湖北微納米力學(xué)測試模塊

來源: 發(fā)布時間:2024-05-31

樣品制備,納米力學(xué)測試納米纖維的拉伸測試前需要復(fù)雜的樣品制備過程,因此FT-NMT03納米力學(xué)測試具備微納操作的功能,納米力學(xué)測試?yán)昧鞲形㈣嚮蛘呶⒘鞲衅骺梢詫胃{米纖維進(jìn)行五個自由度的拾取-放置操作(閉環(huán))。可以使用聚焦離子束(FIB)沉積或電子束誘導(dǎo)沉積(EBID)對樣品進(jìn)行固定。納米力學(xué)測試這種結(jié)合了電-機(jī)械測量和納米加工的技術(shù)為大多數(shù)納米力學(xué)測試應(yīng)用提供了完美的解決方案。SEM/FIB集成,得益于FT-NMT03納米力學(xué)測試系統(tǒng)的緊湊尺寸(71×100×35mm),該系統(tǒng)可以與市面上絕大多數(shù)的全尺寸SEM/FIB結(jié)合使用,在樣品臺上安裝和拆卸該系統(tǒng)十分簡便,只需幾分鐘。此外,由于FT-NMT03納米力學(xué)測試的獨(dú)特設(shè)計(jì)(無基座、開放式),納米力學(xué)測試體系統(tǒng)可以和電子背向散射衍射儀(EBSD)和掃描透射電子顯微鏡(STEM)技術(shù)兼容。利用納米力學(xué)測試,研究人員可揭示材料內(nèi)部缺陷、應(yīng)力分布等關(guān)鍵信息。湖北微納米力學(xué)測試模塊

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原位納米機(jī)械性能試驗(yàn)技術(shù),原位納米機(jī)械性能試驗(yàn)技術(shù)是一種應(yīng)用超分辨顯微學(xué)、納米壓痕技術(shù)等手段,通過獨(dú)特的力學(xué)測試方法對納米尺度下的材料機(jī)械性質(zhì)進(jìn)行測試的方法。相比于傳統(tǒng)的拉伸、壓縮等方法,原位納米機(jī)械性能試驗(yàn)技術(shù)具有更高的精度和更豐富的信息,可以為納米材料的研究提供更加詳細(xì)的數(shù)據(jù)支持。隨著納米尺度下功能性材料的不斷涌現(xiàn),納米力學(xué)測試將成為實(shí)現(xiàn)其合理設(shè)計(jì)的重要手段之一。原位納米力學(xué)測量技術(shù)在納米材料力學(xué)測試領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景,它不只可以為納米尺度下材料力學(xué)行為的實(shí)驗(yàn)研究提供詳細(xì)的數(shù)據(jù)支撐,而且還可以為新材料的設(shè)計(jì)和開發(fā)提供指導(dǎo)。上海納米力學(xué)測試收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)納米力學(xué)測試設(shè)備的精度和靈敏度對于獲得準(zhǔn)確的測試結(jié)果至關(guān)重要。

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2005 年,中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所的曾華榮研究員在國內(nèi)率先單獨(dú)開發(fā)出定頻成像模式的AFAM,但不能測量模量。隨后,同濟(jì)大學(xué)、北京工業(yè)大學(xué)等單位也對這種成像模式進(jìn)行了研究。2011 年初,我們研究組將雙頻共振追蹤技術(shù)用于AFAM,實(shí)現(xiàn)了快速的納米模量成像(一幅256×256 像素的圖像只需1~2min),并對其準(zhǔn)確度和靈敏度進(jìn)行了系統(tǒng)研究。較近幾年,AFAM 引起了越來越多國內(nèi)外學(xué)者的關(guān)注。然而,相對于其他AFM 模式,AFAM 的測量原理涉及梁振動力學(xué)和接觸力學(xué),初學(xué)者不容易掌握。

納米科學(xué)與技術(shù)是近二十年來發(fā)展起來的一門前沿和交叉學(xué)科,納米力學(xué)作為其中的一個分支,對其他分支學(xué)科如納米材料學(xué)、物理學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等都有著重要的支撐作用。下面簡要介紹一下目前應(yīng)用較普遍的兩類微納米力學(xué)測試方法:納米壓痕方法和基于原子力顯微鏡的納米力學(xué)測試方法。納米壓痕是20 世紀(jì)90 年代初期快速發(fā)展起來的一種微納米力學(xué)測試方法,是研究微納米尺度材料力學(xué)性能的重要方法之一,在科研和工業(yè)領(lǐng)域都有著普遍的應(yīng)用。納米壓痕的壓入深度在一般在納米量級,遠(yuǎn)小于傳統(tǒng)壓痕的微米或毫米量級。限于光學(xué)顯微鏡的分辨率,無法直接對納米壓痕的尺寸進(jìn)行精確測量。納米力學(xué)測試在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用,有助于揭示生物分子和細(xì)胞結(jié)構(gòu)的力學(xué)特性。

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納米力學(xué)性能測試系統(tǒng)是一款可在SEM/FIB中對微納米材料和結(jié)構(gòu)的力學(xué)性能進(jìn)行原位、直接而準(zhǔn)確測量的納米機(jī)器人系統(tǒng)。測試原理是通過微力傳感探針對微納結(jié)構(gòu)施加可控的力,同時采用位移記錄器來測量該結(jié)構(gòu)的形變。從測得的力和形變(應(yīng)力-應(yīng)變)曲線可以定量地分析微納米結(jié)構(gòu)的力學(xué)性能。通過控制加載力的大小和方向,可實(shí)現(xiàn)拉伸、壓縮、斷裂、疲勞和蠕變等各種力學(xué)測試。同時,其配備的導(dǎo)電樣品測試平臺可以對微納米結(jié)構(gòu)的電學(xué)和力學(xué)性能進(jìn)行同步測試。在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域,納米力學(xué)測試有助于了解細(xì)胞與納米材料的相互作用機(jī)制。山東納米力學(xué)性能測試

隨著納米技術(shù)的不斷發(fā)展,納米力學(xué)測試技術(shù)也在不斷更新?lián)Q代,以適應(yīng)更高精度的測試需求。湖北微納米力學(xué)測試模塊

納米力學(xué)測試儀,納米力學(xué)測試儀是用于測量納米尺度下材料力學(xué)性質(zhì)的專屬設(shè)備。納米力學(xué)測試儀可以進(jìn)行納米級別的壓痕測試、拉伸測試和扭曲測試等。它通常配備有納米壓痕儀、納米拉曼光譜儀等附件,可以實(shí)現(xiàn)多種力學(xué)性質(zhì)的測試。納米力學(xué)測試儀的使用需要在納米級別下進(jìn)行精細(xì)調(diào)節(jié),并確保測試精度和重復(fù)性。它普遍應(yīng)用于納米材料的強(qiáng)度研究、納米薄膜的力學(xué)性質(zhì)測試及納米器件的力學(xué)性能等方面。綜上所述,納米尺度下材料力學(xué)性質(zhì)的測試方法多種多樣,每種方法都有其獨(dú)特的優(yōu)勢和適用范圍。湖北微納米力學(xué)測試模塊