無錫芯軟智控科技有限公司榮獲無錫市專精特新中小企業(yè)榮譽
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智能排產(chǎn)功能在MES管理系統(tǒng)中有哪些應(yīng)用
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新誠物業(yè)&芯軟智控:一封表揚信,一面錦旗,是對芯軟智控的滿分
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了解MES生產(chǎn)管理系統(tǒng)的作用及優(yōu)勢?
智能儀器組成的智能測試系統(tǒng),在這類測試系統(tǒng)中,往往有多個重復(fù)的部件或功能單元。例如,在一個IEEE-488儀器系統(tǒng)中可能包含微機(jī)、邏輯分析儀、數(shù)字示波器、智能數(shù)字多用表、頻譜分析儀和網(wǎng)絡(luò)分析儀等多臺帶GPIB接口的單獨式智能儀器。它們都有CRT、鍵盤和存儲器等部件。因此,在利用臺式、便攜式甚至機(jī)架疊層式智能儀器組成測試系統(tǒng)時,勢必造成資源浪費、成本過高。PC儀器系統(tǒng),將傳統(tǒng)式單獨儀器的測量電路部分與接口部分集中在一起制成儀器卡,而儀器所需的鍵盤、GRT和存儲器等均借助PC機(jī)的資源,就構(gòu)成了PC儀器,又稱模塊式儀器。隨著眾多總線系統(tǒng)的電性能不能滿足官方、航天等部門的更高要求,故改善PC儀器系統(tǒng)的性能并便其標(biāo)準(zhǔn)化勢在必行。功能測試系統(tǒng)能夠快速識別產(chǎn)品的功能性缺陷。臺州集成測試系統(tǒng)設(shè)備
隨著自動測試技術(shù)的發(fā)展,傳統(tǒng)的人工測試正在逐漸被自動測試所取代。GPIB和PXI等標(biāo)準(zhǔn)總線的出現(xiàn)較大程度上簡化了自動測試系統(tǒng)的開發(fā)復(fù)雜度,構(gòu)建測試系統(tǒng)變成了組合各種儀器模塊。但是UUT的類型還是復(fù)雜多樣的,尤其信號類型也千變?nèi)f化;因此,設(shè)計一個良好的連接UUT和測試資源TR的測試接口ITA,是簡化測試系統(tǒng)復(fù)雜度的關(guān)鍵。每個被測對象(UUT)具有不同的信號激勵點和信號獲取點,這些都需要一個接口以實現(xiàn)UUT 和TE的信號連接,此接口即測試接口適配器ITA。ITA負(fù)責(zé)完成UUT 和TE 的機(jī)械與電氣連接,為TE各個信號點和UUT各個信號點指定路由路徑。臺州集成測試系統(tǒng)設(shè)備測試流程優(yōu)化:通過優(yōu)化測試流程,提高測試系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。
FrameScan電容藕合測試 FrameScan利用電容藕合探測管腳的脫開。每個器件上面有一個電容性探頭,在某個管腳激勵信號,電容性探頭拾取信號。如圖所示:1 夾具上的多路開關(guān)板選擇某個器件上的電容性探頭。2 測試儀內(nèi)的模擬測試板(ATB)依次向每個被測管腳發(fā)出交流信號。3 電容性探頭采集并緩沖被測管腳上的交流信號。4 ATB測量電容性探頭拾取的交流信號。如果某個管腳與電路板的連接是正確的,就會測到信號;如果該管腳脫開,則不會有信號。GenRad類式的技術(shù)稱Open Xpress。原理類似。此技術(shù)夾具需要傳感器和其他硬件,測試成本稍高。
在上電路中,因R1、R2的連接分流,使Ix笽ref ,Rx = Vs/ V0*Rref等式不成立。測試時,只要使G與F點同電位,R2中無電流流過,仍然有Ix=Iref,Rx的等式不變。將G點接地,因F點虛地,兩點電位相等,則可實現(xiàn)隔離。實際實用時,通過一個隔離運算放大器使G與F等電位。ICT測試儀可提供很多個隔離點,消除外圍電路對測試的影響。IC的測試 對數(shù)字IC,采用Vector(向量)測試。向量測試類似于真值表測量,激勵輸入向量,測量輸出向量,通過實際邏輯功能測試判斷器件的好壞。如:與非門的測試對模擬IC的測試,可根據(jù)IC實際功能激勵電壓、電流,測量對應(yīng)輸出,當(dāng)作功能塊測試。通用自動測試系統(tǒng):適用于多種電子設(shè)備,實現(xiàn)快速、高效的自動化測試。
功能系統(tǒng)測試,元件測試和裝聯(lián)測試注重的是產(chǎn)品的加工質(zhì)量,功能系統(tǒng)測試注重的是PCBA的電氣特性參數(shù),并關(guān)注這些指標(biāo)是否達(dá)到了相關(guān)的國家標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計規(guī)范的要求,功能系統(tǒng)測試是一類針對整件的綜合性測試,在以產(chǎn)品自行設(shè)計、加工為主的企業(yè)里應(yīng)用較廣。優(yōu)點:⒈ 基本上不用人管著,如果程序停止運行了一般就是被測試程序crash了。⒉ 設(shè)計完測試?yán)?,下來的工作就是好多了,?dāng)然更苦悶的是確定crash原因。缺點:⒈ 結(jié)果取決于測試?yán)脑O(shè)計,測試?yán)脑O(shè)計部分來勢來源于經(jīng)驗,OUSPG的東西很值得借鑒。⒉ 沒有狀態(tài)轉(zhuǎn)換的概念,一些成功的例子基本上都是針對PDU來做的,還做不到針對被測試程序的狀態(tài)轉(zhuǎn)換來作。⒊ 就沒有狀態(tài)概念的測試來說,尋找和確定造成程序crash的測試?yán)莻€麻煩事情,必須把周圍可能的測試?yán)龁为毚_認(rèn)一遍。而就有狀態(tài)的測試來說,就更麻煩了,尤其不是一個單獨的testcase造成的問題。這些在堆的問題中表現(xiàn)的更為突出??煽啃栽囼炏到y(tǒng)用于驗證產(chǎn)品在不同環(huán)境下的可靠性。常州電子測試系統(tǒng)
無線綜合測試:針對無線通信設(shè)備,實現(xiàn)信號質(zhì)量、傳輸速率等全方面測試。臺州集成測試系統(tǒng)設(shè)備
接口技術(shù)。針對不同電路板的的測試,已出現(xiàn)多種通用接口標(biāo)準(zhǔn)。如商用領(lǐng)域的ARINC,jun工領(lǐng)域的CASS,航空領(lǐng)域的MATE等。在商業(yè)領(lǐng)域大量使用的ARINC接口發(fā)展較快,指令完備,但成本較高,適用于大、中型企業(yè)和機(jī)構(gòu)的使用。電路板測試已經(jīng)向通用化、標(biāo)準(zhǔn)化、開放式、模塊化、系列化的方向發(fā)展,相關(guān)技術(shù)發(fā)展也緊跟世界高新技術(shù)保持同步,充分利用了工業(yè)界多年來所取得的成果,成為跨學(xué)科、跨領(lǐng)域、跨專業(yè)的一門綜合技術(shù)學(xué)科。在線測試,主要進(jìn)行測量控制板的R/L/C等元器件的電氣數(shù)值,以確定有無反插、漏件、錯插件等;功能測試,主要檢測主板整體運行性能參數(shù)是否達(dá)標(biāo),各模塊工作是否正常等;只有成功經(jīng)過以上兩步測試的控制板才算是合格產(chǎn)品。臺州集成測試系統(tǒng)設(shè)備