長沙精密光譜分析儀維修

來源: 發(fā)布時間:2021-11-27

功率應分別標稱有功功率和基波有功功率的準確級;對于電壓、電流具備多個量程的分析儀,標稱的準確級應適用每個量程。標準準確級:變頻功率分析儀的電壓、電流測量的標準準確級為:0.05、0.1、0.2、0.5、1;變頻功率分析儀的功率測量的標準基本準確級為: 0.1、0.2、0.5、1、2;變頻功率分析儀的標準角差準確級為: 普通、S1、S2、S3;變頻功率分析儀的功率測量標準準確級為基本準確級與角差準確級的組合,例如:0.1級、0.1S1級、0.1S2級、0.2S3級等等。若交、直流準確級不同,應同時標稱兩者的準確級。電弧紅外碳硫分析儀的電子天平: 稱量范圍:0—120g 讀數(shù)精度:0.001g。長沙精密光譜分析儀維修

光譜分析:線狀光譜。由狹窄譜線組成的光譜。單原子氣體或金屬蒸氣所發(fā)的光波均有線狀光譜,故線狀光譜又稱原子光譜。當原子能量從較高能級向較低能級躍遷時,就輻射出波長單一的光波。嚴格說來這種波長單一的單色光是不存在的,由于能級本身有一定寬度和多普勒效應等原因,原子所輻射的光譜線總會有一定寬度(見譜線增寬);即在較窄的波長范圍內(nèi)仍包含各種不同的波長成分。原子光譜按波長的分布規(guī)律反映了原子的內(nèi)部結構,每種原子都有自己特殊的光譜系列。通過對原子光譜的研究可了解原子內(nèi)部的結構,或?qū)悠匪煞诌M行定性和定量分析。青島便攜式光譜分析儀批發(fā)微機多元素分析儀普遍應用于冶金化驗儀器、礦石分析儀器等行業(yè)及質(zhì)量監(jiān)督部門和大專院校。

功率分析儀的特點:工業(yè)社會的快速發(fā)展使對測量的準確性、合理性和高效率提出了更高的要求,顯而易見,融合著現(xiàn)代計算機技術、網(wǎng)絡技術、通訊技術、自動化技術等的數(shù)字化設備信息和數(shù)據(jù)的處理分析能力更強、智能化、自動化程度更高,適應日益復雜的現(xiàn)場電磁環(huán)境的能力更強,它必將成為測量系統(tǒng)中不可或缺的中心構件。開發(fā)基于前端數(shù)字化的傳感器/變送器和效率更高、分析運算能力更強的數(shù)字化測量二次設備也必然成為測試技術發(fā)展的主流方向。WP3000變頻功率分析儀在傳感器/變送器環(huán)節(jié),即將被測信號數(shù)字化,傳感器/變送器與二次儀表之間采用數(shù)字光纖通訊,避免了信號傳輸環(huán)節(jié)的損失與干擾,并方便網(wǎng)絡化,智能化應用。

紅外光譜儀是利用物質(zhì)對不同波長的紅外輻射的吸收特性這個特點,進行分子結構和化學組成分析的儀器。紅外光譜儀通常由光源,單色器,探測器和計算機處理信息系統(tǒng)組成。根據(jù)分光裝置的不同類型,分為色散型和干涉型這兩種。對色散型雙光路光學零位平衡紅外分光光度計而言,當樣品吸收了一定頻率的紅外輻射后,分子的振動能級發(fā)生躍遷,透過的光束中相應頻率的光被減弱,造成參比光路與樣品光路相應輻射的強度差,從而得到所測樣品的紅外光譜。變頻功率分析儀是變頻技術高速發(fā)展的必然產(chǎn)物,也是變頻技術持續(xù)健康發(fā)展的重要基礎儀器。

光電直讀光譜儀的特點:在工業(yè)生產(chǎn)中,由于光電直讀光譜儀分析費用節(jié)省,分析速度快,分析結果可靠,已被普遍采用。它具有以下優(yōu)點。用光電直讀光譜儀做分析,可使用的譜線波長范圍較寬。這個范圍由光電倍增管的性能決定。例如,用石英窗孔的PMT,加上光譜儀的光學系統(tǒng)置于真空中,可用的波長可短至150nm。這就可能利用位于波段中的譜線來分析。校準曲線范圍寬。由于PMT對信號的放大能力很大,對于強弱不同的譜線所用的PMT可用不同的放大倍數(shù)。相差可達10000倍。因此,光電法可用同一分析條件對樣品中許多元素進行分析。雖然含量范圍相差懸殊的很多元素從高含量到低含量都可同時分析。電腦精密多元素分析儀可用于各種材料及其合金的多種元素分析。長春精密光譜分析儀哪家好

光譜儀器可分為:棱鏡光譜儀,衍射光柵光譜儀和干涉光譜儀。長沙精密光譜分析儀維修

根據(jù)現(xiàn)代光譜分析儀器的工作原理,光譜儀可以分為兩大類:經(jīng)典光譜儀和新型光譜儀。經(jīng)典光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器;新型光譜儀器是建立在調(diào)制原理上的儀器,經(jīng)典光譜儀器都是狹縫光譜儀器。調(diào)制光譜儀是非空間分光的,它采用圓孔進光根據(jù)色散組件的分光原理,光譜儀器可分為:棱鏡光譜儀,衍射光柵光譜儀和干涉光譜儀。光譜分析儀的分析原理是將光源輻射出的待測元素的特征光譜通過樣品的蒸汽中待測元素的基態(tài)原子所吸收,由發(fā)射光譜被減弱的程度,進而求得樣品中待測元素的含量,它符合郎珀-比爾定律 A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I為透射光強度,I0為發(fā)射光強度,T為透射比,L為光通過原子化器光程由于L是不變值所以A=KC。長沙精密光譜分析儀維修

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