臺(tái)州電池測(cè)試系統(tǒng)定制

測(cè)試儀主要功能，測(cè)試儀采用電路在線測(cè)試技術(shù)，可以用來(lái)在線或離線測(cè)試分析各種中小規(guī)模集成電路芯片的常見(jiàn)故障，測(cè)試模擬、數(shù)字器件的V/I特性。數(shù)字芯片的功能測(cè)試測(cè)試的基本原理是檢測(cè)并記錄芯片的輸入/輸出狀態(tài)，將其記錄的狀態(tài)與標(biāo)準(zhǔn)的狀態(tài)真值表進(jìn)行比較，從而判斷被測(cè)芯片功能是否正確。數(shù)字芯片的狀態(tài)測(cè)試電路板上每個(gè)數(shù)字器件，在加電后都有三種狀態(tài)特征：各管腳的邏輯狀態(tài)（電源、地、高阻、信號(hào)等）、管腳之間的連接關(guān)系、輸入輸出之間的邏輯關(guān)系。當(dāng)器件發(fā)生故障后，其狀態(tài)特征一般都要發(fā)生變化。PCBA功能測(cè)試：針對(duì)印刷電路板組件（PCBA）進(jìn)行功能測(cè)試，確保其性能達(dá)標(biāo)。臺(tái)州電池測(cè)試系統(tǒng)定制

功能系統(tǒng)測(cè)試的特點(diǎn)，功能系統(tǒng)測(cè)試是從PCBA板卡的功能實(shí)現(xiàn)與否的角度來(lái)進(jìn)行的測(cè)試，因此相對(duì)于其它測(cè)試手段顯得簡(jiǎn)捷直觀，但由于功能系統(tǒng)測(cè)試是把待測(cè)PCBA當(dāng)作一個(gè)類(lèi)似于黑盒子的功能單元來(lái)進(jìn)行測(cè)試，有時(shí)并不能準(zhǔn)確定位出功能系統(tǒng)測(cè)試未能通過(guò)的PCBA所存在的問(wèn)題之所在，不過(guò)采用。對(duì)比所列出的ICT、AOI、AXI等測(cè)試方法，采用功能系統(tǒng)測(cè)試的成本一般來(lái)說(shuō)要小很多，對(duì)于一些小批量的PCBA板卡生產(chǎn)，采用功能系統(tǒng)測(cè)試可以有效的節(jié)約成本。此外，對(duì)于一些對(duì)穩(wěn)定性和可靠性要求較高的產(chǎn)品，其測(cè)試系統(tǒng)往往是采用多種測(cè)試手段進(jìn)行流水線作業(yè)，而功能系統(tǒng)測(cè)試是其中必不可少的步驟。上海測(cè)試系統(tǒng)加工PCB功能測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)試PCB板的功能和連通性。

值得一提的是，近十余年來(lái)，外商尤其是臺(tái)商將設(shè)備較關(guān)鍵較昂貴的測(cè)試主機(jī)（從數(shù)萬(wàn)到數(shù)十萬(wàn)元）通過(guò)較低價(jià)（數(shù)千元）報(bào)關(guān)進(jìn)入中國(guó)大陸內(nèi)地，然后在國(guó)內(nèi)加上機(jī)械大外殼，即以翻了數(shù)倍到數(shù)十倍的價(jià)格在市場(chǎng)上銷(xiāo)售，這樣的作法偷逃了數(shù)以?xún)|計(jì)的關(guān)稅。而國(guó)內(nèi)設(shè)備廠商通過(guò)正常報(bào)關(guān)進(jìn)口零配件生產(chǎn)的設(shè)備，其成本甚至?xí)欢冗h(yuǎn)高于外資廠。所以，境外品牌的這種違法走入使得其測(cè)試設(shè)備在成本上并不處于多大劣勢(shì)，甚至有時(shí)還處于優(yōu)勢(shì)。這對(duì)誠(chéng)實(shí)的國(guó)內(nèi)測(cè)試設(shè)備廠商來(lái)說(shuō)無(wú)疑是極不公平的。令人欣慰的是，這里，國(guó)人崇尚洋貨好面子歧視國(guó)貨的心態(tài)正有所扭轉(zhuǎn)，外資企業(yè)也已改變只購(gòu)國(guó)外設(shè)備的作法，而愿意更多的購(gòu)買(mǎi)性?xún)r(jià)比更高的國(guó)內(nèi)設(shè)備。

測(cè)試方式選擇（TMS）用來(lái)加載控制信息；其次定義了由TAP控制器支持的幾種不同測(cè)試模式，主要有外測(cè)試（EXTEST）、內(nèi)測(cè)試（INTEST）、運(yùn)行測(cè)試（RUNTEST）；較后提出了邊界掃描語(yǔ)言（Boundary Scan Description Language），BSDL語(yǔ)言描述掃描器件的重要信息，它定義管腳為輸入、輸出和雙向類(lèi)型，定義了TAP的模式和指令集。具有邊界掃描的器件的每個(gè)引腳都和一個(gè)串行移位寄存器（SSR）的單元相接，稱(chēng)為掃描單元，掃描單元連在一起構(gòu)成一個(gè)移位寄存器鏈，用來(lái)控制和檢測(cè)器件引腳。其特定的四個(gè)管腳用來(lái)完成測(cè)試任務(wù)。電池測(cè)試：針對(duì)各類(lèi)電池性能進(jìn)行檢測(cè)，確保其可靠性和安全性。

相對(duì)于傳統(tǒng)的測(cè)試方法，該系統(tǒng)具有以下無(wú)可比擬的優(yōu)勢(shì)：1、節(jié)省勞動(dòng)力，提高生產(chǎn)效率。本系統(tǒng)將傳統(tǒng)方法上多人合作完成的測(cè)試項(xiàng)目（多測(cè)試步驟）集中到一臺(tái)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備上，只需手動(dòng)將針床壓合，系統(tǒng)就會(huì)自動(dòng)進(jìn)行數(shù)據(jù)采集處理，其速度是手動(dòng)測(cè)試無(wú)法比擬的。系統(tǒng)對(duì)PCBA多信號(hào)可同步測(cè)試，人性化的操作界面、模塊化的編程環(huán)境以及機(jī)種的便捷轉(zhuǎn)換，為企業(yè)節(jié)省大量人力物力，并較大程度上提高生產(chǎn)效率。2、易用性，無(wú)論是更換機(jī)種，或是測(cè)試程序編輯，還是具體測(cè)試，一般操作者均能輕松掌握。在線測(cè)試：實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)，提前發(fā)現(xiàn)潛在問(wèn)題，降低故障風(fēng)險(xiǎn)。上海測(cè)試系統(tǒng)加工

測(cè)試數(shù)據(jù)智能化分析：通過(guò)對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的分析，為產(chǎn)品優(yōu)化提供有力支持。臺(tái)州電池測(cè)試系統(tǒng)定制

將多個(gè)掃描器件的掃描鏈通過(guò)他們的TAP連在一起就形成一個(gè)連續(xù)的邊界寄存器鏈，在鏈頭加TAP信號(hào)就可控制和檢測(cè)所有與鏈相連器件的管腳。這樣的虛擬接觸代替了針床夾具對(duì)器件每個(gè)管腳的物理接觸，虛擬訪問(wèn)代替實(shí)際物理訪問(wèn)，去掉大量的占用PCB板空間的測(cè)試焊盤(pán)，減少了PCB和夾具的制造費(fèi)用。作為一種測(cè)試策略，在對(duì)PCB板進(jìn)行可測(cè)性設(shè)計(jì)時(shí)，可利用專(zhuān)門(mén)軟件分析電路網(wǎng)點(diǎn)和具掃描功能的器件，決定怎樣有效地放有限數(shù)量的測(cè)試點(diǎn)，而又不減低測(cè)試覆蓋率，較經(jīng)濟(jì)的減少測(cè)試點(diǎn)和測(cè)試針。臺(tái)州電池測(cè)試系統(tǒng)定制