除了采用彎曲振動(dòng)模式進(jìn)行測(cè)量外,Reinstadtler 等給出了探針扭轉(zhuǎn)振動(dòng)模式測(cè)量側(cè)向接觸剛度的理論基礎(chǔ)。通過(guò)同時(shí)測(cè)量探針微懸臂的彎曲振動(dòng)和扭轉(zhuǎn)振動(dòng),Hurley 和Turner提出了一種同時(shí)測(cè)量各向同性材料楊氏模量、剪切模量和泊松比的方法。Killgore 等提出了利用軟探針的高階模態(tài)進(jìn)行AFAM 定量化測(cè)試的方法,可以使探針施加在樣品上的力減小到10 nN,極大地?cái)U(kuò)展了這一方法的應(yīng)用范圍。Killgore 和Hurley提出了一種新的脈沖接觸共振的方法,將接觸共振與脈沖力模式相結(jié)合,不只能測(cè)量探針的接觸共振頻率和品質(zhì)因子,還可以測(cè)量針尖樣品之間黏附力的大小。摩擦學(xué)測(cè)試在納米力學(xué)領(lǐng)域具有重要地位,為減少能源損耗提供解決方案。江西納米力學(xué)測(cè)試收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)
原位納米片取樣和力學(xué)測(cè)試技術(shù),原位納米片取樣和力學(xué)測(cè)試技術(shù)是一種新興的納米尺度力學(xué)測(cè)試方法,其基本原理是利用優(yōu)化的離子束打造方法,在含有待測(cè)塑料表面的納米區(qū)域內(nèi)制備出超薄的平面固體材料,再對(duì)其進(jìn)行拉伸、扭曲等力學(xué)測(cè)試。相比于傳統(tǒng)的拉伸試驗(yàn)等方法,原位納米片取樣技術(shù)具有更優(yōu)的尺寸控制和納米量級(jí)精度,可以為納米尺度力學(xué)測(cè)試提供更加準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。總之,原位納米力學(xué)測(cè)量技術(shù)的研究及應(yīng)用是未來(lái)納米材料科學(xué)發(fā)展的重要方向之一,將為納米材料的設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)以及工業(yè)應(yīng)用等領(lǐng)域的發(fā)展做出積極貢獻(xiàn)。廣西涂層納米力學(xué)測(cè)試納米力學(xué)測(cè)試技術(shù)的發(fā)展為納米材料在能源、環(huán)保等領(lǐng)域的應(yīng)用提供了更多可能性。
量子效應(yīng)也決定納米結(jié)構(gòu)新的電,光和化學(xué)性質(zhì)。因此量子效應(yīng)在鄰近的納米科學(xué),納米技術(shù),如納米電子學(xué),先進(jìn)能源系統(tǒng)和納米生物技術(shù)學(xué)科范圍得到更多注意。納米測(cè)量技術(shù)是利用改制的掃描隧道顯微鏡進(jìn)行微形貌測(cè)量,這個(gè)技術(shù)已成功的應(yīng)用于石墨表面和生物樣本的納米級(jí)測(cè)量。安全一直是必須認(rèn)真考慮的問(wèn)題。電測(cè)量工具會(huì)輸出有危險(xiǎn)的、甚至是致命的電壓和電流。清楚儀器使用中何時(shí)會(huì)發(fā)生這些情形顯得極為重要,只有這樣人們才能采取恰當(dāng)?shù)陌踩婪妒侄?。?qǐng)認(rèn)真閱讀并遵從各種工具附帶的安全指示。
納米硬度計(jì)主要由移動(dòng)線圈、加載單元、金剛石壓頭和控制單元4部分組成。壓頭及其所在軸的運(yùn)動(dòng)由移動(dòng)線圈控制,改變線圈電流的大小即可實(shí)現(xiàn)壓頭的軸向位移,帶動(dòng)壓頭垂直壓向試件表面,在試件表面產(chǎn)生壓力。移動(dòng)線圈設(shè)計(jì)的關(guān)鍵在于既要滿足較大量程的需要,還必須有很高的分辨率,以實(shí)現(xiàn)納米級(jí)的位移和精確測(cè)量。壓頭載荷的測(cè)量和控制是通過(guò)應(yīng)變儀來(lái)實(shí)現(xiàn)的。應(yīng)變儀發(fā)出的信號(hào)再反饋到移動(dòng)線圈上.如此可進(jìn)行閉環(huán)控制,以實(shí)現(xiàn)限定載荷和壓深痕實(shí)驗(yàn)。整個(gè)壓入過(guò)程完全由微機(jī)自動(dòng)控制進(jìn)行。可在線測(cè)量位移與相應(yīng)的載荷,并建立兩者之間的關(guān)系壓頭大多為金剛石壓頭,常用的壓頭有Berkovich壓頭、Cube Corner壓頭和Conical壓頭。在進(jìn)行納米力學(xué)測(cè)試時(shí),需要特別注意樣品的制備和處理過(guò)程,以避免引入誤差。
納米壓痕技術(shù)通過(guò)測(cè)量壓針的壓入深度,根據(jù)特定形狀壓針壓入深度與接觸面積的關(guān)系推算出壓針與被測(cè)樣品之間的接觸面積。因此,納米壓痕也被稱(chēng)為深度識(shí)別壓痕(depth-sensing indentation,DSI) 技術(shù)。納米壓痕技術(shù)的應(yīng)用范圍非常普遍,可以用于金屬、陶瓷、聚合物、生物材料、薄膜等絕大多數(shù)樣品的測(cè)試。納米壓痕相關(guān)儀器的操作和使用也非常方便,加載過(guò)程既可以通過(guò)載荷控制,也可以通過(guò)位移控制,并且只需測(cè)量壓針壓入樣品過(guò)程中的載荷位移曲線,結(jié)合恰當(dāng)?shù)牧W(xué)模型就可以獲得樣品的力學(xué)信息。在納米尺度上,材料的力學(xué)性質(zhì)往往與其宏觀尺度下的性質(zhì)有明顯不同,因此納米力學(xué)測(cè)試具有重要意義。重慶高校納米力學(xué)測(cè)試定制
通過(guò)納米力學(xué)測(cè)試,可以測(cè)量材料的硬度、彈性模量、粘附性等關(guān)鍵參數(shù)。江西納米力學(xué)測(cè)試收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)
微納米材料研究中用到的一些現(xiàn)代測(cè)試技術(shù):電子顯微法,電子顯微技術(shù)是以電子顯微鏡為研究手段來(lái)分析材料的一種技術(shù)。電子顯微鏡擁有高于光學(xué)顯微鏡的分辨率,可以放大幾十倍到幾十萬(wàn)倍的范圍,在實(shí)驗(yàn)研究中具有不可替代的意義,推動(dòng)了眾多領(lǐng)域研究的進(jìn)程。電子顯微技術(shù)的光源為電子束,通過(guò)磁場(chǎng)聚焦成像或者靜電場(chǎng)的分析技術(shù)才達(dá)成高分辨率的效果、利用電子顯微鏡可以得到聚焦清晰的圖像, 有利于研究人員對(duì)于實(shí)驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行觀察分析。江西納米力學(xué)測(cè)試收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)