無錫在線測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商

功能測(cè)試（FCT）一般專指PCBA上電后的測(cè)試，主要包括電壓、電流、功率、功率因素、頻率、占空比、亮度與顏色、字符識(shí)別、聲音識(shí)別、溫度測(cè)量、壓力測(cè)量、運(yùn)動(dòng)控制、FLASH和EEPROM燒錄等測(cè)試項(xiàng)目。自動(dòng)化FCT測(cè)試設(shè)備大都基于開放式硬、軟件體系結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，能夠靈活地?cái)U(kuò)展硬件，快捷方便的建立測(cè)試程序；一般可以做到支持多種儀器，可以靈活的按需進(jìn)行配置；而且要具有豐富的基本測(cè)試項(xiàng)目，較大可能地為用戶提供通用、靈活、規(guī)范的解決方案。功能測(cè)試系統(tǒng)有利于產(chǎn)品上市前的全方面驗(yàn)收。無錫在線測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商

先進(jìn)的測(cè)試系統(tǒng)備有故障診斷程序包，可根據(jù)測(cè)試過程中得到的情報(bào)自動(dòng)判斷故障，故障發(fā)生時(shí),能自動(dòng)查找故障的位置。在測(cè)試未通過的情況下,自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)從測(cè)試程序自動(dòng)轉(zhuǎn)換到診斷程序。自動(dòng)故障診斷的方法大體上分為兩類。①導(dǎo)引探測(cè)法：操作人員根據(jù)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)顯示的探測(cè)指令逐點(diǎn)查找故障。②特征分析法：當(dāng)被測(cè)節(jié)點(diǎn)特征不正確時(shí)，操作人員在程序指引下校驗(yàn)前面電路的特征。自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的可靠性是指它對(duì)被測(cè)對(duì)象誤差和故障的檢測(cè)能力。上海集成測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試流程變壓器綜合測(cè)試：全方面檢測(cè)變壓器性能，確保其穩(wěn)定運(yùn)行。

我們所說的在線測(cè)試系統(tǒng)是一種In Line在線測(cè)試系統(tǒng)，它采用了MCU、PLC、PC基于VB、VC開發(fā)平臺(tái)，利用TestStand&LabVIEW軟件下設(shè)計(jì)完成?？刂乒δ芊浅?qiáng)大。滿足工業(yè)自動(dòng)化的品質(zhì)和效率要求，具有本公司一直以來所追求的品質(zhì)高及可靠性能。本系統(tǒng)應(yīng)用氣動(dòng)及PLC技術(shù)來實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化操作，減少人手，提高效率，確保產(chǎn)品質(zhì)量。通過自動(dòng)化操作方法，全方面提高各種產(chǎn)品的生產(chǎn)效率、品質(zhì)控制及管理水平，為客戶提供品質(zhì)高、降低成本及創(chuàng)造更高的利潤。

儀器儀表及其發(fā)展歷程，頭一代儀器儀表是指針式的，如實(shí)驗(yàn)室中至今還在使用的指針式萬用表、電壓表、電流表、功率表等。這些儀表是基于電磁測(cè)量原理并用指針來指示側(cè)得值。第二代儀器儀表是數(shù)字式的，這類儀器儀表適應(yīng)于快速響應(yīng)和高精度的要求目前這類儀器儀表已很普及。第三代儀器儀表:智能化儀器儀表。20世紀(jì)70年代初期，隨著大規(guī)模集成電路制造技術(shù)的發(fā)展，人們發(fā)明了微處理器芯片。3年之后，美國便開始出售安裝有微型計(jì)算機(jī)的分析儀器，例如IiP5830A色譜儀。從此儀器儀表的設(shè)計(jì)中幾乎沒有不考慮采用微型計(jì)算機(jī)的。功能測(cè)試系統(tǒng)普遍用于電子產(chǎn)品的功能性驗(yàn)證。

相對(duì)于傳統(tǒng)的測(cè)試方法，該系統(tǒng)具有以下無可比擬的優(yōu)勢(shì)：1、減少測(cè)試上人為因素帶來的偏差。在傳統(tǒng)的測(cè)試中，由于測(cè)試人員的操作習(xí)慣和讀數(shù)習(xí)慣往往會(huì)給測(cè)試結(jié)果帶來人為因素上的偏差。本產(chǎn)品采用計(jì)算機(jī)自動(dòng)分析，并得出產(chǎn)品好壞結(jié)果，徹底杜絕了人為誤差的產(chǎn)生。2、較大程度上縮減測(cè)試設(shè)備費(fèi)用。在傳統(tǒng)的測(cè)試中，企業(yè)往往需要購置一大堆測(cè)試/分析儀器，如萬用表，示波器，邏輯分析儀，頻譜儀等，費(fèi)用高昂。本系統(tǒng)將上述儀器的功能全部集中到一起，較大程度上縮減了測(cè)試設(shè)備購置費(fèi)用。3、各種PCBA測(cè)試的通用性。本系統(tǒng)的較大的特點(diǎn)是能夠通用，設(shè)備配置的板卡與軟件靈活地結(jié)合在一起能夠?qū)崿F(xiàn)各種動(dòng)靜態(tài)參數(shù)的采集，并進(jìn)行比對(duì)分析。電子產(chǎn)品在不斷地更新?lián)Q代，測(cè)試流程和測(cè)試內(nèi)容上也在變更，本系統(tǒng)提供簡單明了的用戶界面，對(duì)于不同類型的電子產(chǎn)品，用戶可自行設(shè)置相應(yīng)的測(cè)試流程，只需更換測(cè)試治具即可進(jìn)行測(cè)試。功能測(cè)試系統(tǒng)能夠快速識(shí)別產(chǎn)品的功能性缺陷。電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備

PCB功能測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)試PCB板的功能和連通性。無錫在線測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商

Boundary-Scan邊界掃描技術(shù)ICT測(cè)試儀要求每一個(gè)電路節(jié)點(diǎn)至少有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。但隨著器件集成度增高，功能越來越強(qiáng)，封裝越來越小，SMT元件的增多，多層板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一個(gè)節(jié)點(diǎn)放一根探針變得很困難，為增加測(cè)試點(diǎn)，使制造費(fèi)用增高；同時(shí)為開發(fā)一個(gè)功能強(qiáng)大器件的測(cè)試庫變得困難，開發(fā)周期延長。為此，聯(lián)合測(cè)試組織（JTAG）頒布了IEEE1149.1測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 IEEE1149.1定義了一個(gè)掃描器件的幾個(gè)重要特性。首先定義了組成測(cè)試訪問端口（TAP）的四（五〕個(gè)管腳：TDI、TDO、TCK、TMS，（TRST）。無錫在線測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商