靜動(dòng)態(tài)測(cè)試系統(tǒng)服務(wù)商

ICT測(cè)試?yán)碚撟鲆恍┖唵谓榻B1基本測(cè)試方法：模擬器件測(cè)試?yán)眠\(yùn)算放大器進(jìn)行測(cè)試。由“A”點(diǎn)“虛地”的概念有： ∵Ix = Iref∴Rx = Vs/ V0*RrefVs、Rref分別為激勵(lì)信號(hào)源、儀器計(jì)算電阻。測(cè)量出V0，則Rx可求出。 若待測(cè)Rx為電容、電感，則Vs交流信號(hào)源，Rx為阻抗形式，同樣可求出C或L。 1.2 隔離（Guarding）上面的測(cè)試方法是針對(duì)單獨(dú)的器件，而實(shí)際電路上器件相互連接、相互影響，使Ix笽ref，測(cè)試時(shí)必須加以隔離（Guarding）。隔離是在線測(cè)試的基本技術(shù)。驗(yàn)收功能測(cè)試系統(tǒng)用于驗(yàn)證產(chǎn)品符合規(guī)格要求。靜動(dòng)態(tài)測(cè)試系統(tǒng)服務(wù)商

PCBA通用型自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)對(duì)PCBA多信號(hào)可同步測(cè)試，人性化的操作界面、模塊化的編程環(huán)境以及機(jī)種（Model）的方便轉(zhuǎn)換，為企業(yè)節(jié)省人力物力，提高生產(chǎn)效率，從而給企業(yè)帶來經(jīng)濟(jì)效益?；贚abVIEW開發(fā)的編程環(huán)境。自動(dòng)多項(xiàng)目集中測(cè)試和多測(cè)試點(diǎn)同步測(cè)試，減少工位和工時(shí)。應(yīng)用本公司自校準(zhǔn)技術(shù)，轉(zhuǎn)機(jī)種不需要高素質(zhì)工程人員。統(tǒng)一治具結(jié)構(gòu)；利于管理和控制成本。自動(dòng)準(zhǔn)確判斷每個(gè)細(xì)節(jié)，不產(chǎn)生遺漏和誤判，結(jié)果更為可靠。用戶界面友好，容易實(shí)現(xiàn)新機(jī)種自動(dòng)測(cè)試編程和調(diào)試。信號(hào)采樣PC分析得出PASS或FAIL。員工不需思考判斷是否達(dá)標(biāo)，PC代替完成?；贚abVIEW2010開發(fā)的編譯平臺(tái)，客戶在編譯平臺(tái)下進(jìn)行二次編程，簡單、方便、快捷，直接填寫檢測(cè)內(nèi)容。員工不需思考判斷是否達(dá)標(biāo)，PC代替完成并顯示測(cè)試結(jié)果。統(tǒng)計(jì)報(bào)表功能隨時(shí)查閱產(chǎn)量及品質(zhì)狀況。靜動(dòng)態(tài)測(cè)試系統(tǒng)服務(wù)商自動(dòng)功能測(cè)試系統(tǒng)可自動(dòng)完成測(cè)試流程。

自診斷和容錯(cuò)技術(shù):能及時(shí)處理所發(fā)生的故障和問題。從而提高了儀器的穩(wěn)定性和可靠性，降低了對(duì)使用環(huán)境的要求，提高了抗干擾能力。測(cè)量過程的自動(dòng)化和實(shí)時(shí)控制。將人工智能與儀器的智能化相結(jié)合:雖然還處于初級(jí)階段，但隨著人工智能的發(fā)展，這必將推動(dòng)儀器的智能化向更高的階段發(fā)展。智能儀器的一般特點(diǎn)，微處理機(jī)化:智能儀器幾乎都帶有微處理機(jī)及其相應(yīng)的微程序。微處理器在測(cè)量儀器中的使用可以說是測(cè)量技術(shù)上的一個(gè)飛躍，是賦子儀器智能特性的主要。由于使用了微處理器，一臺(tái)儀器便可在不增加或只需少量的硬件的條件下較大程度上的增強(qiáng)其功育臺(tái)。

測(cè)試儀能夠把好電路板上的各IC器件的狀態(tài)特征提取出來，存入計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)庫中，然后與同類有故障的電路板進(jìn)行比較，從而準(zhǔn)確地找出故障部位。VI特性測(cè)試分析該項(xiàng)測(cè)試功能建立在模擬特征分析技術(shù)基礎(chǔ)上，可用于模擬、數(shù)字、專門使用器件、可編程器件以及大規(guī)模、超大規(guī)模器件的測(cè)試。測(cè)試儀通過測(cè)試探棒或測(cè)試夾自動(dòng)把被測(cè)點(diǎn)的特征曲線提取出來，顯示在微機(jī)屏幕上，較后存入計(jì)算機(jī)。進(jìn)特故障診斷時(shí)，將實(shí)測(cè)到的VI曲線與事先存貯的標(biāo)準(zhǔn)曲線進(jìn)行比較，進(jìn)而發(fā)現(xiàn)故障。功能測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展將不斷推動(dòng)電子行業(yè)的進(jìn)步與發(fā)展。

Boundary-Scan邊界掃描技術(shù)ICT測(cè)試儀要求每一個(gè)電路節(jié)點(diǎn)至少有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。但隨著器件集成度增高，功能越來越強(qiáng)，封裝越來越小，SMT元件的增多，多層板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一個(gè)節(jié)點(diǎn)放一根探針變得很困難，為增加測(cè)試點(diǎn)，使制造費(fèi)用增高；同時(shí)為開發(fā)一個(gè)功能強(qiáng)大器件的測(cè)試庫變得困難，開發(fā)周期延長。為此，聯(lián)合測(cè)試組織（JTAG）頒布了IEEE1149.1測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 IEEE1149.1定義了一個(gè)掃描器件的幾個(gè)重要特性。首先定義了組成測(cè)試訪問端口（TAP）的四（五〕個(gè)管腳：TDI、TDO、TCK、TMS，（TRST）。小型功能測(cè)試系統(tǒng)適用于空間受限的環(huán)境。常州變壓器綜合測(cè)試系統(tǒng)安裝

在線測(cè)試：實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)，提前發(fā)現(xiàn)潛在問題，降低故障風(fēng)險(xiǎn)。靜動(dòng)態(tài)測(cè)試系統(tǒng)服務(wù)商

功能系統(tǒng)測(cè)試原理：FST是function system test的簡稱，功能系統(tǒng)測(cè)試可以測(cè)試一個(gè)PCBA的單板系統(tǒng)能否實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)目標(biāo)，它將線路板上的被測(cè)單元作為一個(gè)功能體，對(duì)其提供輸入信號(hào)，按照功能體的設(shè)計(jì)要求檢測(cè)輸出信號(hào)。功能系統(tǒng)測(cè)試中的激勵(lì)信號(hào)源可以使用一些通用的儀器來實(shí)現(xiàn)，如任意波形發(fā)生器，任意函數(shù)發(fā)生器，邏輯信號(hào)發(fā)生器等，也可以使用自己設(shè)計(jì)的硬件系統(tǒng)來產(chǎn)生激勵(lì)信號(hào)，采用前者相對(duì)成本較高。功能系統(tǒng)測(cè)試中的輸出信號(hào)的檢測(cè)可以使用一些通用的儀器來實(shí)現(xiàn)，如示波器，頻譜分析儀等，也可以使用定制的數(shù)據(jù)采集和分析模塊來實(shí)現(xiàn)。輸出信號(hào)的分析和測(cè)試結(jié)果的保存往往要用計(jì)算機(jī)來實(shí)現(xiàn)，所以就引出了計(jì)算機(jī)和測(cè)試系統(tǒng)硬件的數(shù)據(jù)傳輸和控制的問題。計(jì)算機(jī)和測(cè)試系統(tǒng)常用的通信方式有GPIB總線、PCI總線、RS232串口、USB等，通信方式的選擇需要根據(jù)測(cè)試系統(tǒng)的硬件選擇和測(cè)試對(duì)于數(shù)據(jù)傳輸?shù)乃俣刃枨鬀Q定。靜動(dòng)態(tài)測(cè)試系統(tǒng)服務(wù)商