中高溫黑體爐技術(shù)參數(shù)

來源: 發(fā)布時間:2022-05-26

由于是針對目標(biāo)響應(yīng)值相對大小關(guān)系的校正,這就使得一點(diǎn)校正法可以在目標(biāo)響應(yīng)值與校正測量值相近時的任何情況下都能較好地成像。例如,一種很常見的實(shí)現(xiàn)方式是在環(huán)境溫度、FPA溫度變化后,通過實(shí)時動態(tài)調(diào)節(jié)積分時間、全局偏置等參數(shù),讓目標(biāo)響應(yīng)值回到與校正測量時相近的范圍內(nèi),則成像一般不成問題,但這樣處理后將導(dǎo)致測溫算法復(fù)雜化甚至根本無法實(shí)現(xiàn)測溫功能。各廠家在一點(diǎn)校正法的工藝實(shí)現(xiàn)中,還有個普遍的謬誤:用高、低溫黑體爐作校正測量,但在應(yīng)用中卻是用的檔片機(jī)構(gòu)此時檔片起到的是參考黑體的作用。如果用外檔片則還與校正測量的情況比較接近,但內(nèi)檔片差得就很離譜了。中溫黑體爐通常是指溫度范圍在室溫到400℃之間的。中高溫黑體爐技術(shù)參數(shù)

中高溫黑體爐技術(shù)參數(shù),黑體爐

    黑體爐的分類?主要包括腔式黑體和面源黑體。黑體的應(yīng)用黑體的主要功能是產(chǎn)生一定溫度下的標(biāo)準(zhǔn)輻射。因此在溫度計量中主要用于檢定各種輻射溫度計,如光學(xué)高溫計、紅外溫度計、紅外熱像儀等。隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,黑體的用途已經(jīng)不局限于在溫度計量方面的應(yīng)用。在光學(xué)方面,已經(jīng)普遍采用黑體作為標(biāo)準(zhǔn)輻射源和標(biāo)準(zhǔn)背景光源。在測量領(lǐng)域里,黑體已經(jīng)用于測量材料的光譜發(fā)射、吸收和反射特性。在高能物理的研究中,黑體已經(jīng)用作為產(chǎn)生中子源。不同的用途對黑體的要求是不一樣的。在溫度計量領(lǐng)域,主要是利用黑體輻射和溫度的對應(yīng)關(guān)系,因此要求黑體的發(fā)射率越高越好。因此在選擇黑體時通常是選擇發(fā)射率較高的腔式黑體,同時也要注意黑體腔口直徑,溫度均勻性和輻射溫度不確定度。 上海黑體爐BR70紅外熱成像配套用黑體爐,實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)距離人體精細(xì)測溫,防疫**,打包發(fā)貨。

中高溫黑體爐技術(shù)參數(shù),黑體爐

黑體爐BR-M500特點(diǎn)■溫度范圍室溫+10℃~500℃■PID自動控溫■緊湊而堅固的設(shè)計■適用于校準(zhǔn)與測試基本性能工作環(huán)溫0-45℃重量4.8kg外形尺寸(L×W×H)220×160×260mm電氣參數(shù)傳感器Pt100鉑電阻控溫方式PID電源電壓220VAC5A450W測量參數(shù)溫度范圍室溫+10℃-500℃精度±(0.38±0.002[t])分辨率0.1℃輻射孔徑Φ70mm發(fā)射率>0.97升溫時間100℃≤30分鐘附件BR-M500黑體輻射源一臺電源線一根備用5A保險絲2只(電源座內(nèi)有備用1只)使用說明書一份備用瓷片2片,云母片2片

從宏觀上,我們知道,波是連續(xù)的,是不間斷地布滿空間的。像物體連續(xù)的經(jīng)典觀念遭遇到原子一樣,連續(xù)波的經(jīng)典觀念也遭遇到了挑戰(zhàn)。連續(xù)波的圖像無法解釋黑體爐的基本性質(zhì)。冬天,太陽照得人暖烘烘的。這是人接受了太陽輻射的結(jié)果。在火爐或者火塘邊,人們可以烘干衣物、烤制食品,這也是物品接收到輻射的結(jié)果。實(shí)際上,我們周圍的東西都在發(fā)射輻射,也在吸收輻射。2003年4月間,非典型性肺炎(SARS)在北京肆虐??茖W(xué)家由此發(fā)明了不接觸式體溫計,在飛機(jī)場、火車站等出入口處檢測過往旅客的體溫。它所根據(jù)的事實(shí),就是發(fā)燒病人的體溫比較高,所發(fā)出的輻射能量也比較多。一般面源黑體爐的溫度范圍只能做到500攝氏度以下,管式黑體則可以比較容易做到2000度以上。

中高溫黑體爐技術(shù)參數(shù),黑體爐

    黑體的主要功能是產(chǎn)生一定溫度下的標(biāo)準(zhǔn)輻射。因此在溫度計量中主要用于檢定各種輻射溫度計,如光學(xué)高溫計、紅外溫度計、紅外熱像儀等。隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,黑體的用途已經(jīng)不局限于在溫度計量方面的應(yīng)用。在光學(xué)方面,已經(jīng)普遍采用黑體作為標(biāo)準(zhǔn)輻射源和標(biāo)準(zhǔn)背景光源。在測量領(lǐng)域里,黑體已經(jīng)用于測量材料的光譜發(fā)射、吸收和反射特性。在高能物理的研究中,黑體已經(jīng)用作為產(chǎn)生中子源。不同的用途對黑體的要求是不一樣的。在溫度計量領(lǐng)域,主要是利用黑體輻射和溫度的對應(yīng)關(guān)系,因此要求黑體的發(fā)射率越高越好。要求黑體的輻射能量按照光譜分布(也就是黑體光譜輻射能量、也稱為單色能量)都能符合普朗克定律,這樣我們在檢定或校準(zhǔn)輻射溫度計時,以黑體的溫度(或標(biāo)準(zhǔn)輻射溫度計)的示值,來修正輻射溫度計的偏差。因此在選擇黑體時通常是選擇發(fā)射率較高的腔式黑體,同時也要注意黑體腔口直徑,溫度均勻性和輻射溫度不確定度。在光學(xué)應(yīng)用中,通常要求輻射源的輻射面積較大,但是溫度不高,只關(guān)注輻射面的溫度均勻性而不一定關(guān)注輻射能量與溫度對應(yīng)的準(zhǔn)確性,因此選擇面源黑體較多。 黑體爐的用途已經(jīng)不局限于在溫度計量方面的應(yīng)用。小巧型黑體爐CS120

高級的腔體式黑體爐可以做到3000℃,而且升降溫速度極快,十幾分鐘即可升上去并穩(wěn)定住!中高溫黑體爐技術(shù)參數(shù)

高溫場視覺測溫模型的建立是基于CCD傳感器對鑄坯表面溫度場進(jìn)行在線測量的前提。在分析輻射測溫及CCD探測器基本工作原理的基礎(chǔ)上,基于幾何光學(xué)理論建立了窄帶光譜輻射測溫模型,為CCD輻射測溫提供了理論依據(jù)。并結(jié)合連鑄坯表面溫度場分布特點(diǎn),從溫度測量范圍、測量準(zhǔn)確性以及發(fā)射率消除等因素上確定了灰度CCD進(jìn)行連鑄坯表面溫度場測量方案?;诿骊嘋CD輻射測溫模型,分析了測溫靈敏度、溫度測量范圍與窄帶濾光片中心波長、像方孔徑角之間的關(guān)系。分析結(jié)果表明,靈敏度與像方孔徑角成正相關(guān),隨窄帶光譜中心波長先增大后減??;而溫度測量范圍與像方孔徑角成負(fù)相關(guān),隨窄帶光譜中心波長先減小后增大。同時考慮到波長對水霧的吸收特性以及本文選擇的探測器響應(yīng)波段等因素,黑體爐終選擇的窄帶濾光片中心波長為μm,帶寬為10nm?;趲缀纬上竦幕驹恚⒘溯椛錅y溫變參數(shù)模型,在黑體爐上進(jìn)行了標(biāo)定試驗研究,分析了曝光時間、光圈、焦距以及標(biāo)定距離等參數(shù)對CCD灰度測量的影響。中高溫黑體爐技術(shù)參數(shù)