國(guó)外從20世紀(jì)初就開(kāi)始研電路板測(cè)試系統(tǒng)，起初主要應(yīng)用于官方領(lǐng)域。據(jù)統(tǒng)計(jì)采用電路板測(cè)試后，可以使裝備的測(cè)試效率提高10倍以上，在其全壽命周期內(nèi)節(jié)省費(fèi)用20%以上。鑒于電路板測(cè)試在生產(chǎn)維護(hù)中的突出功能，世界各國(guó)都投入研制各自的電路板測(cè)試技術(shù)，促進(jìn)了這一行業(yè)的飛速發(fā)展。正在興起的面向?qū)ο蠹夹g(shù)，也得到廣闊應(yīng)用，這直接促生了一種新的語(yǔ)言ATLAS，已經(jīng)在美國(guó)的CASS、法國(guó)的的ATEC、以色列的RADA得到工程應(yīng)用。系統(tǒng)功能，在線(xiàn)測(cè)試(ICT)：PCB開(kāi)路、短路、漏件、錯(cuò)件、變值、反向、虛焊、空焊（包括IC空焊）等。功能測(cè)試(FCT)：電壓、電流、功率、功率因素、頻率、占空比、轉(zhuǎn)速、LED亮度、位置測(cè)定...

治具，常規(guī)的治具設(shè)計(jì)，大多采用雙載板平衡桿和針板平衡桿。在測(cè)試過(guò)程中壓板下壓時(shí)，如果壓板、載板、針板固定不佳，容易產(chǎn)生晃動(dòng)，從而使UUT產(chǎn)生翹邊變形，進(jìn)行而導(dǎo)致測(cè)試針和測(cè)試點(diǎn)接觸不良或者位置偏移，使得測(cè)試針彎曲變形引起誤測(cè)甚至導(dǎo)致UUT裂損。上述情況的發(fā)生，尤其是在UUT的厚度發(fā)生較大變化時(shí)更容易產(chǎn)生。治具定位原理，根據(jù)電路板的不同, 可采用以下幾種定位方式根據(jù)工件的不同情況。1、以外緣輪廓定位，對(duì)于面積尺寸較小而且外廓一致性較好的電路板，可采用外輪廓定位方式。長(zhǎng)邊用定位板，限制2個(gè)自由度；短邊用定位針，限制1個(gè)自由度。在另一短邊，還可以增加1只定位針，形成所謂的約束性過(guò)定位。這種方式中，兩根...

測(cè)試儀組成：硬件模塊：測(cè)試儀由便攜式計(jì)算機(jī)、單片機(jī)測(cè)試平臺(tái)及測(cè)試分析處理軟件構(gòu)成。其中單片機(jī)測(cè)試平臺(tái)在計(jì)算機(jī)控制下完成被測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù)的采集。部分功能及說(shuō)明如下：?jiǎn)纹瑱C(jī)電路主要完成數(shù)據(jù)采集、控制、命令處理，與計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)交換。在測(cè)試儀設(shè)計(jì)中采用了MCS-51系列8031單片機(jī)，選用2764作為擴(kuò)展ROM，6264作為擴(kuò)展RAM。譯碼芯片電路為74LS138。為與計(jì)算機(jī)進(jìn)行串行通信，采用MCl488和MC1489進(jìn)行RS-232C電平與TTL電平的相互轉(zhuǎn)換。單片機(jī)系統(tǒng)時(shí)鐘頻率選用6MHz晶振，通信波特率選用2400，單片機(jī)采用工作方式3進(jìn)行串行通信。定時(shí)器T1設(shè)置為方式2。設(shè)定SMOD=1，時(shí)間常...

全自動(dòng)在線(xiàn)功能測(cè)試系統(tǒng)特點(diǎn)：全自動(dòng)的電路板載入功能：HD-1000提供的全自動(dòng)在線(xiàn)流水線(xiàn)方式，能滿(mǎn)足不同制造商電路板生產(chǎn)線(xiàn)測(cè)試需求，可將吞吐量提高30%以上；進(jìn)一步的，HD-1000可以輕松的集成在SMT流水線(xiàn)中。外部應(yīng)用軟件的集成功能：經(jīng)過(guò)與電子行業(yè)內(nèi)不同客戶(hù)的長(zhǎng)期合作以及了解， HD-1000為制造商擴(kuò)展了外部應(yīng)用軟件集成功能，例如進(jìn)行LED測(cè)試的制造商可以使用HD-1000進(jìn)行電流測(cè)量，同時(shí)對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析，其他的例如音頻和視頻測(cè)試，也可以集成到一站中。小型功能測(cè)試系統(tǒng)適用于空間受限的環(huán)境。軟件測(cè)試系統(tǒng)加工第四代儀器儀表:虛擬儀器(Vl:Virtual Instrumentation)...

系統(tǒng)特點(diǎn)，全自動(dòng)電路板載入，HD-1000提供的全自動(dòng)在線(xiàn)流水線(xiàn)方式，能滿(mǎn)足不同制造商電路板生產(chǎn)線(xiàn)測(cè)試需求，可將吞吐量提高30%以上；進(jìn)一步的，HD-1000可以輕松的集成在SMT流水線(xiàn)中。外部軟件集成，經(jīng)過(guò)與電子行業(yè)內(nèi)不同客戶(hù)的長(zhǎng)期合作以及了解， HD-1000為制造商擴(kuò)展了外部應(yīng)用軟件集成功能，例如進(jìn)行LED測(cè)試的制造商可以使用HD-1000進(jìn)行電流測(cè)量，同時(shí)對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析，其他的例如音頻和視頻測(cè)試，也可以集成到一站中。良品不良品分揀，通過(guò)對(duì)HD-1000進(jìn)行輕松編程，可以根據(jù)電路板的OK/NG測(cè)試結(jié)果，自動(dòng)使NG的不良品組件流入收納箱或暫存軌道，使OK的良品組件流入正常的下一道工序。...

上世紀(jì)80年代前后，日本將美國(guó)同類(lèi)產(chǎn)品加以簡(jiǎn)化和小型化，并改成使用氣動(dòng)壓床式，表示的有日本TESCON，OKANO，使得ICT簡(jiǎn)單易用并低成本，使之成為電子廠(chǎng)不可或缺的必備檢測(cè)設(shè)備，并迅速推廣普及。80年代中國(guó)臺(tái)灣由全球令西方頭疼的電子電腦假貨來(lái)源地逐漸成為電子代工制造重要基地，于上世紀(jì)80年代后期，90年代初期，中國(guó)臺(tái)灣開(kāi)始完全仿制TESCON測(cè)試儀，并推出眾多品牌的壓床式ICT，其價(jià)格更加低廉，迫使曾全球頭一市占率的日本TESCON淡出市場(chǎng)，并因中國(guó)臺(tái)灣電子代工業(yè)大發(fā)展而大幅提高市占率。從上世紀(jì)70年代開(kāi)始，國(guó)內(nèi)即有開(kāi)發(fā)類(lèi)似的靜態(tài)測(cè)試儀，1993年，中國(guó)本土品牌更先進(jìn)日本韓國(guó)中國(guó)臺(tái)灣及香港...

電路板測(cè)試按測(cè)試對(duì)象分為：專(zhuān)門(mén)使用電路板測(cè)試系統(tǒng)：是針對(duì)具體PCB的測(cè)試任務(wù)或具體測(cè)試對(duì)象而研制的測(cè)試系統(tǒng)。常按測(cè)試對(duì)象命名，如BTS控制板測(cè)試，遙控器電路板測(cè)試，電能表電路板測(cè)試等。通用電路板測(cè)試：是針對(duì)一定領(lǐng)域和被測(cè)PCB而研制的電路板測(cè)試系統(tǒng)。如Teradyne的C3065系列電路板測(cè)試機(jī)可以完成空間實(shí)驗(yàn)室的納安級(jí)電路板的測(cè)試，以及HBM公司的SmartA2000電路板測(cè)試系統(tǒng)等都屬于通用電路板測(cè)試范疇。電路板測(cè)試系統(tǒng)（PTS）由三大部分組成：測(cè)試機(jī)臺(tái)，測(cè)試軟件，測(cè)試程序。電池功能測(cè)試系統(tǒng)用于檢測(cè)電池性能和容量。江蘇電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā)系統(tǒng)特點(diǎn)，全自動(dòng)電路板載入，HD-1000提供的全自動(dòng)在...

驅(qū)動(dòng)控制電路主要完成測(cè)試過(guò)程中TTL、CMOS測(cè)試門(mén)限的控制，選用4重SPST（單刀單擲）DG211模擬開(kāi)關(guān)，開(kāi)關(guān)控制由譯碼電路及74LS373鎖存器完了成。為保證DG211開(kāi)機(jī)時(shí)處于常開(kāi)（OFF）狀態(tài)，控制線(xiàn)增加上拉電阻（10kΩ）。測(cè)試驅(qū)動(dòng)電路為被測(cè)芯片施加測(cè)試輸入信號(hào)，采用微型繼電器進(jìn)行輸入信號(hào)控制，測(cè)試信號(hào)由數(shù)據(jù)緩沖器74ACT244產(chǎn)生。為保證輸入電流達(dá)到設(shè)計(jì)要求，采用4路并聯(lián)方式。為防止損壞器件，增加LC網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行大電流緩沖，并設(shè)計(jì)二極管保護(hù)電路。模塊化設(shè)計(jì)：功能測(cè)試系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)，方便用戶(hù)根據(jù)需求進(jìn)行組合和升級(jí)。浙江電源測(cè)試系統(tǒng)定制價(jià)格測(cè)試機(jī)臺(tái)：用來(lái)完成測(cè)試任務(wù)的全部硬件和相應(yīng)...

測(cè)控計(jì)算機(jī)，早期的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)多采用小型機(jī)和工作站，隨著現(xiàn)代PC性能的大幅提高，已遠(yuǎn)遠(yuǎn)高出以前小型機(jī)的性能，趨向于采用廣為普及的現(xiàn)代PC，這樣便于利用計(jì)算機(jī)技術(shù)發(fā)展的較新成果，容易更新升級(jí)。為滿(mǎn)足電路板測(cè)試的小型化以及便攜式測(cè)試系統(tǒng)的要求，還研制出了基于VXI總線(xiàn)和PXI總線(xiàn)的嵌入式PC，可直接插入VXI機(jī)箱或PXI機(jī)箱，使測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)更緊湊，外形更小巧。采用wai掛式處理器集成系統(tǒng)時(shí)，可以采用MXI-VXI或MXI-PXI總線(xiàn)、GPIB總線(xiàn)、IEEE-1394（俗稱(chēng)火線(xiàn)）總線(xiàn)、USB通過(guò)串行總線(xiàn)等多種方式與VXI或PXI機(jī)箱通信，這幾種通信方式各有優(yōu)缺點(diǎn)，具體選擇何種通信方式需考慮成本、數(shù)據(jù)...

功能系統(tǒng)測(cè)試原理：FST是function system test的簡(jiǎn)稱(chēng)，功能系統(tǒng)測(cè)試可以測(cè)試一個(gè)PCBA的單板系統(tǒng)能否實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)目標(biāo)，它將線(xiàn)路板上的被測(cè)單元作為一個(gè)功能體，對(duì)其提供輸入信號(hào)，按照功能體的設(shè)計(jì)要求檢測(cè)輸出信號(hào)。功能系統(tǒng)測(cè)試中的激勵(lì)信號(hào)源可以使用一些通用的儀器來(lái)實(shí)現(xiàn)，如任意波形發(fā)生器，任意函數(shù)發(fā)生器，邏輯信號(hào)發(fā)生器等，也可以使用自己設(shè)計(jì)的硬件系統(tǒng)來(lái)產(chǎn)生激勵(lì)信號(hào)，采用前者相對(duì)成本較高。功能系統(tǒng)測(cè)試中的輸出信號(hào)的檢測(cè)可以使用一些通用的儀器來(lái)實(shí)現(xiàn)，如示波器，頻譜分析儀等，也可以使用定制的數(shù)據(jù)采集和分析模塊來(lái)實(shí)現(xiàn)。輸出信號(hào)的分析和測(cè)試結(jié)果的保存往往要用計(jì)算機(jī)來(lái)實(shí)現(xiàn)，所以就引出了計(jì)算機(jī)和測(cè)試...

操作系統(tǒng)，可供電路板測(cè)試選擇的操作系統(tǒng)很多，例如UNIX、OS、Windows、Solaris等，選擇操作系統(tǒng)時(shí)受限于硬件設(shè)備的支持、程序人員的技術(shù)水平、操作系統(tǒng)的普及程度和操作系統(tǒng)本身特點(diǎn)等諸多因素，趨于采用廣為普及的Windows操作系統(tǒng)?？偩€(xiàn)技術(shù)，電路板測(cè)試技術(shù)的發(fā)展與儀器控制總線(xiàn)的發(fā)展永遠(yuǎn)是密切相關(guān)的，儀器控制總線(xiàn)的每一次更新都促進(jìn)電路板測(cè)試技術(shù)的更新。儀器控制總線(xiàn)有GPIB總線(xiàn)、VXI總線(xiàn)和PXI總線(xiàn)三種，它們是發(fā)展過(guò)程中依次出現(xiàn)的總線(xiàn)技術(shù)，表示著電路板測(cè)試技術(shù)的發(fā)展歷程。GPIB總線(xiàn)是早期出現(xiàn)的儀器接口控制總線(xiàn)，多用于常見(jiàn)的臺(tái)式儀器上，采用該總線(xiàn)集成的系統(tǒng)體積大、數(shù)據(jù)傳輸速率低（較...

在上電路中，因R1、R2的連接分流，使Ix笽ref ，Rx = Vs/ V0*Rref等式不成立。測(cè)試時(shí)，只要使G與F點(diǎn)同電位，R2中無(wú)電流流過(guò)，仍然有Ix=Iref，Rx的等式不變。將G點(diǎn)接地，因F點(diǎn)虛地，兩點(diǎn)電位相等，則可實(shí)現(xiàn)隔離。實(shí)際實(shí)用時(shí)，通過(guò)一個(gè)隔離運(yùn)算放大器使G與F等電位。ICT測(cè)試儀可提供很多個(gè)隔離點(diǎn)，消除外圍電路對(duì)測(cè)試的影響。IC的測(cè)試 對(duì)數(shù)字IC，采用Vector（向量）測(cè)試。向量測(cè)試類(lèi)似于真值表測(cè)量，激勵(lì)輸入向量，測(cè)量輸出向量，通過(guò)實(shí)際邏輯功能測(cè)試判斷器件的好壞。如:與非門(mén)的測(cè)試對(duì)模擬IC的測(cè)試，可根據(jù)IC實(shí)際功能激勵(lì)電壓、電流，測(cè)量對(duì)應(yīng)輸出，當(dāng)作功能塊測(cè)試。測(cè)試流程優(yōu)化：...

ICT的范圍及特點(diǎn)檢查制成板上在線(xiàn)元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。能夠定量地對(duì)電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測(cè)量，對(duì)二極管、三極管、光藕、變壓器、繼電器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測(cè)試，對(duì)中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測(cè)試，如所有74系列、Memory 類(lèi)、常用驅(qū)動(dòng)類(lèi)、交換類(lèi)等IC。它通過(guò)直接對(duì)在線(xiàn)器件電氣性能的測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類(lèi)可檢查出元件值的超差、失效或損壞，Memory類(lèi)的程序錯(cuò)誤等。通用功能測(cè)試：適用于多種電子產(chǎn)品的功能測(cè)試，提高測(cè)試效率，降低成本。浙江變壓器綜合測(cè)試系統(tǒng)服務(wù)邊界掃描技術(shù)解決了無(wú)法增加測(cè)試點(diǎn)的困難，更重要的是它提供了一種簡(jiǎn)單而且快捷地...

驅(qū)動(dòng)控制電路主要完成測(cè)試過(guò)程中TTL、CMOS測(cè)試門(mén)限的控制，選用4重SPST（單刀單擲）DG211模擬開(kāi)關(guān)，開(kāi)關(guān)控制由譯碼電路及74LS373鎖存器完了成。為保證DG211開(kāi)機(jī)時(shí)處于常開(kāi)（OFF）狀態(tài)，控制線(xiàn)增加上拉電阻（10kΩ）。測(cè)試驅(qū)動(dòng)電路為被測(cè)芯片施加測(cè)試輸入信號(hào)，采用微型繼電器進(jìn)行輸入信號(hào)控制，測(cè)試信號(hào)由數(shù)據(jù)緩沖器74ACT244產(chǎn)生。為保證輸入電流達(dá)到設(shè)計(jì)要求，采用4路并聯(lián)方式。為防止損壞器件，增加LC網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行大電流緩沖，并設(shè)計(jì)二極管保護(hù)電路。在線(xiàn)功能測(cè)試系統(tǒng)可實(shí)時(shí)檢測(cè)產(chǎn)品功能。天津驗(yàn)收測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試流程零點(diǎn)漂移自校正:測(cè)量中較常見(jiàn)的問(wèn)題就是長(zhǎng)期工作時(shí)的不穩(wěn)定性和零點(diǎn)漂移。這主要是...

零點(diǎn)漂移自校正:測(cè)量中較常見(jiàn)的問(wèn)題就是長(zhǎng)期工作時(shí)的不穩(wěn)定性和零點(diǎn)漂移。這主要是由于傳感器和放人器的零漂造成的。在智能儀器中，利用計(jì)算機(jī)對(duì)由于這種零漂而造成的誤差進(jìn)行自動(dòng)補(bǔ)償和修正，或?qū)Ψ糯笃鞯脑鲆孢M(jìn)行自動(dòng)調(diào)整。從而可在不采用高成本的電子元器件的情況上解決零點(diǎn)漂移問(wèn)題。提高信噪比:利用計(jì)算機(jī)強(qiáng)大的計(jì)算和數(shù)據(jù)處理功能，用軟件的方法去除噪聲?？刂茰y(cè)量過(guò)程及對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的自動(dòng)和實(shí)時(shí)的處理和分析:通過(guò)在智能儀器上的計(jì)算機(jī)來(lái)實(shí)現(xiàn)。虛擬現(xiàn)實(shí)技術(shù)在功能測(cè)試中的應(yīng)用：通過(guò)虛擬現(xiàn)實(shí)技術(shù)，模擬實(shí)際使用場(chǎng)景，提高測(cè)試的準(zhǔn)確性。天津電池測(cè)試系統(tǒng)專(zhuān)業(yè)技術(shù)服務(wù)全球主要ICT自動(dòng)測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)廠(chǎng)商主要有Agilent Techn...

相對(duì)于傳統(tǒng)的測(cè)試方法，該系統(tǒng)具有以下無(wú)可比擬的優(yōu)勢(shì)：1、減少測(cè)試上人為因素帶來(lái)的偏差。在傳統(tǒng)的測(cè)試中，由于測(cè)試人員的操作習(xí)慣和讀數(shù)習(xí)慣往往會(huì)給測(cè)試結(jié)果帶來(lái)人為因素上的偏差。本產(chǎn)品采用計(jì)算機(jī)自動(dòng)分析，并得出產(chǎn)品好壞結(jié)果，徹底杜絕了人為誤差的產(chǎn)生。2、較大程度上縮減測(cè)試設(shè)備費(fèi)用。在傳統(tǒng)的測(cè)試中，企業(yè)往往需要購(gòu)置一大堆測(cè)試/分析儀器，如萬(wàn)用表，示波器，邏輯分析儀，頻譜儀等，費(fèi)用高昂。本系統(tǒng)將上述儀器的功能全部集中到一起，較大程度上縮減了測(cè)試設(shè)備購(gòu)置費(fèi)用。3、各種PCBA測(cè)試的通用性。本系統(tǒng)的較大的特點(diǎn)是能夠通用，設(shè)備配置的板卡與軟件靈活地結(jié)合在一起能夠?qū)崿F(xiàn)各種動(dòng)靜態(tài)參數(shù)的采集，并進(jìn)行比對(duì)分析。電子產(chǎn)...

測(cè)試儀能夠把好電路板上的各IC器件的狀態(tài)特征提取出來(lái)，存入計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)庫(kù)中，然后與同類(lèi)有故障的電路板進(jìn)行比較，從而準(zhǔn)確地找出故障部位。VI特性測(cè)試分析該項(xiàng)測(cè)試功能建立在模擬特征分析技術(shù)基礎(chǔ)上，可用于模擬、數(shù)字、專(zhuān)門(mén)使用器件、可編程器件以及大規(guī)模、超大規(guī)模器件的測(cè)試。測(cè)試儀通過(guò)測(cè)試探棒或測(cè)試夾自動(dòng)把被測(cè)點(diǎn)的特征曲線(xiàn)提取出來(lái)，顯示在微機(jī)屏幕上，較后存入計(jì)算機(jī)。進(jìn)特故障診斷時(shí)，將實(shí)測(cè)到的VI曲線(xiàn)與事先存貯的標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)進(jìn)行比較，進(jìn)而發(fā)現(xiàn)故障。功能測(cè)試系統(tǒng)可以確保產(chǎn)品符合規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)和要求。驗(yàn)收測(cè)試系統(tǒng)定制操作簡(jiǎn)便:由于測(cè)量過(guò)程是程序操作，測(cè)試人員只需接入被測(cè)件和按電鍵，無(wú)需測(cè)試員具備高深的理論和熟練的測(cè)試技...

功能說(shuō)明：1、導(dǎo)入式系統(tǒng)分析可以很容易地集成到自動(dòng)檢測(cè)線(xiàn)。2、整套系統(tǒng)包括TestJet技術(shù)測(cè)試過(guò)程。3、測(cè)試一個(gè)程序集或面板的多個(gè)程序集。4、為分析系統(tǒng)導(dǎo)入整個(gè)機(jī)組測(cè)試（被測(cè)單元）和各個(gè)組件的無(wú)電源應(yīng)用。5、使用如DC或先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)結(jié)合復(fù)合體阻抗測(cè)試與多點(diǎn)保護(hù)等功能來(lái)檢測(cè)出大多數(shù)的故障，如短路，開(kāi)路和錯(cuò)誤的或不正確安裝的組件。6、通過(guò)在安全無(wú)電源模式下找到大部分被測(cè)單元故障，7、得出具體的故障診斷信息，使故障被測(cè)單元可以快速進(jìn)行維修。單元功能測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)試單一功能的設(shè)備。江蘇無(wú)線(xiàn)綜合測(cè)試系統(tǒng)專(zhuān)業(yè)技術(shù)服務(wù)測(cè)試儀組成：硬件模塊：測(cè)試儀由便攜式計(jì)算機(jī)、單片機(jī)測(cè)試平臺(tái)及測(cè)試分析處理軟件構(gòu)成。其中...

使用適當(dāng)?shù)钠脚_(tái)、瀏覽器和測(cè)試腳本，以保證目標(biāo)用戶(hù)的體驗(yàn)將足夠好，就像應(yīng)用程序是專(zhuān)門(mén)為該市場(chǎng)開(kāi)發(fā)的一樣。功能測(cè)試是為了確保程序以期望的方式運(yùn)行而按功能要求對(duì)軟件進(jìn)行的測(cè)試，通過(guò)對(duì)一個(gè)系統(tǒng)的所有的特性和功能都進(jìn)行測(cè)試確保符合需求和規(guī)范。計(jì)算機(jī)多媒體網(wǎng)絡(luò)技術(shù)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的認(rèn)知功能系統(tǒng)測(cè)試，實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)充分考慮計(jì)算機(jī)多媒體技術(shù)的特點(diǎn)，為使其具有良好的網(wǎng)絡(luò)運(yùn)行特性。較后通過(guò)功能系統(tǒng)測(cè)試，驗(yàn)證了整個(gè)系統(tǒng)的正確性。這種設(shè)計(jì)將傳統(tǒng)的測(cè)試系統(tǒng)多媒體化、網(wǎng)絡(luò)化，可以方便地應(yīng)用于其他功能系統(tǒng)測(cè)試，具有較高的推廣價(jià)值。電池功能測(cè)試系統(tǒng)用于檢測(cè)電池性能和容量。湖州電路板功能測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試流程系統(tǒng)介紹，各類(lèi)電子產(chǎn)品的實(shí)裝電路板（P...

測(cè)控計(jì)算機(jī)，早期的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)多采用小型機(jī)和工作站，隨著現(xiàn)代PC性能的大幅提高，已遠(yuǎn)遠(yuǎn)高出以前小型機(jī)的性能，趨向于采用廣為普及的現(xiàn)代PC，這樣便于利用計(jì)算機(jī)技術(shù)發(fā)展的較新成果，容易更新升級(jí)。為滿(mǎn)足電路板測(cè)試的小型化以及便攜式測(cè)試系統(tǒng)的要求，還研制出了基于VXI總線(xiàn)和PXI總線(xiàn)的嵌入式PC，可直接插入VXI機(jī)箱或PXI機(jī)箱，使測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)更緊湊，外形更小巧。采用wai掛式處理器集成系統(tǒng)時(shí)，可以采用MXI-VXI或MXI-PXI總線(xiàn)、GPIB總線(xiàn)、IEEE-1394（俗稱(chēng)火線(xiàn)）總線(xiàn)、USB通過(guò)串行總線(xiàn)等多種方式與VXI或PXI機(jī)箱通信，這幾種通信方式各有優(yōu)缺點(diǎn)，具體選擇何種通信方式需考慮成本、數(shù)據(jù)...

PCBA通用型自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)優(yōu)越性，測(cè)試速度提高5-10倍，為企業(yè)帶來(lái)經(jīng)濟(jì)效益，縮減工位。整機(jī)測(cè)試環(huán)境下測(cè)試，所以不介入被測(cè)產(chǎn)品的技術(shù)主要內(nèi)幕。免去所有人為因素，所以判斷更為準(zhǔn)確、可靠。特殊I/O及夾具構(gòu)造，轉(zhuǎn)Model不需拆焊或再焊連接線(xiàn)，一次連線(xiàn)長(zhǎng)久使用，提高轉(zhuǎn)Model的效率。人性化編程環(huán)境，電子技術(shù)人員只需4個(gè)小時(shí)，可完全學(xué)會(huì)測(cè)試程序的編程及優(yōu)化。統(tǒng)計(jì)報(bào)表功能隨時(shí)查閱產(chǎn)量及品質(zhì)狀況。遠(yuǎn)程控制功能。管理層權(quán)限設(shè)置功能。條碼掃描、打印功能。離線(xiàn)測(cè)試：針對(duì)不具備在線(xiàn)測(cè)試條件的設(shè)備，離線(xiàn)測(cè)試成為保證產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵手段。嘉興現(xiàn)代測(cè)試系統(tǒng)定制方案分類(lèi)，按操作模式，依操作模式的不同，功能測(cè)試系統(tǒng)可以...

電路板生產(chǎn)過(guò)程中，下線(xiàn)前一定要經(jīng)過(guò)成功的在線(xiàn)測(cè)試(ICT)和功能測(cè)試(FCT)。HD-1000提供了高性?xún)r(jià)比和功能豐富的測(cè)試平臺(tái)，提供了分別對(duì)應(yīng)ICT和FCT的硬件及軟件模塊，可以測(cè)試空調(diào)、冰箱等家電控制板，使電路板的ICT和FCT 測(cè)試可以在同一個(gè)針床和同一道工序上完成。而且即使客戶(hù)需要更高的吞吐量、更寬的產(chǎn)品種類(lèi)、更自動(dòng)的流水線(xiàn)方式，都依然可以通過(guò)這種低成本方式來(lái)實(shí)現(xiàn)。這些特點(diǎn)為本身具有更高測(cè)試需求同時(shí)不希望增加測(cè)試成本的客戶(hù)提供了極好的解決方案。功能測(cè)試系統(tǒng)可為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供有效手段。湖州電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)定制方案ICT（In-Circuit Test System），中文慣用名為在線(xiàn)測(cè)試儀...

功能系統(tǒng)測(cè)試的特點(diǎn)，功能系統(tǒng)測(cè)試是從PCBA板卡的功能實(shí)現(xiàn)與否的角度來(lái)進(jìn)行的測(cè)試，因此相對(duì)于其它測(cè)試手段顯得簡(jiǎn)捷直觀(guān)，但由于功能系統(tǒng)測(cè)試是把待測(cè)PCBA當(dāng)作一個(gè)類(lèi)似于黑盒子的功能單元來(lái)進(jìn)行測(cè)試，有時(shí)并不能準(zhǔn)確定位出功能系統(tǒng)測(cè)試未能通過(guò)的PCBA所存在的問(wèn)題之所在，不過(guò)采用。對(duì)比所列出的ICT、AOI、AXI等測(cè)試方法，采用功能系統(tǒng)測(cè)試的成本一般來(lái)說(shuō)要小很多，對(duì)于一些小批量的PCBA板卡生產(chǎn)，采用功能系統(tǒng)測(cè)試可以有效的節(jié)約成本。此外，對(duì)于一些對(duì)穩(wěn)定性和可靠性要求較高的產(chǎn)品，其測(cè)試系統(tǒng)往往是采用多種測(cè)試手段進(jìn)行流水線(xiàn)作業(yè)，而功能系統(tǒng)測(cè)試是其中必不可少的步驟。軟件測(cè)試：針對(duì)軟件系統(tǒng)進(jìn)行功能、性能、兼...

在人工參與情況下能自動(dòng)進(jìn)行測(cè)量、數(shù)據(jù)處理并以所需方式輸出測(cè)試結(jié)果的系統(tǒng)稱(chēng)為智能測(cè)試系統(tǒng)。智能測(cè)試系統(tǒng)是計(jì)算機(jī)技術(shù)與自動(dòng)測(cè)試技術(shù)相結(jié)合的產(chǎn)物。由于計(jì)算機(jī)有高速的數(shù)據(jù)處理能力、控制能力和大信息存儲(chǔ)功能，它與測(cè)量技術(shù)相結(jié)合便開(kāi)拓了測(cè)量科學(xué)和測(cè)量技術(shù)嶄新的領(lǐng)域，促進(jìn)了測(cè)量技術(shù)的大發(fā)展和大革新。智能化儀器儀表，儀器的功能在于用物理、化學(xué)或生物的方法，獲取被檢測(cè)對(duì)象運(yùn)動(dòng)或變化的信，通過(guò)信息轉(zhuǎn)換和處理，使其成為易于人們閱讀和識(shí)別表達(dá)的量化形式，或通過(guò)顯示系統(tǒng)進(jìn)一步信號(hào)化、圖像化，以利觀(guān)測(cè)、入庫(kù)存檔，或直接進(jìn)入自動(dòng)化、智能化運(yùn)轉(zhuǎn)控制系統(tǒng)。儀器是一種信息工具，起著不可或缺的信息源的作用。儀器技術(shù)是屬于信息技術(shù)領(lǐng)...

自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，ATS, Automatic Test System 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，ATE, Automatic Test Equipment 自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，一種組裝電路板自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，例如：ICT（In-Circuit Test System），中文慣用名為在線(xiàn)測(cè)試儀（這里指組裝電路板在線(xiàn)測(cè)試儀），主要用于組裝電路板（PCBA）的測(cè)試。這里的“在線(xiàn)”是“In-Circuit”的直譯，主要指電子元器件在線(xiàn)路上（或者說(shuō)在電路上）。在線(xiàn)測(cè)試是一種不斷開(kāi)電路，不拆下元器件管腳的測(cè)試技術(shù)，“在線(xiàn)”反映了ICT重在通過(guò)對(duì)在線(xiàn)路上的元器件或開(kāi)短路狀態(tài)的測(cè)試來(lái)檢測(cè)電路板的組裝問(wèn)題。軟件功能測(cè)試系統(tǒng)用于驗(yàn)證軟件...

在線(xiàn)測(cè)試儀主要測(cè)試電路板的開(kāi)短路、電阻、電容、電感、二極管、三極管、電晶體、IC等無(wú)件！早期，業(yè)內(nèi)將ATE設(shè)備也歸在ICT這一類(lèi)別中，但因ATE測(cè)試相基本上所在的大型電路生產(chǎn)商都要用到ICT測(cè)試，象ASUS、DELL、IBM、INTEL、BENQ、MSI、HP等！全球大型ICT測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)廠(chǎng)商主要有安捷倫(美國(guó))，泰瑞達(dá)(美國(guó))、德智（DEZHI)、JET(捷智）、Tr(德利泰)、SRC星河等等品牌。不同品牌ICT的測(cè)試原理相同或相似。上世紀(jì)80年代前后，日本將美國(guó)同類(lèi)產(chǎn)品加以簡(jiǎn)化和小型化，并改成使用氣動(dòng)壓床式，表示的有日本TESCON，OKANO，使得ICT簡(jiǎn)單易用并低成本，使之成為電子廠(chǎng)不...

分類(lèi)，按操作模式，依操作模式的不同，功能測(cè)試系統(tǒng)可以分為手動(dòng)控制功能測(cè)試、半自動(dòng)控制功能測(cè)試、全自動(dòng)控制功能測(cè)試。早期的功能測(cè)試基本以手動(dòng)和半自動(dòng)為主，即使到2015年，對(duì)于簡(jiǎn)單的被測(cè)目標(biāo)（UUT），有時(shí)依然采用手動(dòng)或半自動(dòng)，這主要是為了簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)和降低成本。隨著科技能力和工業(yè)化水平的提高以及產(chǎn)業(yè)集群的發(fā)展，為了好的保證質(zhì)量和提高效率，功能測(cè)試主要以全自動(dòng)方式為主，本方案即按此方式設(shè)計(jì)。按控制方式，依照控制方式不同，F(xiàn)CT可以分為：嵌入式MCU控制方式、基于PLC控制方式、基于PC控制方式等。通用自動(dòng)功能測(cè)試系統(tǒng)適用于多種設(shè)備的功能性驗(yàn)證。浙江功能測(cè)試系統(tǒng)有什么用儀器儀表及其發(fā)展歷程，頭一代儀器...

電路板生產(chǎn)過(guò)程中，下線(xiàn)前一定要經(jīng)過(guò)成功的在線(xiàn)測(cè)試(ICT)和功能測(cè)試(FCT)。HD-1000提供了高性?xún)r(jià)比和功能豐富的測(cè)試平臺(tái)，提供了分別對(duì)應(yīng)ICT和FCT的硬件及軟件模塊，可以測(cè)試空調(diào)、冰箱等家電控制板，使電路板的ICT和FCT 測(cè)試可以在同一個(gè)針床和同一道工序上完成。而且即使客戶(hù)需要更高的吞吐量、更寬的產(chǎn)品種類(lèi)、更自動(dòng)的流水線(xiàn)方式，都依然可以通過(guò)這種低成本方式來(lái)實(shí)現(xiàn)。這些特點(diǎn)為本身具有更高測(cè)試需求同時(shí)不希望增加測(cè)試成本的客戶(hù)提供了極好的解決方案。在線(xiàn)測(cè)試：實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)，提前發(fā)現(xiàn)潛在問(wèn)題，降低故障風(fēng)險(xiǎn)。常州小型測(cè)試系統(tǒng)服務(wù)值得一提的是，近十余年來(lái)，外商尤其是臺(tái)商將設(shè)備較關(guān)鍵較昂貴的...

裝備制造業(yè)是提供技術(shù)裝備的基礎(chǔ)性產(chǎn)業(yè)，涉及一個(gè)國(guó)家一個(gè)地區(qū)的主要競(jìng)爭(zhēng)力，是增強(qiáng)國(guó)民自信的源泉。隨著中國(guó)軟實(shí)力的不斷增強(qiáng)，相信中國(guó)本土自動(dòng)測(cè)試設(shè)備品牌必將在轉(zhuǎn)型升級(jí)、不斷創(chuàng)新中迎來(lái)更大的發(fā)展。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)的研制工作始于 20世紀(jì)50年代?，F(xiàn)代測(cè)試內(nèi)容日益復(fù)雜, 測(cè)試工作量激增,而且要求完成測(cè)試的時(shí)間越來(lái)越短，人工測(cè)試很難滿(mǎn)足這些要求,自動(dòng)測(cè)試技術(shù)因而得到迅速發(fā)展。較完善的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備是60年代采用電子計(jì)算機(jī)以后才問(wèn)世的。通用功能測(cè)試：適用于多種電子產(chǎn)品的功能測(cè)試，提高測(cè)試效率，降低成本。嘉興電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)服務(wù)隨著自動(dòng)測(cè)試技術(shù)的發(fā)展，傳統(tǒng)的人工測(cè)試正在逐漸被自動(dòng)測(cè)試所取代。GPIB和PXI...

PCBA功能系統(tǒng)測(cè)試，功能系統(tǒng)測(cè)試方法的原理是模擬設(shè)計(jì)輸入并檢測(cè)輸出來(lái)達(dá)到判定PCBA是否正常工作和PCBA上的電子元器件是否正確焊接的目的。面對(duì)電子產(chǎn)品的更新?lián)Q代速度的提高，市場(chǎng)對(duì)電子產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性的要求的增大，建立一個(gè)通用的可移植的PCBA功能系統(tǒng)測(cè)試平臺(tái)搭是每個(gè)自動(dòng)化測(cè)試工程師所要面臨的挑戰(zhàn)。實(shí)踐表明，選用合理的測(cè)試系統(tǒng)硬件平臺(tái)和軟件平臺(tái)能有效縮減PCBA功能系統(tǒng)測(cè)試的開(kāi)發(fā)周期，提高生產(chǎn)效率?；贜iosII軟內(nèi)核技術(shù)的嵌入式系統(tǒng)具有豐富和可配置的外設(shè)接口，提高了PCBA功能系統(tǒng)測(cè)試硬件平臺(tái)的通用性；由于 [2]LabVIEW開(kāi)發(fā)環(huán)境對(duì)底層數(shù)據(jù)接口的良好封閉和其特有的簡(jiǎn)捷直觀(guān)的開(kāi)發(fā)...