窄帶光譜中心波長(zhǎng)先增大后減?。欢鴾囟葴y(cè)量范圍與像方孔徑角成負(fù)相關(guān)，隨窄帶光譜中心波長(zhǎng)先減小后增大。同時(shí)考慮到波長(zhǎng)對(duì)水霧的吸收特性以及本文選擇的探測(cè)器響應(yīng)波段等因素，黑體爐終選擇的窄帶濾光片中心波長(zhǎng)為μm，帶寬為10nm。基于幾何成像的基本原理，建立了輻射測(cè)溫變參數(shù)模型，在黑體爐上進(jìn)行了標(biāo)定試驗(yàn)研究，分析了曝光時(shí)間、光圈、焦距以及標(biāo)定距離等參數(shù)對(duì)CCD灰度測(cè)量的影響。常見的黑體爐按照構(gòu)造可以分為靶面式和腔體式兩種。中低溫黑體爐直銷價(jià)

一般面源黑體爐的溫度范圍只能做到500攝氏度以下，管式黑體則可以比較容易做到2000度以上。上海哈特黑體爐

黑體的應(yīng)用:黑體在工業(yè)上主要應(yīng)用于測(cè)溫領(lǐng)域，**主要的產(chǎn)品是黑體爐。對(duì)輻射溫度計(jì)的校準(zhǔn)、檢定，通常采用比較法，就是通過高穩(wěn)定度的輻射源（通常為黑體輻射源）和其他配套設(shè)備，將標(biāo)準(zhǔn)器所復(fù)現(xiàn)的溫度與被檢輻射溫度計(jì)所復(fù)現(xiàn)的溫度進(jìn)行比較，以判斷其是否合格或給出校準(zhǔn)結(jié)果。在校準(zhǔn)、檢定工作中，輻射源一般在-6～1200℃（或1600℃）范圍內(nèi)可用開口式中、低溫黑體爐，1200（或1600℃）～3200℃采用抽真空并充惰性氣體保護(hù)的高溫黑體爐。標(biāo)準(zhǔn)器分別為二等標(biāo)準(zhǔn)熱電偶（二等標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)）和標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)（光電）高溫計(jì)。上海哈特黑體爐