浙江測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2024-09-20

治具,常規(guī)的治具設(shè)計(jì),大多采用雙載板平衡桿和針板平衡桿。在測(cè)試過(guò)程中壓板下壓時(shí),如果壓板、載板、針板固定不佳,容易產(chǎn)生晃動(dòng),從而使UUT產(chǎn)生翹邊變形,進(jìn)行而導(dǎo)致測(cè)試針和測(cè)試點(diǎn)接觸不良或者位置偏移,使得測(cè)試針彎曲變形引起誤測(cè)甚至導(dǎo)致UUT裂損。上述情況的發(fā)生,尤其是在UUT的厚度發(fā)生較大變化時(shí)更容易產(chǎn)生。治具定位原理,根據(jù)電路板的不同, 可采用以下幾種定位方式根據(jù)工件的不同情況。1、以外緣輪廓定位,對(duì)于面積尺寸較小而且外廓一致性較好的電路板,可采用外輪廓定位方式。長(zhǎng)邊用定位板,限制2個(gè)自由度;短邊用定位針,限制1個(gè)自由度。在另一短邊,還可以增加1只定位針,形成所謂的約束性過(guò)定位。這種方式中,兩根定位柱所限位的尺寸應(yīng)比UUT尺寸略大,在0.3mm~0.5mm即可。雖然由于此間隙的存在,定位精度會(huì)略有降低,但操作方便、制造簡(jiǎn)單。2、以“邊/孔”定位,對(duì)于面積尺寸較大的電路板,可以采用“邊/孔”定位,這也屬于約束性過(guò)定位的一種。定位板限制2個(gè)自由度,定位柱限制2個(gè)自由度。這種形式中,通常定位柱和UUT定位孔的間隙需要留的更大一些。驗(yàn)收測(cè)試:在產(chǎn)品交付前進(jìn)行的一系列測(cè)試,確保產(chǎn)品滿足用戶需求。浙江測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商

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全球主要ICT自動(dòng)測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)廠商主要有Agilent Technologies安捷倫(美國(guó)),Teradyne泰瑞達(dá)(美國(guó))、Check Sum(美國(guó))、AEROFLEX(美國(guó))、WINCHY瑩琦、Hioki(日本)、IFR(AEROFLEX并購(gòu))、Takaya(日本)、Tescon(日本), Okano(日本)、系新(中國(guó)臺(tái)灣)、JET(捷智)、Tr(德泰)、SRC星河、Concord、Rohde & Schwarz、Scorpion 、Shindenski、SPEA、Tecnost-MTI、Testronics、WK Test 、Schuhll、Viper、TTI,NI,APM(全天科技)等等品牌。不同品牌ICT的測(cè)試原理相同或相似。浙江測(cè)試系統(tǒng)服務(wù)軟件功能測(cè)試系統(tǒng)用于驗(yàn)證軟件的功能性。

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自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的發(fā)展經(jīng)歷了三個(gè)階段。①采用專門(mén)使用測(cè)試設(shè)備:這種系統(tǒng)比較復(fù)雜,研制工作量大,造價(jià)高,適應(yīng)性差,在改變測(cè)試內(nèi)容時(shí)要重新設(shè)計(jì)接口(包括儀器與儀器之間的接口和儀器與計(jì)算機(jī)之間的接口)。專門(mén)使用測(cè)試設(shè)備只用來(lái)進(jìn)行大量重復(fù)性試驗(yàn)、快速測(cè)試或復(fù)雜測(cè)試,或用于對(duì)測(cè)試可靠性要求極高、有礙測(cè)試人員健康以及測(cè)試人員難以接近的測(cè)試場(chǎng)所。②采用標(biāo)準(zhǔn)化通用接口母線(GPIB)連接有關(guān)設(shè)備,系統(tǒng)中各組成部分均配標(biāo)準(zhǔn)化接口功能,用統(tǒng)一的無(wú)源母線電纜連接起來(lái)。不需要自行設(shè)計(jì)接口,可靈活地更改、增刪測(cè)試內(nèi)容。在這兩個(gè)階段中,計(jì)算機(jī)主要承擔(dān)系統(tǒng)的控制、計(jì)算和數(shù)據(jù)處理任務(wù),基本上是模擬人工測(cè)試的過(guò)程,尚不能充分發(fā)揮計(jì)算機(jī)的功能。③將計(jì)算機(jī)與測(cè)試設(shè)備融為一體,用計(jì)算機(jī)軟件代替?zhèn)鹘y(tǒng)設(shè)備中某些硬件的功能,能用計(jì)算機(jī)產(chǎn)生激勵(lì),完成測(cè)試功能,生成測(cè)試程序。

電路在線測(cè)試技術(shù),1、在線測(cè)試原理:在線測(cè)試的基本原理是測(cè)試儀為印制電路板上的被測(cè)芯片提供輸入激勵(lì),同時(shí)在計(jì)算機(jī)控制下自動(dòng)采集記錄被測(cè)芯片的輸出響應(yīng)和狀態(tài)值,通過(guò)計(jì)算機(jī)將其記錄的所有狀態(tài)值與標(biāo)準(zhǔn)的狀態(tài)真值表比較,從而判斷被測(cè)對(duì)象的故障情況。2、后驅(qū)動(dòng)測(cè)試技術(shù):后驅(qū)動(dòng)測(cè)試技術(shù)主要用于數(shù)字電路的在線測(cè)試。其實(shí)質(zhì)是在被測(cè)器件的輸入級(jí)(前級(jí)驅(qū)動(dòng)芯片的輸出級(jí))灌入或拉出瞬態(tài)大電流,迫使其電位按要求變高或變低,達(dá)到對(duì)被測(cè)器件在線施加測(cè)試激勵(lì)的目的。虛擬現(xiàn)實(shí)技術(shù)在功能測(cè)試中的應(yīng)用:通過(guò)虛擬現(xiàn)實(shí)技術(shù),模擬實(shí)際使用場(chǎng)景,提高測(cè)試的準(zhǔn)確性。

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電路,測(cè)試電路主要包括傳感器和變換器、信號(hào)調(diào)理裝置、數(shù)據(jù)采集設(shè)備、負(fù)載模擬器等,傳感器和變換器測(cè)量不同的物理量,并將它們變換為電信號(hào);信號(hào)調(diào)理主要對(duì)電信號(hào)進(jìn)行加工,使其符合采集設(shè)備的要求;模擬器仿真UUT的真實(shí)負(fù)載,為其提供工作環(huán)境。傳感器和變換器的種類(lèi)很多,它們直接與各種物理量相關(guān)聯(lián),并將這些物理量轉(zhuǎn)換為采集設(shè)備可以采集的電信號(hào)。在設(shè)計(jì)測(cè)試電路前必須對(duì)被測(cè)對(duì)象和測(cè)量需求做詳細(xì)分析,正確選擇相應(yīng)的傳感器和變換器。信號(hào)調(diào)理設(shè)備對(duì)傳感器和變換器送來(lái)的信號(hào)采取放大、濾波、隔離等措施,將它們轉(zhuǎn)化為采集設(shè)備易于讀取的信號(hào)。功能測(cè)試人才培養(yǎng):加強(qiáng)功能測(cè)試領(lǐng)域的人才培養(yǎng),推動(dòng)行業(yè)技術(shù)創(chuàng)新和發(fā)展。長(zhǎng)春測(cè)試系統(tǒng)專業(yè)技術(shù)服務(wù)

通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng):適用于多種電子設(shè)備,實(shí)現(xiàn)快速、高效的自動(dòng)化測(cè)試。浙江測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商

在線測(cè)試儀主要測(cè)試電路板的開(kāi)短路、電阻、電容、電感、二極管、三極管、電晶體、IC等無(wú)件!早期,業(yè)內(nèi)將ATE設(shè)備也歸在ICT這一類(lèi)別中,但因ATE測(cè)試相基本上所在的大型電路生產(chǎn)商都要用到ICT測(cè)試,象ASUS、DELL、IBM、INTEL、BENQ、MSI、HP等!全球大型ICT測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)廠商主要有安捷倫(美國(guó)),泰瑞達(dá)(美國(guó))、德智(DEZHI)、JET(捷智)、Tr(德利泰)、SRC星河等等品牌。不同品牌ICT的測(cè)試原理相同或相似。上世紀(jì)80年代前后,日本將美國(guó)同類(lèi)產(chǎn)品加以簡(jiǎn)化和小型化,并改成使用氣動(dòng)壓床式,表示的有日本TESCON,OKANO,使得ICT簡(jiǎn)單易用并低成本,使之成為電子廠不可或缺的必備檢測(cè)設(shè)備,并迅速推廣普及。浙江測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商