臺(tái)州電池測(cè)試系統(tǒng)原理

接口技術(shù)。針對(duì)不同電路板的的測(cè)試，已出現(xiàn)多種通用接口標(biāo)準(zhǔn)。如商用領(lǐng)域的ARINC，jun工領(lǐng)域的CASS，航空領(lǐng)域的MATE等。在商業(yè)領(lǐng)域大量使用的ARINC接口發(fā)展較快，指令完備，但成本較高，適用于大、中型企業(yè)和機(jī)構(gòu)的使用。電路板測(cè)試已經(jīng)向通用化、標(biāo)準(zhǔn)化、開(kāi)放式、模塊化、系列化的方向發(fā)展，相關(guān)技術(shù)發(fā)展也緊跟世界高新技術(shù)保持同步，充分利用了工業(yè)界多年來(lái)所取得的成果，成為跨學(xué)科、跨領(lǐng)域、跨專(zhuān)業(yè)的一門(mén)綜合技術(shù)學(xué)科。在線測(cè)試，主要進(jìn)行測(cè)量控制板的R/L/C等元器件的電氣數(shù)值，以確定有無(wú)反插、漏件、錯(cuò)插件等；功能測(cè)試，主要檢測(cè)主板整體運(yùn)行性能參數(shù)是否達(dá)標(biāo)，各模塊工作是否正常等；只有成功經(jīng)過(guò)以上兩步測(cè)試的控制板才算是合格產(chǎn)品。變壓器綜合功能測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)試變壓器性能。臺(tái)州電池測(cè)試系統(tǒng)原理

電壓電流是否符合設(shè)計(jì)要求，一般來(lái)說(shuō)電子加工廠的每塊電路板通電之后都會(huì)有各種電壓差、電流傳導(dǎo)等數(shù)據(jù)，并且設(shè)計(jì)工程師會(huì)預(yù)留一些測(cè)試點(diǎn)，將這些測(cè)試點(diǎn)和ICT或FCT進(jìn)行連接，就可以檢測(cè)出板子的-個(gè)電壓電流數(shù)據(jù)。燒錄MCU程序后進(jìn)行輸入、輸出檢測(cè)，當(dāng)電路板燒錄MCU程序后，用戶執(zhí)行動(dòng)作(比如長(zhǎng)按開(kāi)關(guān)3秒鐘)，MCU會(huì)發(fā)出邏輯命令控制電路的開(kāi)關(guān)，從而實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)要求。此種情況下，在線測(cè)試就可以檢測(cè)這種動(dòng)作輸入輸出是否正常。全功能測(cè)試，全功能測(cè)試在SMT加工中算是比較高級(jí)的測(cè)試了，要擬檢測(cè)產(chǎn)品80%以上的主要功能，這種檢測(cè)需要使用上位機(jī)來(lái)進(jìn)行定制模仿用戶操作從而檢測(cè)產(chǎn)品的各個(gè)功能。嘉興功能測(cè)試系統(tǒng)服務(wù)功能測(cè)試系統(tǒng)可以確保產(chǎn)品符合規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)和要求。

分類(lèi)，按操作模式，依操作模式的不同，功能測(cè)試系統(tǒng)可以分為手動(dòng)控制功能測(cè)試、半自動(dòng)控制功能測(cè)試、全自動(dòng)控制功能測(cè)試。早期的功能測(cè)試基本以手動(dòng)和半自動(dòng)為主，即使到2015年，對(duì)于簡(jiǎn)單的被測(cè)目標(biāo)（UUT），有時(shí)依然采用手動(dòng)或半自動(dòng)，這主要是為了簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)和降低成本。隨著科技能力和工業(yè)化水平的提高以及產(chǎn)業(yè)集群的發(fā)展，為了好的保證質(zhì)量和提高效率，功能測(cè)試主要以全自動(dòng)方式為主，本方案即按此方式設(shè)計(jì)。按控制方式，依照控制方式不同，F(xiàn)CT可以分為：嵌入式MCU控制方式、基于PLC控制方式、基于PC控制方式等。

功能系統(tǒng)測(cè)試，元件測(cè)試和裝聯(lián)測(cè)試注重的是產(chǎn)品的加工質(zhì)量，功能系統(tǒng)測(cè)試注重的是PCBA的電氣特性參數(shù)，并關(guān)注這些指標(biāo)是否達(dá)到了相關(guān)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)規(guī)范的要求，功能系統(tǒng)測(cè)試是一類(lèi)針對(duì)整件的綜合性測(cè)試，在以產(chǎn)品自行設(shè)計(jì)、加工為主的企業(yè)里應(yīng)用較廣。優(yōu)點(diǎn)：⒈ 基本上不用人管著，如果程序停止運(yùn)行了一般就是被測(cè)試程序crash了。⒉ 設(shè)計(jì)完測(cè)試?yán)?，下?lái)的工作就是好多了，當(dāng)然更苦悶的是確定crash原因。缺點(diǎn)：⒈ 結(jié)果取決于測(cè)試?yán)脑O(shè)計(jì)，測(cè)試?yán)脑O(shè)計(jì)部分來(lái)勢(shì)來(lái)源于經(jīng)驗(yàn)，OUSPG的東西很值得借鑒。⒉ 沒(méi)有狀態(tài)轉(zhuǎn)換的概念，一些成功的例子基本上都是針對(duì)PDU來(lái)做的，還做不到針對(duì)被測(cè)試程序的狀態(tài)轉(zhuǎn)換來(lái)作。⒊ 就沒(méi)有狀態(tài)概念的測(cè)試來(lái)說(shuō)，尋找和確定造成程序crash的測(cè)試?yán)莻€(gè)麻煩事情，必須把周?chē)赡艿臏y(cè)試?yán)龁为?dú)確認(rèn)一遍。而就有狀態(tài)的測(cè)試來(lái)說(shuō)，就更麻煩了，尤其不是一個(gè)單獨(dú)的testcase造成的問(wèn)題。這些在堆的問(wèn)題中表現(xiàn)的更為突出。功能測(cè)試系統(tǒng)有利于產(chǎn)品上市前的全方面驗(yàn)收。

自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的發(fā)展經(jīng)歷了三個(gè)階段。①采用專(zhuān)門(mén)使用測(cè)試設(shè)備：這種系統(tǒng)比較復(fù)雜，研制工作量大，造價(jià)高，適應(yīng)性差，在改變測(cè)試內(nèi)容時(shí)要重新設(shè)計(jì)接口（包括儀器與儀器之間的接口和儀器與計(jì)算機(jī)之間的接口）。專(zhuān)門(mén)使用測(cè)試設(shè)備只用來(lái)進(jìn)行大量重復(fù)性試驗(yàn)、快速測(cè)試或復(fù)雜測(cè)試，或用于對(duì)測(cè)試可靠性要求極高、有礙測(cè)試人員健康以及測(cè)試人員難以接近的測(cè)試場(chǎng)所。②采用標(biāo)準(zhǔn)化通用接口母線(GPIB)連接有關(guān)設(shè)備，系統(tǒng)中各組成部分均配標(biāo)準(zhǔn)化接口功能，用統(tǒng)一的無(wú)源母線電纜連接起來(lái)。不需要自行設(shè)計(jì)接口，可靈活地更改、增刪測(cè)試內(nèi)容。在這兩個(gè)階段中，計(jì)算機(jī)主要承擔(dān)系統(tǒng)的控制、計(jì)算和數(shù)據(jù)處理任務(wù)，基本上是模擬人工測(cè)試的過(guò)程，尚不能充分發(fā)揮計(jì)算機(jī)的功能。③將計(jì)算機(jī)與測(cè)試設(shè)備融為一體，用計(jì)算機(jī)軟件代替?zhèn)鹘y(tǒng)設(shè)備中某些硬件的功能，能用計(jì)算機(jī)產(chǎn)生激勵(lì)，完成測(cè)試功能，生成測(cè)試程序。功能測(cè)試系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)對(duì)產(chǎn)品功能的全方面檢測(cè)。上海通用功能測(cè)試系統(tǒng)定制價(jià)格

小型功能測(cè)試系統(tǒng)適用于空間受限的環(huán)境。臺(tái)州電池測(cè)試系統(tǒng)原理

接口的標(biāo)準(zhǔn)化和可撥動(dòng)地址開(kāi)關(guān):各國(guó)生產(chǎn)的智能儀器大多帶有標(biāo)準(zhǔn)的接口系統(tǒng)，采用IEEE48標(biāo)準(zhǔn)。智能儀器的后面板上配置了一組可撥動(dòng)的地址開(kāi)關(guān)。使用者可以方便的將儀器聽(tīng)/講地址設(shè)置為任何希望的數(shù)字。記憶功能:由于配置了存儲(chǔ)器，大多數(shù)智能儀器都縣有一記憶功能。操作者不只可以很方便的通過(guò)面板控制或程序?qū)x器的工作狀態(tài)，甚至測(cè)試數(shù)據(jù)存貯在指定的存儲(chǔ)器中，而且在需要時(shí)還可以方便的調(diào)用存儲(chǔ)器的內(nèi)容。多功能化:上述特點(diǎn)較大程度上增加了智能儀器的測(cè)量功能。臺(tái)州電池測(cè)試系統(tǒng)原理